JPH0695519B2 - バンプ形成方法 - Google Patents

バンプ形成方法

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JPH0695519B2
JPH0695519B2 JP60295006A JP29500685A JPH0695519B2 JP H0695519 B2 JPH0695519 B2 JP H0695519B2 JP 60295006 A JP60295006 A JP 60295006A JP 29500685 A JP29500685 A JP 29500685A JP H0695519 B2 JPH0695519 B2 JP H0695519B2
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JP
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ball
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bump
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capillary
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JP60295006A
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幸一郎 渥美
鉄男 安藤
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は半導体素子の電極パッド上に外部端子を接続
するためのバンプを形成する方法に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
半導体素子の電極パッドと外部端子とを電気的に接続す
る場合、これら両者をワイヤで接続する、いわゆるワイ
ヤボンディングが知られている。しかしながら、ワイヤ
ボンディングの場合、ワイヤの立ち上り高さが必要とな
るから、全体の高さ寸法を十分小さくすることができな
いという欠点がある。また、ワイヤボンディングは接続
個所ごとにワイヤを配線しなければならないから、接続
個所が多い場合には作業能率が低下するということもあ
る。
このような欠点を除去する電極パッドと外部端子との接
続方法として、上記電極パッドにバンプを形成し、この
バンプに上記外部端子を接続するということが行なわれ
ている。バンプを利用した接続方法によれば、電極パッ
ドと外部端子とがバンプを介して直接的に接合固定され
るから、ワイヤを用いた場合に比べて接合部分の高さを
低くすることができ、またたとえばフイルムなどに設け
られた多数の外部端子を電極パッドに1度の工程で接合
固定することができるなどの利点を有する。
ところで、従来電極パッドにバンプを形成する方法とし
ては、特開昭59−208751号公報に示されるものが知られ
ている。この公知技術は、バンプをワイヤボンディング
によって形成するようにしている。つまり、キャピラリ
に挿通されたワイヤの先端にボールを形成したならば、
このボールをボンディングパッドに接合する。そのの
ち、ワイヤをクランパなどで引きちぎることによって上
記パッド上にバンプを形成するようにしている。しかし
ながら、ワイヤをクランパによって引きちぎるようにし
たのでは、ボールに残るワイヤの長さ寸法が一定しな
い。そして、そのような状態のバンプの上方に外部端子
を位置決めしたのち、加圧および加熱して接合するよう
にすると、外部端子とバンプとの接合状態、すなわち接
合強度が一定とならなかったり、接合不良を招くなどの
欠点が生じる。
〔発明の目的〕
この発明は、ワイヤボンディングを用いてバンプを形成
した場合に、そのバンプの形状を一定にすることができ
いるようにしたバンプ形成方法を提供することを目的と
する。
〔発明の概要〕
この発明は、キャピラリに挿通されたワイヤの先端にボ
ールを形成し、このボールを被接合部に押圧接合したの
ち、上記ボールから上記ワイヤを切り離し、ついで上記
ボールを成形することにより、形状を一定にするように
したものである。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を第1図乃至第8図を参照し
て説明する。まず、第1図に示すようにキャピラリ1に
挿通された金、銅、アルミニュウムなどの材料からなる
ワイヤ2の先端に電気トーチ3を対向させ、上記ワイヤ
2との間でスパークを発生させることにより、上記ワイ
ヤ2の先端にボール4を形成する。つぎに、第2図に示
すように上記キャピラリ1を下降させて被接合部である
半導体素子5の電極パッド6上に上記ボール4を押圧す
る。このとき、上記ボール4はキャピラリ1からの超音
波振動が加えられて発熱するとともに、図示せぬヒータ
ブロックからの熱も上記半導体素子5を介して伝わるか
ら、上記ボール4は溶融されて電極パッド6に固着され
ることになる。
上記ボール4が電極パッド6に固着されたのち、第3図
に示すようにキャピラリ1が上昇する。ついで、上記ボ
ール4の上方に鋭利なエッジ部7を有する切欠き治具8
が前進してきて上記ワイヤ2の上記ボール4の直上の個
所に第8図に拡大して示すように切欠き9を形成する。
ワイヤ2に切欠き9が形成されると、上記切欠き治具8
が後退するとともに、第4図に示すようにキャピラリ1
の上方に設けられたクランパ11がワイヤ2を挾持し、こ
の状態でクランパ11が上昇する。したがって、上記ワイ
ヤ2は切欠き治具8によって形成された切欠き9の個所
から切断され、これによって電極パッド6上にバンプ12
が形成される。つぎに、このバンプ12の上方に第5図に
示すように下面が平坦面13に形成された加圧体14が水平
に進入し、ついで矢示方向に下降して上記バンプ12を所
定の圧力で加圧する。このとき、上記バンプ12あるいは
加圧体14の少なくともいずれか一方を加熱しておく。す
ると、上記バンプ12は第6図に示すように上記加圧体14
によって上面が平坦部15に成形される。そして、このよ
うに形成されたバンプ12の平坦部15には、第7図に示す
