JPH0688784A - ガス分析計の校正方法 - Google Patents
ガス分析計の校正方法Info
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- JPH0688784A JPH0688784A JP26324292A JP26324292A JPH0688784A JP H0688784 A JPH0688784 A JP H0688784A JP 26324292 A JP26324292 A JP 26324292A JP 26324292 A JP26324292 A JP 26324292A JP H0688784 A JPH0688784 A JP H0688784A
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- JP
- Japan
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- gas analyzer
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- gas
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- Pending
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 人間の目視に頼ることなく、ガス分析計が校
正可能状態になっているか否かの判断を極めて合理的に
行うことができるガス分析計の校正方法を提供するこ
と。 【構成】 校正用ガスをガス分析計１に流したときにガ
ス分析計１が指示する濃度値をＣＰＵ６が取込み、取り
込まれた濃度データの標準偏差をＣＰＵ６が算出し、算
出された標準偏差とＣＰＵ６に予め設定されている値と
を比較することにより、前記ガス分析計１が校正可能状
態になっているか否かをＣＰＵ６に判断させるようにし
た。
正可能状態になっているか否かの判断を極めて合理的に
行うことができるガス分析計の校正方法を提供するこ
と。 【構成】 校正用ガスをガス分析計１に流したときにガ
ス分析計１が指示する濃度値をＣＰＵ６が取込み、取り
込まれた濃度データの標準偏差をＣＰＵ６が算出し、算
出された標準偏差とＣＰＵ６に予め設定されている値と
を比較することにより、前記ガス分析計１が校正可能状
態になっているか否かをＣＰＵ６に判断させるようにし
た。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ゼロガスあるいはスパ
ンガス校正用ガスをガス分析計に供給することによりガ
ス分析計の校正を行う方法に関する。
ンガス校正用ガスをガス分析計に供給することによりガ
ス分析計の校正を行う方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ガス分析計は、検出部、増幅部
などの温度ドリフトあるいは経時変化によって生ずる誤
差を補正するために、測定を行うに際してはその測定作
業に先立って、ガス分析計のゼロ校正およびスパン校正
を行う必要がある。
などの温度ドリフトあるいは経時変化によって生ずる誤
差を補正するために、測定を行うに際してはその測定作
業に先立って、ガス分析計のゼロ校正およびスパン校正
を行う必要がある。
【０００３】前記ゼロ校正およびスパン校正を行う場
合、ゼロガスあるいはスパンガスなどの校正用ガスがガ
ス分析計内を安定して流れ、ガス分析計が校正可能状態
になっていることが必要であるが、従来、ガス分析計が
校正可能状態になっているか否かの判断は、測定担当者
など人間が行っていた。
合、ゼロガスあるいはスパンガスなどの校正用ガスがガ
ス分析計内を安定して流れ、ガス分析計が校正可能状態
になっていることが必要であるが、従来、ガス分析計が
校正可能状態になっているか否かの判断は、測定担当者
など人間が行っていた。
【０００４】すなわち、図４に示すように、校正対象の
ガス分析計１とペンレコーダ２とを信号ケーブル３で接
続し、例えばゼロ校正を行う際には、ガス分析計１にゼ
ロガスを流し、ガス分析計１が指示する濃度値をペンレ
コーダ２で記録する。ところで、ガス分析計１にゼロガ
スを流すと、時間の経過と共にガス分析計１が指示する
濃度値が安定してきて、例えば図５に示すように、記録
紙４上の濃度値曲線５に符号ａで示すような安定した状
態が出現してくるが、従来は、人間がペンレコーダ２の
記録紙４を目視し、濃度値曲線５に安定した部分ａが生
じているか否かを判別することによってガス分析計１が
校正可能状態になっているか否かを判断していたのであ
る。
ガス分析計１とペンレコーダ２とを信号ケーブル３で接
続し、例えばゼロ校正を行う際には、ガス分析計１にゼ
ロガスを流し、ガス分析計１が指示する濃度値をペンレ
コーダ２で記録する。ところで、ガス分析計１にゼロガ
スを流すと、時間の経過と共にガス分析計１が指示する
濃度値が安定してきて、例えば図５に示すように、記録
紙４上の濃度値曲線５に符号ａで示すような安定した状
態が出現してくるが、従来は、人間がペンレコーダ２の
記録紙４を目視し、濃度値曲線５に安定した部分ａが生
じているか否かを判別することによってガス分析計１が
校正可能状態になっているか否かを判断していたのであ
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術においては、人間が目視によって判断を下さなけ
ればならないところから、ガス分析計１が校正可能状態
