JPH069292A - ダイヤモンド厚膜の製造法およびダイヤモンド厚膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具 - Google Patents
ダイヤモンド厚膜の製造法およびダイヤモンド厚膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具Info
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- JPH069292A JPH069292A JP5064696A JP6469693A JPH069292A JP H069292 A JPH069292 A JP H069292A JP 5064696 A JP5064696 A JP 5064696A JP 6469693 A JP6469693 A JP 6469693A JP H069292 A JPH069292 A JP H069292A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 微細な組織および均一な厚さを有するダイヤ
モンド厚膜を効率よく製造する方法およびダイヤモンド
切削工具を提供する。 【構成】 (1) 熱フィラメント法またはマイクロ波
法により基板表面に厚さ:1〜20μmの気相合成ダイ
ヤモンド薄膜を被覆した複合基板を作製し、この複合基
板の気相合成ダイヤモンド薄膜の上に高温プラズマ法を
使って気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するダイヤモン
ド厚膜の製造法。 (2) 上記方法で得られたダイヤモンド厚膜の上記熱
フィラメント法またはマイクロ波法により得られた厚
さ:1〜20μmの気相合成ダイヤモンド薄膜が切削面
となるように切削工具基体にろう付けしてなるダイヤモ
ンド切削工具。
モンド厚膜を効率よく製造する方法およびダイヤモンド
切削工具を提供する。 【構成】 (1) 熱フィラメント法またはマイクロ波
法により基板表面に厚さ:1〜20μmの気相合成ダイ
ヤモンド薄膜を被覆した複合基板を作製し、この複合基
板の気相合成ダイヤモンド薄膜の上に高温プラズマ法を
使って気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するダイヤモン
ド厚膜の製造法。 (2) 上記方法で得られたダイヤモンド厚膜の上記熱
フィラメント法またはマイクロ波法により得られた厚
さ:1〜20μmの気相合成ダイヤモンド薄膜が切削面
となるように切削工具基体にろう付けしてなるダイヤモ
ンド切削工具。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、微細な組織および均
一な厚さを有するダイヤモンド厚膜を効率よく製造する
方法に関するものであり、さらに、上記ダイヤモンド厚
膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具に関す
るものである。
一な厚さを有するダイヤモンド厚膜を効率よく製造する
方法に関するものであり、さらに、上記ダイヤモンド厚
膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、気相合成ダイヤモンド膜を作製
する方法として、熱フィラメント法、マイクロ波法、高
周波熱プラズマ法、直流アークプラズマ法などが知られ
ている。
する方法として、熱フィラメント法、マイクロ波法、高
周波熱プラズマ法、直流アークプラズマ法などが知られ
ている。
【0003】これらの方法にうちでも熱フィラメント法
およびマイクロ波法による気相合成ダイヤモンド膜は粒
径が1〜5μmと微細でかつ緻密な膜質を有するが、成
膜速度が遅く、これらの方法で厚さ:200〜1000
μmの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成しようとすると
200〜300時間かかると言われている。
およびマイクロ波法による気相合成ダイヤモンド膜は粒
径が1〜5μmと微細でかつ緻密な膜質を有するが、成
膜速度が遅く、これらの方法で厚さ:200〜1000
μmの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成しようとすると
200〜300時間かかると言われている。
【0004】したがって、近年、厚さ:200〜100
0μmもの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するには、
