JPH0695145B2 - 放射線計数装置 - Google Patents

放射線計数装置

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JPH0695145B2
JPH0695145B2 JP61047472A JP4747286A JPH0695145B2 JP H0695145 B2 JPH0695145 B2 JP H0695145B2 JP 61047472 A JP61047472 A JP 61047472A JP 4747286 A JP4747286 A JP 4747286A JP H0695145 B2 JPH0695145 B2 JP H0695145B2
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シーモア・サロウ
ジヨージ・シオドア・マリツク、ジユニア
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ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション
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    • GPHYSICS
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    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • GPHYSICS
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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、広範囲に亘ってランダムに変動し得る放射線
の発生率を時間従属変数に関連したデータとして測定す
る放射線計数装置に関する。
[従来の技術] 従来の放射線計数装置では、測定された広範囲の計数率
を取り得る放射線パルス計数値を記憶もしくは格納する
ことが必要とされている。放射線が或る期間に亘って発
生される場合には、その値を記憶するために多数の記憶
場所を用意しなければならない場合がしばしば生ずる。
例えば、原子炉の中性子線束監視装置においては、線束
検出トランスジューサ(変換器)は、線束に比例する率
(レート)でパルスを発生する。原子炉の線束は、原子
炉が停止状態から全出力状態に移行するに伴い、毎秒0.
01カウント(計数)から毎秒1×106カウントのように
8桁台の範囲に亘って変動し得る。その場合、トランス
ジューサの出力パルスはランダムなパターンで発生す
る。
1つの公知の方式によれば、パルスは100ないし125ミリ
秒台の接続期間をそれぞれ有する一連の設定時間区間
(間隔)中に計数され、その後の処理のためにそれぞれ
の記憶場所に記憶される。パルス発生率が高い時には、
各測定時間区間の数区間分で、パルス発生率を正確に計
算するための充分な数のパルスが発生される。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、パルス発生率(レート)が低い場合に、
正確なパルス発生率を得るためには、測定を非常に多く
の時間区間に亘り連続して行わなければならない。例え
ば、パルス発生率が毎秒0.1パルスの公称値を有する場
合には、平均して100個の時間区間中に1パルスしか発
生しない。さらにパルス発生が本来ランダムな性質のも
のであるために、単一のパルスを基にして正確な表示も
しくは情報を発生することはできない。
パルスの発生がポアソン分布に従って変動する場合に平
均パルス発生率を計算する際の精度は、次式に従って推
定することができる。
誤差=1/(パルス数の平方根) 例えば、150個のパルスが計数された場合には、誤差は
8、16%程度になろう。この精度を、100ミリ秒の測定
区間もしくは間隔で、毎秒0.01個のパルスと言う公称パ
ルス発生率で達成するためには、測定動作は、150000個
の時間区間に及ぶことになる。その場合、各時間区間中
に発生するパルス数を表す情報をデータとして記憶する
ものとすれば、1つの計算を行うために必要なデータを
記憶するのに150000個もの記憶場所が要求されることに
なる。
従って、本発明の1つの目的は、広範囲で変動し得るパ
ルス発生率の正確な計算を可能にしつつ、データを記憶
するのに必要な記憶容量もしくはメモリ容量を減少させ
ることにある。
本発明の他の目的は、監視中のパルス発生率の変化を容
