JPH0685221B2 - 光学ヘツド位置検出器 - Google Patents
光学ヘツド位置検出器Info
- Publication number
- JPH0685221B2 JPH0685221B2 JP1046486A JP1046486A JPH0685221B2 JP H0685221 B2 JPH0685221 B2 JP H0685221B2 JP 1046486 A JP1046486 A JP 1046486A JP 1046486 A JP1046486 A JP 1046486A JP H0685221 B2 JPH0685221 B2 JP H0685221B2
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- JP
- Japan
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- optical head
- position detector
- interrupt
- detecting
- head position
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- Expired - Lifetime
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 33
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式記録再生装置において、光学ヘツドの
位置を電気信号として検出する光学ヘツド位置検出器に
関する。
位置を電気信号として検出する光学ヘツド位置検出器に
関する。
〔発明の概要〕 本発明は、光学式記録再生装置の光学ヘツドの位置検出
手段において、反射光電型のインタラプトセンサを２個
対向させて設け、光学ヘツドに固定したこう配を有する
反射板で２個のインタラプトセンサのギヤツプ変化を検
出することにより、非接触で小型かつ安価で、差動検出
のために温度変化、ノイズの影響を受けにくい光学ヘツ
ドの位置検出を可能とした。
手段において、反射光電型のインタラプトセンサを２個
対向させて設け、光学ヘツドに固定したこう配を有する
反射板で２個のインタラプトセンサのギヤツプ変化を検
出することにより、非接触で小型かつ安価で、差動検出
のために温度変化、ノイズの影響を受けにくい光学ヘツ
ドの位置検出を可能とした。
従来、光学ヘツドのアクセス制御を実現するために光学
ヘツドの位置検出には、ポテンシヨメータ，エンコー
ダ，イメージセンサ等が用いられており、特開昭57−53
8380に開示された方法などがある。
ヘツドの位置検出には、ポテンシヨメータ，エンコー
ダ，イメージセンサ等が用いられており、特開昭57−53
8380に開示された方法などがある。
しかし、ポテンシヨメータは接触形のために寿命、信頼
性の点で問題があり、エンコーダ，イメージセンサを用
いると装置のコストアップが避けられない。また、位置
検出器を設けずにアクセスを行なう場合は、アクセスタ
イムが遅くなることが問題となる。
性の点で問題があり、エンコーダ，イメージセンサを用
いると装置のコストアップが避けられない。また、位置
検出器を設けずにアクセスを行なう場合は、アクセスタ
イムが遅くなることが問題となる。
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは、寿命、信頼性の面から非接触で
光学ヘツドの位置検出を行い、小型、安価で光学式記録
再生装置のコストアツプを避け、かつ差動検出とするこ
とで温度変化、ノイズにも強い光学ヘツド位置検出器を
提供し、光学ヘツドの高速アクセスを可能とするところ
にある。
の目的とするところは、寿命、信頼性の面から非接触で
光学ヘツドの位置検出を行い、小型、安価で光学式記録
再生装置のコストアツプを避け、かつ差動検出とするこ
とで温度変化、ノイズにも強い光学ヘツド位置検出器を
提供し、光学ヘツドの高速アクセスを可能とするところ
にある。
本発明の光学ヘツド位置検出器は、光学式記録再生装置
の位置を検出する手段において、固定フレームに設けら
れた２個の対向する光電型のインタラプトセンサと、前
記光学ヘツドに固定され、こう配を有する反射板を前記
インタラプトセンサ間に配し、前記反射板と、前記イン
タラプトセンサとのギヤツプ変化を差動検出することに
よつて前記光学ヘツドの位置検出を行うことを特徴とす
る。
の位置を検出する手段において、固定フレームに設けら
れた２個の対向する光電型のインタラプトセンサと、前
記光学ヘツドに固定され、こう配を有する反射板を前記
インタラプトセンサ間に配し、前記反射板と、前記イン
タラプトセンサとのギヤツプ変化を差動検出することに
よつて前記光学ヘツドの位置検出を行うことを特徴とす
る。
本発明の上記の構成によれば、光学ヘツドの移動によつ
てインタラプトセンサと反射板のギヤツプが変化するた
めに、インタラプトセンサの出力を差動検出することに
よつて光学ヘツドの位置検出が可能である。
てインタラプトセンサと反射板のギヤツプが変化するた
めに、インタラプトセンサの出力を差動検出することに
よつて光学ヘツドの位置検出が可能である。
以下図面を用いて本発明について詳細に説明する。
第１図は本発明の光学ヘツド位置検出器の主要構成図で
ある。光学ヘツド１は、２本の支持シヤフト２によつて
直線運動のみが可能な状態に支持され、その運動方向に
こう配を有する反射板３が２つのインタラプトセンサ４