主として成膜速度の早い高周波熱プラズマ法または直流
アークプラズマ法(以下、これらを高温プラズマ法と称
する)が採用されている。
0μmもの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するには、
主として成膜速度の早い高周波熱プラズマ法または直流
アークプラズマ法(以下、これらを高温プラズマ法と称
する)が採用されている。
【0005】これらの方法で作製された気相合成ダイヤ
モンド厚膜は、切削工具基体にろう付けされてダイヤモ
ンド切削工具を製造している(特開平1−15328号
公報、特開平1−212766号公報など参照)。
モンド厚膜は、切削工具基体にろう付けされてダイヤモ
ンド切削工具を製造している(特開平1−15328号
公報、特開平1−212766号公報など参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記高温プラ
ズマ法は、初期の核発生が遅く、さらに初期核が発生し
ても初期核発生密度が低くかつその分布が不均一であ
り、早期に初期核が発生した所では急速にダイヤモンド
成長が起ってひげ成長になりやすく、一方、遅れて初期
核が発生した所では気相合成ダイヤモンド厚膜の厚さが
不足し、均一な厚さの膜状に気相合成ダイヤモンドが成
長しにくいため、得られた気相合成ダイヤモンド厚膜全
体の厚さが不均一になると共に粒径も90μm以上とな
って組織も不均一となり、かかる気相合成ダイヤモンド
厚膜をWC基超硬合金切削工具基体にろう付けして得ら
れた切削工具を用いてAlまたはAl合金などを切削し
ても平滑な切削面が得られないなどの課題があった。
ズマ法は、初期の核発生が遅く、さらに初期核が発生し
ても初期核発生密度が低くかつその分布が不均一であ
り、早期に初期核が発生した所では急速にダイヤモンド
成長が起ってひげ成長になりやすく、一方、遅れて初期
核が発生した所では気相合成ダイヤモンド厚膜の厚さが
不足し、均一な厚さの膜状に気相合成ダイヤモンドが成
長しにくいため、得られた気相合成ダイヤモンド厚膜全
体の厚さが不均一になると共に粒径も90μm以上とな
って組織も不均一となり、かかる気相合成ダイヤモンド
厚膜をWC基超硬合金切削工具基体にろう付けして得ら
れた切削工具を用いてAlまたはAl合金などを切削し
ても平滑な切削面が得られないなどの課題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明者等は、
かかる課題を解決し、厚さおよび組織が均一な気相合成
ダイヤモンド厚膜を高温プラズマ法により製造すべく研
究を行った結果、熱フィラメント法またはマイクロ波法
は初期核発生密度が高くかつ均一に分布し、これらの方
法で形成された気相合成ダイヤモンド薄膜は、1〜5μ
mの粒径を有する緻密な組織と均一な厚さを有するとこ
ろから、Mo、Wなどの基板表面に予め上記熱フィラメ
ント法またはマイクロ波法により厚さ:1〜20μmの
緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜を形成しておき、この
1〜20μmの厚さの緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜
を被覆した複合基板を基体として使用し、この複合基板
表面に高温プラズマ法により厚さ:100〜1000μ
mの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成しても、粒径は3
0〜60μmの範囲内にとどまり、このようにして得ら
れたダイヤモンド厚膜を取り出し、超硬合金切削工具基
体にろう付けして熱フィラメント法またはマイクロ波法
により形成した緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜面を切
削面としたダイヤモンド切削工具は優れた切削性能を示
し、このダイヤモンド切削工具を用いて得られた被削面
も極めて平滑なものとなるという知見を得たのである。
かかる課題を解決し、厚さおよび組織が均一な気相合成
ダイヤモンド厚膜を高温プラズマ法により製造すべく研
究を行った結果、熱フィラメント法またはマイクロ波法
は初期核発生密度が高くかつ均一に分布し、これらの方
法で形成された気相合成ダイヤモンド薄膜は、1〜5μ
mの粒径を有する緻密な組織と均一な厚さを有するとこ
ろから、Mo、Wなどの基板表面に予め上記熱フィラメ
ント法またはマイクロ波法により厚さ:1〜20μmの
緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜を形成しておき、この