易に計算することを可能にすることにある。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、等しい持続期間の一連の相続く時間区間中、
放射線パルスを検出する検出手段と、各時間区間中に生
ずる放射線パルスの数を計数する手段と、放射線パルス
が発生しない時間区間の数を計数する手段と、そして、
少なくとも1つの放射線パルスが各時間区間中に発生し
た場合はその放射線パルスの数を表す情報および少なく
とも1つの放射線パルスが発生した先行の時間区間後に
経過した全ての時間区間の数を表す情報を記憶する手段
とにより、広範囲に亘って変動し得る放射線パルスの発
生率を算出する放射線計数装置を提供することを目的と
している。
[作用] 即ち、本発明は、少なくとも概念上、2つの隣接する記
憶場所の集合(群)から構成される二重登録テーブルの
形態で記憶場所が組織化配列されている記憶装置もしく
はメモリを設けることにより実現される。1つの記憶場
所の集合内の各記憶場所はデータパルス計数値を記憶す
るように構成され、他方の記憶場所の集合内の記憶場所
は、時間区間を表す情報を記憶するように構成される。
記憶場所は、一方の記憶場所の集合の或る1つの記憶場
所に記憶されているデータパルス計数が、他方の記憶場
所の集合に記憶される時間区間中の計数値として表わさ
れるように対形態で配列される。各時間区間の計数値情
報は、2つの記憶場所の集合の第1番目の記憶場所に書
込まれるが、その際、各記憶場所に先に記憶されている
情報は、同じ集合で連続する次の記憶場所にシフトされ
る。
受信しているデータパルスが、幾つかの相続く測定時間
区間中に発生しないような、比較的低いパルス発生率と
なる場合には、この時間区間の数を計数し、そして少な
くとも1つのデータパルスが発生した後にのみ、データ
パルス計数および関連した時間区間計数値を2つのカラ
ムの最上位の記憶場所に記憶する。時間区間計数値は、
パルスが発生しなかった先行の時間区間の数に、パルス
が発生した時間区間の数を加えた値となる。
したがって、パルス発生率計算を行うのに150個のパル
スを計数することが望まれる場合には、各カラム毎に僅
か150の記憶場所、言い換えるならば、2つのカラムで
合計300個の記憶場所を設けるだけでよい。これとは対
照的に、各時間区間と関連のパルス計数を各記憶場所に
記憶するとした場合には、0.01パルス/秒のパルス発生
率を正確に測定するために、150000個の記憶場所を設け
ることが必要となる。
[実施例] 以下、添付図面を参照し本発明の好適な実施例について
説明する。
第1図は、本発明にかかるデータを求めて記憶するよう
に構成されている回路の1つの好ましい実施例をブロッ
ク図で示したものである。図において、接続線は、単一
の導体を表し、他方、二重の平行線は、複数の2進信号
を並列に導くための複数の導体路を表す。
図示の回路は、放射線の発生毎に1つのデータパルスを
受ける入力端子4に接続されたデータパルス計数器2を
備えている。パルス計数器2は、入力端子4に現れる各
パルスを計数し、その現在の計数を表す複数ビットのデ
ィジタル出力信号を発生する。入力端子4に達するパル
スは、クロックパルス源6からの2つの相続くパルス間
の間隔期間によって定められる相続く監視時間区間中に
計数される。クロックパルス源6から発生される各パル
スは、計数器2のリセット入力端子に供給されて、該計
数器2を計数値「0」にリセットする作用をする。
クロックパルス源6から発生されるパルスはまた、時間
区間計数器(間隔計数器とも称し得る)8の計数入力端
子に印加される。時間区間計数器8は、その出力端子に
現在の計数状態を表す複数ビットのディジタル計数信号
を発生する。時間区間計数器8にはさらに、リセット入
力端子が設けられており、このリセット入力端子に信号
が印加されると該計数器8は「0」の計数状態にリセッ
トされる。データパルス計数器2の計数出力は、該計数
器2の現在の計数状態を表す情報を格納するバッファメ
モリ10に並列に供給される。同様に、時間区間計数器8
の計数出力も、計数器8の現在の計数状態を表す情報を
格納するバッファメモリ12に並列に供給される。
2安定フリップフロップ14には、データパルス入力端子
4に接続されたセット入力端子と、アンドゲート16の1
つの入力端子に直接接続された出力端子が設けられてい
る。アンドゲート16の出力端子は、フリップフロップ14
のリセット入力端子に接続されると共に、オアゲート17
を介して、バッファメモリ10および12のゲート入力端子
に接続されている。アンドゲート16の別の入力端子は、
