JPH0665865U - プローブピンの取付装置 - Google Patents
プローブピンの取付装置Info
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- JPH0665865U JPH0665865U JP1232993U JP1232993U JPH0665865U JP H0665865 U JPH0665865 U JP H0665865U JP 1232993 U JP1232993 U JP 1232993U JP 1232993 U JP1232993 U JP 1232993U JP H0665865 U JPH0665865 U JP H0665865U
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- probe
- pin
- holder
- holding hole
- probe pin
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定ポイントに対してプロープピンの位置を
調整可能とする。 【構成】 プローブピン１が挿通された状態で保持され
るプローブホルダー１０と、ピンボードの所定位置に固
定されるホルダーガイド２０とを備え、同ホルダーガイ
ド２０にプローブホルダー１０を着脱自在に受け入れる
それよりも実質的に大きな保持孔２３と、同保持孔２３
内におけるプローブホルダー１０の保持位置を調整する
位置調整手段２４ａ，２４ｂとを設け、プローブホルダ
ー１０をホルダーガイド２０を介してピンボードに調整
可能に取付ける。
調整可能とする。 【構成】 プローブピン１が挿通された状態で保持され
るプローブホルダー１０と、ピンボードの所定位置に固
定されるホルダーガイド２０とを備え、同ホルダーガイ
ド２０にプローブホルダー１０を着脱自在に受け入れる
それよりも実質的に大きな保持孔２３と、同保持孔２３
内におけるプローブホルダー１０の保持位置を調整する
位置調整手段２４ａ，２４ｂとを設け、プローブホルダ
ー１０をホルダーガイド２０を介してピンボードに調整
可能に取付ける。
Description
【０００１】
この考案は回路基板検査装置に用いられるプローブピンの取付装置に関し、さ らに詳しく言えば、同プローブピンをピンボードに対して位置調整可能に取り付 けることができるようにしたプローブピンの取付装置に関するものである。
【０００２】
図３に示されているように、回路基板検査装置において、通常、プローブピン １はアクリル樹脂板などからなるピンボード２に植設されて使用される。すなわ ち、このプローブピン１はその軸方向にスプリング性を有しており、ピンボード ２の被測定基板Ｐの測定ポイントに対応する位置に孔明けされた透孔内に挿通す ることによりセットされる。そして、同プローブピン１は所定の配線を介してイ ンサーキットテスターなどの測定部に接続される。
【０００３】 これに対して、被測定基板Ｐはプレスもしくはバキューム手段により、その周 辺のガイド板３および位置決めピン４に案内されながら下降し、その測定ポイン トに対してプローブピン１が接触することにより、所定の電気的検査が行なわれ る。
【０００４】 なお、ピンボード２に対する孔明けは、被測定基板Ｐの測定ポイントよりその 孔明け位置を決定し、例えばデジタイザでその座標を読み取りＮＣ孔明け機で穿 孔するようにしている。
【０００５】
この孔明けはピンボード２をしっかりと固定して行なうため、相対的に位置関 係は高精度に決められる。しかしながら、プリント基板の製作工程で、例えばパ ターン形成時のエッチングやレジスト作成時のスクリーン印刷などにおいてその パターンにずれが生じた場合、従来ではプローブピン側に位置調整機能がないた めに、特に線間間隔が０．３〜０．６５ｍｍ程度のファインピッチになると、そ の微小測定ポイントへの接触が不可能になる、という問題があった。
【０００６】
この考案は上記従来の事情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、回路 基板検査用のプローブピンをピンボードに対して取り付けるプローブピンの取付 装置において、上記プローブピンが挿通された状態で保持されるプローブホルダ ーと、上記ピンボードの所定位置に固定されるホルダーガイドとを備え、同ホル ダーガイドには上記プローブホルダーを着脱自在に受け入れるそれよりも実質的 に大きな保持孔と、同保持孔内における上記プローブホルダーの保持位置を調整 する位置調整手段とが設けられており、上記プローブホルダーは上記ホルダーガ イドを介して上記ピンボードに調整可能に取り付けられることにある。
【０００７】 なお、上記位置調整手段は上記保持孔の軸線と直交する方向に沿って同保持孔 内に出没する調整ネジを備えていることが好ましい。その場合、上記調整ネジは その一対が上記保持孔の対向する側壁に配置されていても良いし、または保持孔 の上記調整ネジと対向する部位に同調整ネジとともに上記プローブホルダーを弾 性的に保持するバネ手段を設けても良い。
【０００８】
上記構成によれば、プローブピンはそのプローブホルダーに保持され、同プロ ーブホルダー及びホルダーガイドを介してピンボードに取り付けられる。この場 合、プローブホルダーとホルダーガイドとの間には若干の隙間があるため、位置 調整手段にて同プローブホルダーの位置をその隙間の範囲内で調整することがで きる。
【０００９】
以下、この考案の一実施例を図１および図２を参照しながら説明する。これに よると、このプローブピン取付装置はプローブホルダー１０とホルダーガイド２ ０とを備えている。
【００１０】 プローブホルダー１０にはプローブピン１が挿通保持されるのであるが、この 実施例ではＱＦＰ（クワット・フラット・パッケージ）から引き出されているフ ァインピッチのリード端子に対応するため、同プローブホルダー１０には１３本 のプローブピン１がジグザグ状の配列をもって並べられている。
【００１１】 なお、同プローブホルダー１０は好ましくはピンボード２と同じくアクリル樹 脂などの合成樹脂からなり、この実施例ではプローブピン１が挿通される角柱状 のホルダー本体１１と、同ホルダー本体１１の下縁に連設されたフランジ部１２ ，１２とを備えている。
【００１２】 ホルダーガイド２０は、その両端にピンボード２に対する取付脚２１，２１を 有する角柱状のガイド本体２２を備え、同ガイド本体２２にはホルダー本体１１ よりも実質的に大きな保持孔２３が形成されている。すなわち、この保持孔２３ とホルダー本体１１との間のクリアランスがプローブピン１の調整代となる。
【００１３】 また、ガイド本体２２には保持孔２３内において、プローブホルダー１０の位 置を調整する位置調整手段を備えている。この実施例において、同位置調整手段 は保持孔２３の長手方向に対向する内壁にそれぞれ出没可能とされた一対の調整 ネジ２４ａ，２４ｂから構成されている。
【００１４】 この考案によると、プローブホルダー１０はホルダーガイド２０を介してピン ボード２に取り付けられることになるが、この場合、ピンボード２にはプローブ ホルダー１０に植設されているプローブピン１を逃すためのバカ孔的な逃し孔２ ａが穿設されている。
【００１５】 組み立てにあたっては、まず、測定ポイントの予め設定された座標位置に合わ せてプローブホルダー１０に孔明けを行ない、その孔にプローブピン１を植設す る。そして、このプローブホルダー１０のホルダー本体１１をホルダーガイド２ ０の保持孔２３に嵌合し、調整ネジ２４ａ，２４ｂにて固定する。
【００１６】 そして、ホルダーガイド２０をプローブピン１が測定ポイントに接触良好とな る位置においてピンボード２に固定する。この固定はホルダーガイド２０の取付 脚２１，２１をピンボード２にネジ止めすることにより行なわれる。
【００１７】 このようにして取り付けた後、例えば被測定基板側の印刷ずれなどにより、プ ローブピン１と測定ポイントとの間にずれが生じた場合には、調整ネジ２４ａ， ２４ｂにてプローブホルダー１０を介してプローブピン１の微調整を行なえば良 い。
【００１８】 なお、上記実施例ではプローブピン１を保持孔２３の長手方向（図２において 左右方向）にのみその位置を調整可能としているが、これに加えて同保持孔２３ の短手方向にも一対の調整ネジを出没可能に設けて、図２の紙面前後方向にも位 置調整可能とすることもできる。
【００１９】 また、上記実施例では一対の調整ネジを対向させているが、その一方を板バネ などのバネ手段に置き換えて、プローブホルダー１０を調整ネジとバネ手段とで 弾性的に保持するようにしても良い。
【００２０】
以上説明したように、この考案によれば、回路基板検査用のプローブピンを保 持するプローブホルダーと、ピンボードの所定位置に固定されるホルダーガイド とを備え、同ホルダーガイドにプローブホルダーを着脱自在に受け入れるそれよ りも実質的に大きな保持孔と、同保持孔内におけるプローブホルダーの保持位置 を調整する位置調整手段とを設け、プローブホルダーをホルダーガイドを介して ピンボードに調整可能に取り付けるようにしたことにより、プローブピンと測定 ポイントとの間に相対的なずれが生じても、そのずれ分を調整して良好な接触状 態とすることができ、検査の信頼性が高められる。
【図１】この考案によるプローブピンの取付装置の一実
施例に係る分解斜視図。
施例に係る分解斜視図。
【図２】同実施例の組立状態の正面図。
【図３】従来装置を示した概略的な説明図。
１ プローブピン ２ ピンホード ２ａ 逃し孔 １０ プローブホルダー １１ ホルダー本体 １２ フランジ部 ２０ ホルダーガイド ２１ 取付脚 ２２ ガイド本体 ２３ 保持孔 ２４ａ，２４ｂ 調整ネジ