1〜20μmの厚さの緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜
を被覆した複合基板を基体として使用し、この複合基板
表面に高温プラズマ法により厚さ:100〜1000μ
mの気相合成ダイヤモンド厚膜を形成しても、粒径は3
0〜60μmの範囲内にとどまり、このようにして得ら
れたダイヤモンド厚膜を取り出し、超硬合金切削工具基
体にろう付けして熱フィラメント法またはマイクロ波法
により形成した緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜面を切
削面としたダイヤモンド切削工具は優れた切削性能を示
し、このダイヤモンド切削工具を用いて得られた被削面
も極めて平滑なものとなるという知見を得たのである。
【0008】この発明は、かかる知見にもとづいてなさ
れたものであって、(1) 熱フィラメント法またはマ
イクロ波法により基板表面に厚さ:1〜20μmの気相
合成ダイヤモンド薄膜を被覆した複合基板を作製し、こ
の複合基板の気相合成ダイヤモンド薄膜の上に高温プラ
ズマ法を使って気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するダ
イヤモンド厚膜の製造法、(2) 上記方法で得られた
ダイヤモンド厚膜の上記熱フィラメント法またはマイク
ロ波法により得られた厚さ:1〜20μmの気相合成ダ
イヤモンド薄膜が切削面となるように切削工具基体にろ
う付けしてなるダイヤモンド切削工具、に特徴を有する
ものである。
れたものであって、(1) 熱フィラメント法またはマ
イクロ波法により基板表面に厚さ:1〜20μmの気相
合成ダイヤモンド薄膜を被覆した複合基板を作製し、こ
の複合基板の気相合成ダイヤモンド薄膜の上に高温プラ
ズマ法を使って気相合成ダイヤモンド厚膜を形成するダ
イヤモンド厚膜の製造法、(2) 上記方法で得られた
ダイヤモンド厚膜の上記熱フィラメント法またはマイク
ロ波法により得られた厚さ:1〜20μmの気相合成ダ
イヤモンド薄膜が切削面となるように切削工具基体にろ
う付けしてなるダイヤモンド切削工具、に特徴を有する
ものである。
【0009】この発明のダイヤモンド厚膜の製造法にお
いて、熱フィラメント法またはマイクロ波法による気相
合成ダイヤモンド薄膜の形成および高温プラズマ法によ
る気相合成ダイヤモンド厚膜の形成とを繰り返し行なう
ことによりダイヤモンド厚膜を作製することもできる。
いて、熱フィラメント法またはマイクロ波法による気相
合成ダイヤモンド薄膜の形成および高温プラズマ法によ
る気相合成ダイヤモンド厚膜の形成とを繰り返し行なう
ことによりダイヤモンド厚膜を作製することもできる。
【0010】上記熱フィラメント法またはマイクロ波法
により基板表面に形成された複合基板上の気相合成ダイ
ヤモンド薄膜は、初期核発生密度が高く、組織が微細で
かつ膜の厚さが均一であり、この気相合成ダイヤモンド
薄膜の上に高温プラズマ法により気相合成ダイヤモンド
厚膜を形成すると、上記熱フィラメント法またはマイク
ロ波法による気相合成ダイヤモンド薄膜のもつ性質が高
温プラズマ法による厚膜に引き継がれて成長し、厚さが
均一で微細な組織を有する気相合成ダイヤモンド厚膜が
生成され、全体として優れた特性を有するダイヤモンド
厚膜が得られるものと考えられる 上記熱フィラメント法またはマイクロ波法による気相合
成ダイヤモンド薄膜の厚さを1〜20μmに限定した理
由は、厚さが1μm未満であると高温プラズマ法開始初
期に高温ブラズマ流にさらされてエッチングまたは変質
し、吹き飛ばされなくなってしまうことがあるので好ま
しくなく、一方、20μmを越えて厚くすると熱フィラ
メント法またはマイクロ波法では時間がかかりすぎて不
経済であり、また膜厚が厚くなるにつれて粒成長も促進
し、微細組織を維持することができなくなって好ましく
ないことによるものである。
により基板表面に形成された複合基板上の気相合成ダイ
ヤモンド薄膜は、初期核発生密度が高く、組織が微細で
かつ膜の厚さが均一であり、この気相合成ダイヤモンド
薄膜の上に高温プラズマ法により気相合成ダイヤモンド
厚膜を形成すると、上記熱フィラメント法またはマイク
ロ波法による気相合成ダイヤモンド薄膜のもつ性質が高
温プラズマ法による厚膜に引き継がれて成長し、厚さが
均一で微細な組織を有する気相合成ダイヤモンド厚膜が
生成され、全体として優れた特性を有するダイヤモンド
厚膜が得られるものと考えられる 上記熱フィラメント法またはマイクロ波法による気相合
成ダイヤモンド薄膜の厚さを1〜20μmに限定した理
由は、厚さが1μm未満であると高温プラズマ法開始初
期に高温ブラズマ流にさらされてエッチングまたは変質
し、吹き飛ばされなくなってしまうことがあるので好ま
しくなく、一方、20μmを越えて厚くすると熱フィラ
メント法またはマイクロ波法では時間がかかりすぎて不
経済であり、また膜厚が厚くなるにつれて粒成長も促進
し、微細組織を維持することができなくなって好ましく
ないことによるものである。
【0011】
実施例1 直径:30mmの円板状Mo基板を用意し、このMo基板
の表面に下記の条件の熱フィラメント法またはマイクロ
波法により表1に示される合成時間をかけて表1に示さ
れる平均粒径および厚さの気相合成ダイヤモンド薄膜を
形成し、複合基板を作製した。
の表面に下記の条件の熱フィラメント法またはマイクロ
波法により表1に示される合成時間をかけて表1に示さ
れる平均粒径および厚さの気相合成ダイヤモンド薄膜を
形成し、複合基板を作製した。
【0012】(1) 熱フィラメント法の条件 反応容器:直径が200mmの石英管、 使用フィラメント:金属タングステン、 フィラメント温度:2030℃、 基体温度:850℃、 雰囲気:8TorrのCH4 +H2 、 反応ガス割合:CH4 /H2 =0.01、 (2) マイクロ波法の条件 反応容器:直径が40mmの石英管、 周波数:2.45GHz、 マイクロ波出力:600W、 雰囲気圧力:30TorrH2 +CH4 、 基体温度:850℃、 反応ガス割合:CH4 /H2 =0.01、 ついで、上記複合基板を通常の高周波熱プラズマ装置の
基板ホルダーに載置し、 シースガス:Arガス(35l/min )+水素ガス(1
0l/min )、 プラズマガス:Arガス(4l/min )+水素ガス(3
l/min )、 原料ガス:メタンガス(0.2l/min )、 キャリアガス:Arガス(5l/min )+水素ガス(3
l/min )、 となるように流しながら、上記高周波熱プラズマ装置に
3.5MHzの高周波を50kw加え、上記複合基板に気
相合成ダイヤモンド厚膜を形成し、本発明法1〜7およ
び比較法1〜2を実施した。
基板ホルダーに載置し、 シースガス:Arガス(35l/min )+水素ガス(1
0l/min )、 プラズマガス:Arガス(4l/min )+水素ガス(3
l/min )、 原料ガス:メタンガス(0.2l/min )、 キャリアガス:Arガス(5l/min )+水素ガス(3
l/min )、 となるように流しながら、上記高周波熱プラズマ装置に
3.5MHzの高周波を50kw加え、上記複合基板に気
相合成ダイヤモンド厚膜を形成し、本発明法1〜7およ
び比較法1〜2を実施した。
【0013】この複合基板に形成された気相合成ダイヤ
モンド厚膜の中心部の膜厚および平均結晶粒径、並びに
周辺部の膜厚および平均結晶粒径を測定し、その測定結
果を表1に示した。
モンド厚膜の中心部の膜厚および平均結晶粒径、並びに
周辺部の膜厚および平均結晶粒径を測定し、その測定結
果を表1に示した。
【0014】さらに比較のために、円板状Mo基板に直
接上記条件の高周波熱プラズマ法により気相合成ダイヤ
モンド厚膜を形成し、従来法1を実施した。この従来法
1による気相合成ダイヤモンド厚膜についても中心部の
膜厚および平均結晶粒径、並びに周辺部の膜厚および平
均結晶粒径を測定し、それらの結果を表1に示した。
接上記条件の高周波熱プラズマ法により気相合成ダイヤ
モンド厚膜を形成し、従来法1を実施した。この従来法
1による気相合成ダイヤモンド厚膜についても中心部の
膜厚および平均結晶粒径、並びに周辺部の膜厚および平
均結晶粒径を測定し、それらの結果を表1に示した。
【0015】
【表1】 表1に示される結果から、本発明法1〜7の複合基板上
に高周波熱プラズマ法により形成した気相合成ダイヤモ
ンド厚膜は、中心部と周辺部の膜厚およびダイヤモンド
の平均結晶粒径に大きな差は見られず、均一な膜厚およ
び微細な組織を有するが、従来法1のようにMo基板に
直接高周波熱プラズマ法により気相合成ダイヤモンド厚
膜を被覆すると、得られた気相合成ダイヤモンド厚膜の
結晶粒は粗大化するとともに中心部と周辺部で大きく相
違し、さらに膜厚も中心部と周辺部では相違し、不均一
な気相合成ダイヤモンド厚膜が形成されることがわか
る。
に高周波熱プラズマ法により形成した気相合成ダイヤモ
ンド厚膜は、中心部と周辺部の膜厚およびダイヤモンド
の平均結晶粒径に大きな差は見られず、均一な膜厚およ
び微細な組織を有するが、従来法1のようにMo基板に
直接高周波熱プラズマ法により気相合成ダイヤモンド厚
膜を被覆すると、得られた気相合成ダイヤモンド厚膜の
結晶粒は粗大化するとともに中心部と周辺部で大きく相