の間を移動することにより反射板とインタラプトセンサ
のギヤツプが変化し、それを差動検出することによつて
光学ヘツドの位置検出を実現している。
ある。光学ヘツド１は、２本の支持シヤフト２によつて
直線運動のみが可能な状態に支持され、その運動方向に
こう配を有する反射板３が２つのインタラプトセンサ４
の間を移動することにより反射板とインタラプトセンサ
のギヤツプが変化し、それを差動検出することによつて
光学ヘツドの位置検出を実現している。
第２図は、インタラプトセンサ配置図で、２つのギヤツ
プd1,d2は、和が一定の状態で変化する。
プd1,d2は、和が一定の状態で変化する。
第３図は、検出回路図で、ここではインタラプトセンサ
にLEDとフオトトランジスタが一体化された構造のもの
を用いている。
にLEDとフオトトランジスタが一体化された構造のもの
を用いている。
第４図は、ギヤツプd1,d2の変化と、インタラプトセン
サの出力A,B（第３図参照）の変化を示す差動出力特性
図で、変化の様子は模式的に表わしてある。実際には、
直線性の良好な範囲にギヤツプを設定すれば良い。差動
検出の利点としては、たとえば周囲温度の変化によりA,
Bの出力特性が第４図に示した一点鎖線のように変化し
ても差動出力Ｖはほとんど変化せずに第４図のように
Ｖ′が得られる。またノイズの影響を受けにくくなる。
サの出力A,B（第３図参照）の変化を示す差動出力特性
図で、変化の様子は模式的に表わしてある。実際には、
直線性の良好な範囲にギヤツプを設定すれば良い。差動
検出の利点としては、たとえば周囲温度の変化によりA,
Bの出力特性が第４図に示した一点鎖線のように変化し
ても差動出力Ｖはほとんど変化せずに第４図のように
Ｖ′が得られる。またノイズの影響を受けにくくなる。
以上の構成でギヤツプ変化を検出することにより光学ヘ
ツドの位置を検出することが可能となる。
ツドの位置を検出することが可能となる。
尚、インタラプトセンサは、赤外光タイプを利用すれ
ば、外来可視光の悪影響を減らすことができる。
ば、外来可視光の悪影響を減らすことができる。
以上述べたように本発明によれば、光学ヘツドの位置検
出を非接触で行うことが可能で、安価で小型な構造で、
差動検出を行つているために温度変化の影響を受けにく
く、ノイズに強い光学ヘツド位置検出器が構成できるた
め、光学ヘツドの高速アクセス可能となる。
出を非接触で行うことが可能で、安価で小型な構造で、
差動検出を行つているために温度変化の影響を受けにく
く、ノイズに強い光学ヘツド位置検出器が構成できるた
め、光学ヘツドの高速アクセス可能となる。
第１図は本発明の光学ヘツド位置検出器の主要構成図。 第２図はインタラプトセンサ配置図。 第３図は検出部回路図。 第４図は差動出力特性図。 ５……差動増幅器
Claims (1)
- 【請求項１】本発明は、光学式記録再生装置の光学ヘツ
ドの位置を検出する手段において、固定フレームに設け
られた２個の対向する光電型のインタラプトセンサと、
前記光学ヘツドに固定され、こう配を有する反射板を前
記インタラプトセンサ間に配し、前記反射板と、前記イ
ンタラプトセンサとのギヤツプ変化を差動検出すること
によつて前記光学ヘツドの位置検出を行うことを特徴と
する光学ヘツド位置検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046486A JPH0685221B2 (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 光学ヘツド位置検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046486A JPH0685221B2 (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 光学ヘツド位置検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62170029A JPS62170029A (ja) | 1987-07-27 |
| JPH0685221B2 true JPH0685221B2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=11750854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1046486A Expired - Lifetime JPH0685221B2 (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 光学ヘツド位置検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0685221B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6149344B2 (ja) * | 2012-04-04 | 2017-06-21 | セイコーエプソン株式会社 | 印刷装置および印刷方法 |
-
1986
- 1986-01-21 JP JP1046486A patent/JPH0685221B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62170029A (ja) | 1987-07-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |