JPH067257U - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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Publication number
JPH067257U
JPH067257U JP4953392U JP4953392U JPH067257U JP H067257 U JPH067257 U JP H067257U JP 4953392 U JP4953392 U JP 4953392U JP 4953392 U JP4953392 U JP 4953392U JP H067257 U JPH067257 U JP H067257U
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JP
Japan
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lead
semiconductor device
sealing portion
center
bent
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Pending
Application number
JP4953392U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
知幸 古山
Original Assignee
ヤマハメタニクス株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by ヤマハメタニクス株式会社 filed Critical ヤマハメタニクス株式会社
Priority to JP4953392U priority Critical patent/JPH067257U/en
Publication of JPH067257U publication Critical patent/JPH067257U/en
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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板実装後の超音波洗浄において、リードが
破損することを回避する。 【構成】 リード2を封止部1の高さ方向の中央(図中
一点鎖線で示す)よりも下側(基板側)の位置から導出
する。そして、このリード2を導出部近傍で略直角に屈
曲し、更にその先端部を封止部1の下側の部分で再び屈
曲する。
(57) [Summary] [Purpose] To avoid damage to the leads during ultrasonic cleaning after board mounting. [Structure] The lead 2 is led out from a position below the center (indicated by a chain line in the drawing) of the sealing portion 1 in the height direction (on the side of the substrate). Then, the lead 2 is bent at a substantially right angle in the vicinity of the lead-out portion, and the tip portion thereof is bent again at the lower portion of the sealing portion 1.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は半導体チップが樹脂又はセラミックス等によりモールドされた半導体 装置に関し、リード導出位置を封止部中央よりも下側とすることにより、超音波 洗浄時のリードの破損を防止するものである。 The present invention relates to a semiconductor device in which a semiconductor chip is molded with resin, ceramics, or the like, and prevents lead damage during ultrasonic cleaning by setting the lead lead-out position below the center of the sealing portion.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

図2は従来の半導体装置を示す平面図である。半導体チップ(図示せず)はプ ラスチック又はセラミックス等からなる封止部11内に封止されている。この封 止部11の側部には、複数本のリード12が配列されている。このリード12の 一方の端部は、封止部11内において前記半導体チップの近傍に配置されており 、半導体チップ上に設けられた電極と電気的に接続されている。また、封止部1 1から外側に導出した部分のリード12は、導出部の近傍で略直角に屈曲され、 更に先端部が基板15の表面に平行になるように屈曲されている。 FIG. 2 is a plan view showing a conventional semiconductor device. A semiconductor chip (not shown) is sealed in a sealing portion 11 made of plastic or ceramics. A plurality of leads 12 are arranged on the side of the sealing portion 11. One end of the lead 12 is arranged in the sealing portion 11 in the vicinity of the semiconductor chip and electrically connected to an electrode provided on the semiconductor chip. Further, the lead 12 in the portion led out from the sealing portion 11 is bent at a substantially right angle in the vicinity of the lead portion, and further, the tip portion is bent so as to be parallel to the surface of the substrate 15.

【0003】 この半導体装置は、リード12の先端部がプリント基板15に設けられたパッ ドに半田16により接合されて、基板15上に実装される。This semiconductor device is mounted on the board 15 by joining the tips of the leads 12 to the pads provided on the printed board 15 with solder 16.

【0004】 なお、従来の半導体装置においては、図2に示すように、リード12は封止部 11の高さ方向の中央(図中一点鎖線で示す)に配列されているか、又は、図3 に示すように、封止部11の高さ方向の中央よりも上側(即ち、基板から離れる 方向)に配置されている。In the conventional semiconductor device, as shown in FIG. 2, the leads 12 are arranged at the center of the sealing portion 11 in the height direction (indicated by a chain line in the figure), or in FIG. As shown in FIG. 5, the sealing portion 11 is arranged above the center in the height direction (that is, in the direction away from the substrate).

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

しかしながら、上述した従来の半導体装置には、以下に示す問題点がある。即 ち、プリント基板は、半導体装置を実装した後、半田フラックス等を除去するた めに超音波洗浄される。この場合に、超音波により封止部11が振動しリード1 2の導出部側屈曲部(図2に矢印で示す部分)に応力が集中して、リード12が この部分で折れてしまうことがある。 However, the above-described conventional semiconductor device has the following problems. Immediately after the semiconductor device is mounted, the printed circuit board is ultrasonically cleaned to remove solder flux and the like. In this case, the sealing portion 11 is vibrated by ultrasonic waves, stress concentrates on the lead-out portion side bent portion of the lead 12 (the portion indicated by the arrow in FIG. 2), and the lead 12 may break at this portion. is there.

【0006】 本考案はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、超音波洗浄によるリー ドの破損を回避できる半導体装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a semiconductor device capable of avoiding damage to the lead due to ultrasonic cleaning.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案に係る半導体装置は、その内部に半導体チップが封止されている封止部 と、この封止部から導出した複数本のリードとを備えた半導体装置において、前 記リードは前記封止部の高さ方向の中央よりも基板実装側の位置から導出してい ることを特徴とする。 A semiconductor device according to the present invention is a semiconductor device including a sealing portion in which a semiconductor chip is sealed, and a plurality of leads led out from the sealing portion, wherein the lead is the sealing member. It is characterized in that it is derived from the position on the board mounting side rather than the center in the height direction of the part.

【0008】[0008]

【作用】[Action]

本考案においては、リードが封止部の高さ方向の中央よりも基板実装側の位置 から導出している。従って、本考案に係る半導体装置をプリント基板に実装する と、リードの長さが従来に比して短くなる。これにより、超音波洗浄時に封止部 が振動しても、リードの導出部側屈曲部に与えられるモーメントが従来に比して 小さくなり、リードの破損を回避することができる。 In the present invention, the lead is led out from the position on the board mounting side with respect to the center of the sealing portion in the height direction. Therefore, when the semiconductor device according to the present invention is mounted on a printed circuit board, the length of the lead becomes shorter than in the conventional case. As a result, even if the sealing portion vibrates during ultrasonic cleaning, the moment applied to the lead-out side bent portion of the lead becomes smaller than in the conventional case, and lead damage can be avoided.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

次に、本考案の実施例について添付の図面を参照して説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0010】 図1は本考案の実施例に係る半導体装置を示す平面図である。半導体チップ( 図示せず)は、プラスチック又はセラミックス等からなる封止部1内に封止され ており、この封止部1の側部には複数本のリード2が配列されている。このリー ド2の先端部は、封止部1内において半導体チップの近傍に配置されており、半 導体チップに設けられた電極はこのリード先端部に電気的に接続されている。FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. A semiconductor chip (not shown) is sealed in a sealing portion 1 made of plastic, ceramics or the like, and a plurality of leads 2 are arranged on a side portion of the sealing portion 1. The tip of the lead 2 is arranged in the sealing portion 1 near the semiconductor chip, and the electrode provided on the semiconductor chip is electrically connected to the lead tip.

【0011】 リード2は、封止部1の高さ方向の中央(図中一点鎖線で示す)よりも下側( 基板側)の位置から導出している。そして、このリード2は、導出部近傍で略直 角に屈曲されており、更にその先端部が封止部1の下側部分で再び屈曲されてい る。The lead 2 is led out from a position below the center (indicated by a chain line in the drawing) of the sealing portion 1 in the height direction (on the side of the substrate). The lead 2 is bent at a substantially right angle in the vicinity of the lead-out portion, and its tip portion is bent again at the lower portion of the sealing portion 1.

【0012】 この半導体装置は、従来と同様に、リード2の先端部がプリント基板5に設け られたパッドに半田6により接合されて、プリント基板5上に実装される。As in the conventional case, this semiconductor device is mounted on the printed circuit board 5 by joining the tips of the leads 2 to the pads provided on the printed circuit board 5 with the solder 6.

【0013】 本実施例においては、リード2が封止部1の高さ方向の中央よりも下側の部分 から導出している。従って、超音波洗浄時に封止部1が振動しても、基板5に固 定された部分(半田付けされた部分)とリード2の導出側屈曲部との間の距離L が短かいため、このリード2の屈曲部に与えられるモーメントが従来に比して小 さくなる。これにより、リード2の破損を回避することができる。In the present embodiment, the lead 2 is led out from a portion below the center of the sealing portion 1 in the height direction. Therefore, even if the sealing portion 1 vibrates during ultrasonic cleaning, the distance L 1 between the fixed portion (soldered portion) of the substrate 5 and the lead-out side bent portion of the lead 2 is short, The moment applied to the bent portion of the lead 2 is smaller than that of the conventional one. This makes it possible to avoid damage to the lead 2.

【0014】[0014]

【考案の効果】[Effect of device]

以上説明したように本考案に係る半導体装置においては、リードが封止部の高 さ方向の中央よりも基板実装側の位置に配列されているから、超音波洗浄時にリ ードが破損することを回避できる。 As described above, in the semiconductor device according to the present invention, the leads are arranged closer to the board mounting side than the center in the height direction of the encapsulation portion, so that the lead is damaged during ultrasonic cleaning. Can be avoided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本考案の実施例に係る半導体装置を示す平面
図である。
FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来の半導体装置を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a conventional semiconductor device.

【図3】 従来の他の半導体装置を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing another conventional semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,11…封止部、2,12…リード、5,15…プリ
ント基板、6,16…半田
1, 11 ... Sealing part, 2, 12 ... Lead, 5, 15 ... Printed circuit board, 6, 16 ... Solder

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 その内部に半導体チップが封止されてい
る封止部と、この封止部から導出した複数本のリードと
を備えた半導体装置において、前記リードは前記封止部
の高さ方向の中央よりも基板実装側の位置から導出して
いることを特徴とする半導体装置。
1. A semiconductor device comprising: a sealing portion in which a semiconductor chip is sealed; A semiconductor device, which is derived from a position closer to the board mounting side than the center in the direction.
JP4953392U 1992-06-22 1992-06-22 Semiconductor device Pending JPH067257U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4953392U JPH067257U (en) 1992-06-22 1992-06-22 Semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

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JP4953392U JPH067257U (en) 1992-06-22 1992-06-22 Semiconductor device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH067257U true JPH067257U (en) 1994-01-28

Family

ID=12833806

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JP4953392U Pending JPH067257U (en) 1992-06-22 1992-06-22 Semiconductor device

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54140474A (en) * 1978-04-24 1979-10-31 Hitachi Ltd Resin-sealed semiconductor device
JPH04171858A (en) * 1990-11-05 1992-06-19 Hitachi Ltd semiconductor equipment
JP3083955B2 (en) * 1994-05-30 2000-09-04 沖電気工業株式会社 High voltage power supply

Patent Citations (3)

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