JPH0687688A - 分子線エピタキシー装置 - Google Patents

分子線エピタキシー装置

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JPH0687688A
JPH0687688A JP7713692A JP7713692A JPH0687688A JP H0687688 A JPH0687688 A JP H0687688A JP 7713692 A JP7713692 A JP 7713692A JP 7713692 A JP7713692 A JP 7713692A JP H0687688 A JPH0687688 A JP H0687688A
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JP
Japan
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shutter
molecular beam
intermittent
evaporation source
substrate
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Pending
Application number
JP7713692A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Fukazawa
博之 深沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 長期間、高品質な超格子を作成することが可
能な分子線エピタキシー装置を提供すること。 【構成】 高真空に排気された真空室1内に複数個の蒸
発源2を配置し、各出口近傍にシャッタ9を取り付け、
ベローズ式回転導入端子11を介して駆動する。また中
心軸部に間欠シャッタ20を取り付け、マグネット式回
転導入端子23を介しモータ24で駆動する。作動時、
蒸発源3により加熱蒸発された金属中、必要なシャッタ
9を開き、間欠シャッタ20を等速回転させ、加熱され
た基板8上に長期間、高品質な超格子を作成させること
が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、気相成長法、液相成長
法と並び化合物半導体のエピタキシャル薄膜成長法の一
つとして開発された分子線エピタキシー(MBE)装置
に関し、特に超格子作成に好適のものである。
【0002】
【従来の技術】従来の分子線エピタキシー装置は、図6
(a)の概念図に示すように、高真空に排気された真空
室1内に、同図(b)の原理図に示すように、セル等か
らなる蒸発源2を複数個環状に配置し、これらの蒸発源
2の周りを液体窒素3で満たすと共に、該蒸発源2の中
に収納されたGa,As等の金属材料4をヒータ5によ
って加熱し、セルから分子線(ビーム)6の形で飛び出
させ、該分子線6を、上記真空室1内に配置され加熱ヒ
ータ7で加熱された基板8上に衝突させ、それぞれの材
料4の付着係数の違いを利用して化学量論的組成比を保
ってエピタキシャル成長させるようになっている。図
中、9は蒸発源2の出口近傍に取り付けられたシャッタ
で、蒸発源2から基板8に向かう分子線6を機械的な該
シャッタ9で遮り、成長を中断させることができるよう
にしたもので、各蒸発源毎に独立して取付けられてい
る。10は膜厚計であり、また真空室1は矢印方向にプ
リヒート室、基板交換室に通じている。
【0003】上記した従来の分子線エピタキシー装置に
より、真空室1中に設置された基板8をヒータ7で加熱
し、蒸発源2から蒸発される金属材料4、例えば、Ga
とAlとAsをシャッタ9の開閉により、次のようにし
て、GaAs,GaAlAs,AlAs等の超格子が作
成される。即ち、例えば、GaAlAsの超格子作成方
法は、 先ず、図7(a)のように、セル2aと2cを開、セ
ル2bをシャッタ9で閉とし、基板8上にGaAsの層
をエピタキシャル成長させる(例えば厚さ50Å)。こ
の際、超高真空中で、各蒸発源から分子(原子)線を発
生させると、加熱した結晶基板8上で、それぞれの材料
のもつ付着係数の違いを利用して化学量論的組成比を保
ってエピタキシャル成長する。 続いて、図7(b)のように、セル2bと2cを開、
セル2aをシャッタ9で閉とし、GaAs層上にAlA
sの層をエピタキシャル成長させる(例えば厚さ50
Å)。 上記及びの操作を所望回数繰り返えすことによ
り、所望の超格子が作成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
の分子線エピタキシー装置は、各蒸発源2毎にシャッタ
9を取付けており、一層ごと、或いは、一種類の薄膜ご
とにシャッタの開閉の必要があり、該シャッタ開閉駆動
のため、一例として図5に示すように、大気圧B側の図
示しないモータにより駆動される回転軸aの回転トルク
を、真空側Aと大気圧B側の隔壁貫通部をベローズbに
よってシールされながら「すりこぎ」運動する軸cを介