クロックパルス源6の出力端子に接続されている。
時間区間(間隔)計数器8のリセット入力端子は、オア
ゲート17および遅延素子18を介してアンドゲート16の出
力端子に接続されている。遅延素子18は、時間区間(間
隔)計数器8が「0」状態にリセットされる前に、アン
ドゲート16から出力される信号を発生させるもので、パ
ルス源6によって発生されるパルスが計数器8により計
数され、バッファメモリ12に格納され得るのに充分な短
い時間の遅延パルスを発生する。
時間区間(間隔)計数器8の計数出力はまた、論理回路
19にも並列に供給される。該論理回路19は計数器8が25
6個のクロックパルスを計数した時に1ビットの出力を
発生する。この1ビット出力はオアゲート17の他方の入
力端子およびオアゲート20の一方の入力端子に印加され
る。オアゲート20の他方の入力端子は、計数器2からの
ビット出力線のうち最下位ビット、即ち20のビット線に
接続され、そしてオアゲート20の出力端子は、バッファ
メモリ10の対応した最下位ビット入力端子に接続されて
いる。
バッファメモリ10および12は、メモリ22に接続されてい
る。このメモリ22は、2つのカラムもしくはスタック状
に配列された記憶場所24(1),24(2),・・・24
(n)および26(1),26(2),・・・26(n)を備
えている。全記憶場所24は、加算レジスタ30に接続され
ており、このレジスタ30は、全記憶場所24に格納されて
いる計数内容もしくは情報が入力される。同様に、全記
憶場所26は加算レジスタ32に接続されており、このレジ
スタ32は、全記憶場所26に記憶されている計数情報もし
くは内容が入力される。レジスタ30および32は、表示/
記録装置34に接続されている。この表示/記録装置34
は、単一の時間区間または一連の時間区間を包含できる
少なくとも最も最近の監視期間中、入力端子4に供給さ
れるパルスの平均パルス発生率を表示し且つ(または)
記録するものである。
第1図に示した回路の動作を説明すると、計数器2およ
び8の各々は、「0」計数状態に初期設定され、フリッ
プフロップ14は、出力信号を発生しないリセツト状態に
設定される。監視(モニタ)動作は、各監視区間の終了
時にパルスを発生するようにクロックパルス源6をイネ
ーブル状態にすると共に、入力端子4から監視すべきデ
ータパルスを入力することにより開始される。或る1つ
の監視区間中、データパルスが現れない場合には、クロ
ックパルス源6は、区間(間隔)パルスを発生し、計数
器8の内容を1単位だけ進め(インクリメントし)、デ
ータパルス計数器2をリセツトする。この場合には、ア
ンドゲート16は、出力信号を発生せず、したがってバッ
ファメモリ10および12に格納されている情報はメモリ22
に転送されない。
クロックパルス源6によって発生される各クロックパル
スは計数器8によって計数されるが、上記シーケンス
は、入力端子4に少なくとも1つのデータパルスが現れ
る時間区間が生ずるまで続く。この第1のデータパルス
の出現で、フリップフロップ14は出力信号を発生するよ
うにセットされる。入力端子4に印加される(単数また
は複数の)データパルスは、データパルス計数器2によ
りアップカウントされる。
この時間区間の終了時に、クロックパルス源6は、1つ
のクロックパルスを発生し、このクロックパルスは、時
間区間計数器8によって計数され、さらにこのクロック
パルスは、アンドゲート16に出力信号を発生させる働き
をする。アンドゲート16の出力信号は、バッファメモリ
10および12に現在記憶されている情報を、メモリ22の第
1番目もしくは最上位の記憶場所24(1)および26
(1)に転送する働きをする。
遅延素子18によって制御される短時間の遅延後、ゲート
16からの信号は、計数器8を「0」計数状態にリセット
する。クロックパルス源6からの出力信号も、計数器2
をリセットする。
この時点で、最上位の記憶場所24(1)は、計数器2に
先に格納されていた計数の情報(カウント値)を保有
し、他方、最上位の記憶場所26(1)は、計数器8に先
に記憶されていた計数の情報(カウント値)を保有して
いる。
この動作シーケンスは、入力端子4にデータパルスが出
現する時間区間が再び生じるまで繰返される。この時間
区間(間隔)の終了時に、バッファメモリ10および12に
記憶されていた情報は、最上位の記憶場所24(1)およ
び26(1)に読込まれ、他方、該最上位の記憶場所24
(1)および26(1)に先に記憶されていた情報は、そ
の直ぐ下の次の記憶場所24(2)および26(2)に転送
