JPH0684909B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH0684909B2 JPH0684909B2 JP22858284A JP22858284A JPH0684909B2 JP H0684909 B2 JPH0684909 B2 JP H0684909B2 JP 22858284 A JP22858284 A JP 22858284A JP 22858284 A JP22858284 A JP 22858284A JP H0684909 B2 JPH0684909 B2 JP H0684909B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gain
- filter
- switching
- spectrophotometer
- spectrum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は光検出素子としてホトダイオードのような自己
増倍機能を持たない素子を用いた分光光度計において、
増幅回路の利得切換え機構に関する。
増倍機能を持たない素子を用いた分光光度計において、
増幅回路の利得切換え機構に関する。
ロ．従来の技術 分光光度計で用いられる光検出素子は、光電子増倍管の
ようにそれ自身が増幅機能を持つ素子と、ホトダイオー
ドのようにそれ自身は増幅機能がなく、別に増幅回路を
必要とするものとに大別することができる。他方分光光
度計では光源の分光特性と分光器の分光透過特性によつ
て、分光器透過光のエネルギーは波長によつて大きく変
化し、この変化するエネルギーに対してほゞ一定の大き
さの信号が得られるようにするため、光電子増倍管等を
用いた分光光度計ではダイノードフイードバツク方式で
検出素子自身の感度を変えているが、ホトダイオード等
の増幅機能を持たない検出素子を用いたものでは、連結
的に利得を制御できる増幅回路は実現が困難であるた
め、サーボ機構を用いて光量調節手段を駆動する方式或
は増幅器の利得を何段かに切換えられるようにして、離
散的に測光系の感度を切換える方式が用いられている。
本発明はこの後者の方式に関するが、従来この方式の分
光光度計では、スペクトルの記録を行つている最中に利
得切換えが行われると、スペクトル上にシヨツクノイズ
が現れるため、切換え時には一旦波長走査を停止させる
必要があり、スペクトル記録に無駄な時間を費さねばな
らなかつた。
ようにそれ自身が増幅機能を持つ素子と、ホトダイオー
ドのようにそれ自身は増幅機能がなく、別に増幅回路を
必要とするものとに大別することができる。他方分光光
度計では光源の分光特性と分光器の分光透過特性によつ
て、分光器透過光のエネルギーは波長によつて大きく変
化し、この変化するエネルギーに対してほゞ一定の大き
さの信号が得られるようにするため、光電子増倍管等を
用いた分光光度計ではダイノードフイードバツク方式で
検出素子自身の感度を変えているが、ホトダイオード等
の増幅機能を持たない検出素子を用いたものでは、連結
的に利得を制御できる増幅回路は実現が困難であるた
め、サーボ機構を用いて光量調節手段を駆動する方式或
は増幅器の利得を何段かに切換えられるようにして、離
散的に測光系の感度を切換える方式が用いられている。
本発明はこの後者の方式に関するが、従来この方式の分
光光度計では、スペクトルの記録を行つている最中に利
得切換えが行われると、スペクトル上にシヨツクノイズ
が現れるため、切換え時には一旦波長走査を停止させる
必要があり、スペクトル記録に無駄な時間を費さねばな
らなかつた。
ハ．発明が解決しようとする問題点 本発明は光検出素子として自身増幅機能を持たず、増幅
回路を必要とする素子を用い、増幅回路の利得を複数段
に切換えるようにして測定波長域でほゞ一定した信号が
得られるようにした分光光度計において、上述したよう
にスペクトル記録中に利得切換えを行う場合、波長走査
を一旦停止させる必要があつたのに対して、スペクトル
記録中における波長停止期間をなるべく少くし、時間経
済を計るものである。
回路を必要とする素子を用い、増幅回路の利得を複数段
に切換えるようにして測定波長域でほゞ一定した信号が
得られるようにした分光光度計において、上述したよう
にスペクトル記録中に利得切換えを行う場合、波長走査
を一旦停止させる必要があつたのに対して、スペクトル
記録中における波長停止期間をなるべく少くし、時間経
済を計るものである。
ニ．目的を達成するための手段 分光光度計で広い波長範囲を走査する場合、回折格子の