して、真空A側回転軸dに伝えるようにしたベローズ式
回転導入端子を用いているため、高速回転で使用する
と、該ベローズbの伸縮の頻度が高くなると共に、真空
中での軸受の累積回転数などの問題で、該ベローズ式回
転導入端子の寿命が短くなるばかりでなく、他方、シャ
ッタ9の開閉ごとに該シャッタの蒸発源側に蒸着した原
料物質、例えばGaが飛び散るなどの問題点があった。
【0005】本発明は、上記した従来技術の問題点を解
決し、長期間に亙り良好な超格子を作成することの可能
な分子線エピタキシー装置を提供することを目的として
いる。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、分子線エピタキシー装置において、蒸
発源と基板との間に間欠シャッタを取付けたことを特徴
とし、該間欠シャッタを、複数個の蒸発源の出口近傍に
取り付けられたシャッタに追加して設けたことを特徴と
している。
【0007】また、上記間欠シャッタは、マグネット式
回転導入端子を介して外部より駆動するようにしたこと
を特徴としている。
【0008】
【作用】本発明は上記のように構成されているので、運
転時、真空室中に配置され加熱された基板に向け、各蒸
発源毎にシャッタを備えたものでは、蒸発源により加熱
蒸発された金属のうち、必要なシャッタを開放して置
き、間欠シャッタを等速回転させることにより、蒸発源
から蒸発した金属が断続的に基板に到達し、薄膜形成が
なされる。なお、一定膜厚の成膜を行なった後、他の蒸
発源用のシャッタを開放し、該他の金属薄膜を形成する
ことができる。
【0009】この際、蒸発源の蒸発速度と間欠シャッタ
によって決まる基板と蒸発源間の開放時間により、薄膜
の厚さが制御され、また蒸発源毎に取付けられたシャッ
タを使用し、必要な蒸発源を用いることにより、超格子
の作成が可能となる。
【0010】また、上記した間欠シャッタの回転駆動に
は左程のトルクを要しないため、ベローズ式回転導入端
子よりもトルクの小さいマグネット式回転導入端子を用
いることができるので、該間欠シャッタが長寿命化し、
また該間欠シャッタは高速開閉が不要なため、該シャッ
タに付着した蒸着物が他の個所へ飛散することが防止さ
れる。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面と共に説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示す分子線エピタキシ
ー装置の平面断面図、図2は側断面図であり、図中、図
6(a)(b)に記載した符号と同一の符号は同一ない
し同類部分を示すものとする。
【0012】図において、高真空に排気された真空室1
内に、複数個(図で6個)の蒸発源2が基板ヒータ7で
加熱された基板8に向くようにして環状に等間隔に配置
されており、これらの蒸発源2は、金属材料2aを収納
したセル2bを有している。また、上記各蒸発源2の出
口近傍には、シャッタ9が設けられ、該シャッタ9は、
ベローズ式回転導入端子11を介して外部から駆動され
るようになっている。これらのことは従来例(図6
(a))と変りはない。
【0013】本実施例では、真空室1内の中心軸部に回
転支持された間欠シャッタ20が追加して取り付けられ
ており、該間欠シャッタ20は、図1に示すように、ま
ゆ形の開口21が1個穿設されたシャッタ板22を有
し、該シャッタ板22は、長寿命マグネット式回転導入
端子23を介して外部のモータ24により駆動されるよ
うになっている。
【0014】上記のマグネット式回転導入端子23は、
図4(a)(b)に示すように、真空A側の回転軸a
と、大気B側の回転体bとがステンレス等の非磁性体か
らなる筒形薄板cで隔離され、両回転体a,bは磁気的
に結合されて回転が伝わるようになっている。なお、図
2中、10は膜厚計で、ビームモータ、質量分析計、水
晶膜厚計などで構成される。
【0015】次に、作用について説明すると、運転中、
真空室1中に配置され加熱ヒータ7により加熱された基
板8に向け、蒸発源2により加熱蒸発された金属のう
ち、必要なシャッタ9を開放して置き、間欠シャッタ2
0を外部モータ24により、マグネット式回転導入端子
23を介して等速回転させることにより、蒸発源2から
蒸発した金属が断続的に基板8に到達し、薄膜形成がな
される。次いで、一定膜厚の成膜を行なった後、他の蒸
発源2内のシャッタ9を開放して、該他の金属薄膜を形
成することができる。この際、蒸発源2の蒸発速度と間
欠シャッタ20のシャッタ板22によって決まる基板8
と蒸発源2間の開放時間により、薄膜の厚さが制御さ
れ、蒸発源2ごとに備えられたシャッタ9を使用し、必
要な蒸発源を用いることにより、超格子の作成が可能と
なる。
【0016】この実施例によれば、上記した間欠シャッ
タ20の回転には左程のトルクを要しないため、ベロー
ズ式回転導入端子よりもトルクの小さいマグネット式回
転導入端子23を用いることができるので、該間欠シャ
ッタ20が長寿命化し、また該間欠シャッタ20は高速
