JPH068532Y2 - 高温用試験治具 - Google Patents
高温用試験治具Info
- Publication number
- JPH068532Y2 JPH068532Y2 JP1988011868U JP1186888U JPH068532Y2 JP H068532 Y2 JPH068532 Y2 JP H068532Y2 JP 1988011868 U JP1988011868 U JP 1988011868U JP 1186888 U JP1186888 U JP 1186888U JP H068532 Y2 JPH068532 Y2 JP H068532Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jig
- test
- high temperature
- holding
- test piece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本考案は、セラミックスなどの試験片を高温炉にて加熱
しつつ負荷する材料試験機における高温用試験治具に関
する。
しつつ負荷する材料試験機における高温用試験治具に関
する。
B.従来の技術 この種の高温試験では、試験片を1500〜1600℃
に加熱するのでセラミックス製の高温用試験治具を用い
て試験片を保持している。例えば、特開昭60−120
231号公報には、試験機側に連結されるセラミックス
製の支持台と、この上に着脱可能に設けられるセラミッ
クス製の支持治具とから成る2分割曲げ試験用治具が開
示されている。
に加熱するのでセラミックス製の高温用試験治具を用い
て試験片を保持している。例えば、特開昭60−120
231号公報には、試験機側に連結されるセラミックス
製の支持台と、この上に着脱可能に設けられるセラミッ
クス製の支持治具とから成る2分割曲げ試験用治具が開
示されている。
あるいは、引張り試験治具として、試験片を把持するセ
ラミックス製のホルダと、このホルダを試験機側に連結
するセラミックス製のピンとから成るものが知られてい
る。
ラミックス製のホルダと、このホルダを試験機側に連結
するセラミックス製のピンとから成るものが知られてい
る。
C.考案が解決しようとする問題点 しかしながら、大気中はもちろん、N2,Arなどの不
活性ガス中においても微量のO2が存在するため、セラ
ミックス、例えばSiCセラミックスは高温下で酸化さ
れてその表面にSiO2(シリカ)が生成され、支持台
と支点治具とが接合してしまい、保持台が取り外せなく
なる。また同様に、ホルダとピンとが接合してしまい、
ユニバーサルジョイントの機能を果たさなくなるおそれ
がある。
活性ガス中においても微量のO2が存在するため、セラ
ミックス、例えばSiCセラミックスは高温下で酸化さ
れてその表面にSiO2(シリカ)が生成され、支持台
と支点治具とが接合してしまい、保持台が取り外せなく
なる。また同様に、ホルダとピンとが接合してしまい、
ユニバーサルジョイントの機能を果たさなくなるおそれ
がある。
本考案の目的は、高温試験時に試験片取付け用の治具を
構成する2つの部材が互いに接合しないように改良した
高温用試験治具を提供することにある。
構成する2つの部材が互いに接合しないように改良した
高温用試験治具を提供することにある。
D.問題点を解決するための手段 本考案に係る高温用試験治具は、試験片を保持するセラ
ミックス製の保持部材と、この保持部材を試験機に接続
するセラミックス製の接続部材とを備えて成り、更に両
部材の接触面にカーボン製の分離部材を介在させことに
より、上述の問題点を解決する。
ミックス製の保持部材と、この保持部材を試験機に接続
するセラミックス製の接続部材とを備えて成り、更に両
部材の接触面にカーボン製の分離部材を介在させことに
より、上述の問題点を解決する。
E.作用 加熱試験時に分離部材が介在されるので両部材の接合が
防止され、試験後の両部材の分離が容易となる。また、
試験時に両部材は互いに摺動し得るので、所望の機能が
損なわれない。
防止され、試験後の両部材の分離が容易となる。また、
試験時に両部材は互いに摺動し得るので、所望の機能が
損なわれない。
F.実施例 第1図および第2図により一実施例を説明する。
第2図において、試験片TPは高温炉1内に収容されて
いる。この装置はポンチ2によって5つの試験片TPに
曲げ荷重を加え、各試験片TPを連続的に曲げ試験する
ようにしたもので、5つの支持台3に設けられた5つの
曲げ支持治具4を有する。支持台3および支持治具4は
ともにSiCセラミックスから成る。各支点治具4はそ
れぞれ一対の曲げ支点5をもち、各試験片TPは各支点
治具4の曲げ支点5間にかけ渡され、保持されている。
曲げ支点5もSiCセラミックスから成る。第1図に示
すように、曲げ支点治具4と支持台3は互いに分離さ
れ、支持治具4は支持台3の溝6に取外し可能に嵌め込
まれ、組み合わされている。各支持台3も互いに分離さ
れ、順次隣接して接触するよう配列されている。各支点
治具4も互いに分離されている。ここで、支点治具4と
支持台3との間、および曲げ支点5と支持治具4との間
には、それぞれカーボンパウダ7が介在されている。
いる。この装置はポンチ2によって5つの試験片TPに
曲げ荷重を加え、各試験片TPを連続的に曲げ試験する
ようにしたもので、5つの支持台3に設けられた5つの
曲げ支持治具4を有する。支持台3および支持治具4は
ともにSiCセラミックスから成る。各支点治具4はそ
れぞれ一対の曲げ支点5をもち、各試験片TPは各支点