高次光をカツトするフイルターを順次交換して行くの
で、本発明ではこのフイルター交換と連動させてフイル
ター交換時に測光系の利得の切換えを行うようにして波
長走査を停止させる回数を低減した。
高次光をカツトするフイルターを順次交換して行くの
で、本発明ではこのフイルター交換と連動させてフイル
ター交換時に測光系の利得の切換えを行うようにして波
長走査を停止させる回数を低減した。
ホ．作用 第２図で横軸は波長であり、縦軸は測光系の出力であ
り、ブランク試料のスペクトル記録の一例を示す。この
図でf1,f2等は高次光カツトフイルターを交換した波長
であり、交換した所でスペクトル記録に段差が現れてい
る。この図はスペクトルの最高点が増幅器が飽和しない
範囲に収まるように設定された一定利得のもとでの記録
であり、スペクトルの両端付近では信号強度が大へん低
くなつている。従来は感度切換レベルを例えば1,l2の
ように設定して、このレベルの所で利得切換えを行つて
いたので、スペクトル走査はf1,f2等の点の他、t1,t2等
でも停止させる必要があつた。
り、ブランク試料のスペクトル記録の一例を示す。この
図でf1,f2等は高次光カツトフイルターを交換した波長
であり、交換した所でスペクトル記録に段差が現れてい
る。この図はスペクトルの最高点が増幅器が飽和しない
範囲に収まるように設定された一定利得のもとでの記録
であり、スペクトルの両端付近では信号強度が大へん低
くなつている。従来は感度切換レベルを例えば1,l2の
ように設定して、このレベルの所で利得切換えを行つて
いたので、スペクトル走査はf1,f2等の点の他、t1,t2等
でも停止させる必要があつた。
本発明ではフイルター交換の際、利得切換えの必要の有
無を検討して、フイルター交換時を利用して利得切換え
を行うので、第２図に対応するスペクトル記録は第３図
に示すようになる。この図でＶと記した信号レベルは利
得切換えを行うレベルを与える。波長走査に伴つて信号
レベルが上昇過程にあるとき、フイルター交換が行われ
たとき、信号レベルがＶを超えていたら利得を切下げ、
波長走査に伴つて信号レベルが下降過程にあるとき、フ
イルター交換が行われてそのとき信号レベルがＶより下
にあれば利得を切上げる。この結果スペクトル記録は図
のようになり、波長走査の停止はf1,f2等フイルター交
換点だけで、第２図のような余分な停止点t1,t2等がな
くなる。なおこの説明では簡単のため単一レベルにおい
て信号の変化傾向で利得の切上げ、切下げを判定してい
るが、一般にはスペクトルは複数な変化を示すので後述
実施例のように利得切上げレベルを切下げレベルを別々
に設定した方がよい。
無を検討して、フイルター交換時を利用して利得切換え
を行うので、第２図に対応するスペクトル記録は第３図
に示すようになる。この図でＶと記した信号レベルは利
得切換えを行うレベルを与える。波長走査に伴つて信号
レベルが上昇過程にあるとき、フイルター交換が行われ
たとき、信号レベルがＶを超えていたら利得を切下げ、
波長走査に伴つて信号レベルが下降過程にあるとき、フ
イルター交換が行われてそのとき信号レベルがＶより下
にあれば利得を切上げる。この結果スペクトル記録は図
のようになり、波長走査の停止はf1,f2等フイルター交
換点だけで、第２図のような余分な停止点t1,t2等がな
くなる。なおこの説明では簡単のため単一レベルにおい
て信号の変化傾向で利得の切上げ、切下げを判定してい
るが、一般にはスペクトルは複数な変化を示すので後述
実施例のように利得切上げレベルを切下げレベルを別々
に設定した方がよい。
ヘ．実施例 第１図に本発明の一実施例を示す。１は光源、２は高次
光カツトフイルターで複数種のものが円周方向に配列さ
れて回転によりフイルター交換が行われる。３は分光
器、４は分光器出射光を二光束に分割するセクターミラ
ー、５は参照試料、６は被測定試料、７は光検出素子、
８はプリアンプで、同アンプにおいて利得が切換えられ
る。９はブリアンプ８の利得切換え抵抗群で、スイツチ
により抵抗の組合せを変えて利得を切換える。10は信号
分離スイツチで、セクターミラー４の回転と動機して作
動するアナログスイツチであり、参照信号をA/D変換器1
1に、被測定試料信号をA/D変換器12に振分ける。13は割
算器で被測定試料信号を参照信号で割算する。14はフイ
ルター交換及び利得切換え等を制御している制御部であ
る。
光カツトフイルターで複数種のものが円周方向に配列さ
れて回転によりフイルター交換が行われる。３は分光
器、４は分光器出射光を二光束に分割するセクターミラ