開閉が不要なため、該シャッタについた蒸着物の他の箇
所への飛散が防止できる。
【0017】なお、上記した実施例において、間欠シャ
ッタ20を蒸発源2側にのみ適用した装置について説明
したが、基板8部分にも蒸発源側と同期させ適用するこ
とにより、蒸着時間を間欠とし、該基板上での金属原子
の移動(マイグレーション)の時間を与えることができ
る。この方法は、マイグレーションエンハーンスエピタ
キーと呼ばれ、本発明はこれにも応用が可能である。
【0018】また、間欠シャッタ20のシャッタ板22
に穿設された開口21の形状や個数等については図示の
ものに限らず、例えば図1で2点鎖線で示した丸形開口
に形成することも可能である。
【0019】また、従来例において各蒸発源2ごとに設
けられたシャッタ9を、図3(a)(b)に示すよう
に、間欠シャッタ30に代えることも可能である。この
場合間欠シャッタ30は、シャッタ板32に例えば2個
の開口31が対称位置に設けられている。この実施例に
よれば、双方の間欠シャッタ板32、32の開口31の
位置を互いにずらすことにより、交互に異る金属を基板
上に成長させることができる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
分子線エピタキシー装置の蒸発源と基板との間に間欠シ
ャッタを取り付けたことにより、該間欠シャッタの回転
には左程トルクを要しないため、従来のベローズ式回転
導入端子よりもトルクの小さいマグネット式回転導入端
子を用いることができるので、シャッタの長寿命化が可
能となり、また、高速開閉が不要なため、シャッタに付
着した蒸着物の他の個所への飛散防止を行なうことがで
きる。
【0021】また、蒸発源ごとに取り付けられるシャッ
タと当該間欠シャッタとを併用することにより、長期
間、高品質な超格子の作成が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す分子線エピタキシー装
置の平面断面図である。
【図2】本発明の一実施例を示す側断面図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す説明図で、(a)は
要部平面図、(b)は要部側面図である。
【図4】高真空に利用される磁気結合による回転導入端
子の説明図で、(a)は縦断面図、(b)は横断面図で
ある。
【図5】高真空に利用されるベローズ式回転導入端子の
原理を示す説明図である。
【図6】(a)は従来例を示す分子線エピタキシー装置
の概念図、(b)は原理図である。
【図7】(a)(b)は従来例の作用説明図である。
【符号の説明】
1 真空室 2 蒸発源 7 基板の加熱ヒータ 8 基板 9 シャッタ 10 膜厚計 20 間欠シャッタ 21 開口 22 シャッタ板 23 マグネット式回転導入端子 24 モータ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空室内に複数個の蒸発源を備え、これ
    らの蒸発源から分子線を発生させ、該室内に配置され加
    熱された基板上に、それぞれの材料のもつ付着係数の違
    いを利用してエピタキシャル成長させるようにした分子
    線エピタキシー装置において、上記蒸発源と基板との間
    に間欠シャッタを取り付けたことを特徴とする分子線エ
    ピタキシー装置。
  2. 【請求項2】 複数個の蒸発源の各出口近傍に開閉シャ
    ッタを取付け、これらの開閉シャッタの基板側に間欠シ
    ャッタを追加して設けたことを特徴とする請求項1記載
    の分子線エピタキシー装置。
  3. 【請求項3】 間欠シャッタを、マグネット式回転導入
    端子を介して外部より駆動するようにしたことを特徴と
    する請求項1又は2記載の分子線エピタキシー装置。
JP7713692A 1992-03-31 1992-03-31 分子線エピタキシー装置 Pending JPH0687688A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010084676A1 (ja) * 2009-01-21 2010-07-29 日本碍子株式会社 3b族窒化物結晶板製造装置
CN116134185A (zh) * 2021-01-21 2023-05-16 蔚山大学校产学协力团 分子束外延薄膜生长装置

Cited By (4)

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US9677192B2 (en) 2009-01-21 2017-06-13 Ngk Insulators, Ltd. Group 3B nitride crystal substrate
CN116134185A (zh) * 2021-01-21 2023-05-16 蔚山大学校产学协力团 分子束外延薄膜生长装置

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