される。メモリ22への次の読込みの時点で、記憶場所24
(2)および26(2)に記憶されていた情報は記憶場所
24(3)および26(3)に転送され、この転送動作は、
最後の記憶場所24(n)および26(n)にまで達し、そ
の後はこの転送動作は最早やこのような情報が不要とな
り放棄されるまで行われる。
この様に、監視動作のどの時点においても、最上位の記
憶場所24(1)および26(1)には最も最近の計数器出
力情報が記憶され、他方、その前に得られた情報は、時
間経過順序でその下側にある対応した記憶場所に記憶さ
れることになる。
比較的低い値を有するデータパルス発生率(レート)の
場合には、相続く記憶場所24はそれぞれ、1つまたは場
合により数個のパルスからなる情報を格納し、他方、対
応した記憶場所26は大きな数の時間区間を表す情報を格
納することになる。2つ以上のデータパルスからなる情
報は、単一の時間区間中に幾つかのデータパルスが生じ
た場合にのみ記憶されることになる。
他方、データパルス発生率(レート)が比較的高い場合
には、各記憶場所24は複数個のデータパルスからなる情
報を格納し、他方、各記憶場所26は1つの時間区間を表
す情報を格納することになる。
本発明で企図している監視もしくはモニタ動作は、パル
スが生ずる率が或る程度不規則(ランダム)であるパル
スシーケンスに適応されるものであるので、結果として
得られるパルス発生率表示に特定の精度を実現するため
には、或る数のパルスを計数しなければならない。例え
ば、測定誤差を8.16%の値にまで減少させるためには、
このようなパルスを150個計数すべきである。
このような精度を達成するために、合計少なくとも150
個のデータパルスが累積されるまで、最上位の記憶場所
24(1)から出発して連続的に設けられた記憶場所24に
記憶されているデータパルス計数情報の総数をレジスタ
30で加算し、これにより各パルス発生率の計算を行う。
その場合、対応した群の記憶場所に記憶されている時間
区間情報をレジスタ32で加算して、その結果得られる総
和値が装置34に転送される。この目的のため、レジスタ
30は、関連した記憶場所情報をレジスタ32に供給するよ
うに接続されている。そこで、装置34は、単純な割算を
行い、対応のクロックパルス時間区間の総数に対するデ
ータパルスの総数の比の表示を出力する。
記憶場所24および26の内容は、最上位の記憶場所に新し
いデータが書込まれなかった場合でも、各クロックパル
ス区間の終了時に問合わせるようにするのが好ましい。
この目的のため、クロックパルス源6の出力端子は、さ
らに、レジスタ30および32の各々に接続されている。10
0ないし125ミリ秒台の接続期間を有する測定区間を用い
ることを想定しているので、各区間中総ての記憶場所に
ついて問合わせを行うようにしても、その実現に当たっ
て問題が生ずることはない。上の説明から理解されるよ
うに、各記憶場所24は、少なくとも1つのデータパルス
を表す情報を格納しているので、所望の精度を有するパ
ルス発生率表示を行うのに、パルス繰り返し速度が低く
ても、合計150対の記憶場所24,26しか要求されない。そ
れより高い精度が望まれる場合、或いはそれより低い精
度で足りる場合には、加算すべきデータパルス情報の数
ならびに利用可能でなければならない記憶場所対の数を
相応して変えることができる。
装置34は、相続く期間と関連するパルス発生率を比較す
ることにより、監視下のパルス発生率の変化率の表示も
しくは指示を付加的に与えることができる。
本発明に従い、このような指示もしくは表示を与える1
つの好ましい態様が第2図に図解してある。第2図を参
照すると、この図には、例示的な計数値を格納している
第1図の記憶場所24(1)ないし24(11)および26
(1)ないし26(11)からなる群が表示されている。左
端の記憶場所24(1)および26(1)は第1図の最上位
の記憶場所24(1)および26(1)に対応する。
したがって、最も最近に発生された計数値は、第2図の
左端の記憶場所24(1)および26(1)に現れ、そして
第2図に示されている最も古い計数は右端の記憶場所24
(11)および26(11)に在る。対応した時間軸tの方向
が矢印で示されている。説明の便宜上および説明を簡潔
にするために、各パルス発生率計算に要求されるデータ
パルスの数は6個であると仮定する。
第2図に示した時点において、記憶場所群40の記憶場所
24(1)ないし24(5)に合計6個のデータパルス数が
格納されいることがレジスタ30により決定される。した
がって、記憶場所24(1)ないし24(5)内のデータパ
ルス数が加算されると共に、記憶場所26(1)ないし26
(5)に格納されている時間区間計数が加算されて割算
を行いパルス発生率指示もしくは表示を出力する。
次いで、パルス発生率の変化率の表示を出力するため
に、記憶場所26(6)から出発し、パルス発生率計算の
根拠となった区間の計数和に少なくとも等しい区間計数
和に達するまで該記憶場所26(6)に続く区間計数記憶
場所を含む後続の区間計数記憶場所にアクセスしてその
計数情報を加算する。本例の場合には、パルス発生率の
計算は、記憶場所26(1)ないし26(5)に記憶されて
いる区間計数情報の和、即ち、区間計数値119に基づい
て行われる。
記憶場所26(6)で始まった呼出し、および加算で時間
区間計数記憶場所26(6)ないし26(9)には、120個
の時間区間が保有されており、したがって、これら時間
区間計数記憶場所を含む記憶場所群42が変化率の計算に
用いられる。この変化率計算の目的のため、記憶場所群
42の記憶場所24(6)ないし24(9)に保有されている
データパルス計数の総数を加算により求め、その総和を
装置34において、記憶場所26(6)ないし(9)に格納
されている計数の総和で除して関連したパルス発生率の
値を発生する。明らかなように記憶場所群42の記憶場所
24におけるデータパルス計数値は所望の精度を有するパ
ルス発生率の値を計算するのに要求される数、この例で
は「6」よりも大きい場合もあり得るし、あるいは小さ
い場合もあり得る。
次いで、記憶場所群40および42に記憶されている値につ
いて計算したパルス発生率の対数間の差を求めて、この
差の値を、次式で表わされる値で除すことによりパルス
発生率の変化率を算出することができる。
上式中、I1=記憶場所群42に関連した時間区間計数和 I2=記憶場所群40に関連した時間区間計数和 (I1+I2)/2の値は、記憶場所群42および40と関連した
全測定期間の中心の期間同士間の時間に対応する。
最上位記憶場所への各書込みの発生は、オアゲート17の
出力端子から各書込みパルスを供給することによりレジ
スタ30および32に報知される。
上述の変化率計算の実行を可能にするためには、メモリ
22は、150より大きい数の記憶場所を有していなければ
ならない。しかしながら、それでもなお要求される全記
憶場所数は、各記憶場所が単一の測定区間に関連したデ
ータを記憶するとした場合に要求される記憶場所の総数
よりも遥かに小さい。
本発明の実施においては、最上位記憶場所24,26に対す
るそれぞれの新しい入力で、新しいパルス発生率計算お
よび関連した変化率計算を実行することができる。
パルスとパルスとの間に許容し得ないほど長い時間が経
過するほどデータパルス発生率が低くなり得る。この様
な状況は要素17,19および20の作用により回避される。
計数器8が予め定められた計数、例えば、256個の時間
区間を表す計数に達し、その間、データパルスが入力さ
れなかった場合には、論理回路19が予め定められた計数
を検知して、パルスを発生し、このパルスで、単一のデ
ータパルスを表す情報がオアゲート20を介してバッファ
メモリ10に供給されるとともに、オアゲート17を介し、
バッファメモリ10ならびに12から最上位の記憶場所24お
よび26への書込みが開始され、それに続いて計数器8は
リセットされる。1つのデータパルスを表す1計数の入
力は、本装置により示される最も低い計数を表すように
任意に選択される。
本発明は、汎用データ処理装置を適当にプログラミング
することにより容易に実現し得ることは理解されるであ
ろう。
本発明の上に述べた事項は、本発明の範囲ならびにその
均等物の範囲から逸脱することなく、種々な変更、変換
および適応が可能であることは理解されるであろう。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、放射線パルスの発生頻
度を自動的に判別し、一定時間間隔毎の計数値でなく計
数値がゼロの時間区間が何回続いたかを代わりに記憶す
るように構成したので、メモリが節約でき計算処理も複
雑にならないと共に統計誤差も最大値保証がしやすいと
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施するための回路の好ましい実施例
を示すブロック図、第2図は、第1図のメモリを更に説
明する図である。 2……データパルス計数器、4……入力端子、6……ク
ロックパルス源、8……時間区間計数器、10,12……バ
ッファメモリ、14……2安定フリップフロップ、16……
アンドゲート、17,20……オアゲート、18……遅延素
子、19……論理回路、22……メモリ、24……レジスタ、
26……記憶場所、30,32……加算レジスタ、34……記憶
装置、40,42……記憶場所群。 尚、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 昭58−79278(JP,U)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】広範囲に亘って変化し得る放射線パルス発
    生率を監視するための放射線計数装置において、 等しい持続期間の一連の相続く時間区間中、放射線パル
    スを検出するように設けられた検出手段と、 前記検出手段に接続されて、少なくとも1つの放射線パ
    ルスが発生する各時間区間中に生ずる放射線パルスの数
    を計数するための放射線パルス計数手段と、 少なくとも1つの放射線パルスが生じた各時間区間の終
    了時と、少なくとも1つの放射線パルスが生じた直ぐ前
    の時間区間の終了時との間における時間区間の数をそれ
    ぞれ計数するための時間区間計数手段と、 前記放射線パルス計数手段および前記時間区間計数手段
    に接続され、前記放射線パルス計数手段および前記時間
    区間計数手段によって出力される計数値を記憶するため
    の記憶手段であって、第1および第2の記憶場所群を含
    み、前記第1の記憶場所群は、前記放射線パルス計数手
    段によって出力される連続的な計数値を順次記憶するよ
    うに配列され、前記第2の記憶場所群は、前記時間区間
    計数手段によって出力される連続的な計数値を順次記憶
    するように配列されている前記記憶手段と、 を含む放射線計数装置。
  2. 【請求項2】前記第1の記憶場所群が、それぞれ、前記
    放射線パルス計数手段によって出力される各計数値を記
    憶するように設けられた複数の記憶場所を含み、前記第
    2の記憶場所群は、それぞれ、前記第1の記憶場所群の
    各記憶場所と関連し、それぞれ、前記第1の記憶場所群
    の各記憶場所に記憶される計数値の発生と時間的に一致
    して、前記時間区間計数手段により出力される各計数値
    を記憶するように設けられている複数の記憶場所を含む
    特許請求の範囲第1項記載の放射線計数装置。
  3. 【請求項3】前記複数の記憶場所は、少なくとも1つの
    放射線パルスが発生した最も最近の時間区間に関連した
    計数値を記憶するように設けられた第1の記憶場所を含
    み、前記最も最近の時間区間に先行する時間区間に関連
    した計数値は、前記第1の記憶場所に続く前記各記憶場
    所群の前記記憶場所の各々に逐次記憶される特許請求の
    範囲第2項記載の放射線計数装置。
  4. 【請求項4】広範囲に亘って変化し得る放射線パルス発
    生率を監視するための放射線計数装置において、 等しい持続期間の一連の相続く時間区間中、放射線パル
    スを検出するように設けられた検出手段と、 前記検出手段に接続されて、少なくとも1つの放射線パ
    ルスが発生する各時間区間中に生ずる放射線パルスの数
    を計数するための放射線パルス計数手段と、 少なくとも1つの放射線パルスが生じた各時間区間の終
    了時と、少なくとも1つの放射線パルスが生じた直ぐ前
    の時間区間の終了時との間における時間区間の数をそれ
    ぞれ計数するための時間区間計数手段と、 前記放射線パルス計数手段および前記時間区間計数手段
    に接続され、前記放射線パルス計数手段および前記時間
    区間計数手段によって出力される計数値を記憶するため
    の記憶手段であって、第1および第2の記憶場所群を含
    み、前記第1の記憶場所群は、前記放射線パルス計数手
    段によって出力される連続的な計数値を順次記憶するよ
    うに配列され、前記第2の記憶場所群は、前記時間区間
    計数手段によって出力される連続的な計数値を順次記憶
    するように配列され、 かつ、前記第1の記憶場所群が、それぞれ、前記放射線
    パルス計数手段によって出力される各計数値を記憶する
    ように設けられた複数の記憶場所を含み、前記第2の記
    憶場所群は、それぞれ、前記第1の記憶場所群の各記憶
    場所と関連し、それぞれ、前記第1の記憶場所群の各記
    憶場所に記憶される計数値の発生と時間的に一致して、
    前記時間区間計数手段により出力される各計数値を記憶