違し、さらに膜厚も中心部と周辺部では相違し、不均一
な気相合成ダイヤモンド厚膜が形成されることがわか
る。
【0016】また、熱フィラメント法またはマイクロ波
法による複合基板の気相合成ダイヤモンド薄膜が1μm
未満の複合基板を用いた比較法1により形成しても均一
な気相合成ダイヤモンド厚膜が得られないこと、さらに
気相合成ダイヤモンド薄膜が20μm以上の厚さの複合
基板を用いた比較法2により形成された気相合成ダイヤ
モンド厚膜は結晶粒が粗大化して好ましくないことがわ
かる。
法による複合基板の気相合成ダイヤモンド薄膜が1μm
未満の複合基板を用いた比較法1により形成しても均一
な気相合成ダイヤモンド厚膜が得られないこと、さらに
気相合成ダイヤモンド薄膜が20μm以上の厚さの複合
基板を用いた比較法2により形成された気相合成ダイヤ
モンド厚膜は結晶粒が粗大化して好ましくないことがわ
かる。
【0017】実施例2 実施例1で用意したMo基板の表面に下記の条件により
熱フィラメント法またはマイクロ波法により表2に示さ
れる合成時間をかけて表2に示される平均粒径および膜
厚を有する第1層の緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜を
形成し、上記気相合成ダイヤモンド薄膜の上に更に下記
の条件の直流アークプラズマ法により表2に示される合
成時間をかけて表2に示される平均粒径および膜厚を有
する第2層の気相合成ダイヤモンド厚膜を形成し、表2
に示すダイヤモンド厚膜を作製した。
熱フィラメント法またはマイクロ波法により表2に示さ
れる合成時間をかけて表2に示される平均粒径および膜
厚を有する第1層の緻密な気相合成ダイヤモンド薄膜を
形成し、上記気相合成ダイヤモンド薄膜の上に更に下記
の条件の直流アークプラズマ法により表2に示される合
成時間をかけて表2に示される平均粒径および膜厚を有
する第2層の気相合成ダイヤモンド厚膜を形成し、表2
に示すダイヤモンド厚膜を作製した。
【0018】(a) 熱フィラメント法の条件 反応容器:直径が200mmの石英管、 使用フィラメント:金属タングステン、 フィラメント温度:2030℃、 基体温度:850℃、 雰囲気:8TorrのCH4 +H2 、 反応ガス割合:CH4 /H2 =0.01、 (b) マイクロ波法の条件 反応容器:直径が40mmの石英管、 周波数:2.45GHz、 マイクロ波出力:600W、 雰囲気圧力:30TorrH2 +CH4 、 基体温度:850℃、 反応ガス割合:CH4 /H2 =0.01、 (c) 直流アークプラズマ法の条件 プラズマガス:Arガス(5l/min )+H2 ガス(3
l/min )、 原料ガス:CH4 ガス(0.1l/min )、 電力:10kw、 基板温度:950〜1050℃内の所定の温度、 上記Mo基板を溶解除去して得られたダイヤモンド厚膜
の直流アークプラズマ法により形成された気相合成ダイ
ヤモンド厚膜の面を切削工具にろう付けし、本発明ダイ
ヤモンド切削工具1〜7および比較ダイヤモンド切削工
具1〜2を作製した。
l/min )、 原料ガス:CH4 ガス(0.1l/min )、 電力:10kw、 基板温度:950〜1050℃内の所定の温度、 上記Mo基板を溶解除去して得られたダイヤモンド厚膜
の直流アークプラズマ法により形成された気相合成ダイ
ヤモンド厚膜の面を切削工具にろう付けし、本発明ダイ
ヤモンド切削工具1〜7および比較ダイヤモンド切削工
具1〜2を作製した。
【0019】さらに比較のために、Mo基板に直接直流
アークプラズマ法により気相合成ダイヤモンド厚膜を形
成し、Mo基板を溶解除去して得られた気相合成ダイヤ
モンド厚膜を切削工具にろう付けし従来ダイヤモンド切
削工具1を作製した。
アークプラズマ法により気相合成ダイヤモンド厚膜を形
成し、Mo基板を溶解除去して得られた気相合成ダイヤ
モンド厚膜を切削工具にろう付けし従来ダイヤモンド切
削工具1を作製した。
【0020】上記本発明ダイヤモンド切削工具1〜7、
比較ダイヤモンド切削工具1〜2および従来ダイヤモン
ド切削工具1について、下記の条件で湿式切削試験を行
なったところ被削面の表面粗さは1μm以下といずれも
良好であった。つぎに各ダイヤモンド切削工具の逃げ面
摩耗量を測定し、それらの測定結果を表2に示した。 湿式切削条件 被削材:A390−T6(18%Si−Al合金) 切削速度:800m/min 、 切り込み深さ:0.5mm、 送り速度:0.1mm/rev.、 切削時間:60分、
比較ダイヤモンド切削工具1〜2および従来ダイヤモン
ド切削工具1について、下記の条件で湿式切削試験を行
なったところ被削面の表面粗さは1μm以下といずれも
良好であった。つぎに各ダイヤモンド切削工具の逃げ面
摩耗量を測定し、それらの測定結果を表2に示した。 湿式切削条件 被削材:A390−T6(18%Si−Al合金) 切削速度:800m/min 、 切り込み深さ:0.5mm、 送り速度:0.1mm/rev.、 切削時間:60分、
【0021】
【表2】 表2に示される結果から、本発明ダイヤモンド切削工具
1〜7はいすれも従来ダイヤモンド切削工具1および比
較ダイヤモンド切削工具1〜2に比べて優れた切削性能
を有することがわかる。
1〜7はいすれも従来ダイヤモンド切削工具1および比
較ダイヤモンド切削工具1〜2に比べて優れた切削性能
を有することがわかる。
【0022】
【発明の効果】上述のように、この発明によると、厚さ
が均一で微細組織を有するダイヤモンド厚膜を効率よく
得ることができ、このダイヤモンド厚膜をろう付けして
得られたダイヤモンド切削工具は優れた切削性能を示す
ところから、優れた性能を有するダイヤモンド切削工具
を従来よりも安価に供給することができ、産業の発展に
大いに貢献しうるものである。
が均一で微細組織を有するダイヤモンド厚膜を効率よく
得ることができ、このダイヤモンド厚膜をろう付けして
得られたダイヤモンド切削工具は優れた切削性能を示す
ところから、優れた性能を有するダイヤモンド切削工具
を従来よりも安価に供給することができ、産業の発展に
大いに貢献しうるものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B23P 15/28 A 7041−3C C30B 25/02 P 9040−4G 25/18 9040−4G
Claims (4)
- 【請求項1】 熱フィラメント法またはマイクロ波法に
より基板表面に気相合成ダイヤモンド薄膜を被覆した複
合基板を作製し、上記複合基板の気相合成ダイヤモンド
薄膜の上に高周波熱プラズマ法または直流アークプラズ
マ法を使って気相合成ダイヤモンド厚膜を形成すること
を特徴とするダイヤモンド厚膜の製造法。 - 【請求項2】 上記フィラメント法またはマイクロ波法
により基板表面に形成される気相合成ダイヤモンド薄膜
の厚さは1〜20μmの範囲内にあることを特徴とする
請求項1記載のダイヤモンド厚膜の製造法。 - 【請求項3】 上記熱フィラメント法またはマイクロ波
法により気相合成ダイヤモンド薄膜を形成し、ついで高
周波熱プラズマ法または直流アークプラズマ法を使って
気相合成ダイヤモンド厚膜を形成する工程を複数回繰り
返すことを特徴とする請求項1または2記載のダイヤモ
ンド厚膜の製造法。 - 【請求項4】 請求項1,2または3記載の方法で作製
されたダイヤモンド厚膜の高周波熱プラズマ法または直
流アークプラズマ法により形成された気相合成ダイヤモ
ンド厚膜の面を切削工具基体にろう付けしてなることを
特徴とするダイヤモンド切削工具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5064696A JPH069292A (ja) | 1992-03-10 | 1993-03-01 | ダイヤモンド厚膜の製造法およびダイヤモンド厚膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4-86417 | 1992-03-10 | ||
| JP8641792 | 1992-03-10 | ||
| JP5064696A JPH069292A (ja) | 1992-03-10 | 1993-03-01 | ダイヤモンド厚膜の製造法およびダイヤモンド厚膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH069292A true JPH069292A (ja) | 1994-01-18 |
Family
ID=26405804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5064696A Withdrawn JPH069292A (ja) | 1992-03-10 | 1993-03-01 | ダイヤモンド厚膜の製造法およびダイヤモンド厚膜をろう付けして得られたダイヤモンド切削工具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069292A (ja) |
-
1993
- 1993-03-01 JP JP5064696A patent/JPH069292A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |