JPH0683035A - フレキシブル回路基板用マスク構造 - Google Patents

フレキシブル回路基板用マスク構造

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JPH0683035A
JPH0683035A JP15732593A JP15732593A JPH0683035A JP H0683035 A JPH0683035 A JP H0683035A JP 15732593 A JP15732593 A JP 15732593A JP 15732593 A JP15732593 A JP 15732593A JP H0683035 A JPH0683035 A JP H0683035A
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pattern
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【構成】 樹脂を基材とするフィルム上にパタ−ンを形
成したフレキシブル回路基板において、最終的には消滅
するダミーパターン5を、本パターンの空隙部に設け
る。 【効果】 ダミーパターンに隣接する銅の本パターンの
形状精度を向上させ、形状精度の高いフレキシブル回路
基板を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂を基材とするフィ
ルム上にパターンを形成したフレキシブル回路基板用マ
スク構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のフレキシブル回路基板用マスク
は、図2に示す様に、マスク基材1上にフレキシブル回
路基板の配線パターンに相当する本パターン2を形成し
た構造であった。このマスクを使って露光、現像後、銅
をエッチングし、銅パターンを配したフレキシブル回路
基板を供給していた。なお、回路基板が完成した際に支
持体が無く、銅パターンのみが形成される一層構造部分
マスク上相当部3、銅パターンと一層もしくは多層の支
持体で形成された多層構造部分マスク上相当部4を図2
に示しておく。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述の従来構
造では、エッチング時に本パターンと本パターンの間の
空隙部にエッチング液が集中し、他の部分に比べて、空
隙部に隣接するパターンのエッチング量が多くなり、パ
ターン形状精度の劣るフレキシブル回路基板を供給せざ
るをえないという課題を有する。そこで本発明はこのよ
うな課題を解決するもので、その目的とするところは、
パターンの形状精度の高いフレキシブル回路基板を供給
するところにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のフレキシブル回
路基板用マスク構造は、樹脂を基材とするフィルム上に
パターンを形成したフレキシブル回路基板において、最
終的には消滅するダミーパターンを本パターンの空隙部
に形成する事により、ダミーパターンに隣接する本パタ
ーンの形状精度を向上させた事を特徴とする。
【0005】
【実施例】本発明はフレキシブル回路基板において、マ
スク上の本パターンの空隙部に最終的には消滅するダミ
ーパターンを設け、そのマスクを使って、パターンを露
光工程で焼き付け、現像し、エッチング時にダミーパタ
ーンがエッチング液による銅の浸食の緩衝壁になる事に
より、ダミーパターンに隣接する銅の本パターンの形状
精度を向上させ、形状精度の高いフレキシブル回路基板
を供給することを可能にする、フレキシブル回路基板用
マスク構造。
【0006】以下に本発明の実施例を図面にもとづいて
説明する。図1は本発明のフレキシブル回路基板用マス
クの平面図、図2は従来のフレキシブル回路基板用マス
クの平面図である。
【0007】本発明のフレキシブル回路基板用マスク
は、マスク基材1上にフレキシブル回路基板の配線パタ
ーンに相当する本パターン2を形成し、さらに、本パタ
ーンと本パターンの空隙部にダミーパターン5を形成し
た構造である。フレキシブル回路基板を製造する際には
本発明のマスクを使って露光し、現像後、銅をエッチン
グして、配線パターンを形成するのであるが、本発明の
マスクを使えば、エッチングの際にシャワー状に降り注
ぐエッチング液に対する緩衝壁として、ダミーパターン
5が機能し、ダミーパターン5に隣接する本パターン2
へ注ぐシャワー状のエッチング液の勢いを柔らげること
になる。これにより、ダミーパターン5に隣接する本パ
ターン2の過剰エッチングを緩和することができる。な
お本パターン2は、多層の支持体で形成された多層構造
部分に、つながっている為、脱落しないが、ダミーパタ
ーン5は銅パターンのみが形成される一層構造部分内に
あり、多層の支持体で形成された多層構造部分と、切り
離されている為、エッチング完了後、脱落し、消滅す
る。この後、必要に応じ、ソルダーレジスト印刷、メッ
キを行い、形状精度の高いフレキシブル回路基板が完成
する。
【0008】
【発明の効果】以上述べたように発明によれば、マスク
上の本パターンの空隙部に、最終的には消滅するダミー
パターンを設け、そのマスクを使って、パターンを露光
工程で焼き付け、現像し、エッチング時に、ダミーパタ
ーンがエッチング液による銅の浸食の緩衝壁になる事に
より、従来のダミーパターンを設けていないマスクを使
った方式に比べて、ダミーパターンに隣接する銅の本パ
ターンの形状精度を向上させ、形状精度の高いフレキシ
ブル回路基板を供給することを可能にするという効果を
有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のフレキシブル回路基板用マスクの平
面図。
【図2】 従来のフレキシブル回路基板用マスクの平面
図。
【符号の説明】
1‥‥マスク基材 2‥‥本パターン 3‥‥一層構造部分マスク上相当部 4‥‥多層構造部分マスク上相当部 5‥‥ダミーパターン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂を基材とするフィルム上にパターン
    を形成したフレキシブル回路基板において、最終的には
    消滅するダミーパターンを本パターンの空隙部に形成す
    る事により、本パターンの形状精度を向上させた事を特
    徴とするフレキシブル回路基板用マスク構造。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007048963A (ja) * 2005-08-10 2007-02-22 Sharp Corp プリント配線板の製造方法、プリント配線板用フォトマスク、およびフォトマスク作成プログラム

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JPS5878150A (ja) * 1981-11-02 1983-05-11 Nec Corp ガラスマスク
JPS62299852A (ja) * 1986-06-19 1987-12-26 Toshiba Corp 露光マスク
JPS6459832A (en) * 1987-08-31 1989-03-07 Toshiba Corp Manufacture of semiconductor device

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