    するように設けられている複数の記憶場所を含み、 かつ、前記複数の記憶場所は、少なくとも1つの放射線
    パルスが発生した最も最近の時間区間に関連した計数値
    を記憶するように設けられた第1の記憶場所を含み、前
    記最も最近の時間区間に先行する時間区間に関連した計
    数値は、前記第1の記憶場所に続く前記各記憶場所群の
    前記記憶場所の各々に逐次記憶される前記記憶手段と、 前記第1の記憶場所から加算を始めて、各記憶場所に記
    憶されている計数値の加算値が所定の数となる前記記憶
    場所の数を求めるために、前記第1の記憶場所群の前記
    記憶場所に接続された第1の加算手段と、 前記第1の記憶場所群の前記記憶場所に対応した第2の
    記憶場所群の記憶場所に接続され、これら記憶場所に記
    憶されている計数の和を求めるための第2の加算手段
    と、 を含む放射線計数装置。
  5. 【請求項5】前記第1の加算手段が、前記第1の記憶場
    所群における前記記憶場所に記憶されている計数値に対
    応する放射線パルスの総数を出力する特許請求の範囲第
    4項記載の放射線計数装置。
  6. 【請求項6】広範囲に亘って変化し得る放射線パルス発
    生率を監視するための放射線計数装置において、 等しい持続期間の一連の相続く時間区間中、放射線パル
    スを検出するように設けられた検出手段と、 前記検出手段に接続されて、少なくとも1つの放射線パ
    ルスが発生する各時間区間中に生ずる放射線パルスの数
    を計数するための放射線パルス計数手段と、 少なくとも1つの放射線パルスが生じた各時間区間の終
    了時と、少なくとも1つの放射線パルスが生じた直ぐ前
    の時間区間の終了時との間における時間区間の数をそれ
    ぞれ計数するための時間区間計数手段と、 前記放射線パルス計数手段および前記時間区間計数手段
    に接続され、前記放射線パルス計数手段および前記時間
    区間計数手段によって出力される計数値を記憶するため
    の記憶手段であって、第1および第2の記憶場所群を含
    み、前記第1の記憶場所群は、前記放射線パルス計数手
    段によって出力される連続的な計数値を順次記憶するよ
    うに配列され、前記第2の記憶場所群は、前記時間区間
    計数手段によって出力される連続的な計数値を順次記憶
    するように配列され、 かつ、前記第1の記憶場所群が、それぞれ、前記放射線
    パルス計数手段によって出力される各計数値を記憶する
    ように設けられた複数の記憶場所を含み、前記第2の記
    憶場所群は、それぞれ、前記第1の記憶場所群の各記憶
    場所と関連し、それぞれ、前記第1の記憶場所群の各記
    憶場所に記憶される計数値の発生と時間的に一致して、
    前記時間区間計数手段により出力される各計数値を記憶
    するように設けられている複数の記憶場所を含み、 かつ、前記複数の記憶場所は、少なくとも1つの放射線
    パルスが発生した最も最近の時間区間に関連した計数値
    を記憶するように設けられた第1の記憶場所を含み、前
    記最も最近の時間区間に先行する時間区間に関連した計
    数値は、前記第1の記憶場所に続く前記各記憶場所群の
    前記記憶場所の各々に逐次記憶される前記記憶手段と、 前記第1の記憶場所から加算を始めて、各記憶場所に記
    憶されている計数値の加算値が所定の数となる前記記憶
    場所の数を求めるために、前記第1の記憶場所群の前記
    記憶場所に接続され、前記第1の記憶場所群における前
    記記憶場所に記憶されている計数値に対応する放射線パ
    ルスの総数を出力する第1の加算手段と、 前記第1の記憶場所群の前記記憶場所に対応した第2の
    記憶場所群の記憶場所に接続され、これら記憶場所に記
    憶されている計数の和を求めるための第2の加算手段
    と、 前記第1および第2の加算手段に接続され、前記第1の
    加算手段によって出力される計数値を前記第2の加算手
    段によって同時に出力される計数値によって除算した商
    に比例する放射線パルス発生率を計算し表示するための
    表示手段と、 を含む放射線計数装置。
  7. 【請求項7】前記表示手段がさらに、相続く計算された
    放射線パルス率情報間における関係に基づいて変化率情
    報を発生するように動作する特許請求の範囲第6項記載
    の放射線計数装置。
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