Claims (4)
- 【請求項１】 回路基板検査用のプローブピンをピンボ
ードに対して取り付けるプローブピンの取付装置におい
て、 上記プローブピンが挿通された状態で保持されるプロー
ブホルダーと、上記ピンボードの所定位置に固定される
ホルダーガイドとを備え、同ホルダーガイドには上記プ
ローブホルダーを着脱自在に受け入れるそれよりも実質
的に大きな保持孔と、同保持孔内における上記プローブ
ホルダーの保持位置を調整する位置調整手段とが設けら
れており、上記プローブホルダーは上記ホルダーガイド
を介して上記ピンボードに調整可能に取り付けられるこ
とを特徴とするプローブピンの取付装置。 - 【請求項２】 上記位置調整手段は上記保持孔の軸線と
直交する方向に沿って同保持孔内に出没する調整ネジを
備えていることを特徴とする請求項１に記載のプローブ
ピンの取付装置。 - 【請求項３】 上記調整ネジはその一対が上記保持孔の
対向する側壁に配置されていることを特徴とする請求項
２に記載のプローブピンの取付装置。 - 【請求項４】 上記保持孔の上記調整ネジと対向する部
位には同調整ネジとともに上記プローブホルダーを弾性
的に保持するバネ手段が設けられていることを特徴とす
る請求項２に記載のプローブピンの取付装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1232993U JPH0665865U (ja) | 1993-02-24 | 1993-02-24 | プローブピンの取付装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1232993U JPH0665865U (ja) | 1993-02-24 | 1993-02-24 | プローブピンの取付装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0665865U true JPH0665865U (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=11802277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1232993U Pending JPH0665865U (ja) | 1993-02-24 | 1993-02-24 | プローブピンの取付装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0665865U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012159390A (ja) * | 2011-01-31 | 2012-08-23 | Fujitsu Component Ltd | コネクタ、プローブ及びプローブの製造方法 |
| KR20220017828A (ko) * | 2020-08-05 | 2022-02-14 | 오므론 가부시키가이샤 | 소켓, 소켓 유닛, 검사 지그 및 검사 지그 유닛 |
| KR20230166435A (ko) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 심흥보 | 프러브카드의 프러브핀 조정용 얼라인 스테이지 |
-
1993
- 1993-02-24 JP JP1232993U patent/JPH0665865U/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012159390A (ja) * | 2011-01-31 | 2012-08-23 | Fujitsu Component Ltd | コネクタ、プローブ及びプローブの製造方法 |
| US8901920B2 (en) | 2011-01-31 | 2014-12-02 | Fujitsu Component Limited | Connector, probe, and method of manufacturing probe |
| KR20220017828A (ko) * | 2020-08-05 | 2022-02-14 | 오므론 가부시키가이샤 | 소켓, 소켓 유닛, 검사 지그 및 검사 지그 유닛 |
| KR20230166435A (ko) * | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 심흥보 | 프러브카드의 프러브핀 조정용 얼라인 스테이지 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990512 |