になっているか否かの判断が、所謂校正処理の自動化を
行う上で、大きなネックとなっていた。そして、目視し
て判断を下す手法においては、個人の勘に頼るところが
多く、また、個人の能力や経験の多少によって、前記判
断が異なったり、さらには、同一の者でも判断が異なる
と云ったことがあるなど、確実性あるいは信頼性の点で
必ずしも万全ではなかった。
来技術においては、人間が目視によって判断を下さなけ
ればならないところから、ガス分析計１が校正可能状態
になっているか否かの判断が、所謂校正処理の自動化を
行う上で、大きなネックとなっていた。そして、目視し
て判断を下す手法においては、個人の勘に頼るところが
多く、また、個人の能力や経験の多少によって、前記判
断が異なったり、さらには、同一の者でも判断が異なる
と云ったことがあるなど、確実性あるいは信頼性の点で
必ずしも万全ではなかった。
【０００６】また、経験の豊かな者であっても、前記安
定した部分ａの出現の判断に時間がかかることがあり、
それだけ、時間のロスとなると共に、高価な校正用ガス
が無駄に消費されると云った不都合もあった。
定した部分ａの出現の判断に時間がかかることがあり、
それだけ、時間のロスとなると共に、高価な校正用ガス
が無駄に消費されると云った不都合もあった。
【０００７】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、人間の目視に頼るこ
となく、ガス分析計が校正可能状態になっているか否か
の判断を極めて合理的に行うことができるガス分析計の
校正方法を提供することにある。
もので、その目的とするところは、人間の目視に頼るこ
となく、ガス分析計が校正可能状態になっているか否か
の判断を極めて合理的に行うことができるガス分析計の
校正方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るガス分析計の校正方法は、校正用ガス
をガス分析計に流したときにガス分析計が指示する濃度
値をＣＰＵが取込み、取り込まれた濃度データの標準偏
差をＣＰＵが算出し、算出された標準偏差とＣＰＵに予
め設定されている値とを比較することにより、前記ガス
分析計が校正可能状態になっているか否かをＣＰＵに判
断させるようにしている。
め、本発明に係るガス分析計の校正方法は、校正用ガス
をガス分析計に流したときにガス分析計が指示する濃度
値をＣＰＵが取込み、取り込まれた濃度データの標準偏
差をＣＰＵが算出し、算出された標準偏差とＣＰＵに予
め設定されている値とを比較することにより、前記ガス
分析計が校正可能状態になっているか否かをＣＰＵに判
断させるようにしている。
【０００９】
【作用】上記ガス分析計の校正方法においては、ガス分
析計が校正可能状態になっているか否かの判断は、ＣＰ
Ｕにおいて算出された標準偏差がＣＰＵに予め設定され
ているガス安定値よりも小さくなっているか否かによっ
て行われ、前記判断に際して、人間の能力や勘や経験の
多少などが入ることがないので、極めて合理的であり、
確実性あるいは信頼性が大いに向上する。
析計が校正可能状態になっているか否かの判断は、ＣＰ
Ｕにおいて算出された標準偏差がＣＰＵに予め設定され
ているガス安定値よりも小さくなっているか否かによっ
て行われ、前記判断に際して、人間の能力や勘や経験の
多少などが入ることがないので、極めて合理的であり、
確実性あるいは信頼性が大いに向上する。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【００１１】図１は本発明に係るガス分析計の校正方法
を実施するための装置の概略的な構成を示し、この図に
おいて、６はガス分析計１と信号ケーブル７で接続され
たマイコンなどのＣＰＵで、校正手順を表すプログラム
が内蔵されていると共に、ガス分析計１の種類（測定対
象、測定範囲、測定精度など）に応じて、ゼロ校正用の
ガス安定値、スパン校正用のガス安定値を図外の入力部
によって予め入力できるように構成されている。８はデ
ィスプレイとしてのＣＲＴである。
を実施するための装置の概略的な構成を示し、この図に
おいて、６はガス分析計１と信号ケーブル７で接続され
たマイコンなどのＣＰＵで、校正手順を表すプログラム
が内蔵されていると共に、ガス分析計１の種類（測定対
象、測定範囲、測定精度など）に応じて、ゼロ校正用の
ガス安定値、スパン校正用のガス安定値を図外の入力部
によって予め入力できるように構成されている。８はデ
ィスプレイとしてのＣＲＴである。
【００１２】図２および図３は、本発明に係るガス分析
計の校正方法を行うためのフローチャートであって、図
２はゼロ校正を、図３はスパン校正をそれぞれ示してい
る。以下、これらの図を参照しながら本発明方法を詳細
に説明する。
計の校正方法を行うためのフローチャートであって、図
２はゼロ校正を、図３はスパン校正をそれぞれ示してい
る。以下、これらの図を参照しながら本発明方法を詳細
に説明する。
【００１３】ガス分析計１の種類に対応したゼロ校正用
のガス安定値、スパン校正用のガス安定値を例えばキー
ボードによってオペレータがＣＰＵ６にそれぞれ設定値
として入力する（ステップＳ１）。
のガス安定値、スパン校正用のガス安定値を例えばキー
ボードによってオペレータがＣＰＵ６にそれぞれ設定値
として入力する（ステップＳ１）。
【００１４】ガス分析計１に校正用ゼロガスを流す（ス
テップＳ２）。
テップＳ２）。
【００１５】校正用ゼロガスがガス分析計１に流れるこ
とにより、ガス分析計１からは濃度指示値が出力され、
これをＣＰＵ６が例えば毎秒読み込む（ステップＳ
３）。
とにより、ガス分析計１からは濃度指示値が出力され、
これをＣＰＵ６が例えば毎秒読み込む（ステップＳ
３）。
【００１６】ＣＰＵ６は、前記毎秒読み込んだ濃度指示
値の標準偏差を算出する（ステップＳ４）。
値の標準偏差を算出する（ステップＳ４）。
【００１７】ＣＰＵ６において、算出された標準偏差が
ＣＰＵ６に予め設定入力されているガス安定値と比較
し、標準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さいか
否かをチェックする（ステップＳ５）。そして、前記標
準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さいと云うこ
とは、前記図５に示した濃度値曲線５が安定状態になっ
ており、校正用ゼロガスがガス分析計１内を安定して流
れ、ガス分析計１が校正可能状態になっていることであ
る。従って、標準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも
小さいときは、ステップＳ６に進み、ガス分析計１のゼ
ロ校正を行う。
ＣＰＵ６に予め設定入力されているガス安定値と比較
し、標準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さいか
否かをチェックする（ステップＳ５）。そして、前記標
準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さいと云うこ
とは、前記図５に示した濃度値曲線５が安定状態になっ
ており、校正用ゼロガスがガス分析計１内を安定して流
れ、ガス分析計１が校正可能状態になっていることであ
る。従って、標準偏差がゼロ校正用のガス安定値よりも
小さいときは、ステップＳ６に進み、ガス分析計１のゼ
ロ校正を行う。
【００１８】一方、前記ステップＳ５において、標準偏
差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さくないときは、
前記ステップＳ２とステップＳ３との間に戻り、以下、
前記ステップＳ３〜ステップＳ５までの動作を行うので
ある。
差がゼロ校正用のガス安定値よりも小さくないときは、
前記ステップＳ２とステップＳ３との間に戻り、以下、
前記ステップＳ３〜ステップＳ５までの動作を行うので
ある。
【００１９】ゼロ校正は、ゼロガスを流したときにおけ
るガス分析計１の表示値がゼロになるようにゼロ調整す
ることによって行われ、これが完了すると、ガス分析計
１の校正レンジを校正に用いるスパンガスの濃度（既
知）に適したレンジに設定した後、ガス分析計１に既知
濃度の校正用スパンガスを流す（ステップＳ７）。
るガス分析計１の表示値がゼロになるようにゼロ調整す
ることによって行われ、これが完了すると、ガス分析計
１の校正レンジを校正に用いるスパンガスの濃度（既
知）に適したレンジに設定した後、ガス分析計１に既知
濃度の校正用スパンガスを流す（ステップＳ７）。
【００２０】校正用スパンガスがガス分析計１に流れる
ことにより、ガス分析計１からは濃度指示値が出力さ
れ、これをＣＰＵ６が例えば毎秒読み込む（ステップＳ
８）。
ことにより、ガス分析計１からは濃度指示値が出力さ
れ、これをＣＰＵ６が例えば毎秒読み込む（ステップＳ
８）。
【００２１】ＣＰＵ６は、前記毎秒読み込んだ濃度指示
値の標準偏差を算出する（ステップＳ９）。
値の標準偏差を算出する（ステップＳ９）。
【００２２】ＣＰＵ６において、算出された標準偏差が
ＣＰＵ６に予め設定入力されているスパン校正用のガス
安定値と比較し、標準偏差がスパン校正用のガス安定値
よりも小さいか否かをチェックする（ステップＳ１
０）。この場合、前記標準偏差がスパン校正用のガス安
定値よりも小さいと云うことは、校正用スパンガスがガ
ス分析計１内を安定して流れ、ガス分析計１が校正可能
状態になっていることである。従って、標準偏差がスパ
ン校正用のガス安定値よりも小さいときは、ステップＳ
１１に進み、ガス分析計１のスパン校正を行う。
ＣＰＵ６に予め設定入力されているスパン校正用のガス
安定値と比較し、標準偏差がスパン校正用のガス安定値
よりも小さいか否かをチェックする（ステップＳ１
０）。この場合、前記標準偏差がスパン校正用のガス安
定値よりも小さいと云うことは、校正用スパンガスがガ
ス分析計１内を安定して流れ、ガス分析計１が校正可能
状態になっていることである。従って、標準偏差がスパ
ン校正用のガス安定値よりも小さいときは、ステップＳ
１１に進み、ガス分析計１のスパン校正を行う。
【００２３】一方、前記ステップＳ１０において、標準
偏差がスパン校正用のガス安定値よりも小さくないとき
は、前記ステップＳ７とステップＳ８との間に戻り、以
下、前記ステップＳ８〜ステップＳ１０までの動作を行
うのである。
偏差がスパン校正用のガス安定値よりも小さくないとき
は、前記ステップＳ７とステップＳ８との間に戻り、以
下、前記ステップＳ８〜ステップＳ１０までの動作を行
うのである。
【００２４】スパン校正は、例えばガス分析計１の表示
器に表示された濃度指示値が校正用スパンガスの既知濃
度に対応する値になるようにＣＰＵ６において演算処理
され、これが完了することにより、ゼロ校正およびスパ
ン校正が共に終了し、全ての校正が終了するのである
（ステップＳ１２）。
器に表示された濃度指示値が校正用スパンガスの既知濃
度に対応する値になるようにＣＰＵ６において演算処理
され、これが完了することにより、ゼロ校正およびスパ
ン校正が共に終了し、全ての校正が終了するのである
（ステップＳ１２）。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ガス分析計が校正可能状態になっているか否かの判断
は、ＣＰＵにおいて算出された標準偏差がＣＰＵに予め
設定されているガス安定値よりも小さくなっているか否
かによって行われ、前記判断に際して、人間の能力や勘
や経験の多少などが入ることがないので、極めて合理的
であり、確実性あるいは信頼性が大いに向上する。そし
て、本発明によれば、校正処理の自動化を促進できる。
ガス分析計が校正可能状態になっているか否かの判断
は、ＣＰＵにおいて算出された標準偏差がＣＰＵに予め
設定されているガス安定値よりも小さくなっているか否
かによって行われ、前記判断に際して、人間の能力や勘
や経験の多少などが入ることがないので、極めて合理的
であり、確実性あるいは信頼性が大いに向上する。そし
て、本発明によれば、校正処理の自動化を促進できる。
【図１】本発明に係るガス分析計の校正方法を実施する
ための装置の概略的な構成を示す図である。
ための装置の概略的な構成を示す図である。
【図２】ゼロ校正の一例を示すフローチャートである。
【図３】スパン校正の一例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図４】従来のガス分析計の校正方法を説明するための
図である。
図である。
【図５】校正用ガスを流したときのガス分析計の出力を
示す図である。
示す図である。
１…ガス分析計、６…ＣＰＵ。
Claims (1)
- 【請求項１】 校正用ガスをガス分析計に供給すること
によりガス分析計の校正を行う方法において、校正用ガ
スをガス分析計に流したときにガス分析計が指示する濃
度値をＣＰＵが取込み、取り込まれた濃度データの標準
偏差をＣＰＵが算出し、算出された標準偏差とＣＰＵに
予め設定されている値とを比較することにより、前記ガ
ス分析計が校正可能状態になっているか否かをＣＰＵに
判断させるようにしたことを特徴とするガス分析計の校
正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26324292A JPH0688784A (ja) | 1992-09-05 | 1992-09-05 | ガス分析計の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26324292A JPH0688784A (ja) | 1992-09-05 | 1992-09-05 | ガス分析計の校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0688784A true JPH0688784A (ja) | 1994-03-29 |
Family
ID=17386751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26324292A Pending JPH0688784A (ja) | 1992-09-05 | 1992-09-05 | ガス分析計の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0688784A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12605021B2 (en) | 2018-07-20 | 2026-04-21 | Sharkninja Operating Llc | Robotic cleaner debris removal docking station |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61737A (ja) * | 1984-06-14 | 1986-01-06 | Shimadzu Corp | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
| JPH0288944A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Meidensha Corp | 濁度計の校正方法 |
-
1992
- 1992-09-05 JP JP26324292A patent/JPH0688784A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61737A (ja) * | 1984-06-14 | 1986-01-06 | Shimadzu Corp | 連続分析計の校正ガス導入時間自動決定機構 |
| JPH0288944A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Meidensha Corp | 濁度計の校正方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12605021B2 (en) | 2018-07-20 | 2026-04-21 | Sharkninja Operating Llc | Robotic cleaner debris removal docking station |
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