ー、５は参照試料、６は被測定試料、７は光検出素子、
８はプリアンプで、同アンプにおいて利得が切換えられ
る。９はブリアンプ８の利得切換え抵抗群で、スイツチ
により抵抗の組合せを変えて利得を切換える。10は信号
分離スイツチで、セクターミラー４の回転と動機して作
動するアナログスイツチであり、参照信号をA/D変換器1
1に、被測定試料信号をA/D変換器12に振分ける。13は割
算器で被測定試料信号を参照信号で割算する。14はフイ
ルター交換及び利得切換え等を制御している制御部であ
る。
制御部14の利得切換え動作は次のように行われる。制御
部14は分光器３の波長走査を制御して波長を検知してお
り、所定波長位置で波長走査を停止してフイルター２の
交換を行い、フイルター交換後のA/D変換器11の出力即
ち参照信号のデータ（Ｒとする）を読込み、Ｒは利得切
換えの下限レベルVlより下にあれば利得を高い方に切換
えＲが利得切換えの上限Vhより上にあれば利得を低い方
に切換え、その後波長走査を再開させる。
部14は分光器３の波長走査を制御して波長を検知してお
り、所定波長位置で波長走査を停止してフイルター２の
交換を行い、フイルター交換後のA/D変換器11の出力即
ち参照信号のデータ（Ｒとする）を読込み、Ｒは利得切
換えの下限レベルVlより下にあれば利得を高い方に切換
えＲが利得切換えの上限Vhより上にあれば利得を低い方
に切換え、その後波長走査を再開させる。
ト．効果 本発明によればスペクトル記録の際、フイルター交換時
を利用して測光系の利得切換えを行うようにしたので、
走査停止の期間が減少し、測定所要時間が短縮される。
を利用して測光系の利得切換えを行うようにしたので、
走査停止の期間が減少し、測定所要時間が短縮される。
第１図は本発明の一実施例分光光度計のブロツク図、第
２図は利得切換えを行わないときのスペクトル記録、第
３図は本発明の作用を説明するためのグラフである。
２図は利得切換えを行わないときのスペクトル記録、第
３図は本発明の作用を説明するためのグラフである。
Claims (1)
- 【請求項１】分光器の波長走査と連動して高次光カット
フィルターを交換する手段と、上記フィルタが交換され
たときの測光系の出力が所定レベルを超えているか否か
によって測光系の利得を切換えるか否かを判定する手段
と、上記フィルターが交換されたとき、上記判定する手
段の利得を切換えるべきとする判定によって測光系の利
得を切換える手段とを備えた分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22858284A JPH0684909B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22858284A JPH0684909B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61105430A JPS61105430A (ja) | 1986-05-23 |
| JPH0684909B2 true JPH0684909B2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=16878618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22858284A Expired - Lifetime JPH0684909B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0684909B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0287029A (ja) * | 1988-09-24 | 1990-03-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JPH04157331A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分光測定方法および分光測定装置 |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP22858284A patent/JPH0684909B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61105430A (ja) | 1986-05-23 |
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