治具4の曲げ支点5間にかけ渡され、保持されている。
曲げ支点5もSiCセラミックスから成る。第1図に示
すように、曲げ支点治具4と支持台3は互いに分離さ
れ、支持治具4は支持台3の溝6に取外し可能に嵌め込
まれ、組み合わされている。各支持台3も互いに分離さ
れ、順次隣接して接触するよう配列されている。各支点
治具4も互いに分離されている。ここで、支点治具4と
支持台3との間、および曲げ支点5と支持治具4との間
には、それぞれカーボンパウダ7が介在されている。
ポンチ2はピン7によって負荷ロッド8に連結され、負
荷ロッド8はロードセル9を介してクロスヘッド10に
連結され、支持されている。各支持台3は移動台11の
保持具12によって保持され、断熱材から成るガイド1
3によって横方向に移動方向に案内されている。さら
に、ハンドル14を有する送りねじ15が横方向に配設
されて移動台11に螺合し、両端がテーブル16に軸支
されている。
荷ロッド8はロードセル9を介してクロスヘッド10に
連結され、支持されている。各支持台3は移動台11の
保持具12によって保持され、断熱材から成るガイド1
3によって横方向に移動方向に案内されている。さら
に、ハンドル14を有する送りねじ15が横方向に配設
されて移動台11に螺合し、両端がテーブル16に軸支
されている。
このように構成された装置において、試験片TPは高温
炉1によって予め定められた設定温度(例えば1500
0℃〜1600℃)まで加熱される。その後、クロスヘ
ッド10を下降させて負荷ロッド8、ロードセル9およ
びクロスヘッド10と一体的にポンチ2を下降する。し
たがって、ポンチ2が試験片TPを押圧し、試験片TP
に曲げ荷重が加えられる。曲げ支点5および支持治具4
は曲げ荷重の反力を受け、試験片TPは曲げ支点5間で
変形する。したがって、試験片TPを高温曲げ試験する
ことができる。
炉1によって予め定められた設定温度(例えば1500
0℃〜1600℃)まで加熱される。その後、クロスヘ
ッド10を下降させて負荷ロッド8、ロードセル9およ
びクロスヘッド10と一体的にポンチ2を下降する。し
たがって、ポンチ2が試験片TPを押圧し、試験片TP
に曲げ荷重が加えられる。曲げ支点5および支持治具4
は曲げ荷重の反力を受け、試験片TPは曲げ支点5間で
変形する。したがって、試験片TPを高温曲げ試験する
ことができる。
このような高温試験に際して、高温炉1の雰囲気ガス中
のO2により、SiCセラミックス製の支持台3、支点
治具4および曲げ支点5の表面にはSiO2(シリカ)
が生成され、従来のように各部材を直接に接触させると
両部材が互いに接合して取り外せなくなるが、この実施
例のように、カーボンパウダ7を介在させると、例えば
大気中では加熱によりカーボンパウダ7が燃焼しそのカ
スが両部材間に残り接合が防止される。このため、損傷
した支持治具4や曲げ支点の交換作業が容易となる。な
お、真空中や不活性ガス中ではカーボンパウダ7はその
まま残り、接合が防止される。
のO2により、SiCセラミックス製の支持台3、支点
治具4および曲げ支点5の表面にはSiO2(シリカ)
が生成され、従来のように各部材を直接に接触させると
両部材が互いに接合して取り外せなくなるが、この実施
例のように、カーボンパウダ7を介在させると、例えば
大気中では加熱によりカーボンパウダ7が燃焼しそのカ
スが両部材間に残り接合が防止される。このため、損傷
した支持治具4や曲げ支点の交換作業が容易となる。な
お、真空中や不活性ガス中ではカーボンパウダ7はその
まま残り、接合が防止される。
試験片TPの試験が完了した後、ハンドル14によって
送りねじ15を回転操作すると、そのねじ送り作用によ
って移動台11が移動する。各支点治具4は支持台3、
保持具12および移動台11と一体的に移動する。した
がって、各試験片TPを順次交互にポンチ2と対向させ
ることができ、連続して曲げ試験することができる。
送りねじ15を回転操作すると、そのねじ送り作用によ
って移動台11が移動する。各支点治具4は支持台3、
保持具12および移動台11と一体的に移動する。した
がって、各試験片TPを順次交互にポンチ2と対向させ
ることができ、連続して曲げ試験することができる。
なお、カーボンパウダに代え、カーボン繊維を短くカッ
トして成るカーボントウ、カーボンフエルト、カーボン
ペーパーなどを用いることができ、更に各部材の接触面
にカーボンを溶射してカーボンコーティングを形成して
もよい。
トして成るカーボントウ、カーボンフエルト、カーボン
ペーパーなどを用いることができ、更に各部材の接触面
にカーボンを溶射してカーボンコーティングを形成して
もよい。
また、3点曲げ試験用の治具を示したが、第3図に示す
ように、上下プルロッド21,22にSiCセラミック
ス製のピン23を介してSiCセラミックス製の上下ホ
ルダ24,25を連結し、ホルダ24,25間に試験片
TPをピン結合して保持するような引張試験用治具にも
本考案を適用でき、この場合、ピン23とホルダ24,
25との接触面、ピン23とプルロッド21,22との
接触面にカーボンパウダ等の分離部材26を介在させれ
ばよい。この構成によれば、加熱時にピン23がホルダ
24,25に接合せず、ピン23によるユニバーサルジ
ョイン機能が保たれる。
ように、上下プルロッド21,22にSiCセラミック
ス製のピン23を介してSiCセラミックス製の上下ホ
ルダ24,25を連結し、ホルダ24,25間に試験片
TPをピン結合して保持するような引張試験用治具にも
本考案を適用でき、この場合、ピン23とホルダ24,
25との接触面、ピン23とプルロッド21,22との