ように合成樹脂製フイルム16から延出された外部端子17
が適宜の手段、たとえば第5図に示す工程で用いられた
加圧体14を利用して加圧するなどして接続される。
このようにしてバンプ12に外部端子17を接続するように
すれば、上記バンプ12は上面が加圧体14によって平坦部
15に形成されているため、ここに接合される外部端子17
の接合状態である接合強度や接合高さなどを一定にする
ことができる。しかも、バンプ12の上面が平坦部15であ
ることにより、上記外部端子17をバンプ12からずれ落ち
るようなことなく確実に位置決めて上記平坦部15に接合
固定することができる。つまり、外部端子17の接合位置
精度が良好となる。また、加圧体14によるバンプ12の加
圧成形は、1度にたくさんのバンプ12を成形することが
可能であるから、加工能率の向上が計れる。
第9図はこの発明の他の実施例を示す。つまり、この実
施例においてはバンプ12の上面を凹部21を有する平坦部
22に形成するようにした。上記凹部21は平坦部22の径方
向全長にわたって形成されている。したがって、外部端
子17を上記凹部21に挿入して接合固定するようにすれ
ば、上記外部端子17の位置決め精度をさらに向上させる
ことができるばかりか、接合高さを低くすることもでき
る。
なお、上記各実施例ではボールを加圧成形して平坦部や
凹部を形成したが、上記ボールを加熱して平坦部や凹部
を形成してもよく、あるいは加圧と加熱とを併用しても
よい。
〔発明の効果〕
以上述べたようにこの発明は、キャピラリに挿通された
ワイヤの先端にボールを形成し、このボールを被接合部
に押圧接合したのち、上記ボールから上記ワイヤを切り
離し、ついで上記ボールを成形することにより、一定の
形状のバンプを得るようにした。したがって、外部端子
を接合強度や接続高さなどの接続状態を一定にして接続
することができるとともに、接合不良を招くことのない
バンプを提供することができる。
【図面の簡単な説明】 第1図乃至第7図はこの発明の一実施例のバンプを形成
する手順を順次示した説明図、第8図は同じくワイヤに
切欠きを形成した状態の拡大図、第9図はこの発明の他
の実施例を示す上面に凹部が形成されたバンプの側面図
である。 1…キャピラリ、2…ワイヤ、4…ボール、6…電極パ
ッド(被接合部)、8…切欠き治具、12…バンプ、14…
加圧体、15…平坦面、21…凹部。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】キャピラリに挿通されたワイヤの先端にボ
    ールを形成する工程と、上記キャピラリを下降させて上
    記ボールを被接合部に押圧接合する工程と、被接合部に
    ボールを接合して上記キャピラリが上昇したならば上記
    ワイヤを上記ボールから切り離す工程と、ワイヤが切り
    離された上記ボールを成形する工程とを具備したことを
    特徴とするバンプ形成方法。
  2. 【請求項2】上記バンプは、その上面が平面に成形され
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のバンプ
    形成方法。
  3. 【請求項3】上記バンプは、その上面が凹部を有する形
    状に成形されることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載のバンプ形成方法。
  4. 【請求項4】上記ボールを成形する工程は、このボール
    を加圧成形することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    乃至第3項のいずれかに記載されたバンプの成形方法。
  5. 【請求項5】上記ボールを成形する工程は、このボール
    を加熱成形することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    乃至第3項のいずれかに記載されたバンプの成形方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0793305B2 (ja) * 1987-07-07 1995-10-09 日本電気株式会社 バンプ形成方法およびバンプ形成装置
JP2621881B2 (ja) * 1987-10-02 1997-06-18 日本電気株式会社 バンプ形成方法
US5172851A (en) * 1990-09-20 1992-12-22 Matsushita Electronics Corporation Method of forming a bump electrode and manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device
US5545589A (en) * 1993-01-28 1996-08-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of forming a bump having a rugged side, a semiconductor device having the bump, and a method of mounting a semiconductor unit and a semiconductor device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4952973A (ja) * 1972-09-22 1974-05-23
JPS574130A (en) * 1980-06-10 1982-01-09 Sanyo Electric Co Ltd Adhesion of semiconductor element
JPS5999794A (ja) * 1982-11-29 1984-06-08 株式会社デンソー 厚膜回路装置
JPS59136950A (ja) * 1983-01-27 1984-08-06 Seiko Instr & Electronics Ltd バンプ型電極の形成方法

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