接触面にカーボンパウダ等の分離部材26を介在させれ
ばよい。この構成によれば、加熱時にピン23がホルダ
24,25に接合せず、ピン23によるユニバーサルジ
ョイン機能が保たれる。
すなわち、本考案は、試験片TPを保持するホルダと、
このホルダを材料試験機に接続しいずれかの面がホルダ
と接触する接続部材とを有し、いずれもセラミックスで
形成される各種試験用治具に適用できる。また、SiC
セラミックスに限らず、高温下でセラミックス同志が接
合するものであればいずれのセラミックスにて作製され
る部材についても本考案を適用し得る。
このホルダを材料試験機に接続しいずれかの面がホルダ
と接触する接続部材とを有し、いずれもセラミックスで
形成される各種試験用治具に適用できる。また、SiC
セラミックスに限らず、高温下でセラミックス同志が接
合するものであればいずれのセラミックスにて作製され
る部材についても本考案を適用し得る。
G.考案の効果 本考案によれば、高温用試験治具を構成するセラミック
ス製の2部材間にカーボンから成る分離部材を介在させ
たので、高温試験時に両部材が接合せず、両部材の分
離、あるいは摺動が可能となる。この結果、試験後の分
離作業が不要となり、また試験時に所望の機能が損われ
るのが防止される。
ス製の2部材間にカーボンから成る分離部材を介在させ
たので、高温試験時に両部材が接合せず、両部材の分
離、あるいは摺動が可能となる。この結果、試験後の分
離作業が不要となり、また試験時に所望の機能が損われ
るのが防止される。
第1図および第2図は多連式3点曲げ試験用の治具に本
考案を実施した場合の一実施例を説明するもので、第1
図が2分割治具の正面図、第2図はその治具とともに示
す材料試験機の側面図である。 第3図は引張試験に本考案を実施した場合の他の実施例
を示す治具の一部破断面図である。 1:高温炉、2:ポンチ 3:支持台、4:支持治具 5:曲げ支点、7:カーボンパウダ
考案を実施した場合の一実施例を説明するもので、第1
図が2分割治具の正面図、第2図はその治具とともに示
す材料試験機の側面図である。 第3図は引張試験に本考案を実施した場合の他の実施例
を示す治具の一部破断面図である。 1:高温炉、2:ポンチ 3:支持台、4:支持治具 5:曲げ支点、7:カーボンパウダ
Claims (1)
- 【請求項1】高温炉内で材料試験機により負荷される試
験片を保持する高温用試験治具において、前記試験片が
把持または載置されて保持されるセラミックス製の保持
部材と、この保持部材を前記材料試験機に接続するセラ
ミックス製の接続部材と、この両部材の接触面に介在さ
れ、加熱時にこれら両部材が接合するのを防止するカー
ボン製の分離部材とを備えることを特徴とする高温用試
験治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988011868U JPH068532Y2 (ja) | 1988-01-30 | 1988-01-30 | 高温用試験治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988011868U JPH068532Y2 (ja) | 1988-01-30 | 1988-01-30 | 高温用試験治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01118342U JPH01118342U (ja) | 1989-08-10 |
| JPH068532Y2 true JPH068532Y2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=31220799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988011868U Expired - Lifetime JPH068532Y2 (ja) | 1988-01-30 | 1988-01-30 | 高温用試験治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH068532Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021021305A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 太平洋マテリアル株式会社 | 大形床タイル張付け方法の性能評価試験用下地板および試験方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54102186A (en) * | 1978-01-30 | 1979-08-11 | Nippon Electrode Kk | Material tester |
-
1988
- 1988-01-30 JP JP1988011868U patent/JPH068532Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021021305A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 太平洋マテリアル株式会社 | 大形床タイル張付け方法の性能評価試験用下地板および試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01118342U (ja) | 1989-08-10 |
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