JPH0695659B2 - 符号復号器試験方法 - Google Patents

符号復号器試験方法

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JPH0695659B2
JPH0695659B2 JP20802386A JP20802386A JPH0695659B2 JP H0695659 B2 JPH0695659 B2 JP H0695659B2 JP 20802386 A JP20802386 A JP 20802386A JP 20802386 A JP20802386 A JP 20802386A JP H0695659 B2 JPH0695659 B2 JP H0695659B2
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一成 入江
正博 高
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、符号器および復号器の動作が正常であるか否
かを簡単な回路で試験することが可能な符号復号器試験
方法に関するものである。
(従来の技術) 従来、符号器および復号器(両者を合わせてCODECとい
う)の試験方法としては、64kb/s PCMの例にとると第4
図に示すように、発振器によりアナログ正弦波信号を発
生させ、これを符号器に入力し、符号器からのディジタ
ル信号を復号器に折り返して入力し、復号器からのアナ
ログ出力信号をレベルメータで測定することにより、ア
ナログ入出力レベル差あるいはS/N比で符号器および復
号器の正常動作を試験していた。
また、最近開発が行われている低ビットレートのCODEC
に対する試験方式について、32kb/s ADPCMの場合を例と
して以下に説明する。ADPCM CODECにおいては、アナロ
グ信号とディジタル信号との変換を行うADおよびDA変換
部としてPCM符号器および復号器が用いられ、ADPCM COD
ECの部分は64kb/s(8bit/サンプル)ディジタル信号をA
DPCMアルゴリズムにより32kb/s(4bit/サンプル)でコ
ード化する符号化部と、コード化された符号系列から64
kb/sディジタル信号を復元する復号化部とにより、D/D
(Digital to Digital)変換部として構成されている。
このように、低ビットレートCODECの場合、PCM CODECと
D/D変換部とにより構成されるため、ここでは前者をAD
およびDA変換部、後者を符号化および復号化部と呼ぶ、
両者を合わせて符号復号器と呼ぶことにより区別する。
ADPCM CODECでは過去の復号信号を用いて予測信号を算
出し、符号化を行うため、符号化部および復号化部の演
算語長を同一に設定し、演算誤差の累積を防止すること
により送受の同期動作を保持している。従って、一定の
ディジタル信号系列パタンを入力したときの符号化部お
よび復号化部の出力パタンは一義的に決定される。この
ため、CCITTにおいてはADPCMアルゴリズムの確認用にデ
ィジタルテストシーケンスを用意している。
(発明が解決しようとする問題点) 前者の方法によれば、発振器およびレベルメータ等の測
定装置を準備し、CODECと接続する必要があるため、COD
ECが宅内あるいは遠隔地に設置された場合、試験が困難
になるという欠点があった。さらに、端局装置等に組み
込まれたCODECの試験を自装置内で行う自己監視機能の
実現は不可能であった。
又、後者の方法では、テストシーケンスを用いて入出力
パタン照合試験を行うためには、これを記憶するための
メモリとして、数Mb/s以上必要であり、端局装置内のCO
DEC自己監視に適用することは困難であった。
本発明は、端局装置あるいは端末装置等に組み込まれた
低ビットレートCODECの試験を、簡単な回路の付加によ
り自装置内で行うことが可能な自己監視機能の実現を目
的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、短時間のディジタル正弦波信号(ディジタル
的に作り出された正弦波、例えばPAM波形)をメモリに
記憶しておき、これを繰り返し符号化部に入力し、符号
化コードを復号化部に折り返し入力し、復号化部出力信
号のレベルと入力正弦波信号レベルとの差が一定値以内
であるとき符号復号化部の動作が正常であることを検出
し、上記ディジタル正弦波信号をDA変換部に入力し、DA
変換部出力をAD変換部に折り返し入力し、AD変換部出力
信号のレベルと入力正弦波信号レベルとの差が一定値以
内であるときAD,DA変換部の動作が正常であることを検
出することを特徴とする。従来の技術とは、ディジタル
正弦波信号を用い、符号、復号化部およびDA,AD変換部
に折り返し出力レベルにより各々の試験を独立に行う点
で異なっている。
(実施例) 本発明の実施例を以下に示す。第1図は、低ビットレー
トCODECの構成を示すブロック図であり、アナログ信号
をディジタル信号に変換するAD変換部(A/D)1と、該
ディジタル信号をADPCM等の所定のアルゴリズムにより
コード化する符号化部(COD)2、コード化された符号
系列からディジタル信号を復元する復号化部(DEC)
3、該ディジタル信号をアナログ信号に変換するDA変換
部(D/A)4、ディジタル正弦波信号を蓄積する記憶手
段およびディジタル正弦波のレベルを検出する手段を含
む試験回路5、および信号経路を切り換えるための切り
換え器6〜8から構成され、信号授受に必要なレベル変
換およびタイミング調整を行うインタフェース回路9を
介して多重化装置等(図示せず)に接続される。通常動
作時においては、アナログ入力信号10はAD変換部1でデ
ィジタル信号に変換され、符号化部2に入力され、コー
ド化された信号11がインタフェース回路9を介して(伝
送路側)に送出される。また、インタフェース回路9を
介して入力されるコード系列12は、復号化部3において
復元され、DA変換部4でアナログ信号13に変換される。
また、既にCODECと接続される他の装置(例えばディジ
タル交換機等)において、AD,DA変換が行われ、ディジ
タル信号が入出力される形態の場合、図中14および15の
信号線を介してインタフェース回路に接続するため、A
D,DA変換部1,4および切り換え器6は不要となる。通
常、上記CODEC部分は同一パッケージ上に搭載され、端
局(多重化)装置等において多重チャネル数に相当する
枚数分が実装される。
符号化、復号化部の試験時においては、制御信号16によ
り切り換え器7及び8内の信号経路をT2と記載した経路
に設定する。なお、制御信号16はCODECが実装されてい
る装置本体からリモート試験信号として発生させる場合
と、押しボタン等によりマニュアルで発生させる場合と
がある。信号経路の切り換え終了後、試験回路5よりデ
ィジタル正弦波信号を符号化部2に入力し、切り換え器
8で折り返され復号部3を通った後、そのディジタル出
力信号を試験回路5に取り込み、レベルを測定する。こ
のレベルと、試験回路内に蓄積されている正弦波信号レ
ベルとを比較し、その差が一定範囲内であれば、符号
器、復号器ともに動作が正常であると判断し、範囲外で
あれば何れかの部分が故障(異常動作)と判断し、その
情報(結果)をアラーム信号17として出力する。アラー
ム信号17はLED表示等に使用する。なお、上記レベル差
の許容範囲については、符号化アルゴリズムによって特
性が異なるため、使用アルゴリズムについての理論値あ
るいは実験値に回路特性のバラツキに対するマージンを
見込み、予め定めておく(通常は1〜3dBに設定す
る)。
AD,DA変換部の試験時においては、制御信号16により切
り換え器6及び7内の信号経路をT1と記載した経路に設
定する。信号経路の切り換え終了後、試験回路よりディ
ジタル正弦波信号をDA変換部4に入力する。DA変換器出
力のアナログ信号を切り換え器6によりAD変換部1に折
り返し入力し、そのディジタル出力信号を試験回路5に
取り込み、レベルを測定する。このレベルと、試験回路
内に蓄積されている正弦波信号レベルとを比較し、その
差が一定範囲内であれば、AD変換部,DA変換部ともに動
作が正常であると判断し、範囲外であれば何れかの部分
が故障(異常動作)と判断し、その情報(結果)をアラ
ーム信号17として出力する。上記レベル差の許容範囲に
ついては、アナログライン上での熱雑音および回路特性
のバラツキに対するマージンを見込み、予め定めておく
(通常は1dB程度に設定する)。なお、AD,DA変換が既に
行われ、ディジタル信号が入出力されるD/D変換形態のC
ODECにおいては、このAD,DA変換部の試験は不要であ
る。
上記の符号化・復号化部およびAD,DA変換部の試験は制
御信号16によって制御するが、このとき、2ビットの信
号(2本の信号線)を用い、両者の区別を指定して行う
方法と、1ビットの信号(1本の信号線)により時系列
的に順次行う方法の2通りがあり、何れを用いても良
い。また、同様にアラーム信号17による試験結果の返送
についても符号化・復号化部およびAD,DA変換部の試験
結果を、2ビットの信号(2本の信号線)で表されるコ
ード、あるいは1ビットの信号(1本の信号線)により
時系列的に、両者の区別を指定して返送する方法と、1
ビットの信号(1本の信号線)により両者が共に正常動
作であることを示す方法の2通りがあり、何れを用いて
も良い。試験実施シーケンスの一例を第2図に示す。
第3図に、試験回路の構成を示す。ディジタル正弦波信
号を蓄積する記憶回路18、レベル算出および比較を行う
演算・比較回路19、制御信号16により記憶回路からの正
弦波読み出しおよび演算実行を制御する制御回路20から
構成される。表1に、周波数800Hzの場合のディジタル
正弦波1周期分のパタン例を示す。これはCCITTで明ら
かにされている公知のパタンである。通常、音声のサン
プル周波数は8kHzであり、ここではPCMコードが10種類
あるので、このサンプル速度でPCMコードを出力すれば
出力の正弦波としては800Hzになる。
このように、例えば10サンプルのデータを記憶して、こ
れを繰り返し読み出すことにより任意の時間長の正弦波
信号を得ることが可能であり、メモリ量低減に有効であ
る。
通常、上記の回路構成に相当する機能は、全てDSP(デ
ィジタル信号処理プロセッサ)上でプログラムにより実
現される。さらに、符号化および復号化部についてもデ
ィジタル処理であるため、DSP上にて実現可能であり、
両者を同一のDSPに搭載することにより、回路の小型化
を図れば一層効果的である。
(発明の効果) 以上、説明したように本発明によれば、発振器、レベル
メータ等の測定器を必要とせず、簡単な回路の付加によ
り符号器および復号器の自装置内での動作確認試験を実
現できるという効果がある。また、AD,DA変換部と符号
復号化部とを別々に試験することが可能であるため、故
障箇所の特性が容易であり、さらにアナログ入出力およ
びディジタル入出力(D/D変換)の両タイプのCODECに対
する試験が可能であるという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図は本発明によるCODEC試験方法の実施例
を示す図、第3図は試験回路の構成例、第4図は従来の
CODEC試験の例を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アナログ信号をディジタル信号に変換する
    AD変換部と、該ディジタル信号を所定のアルゴリズムに
    よりコード化する符号化部と、コード化された符号系列
    からディジタル信号を復元する復号化部と、該ディジタ
    ル信号をアナログ信号に変換するDA変換部と、ディジタ
    ル正弦波信号を蓄積する記憶手段と、ディジタル正弦波
    のレベルを検出する手段とから成り、 前記記憶手段から読み出されるディジタル正弦波信号を
    符号化部に入力し、符号化部からの出力コードを復号化
    部に入力し、復号化部からの出力であるディジタル正弦
    波出力信号のレベルを検出し、該レベルと前記記憶手段
    から読み出されたディジタル正弦波信号レベルとを比較
    し、差が一定値以内であるとき符号化部および復号化部
    の動作が正常であることを検出し、前記記憶手段から読
    み出されるディジタル正弦波信号をDA変換部に入力し、
    DA変換部からの出力信号をAD変換部に入力し、AD変換部
    からのディジタル正弦波出力信号のレベルを検出し、該
    レベルと前記記憶手段から読み出されたディジタル正弦
    波信号レベルとを比較し、差が一定値以内であるときAD
    変換部およびDA変換部の動作が正常であるとすることを
    特徴とする符号復号器試験方法。
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JPH03215764A (ja) * 1990-01-19 1991-09-20 Matsushita Electron Corp 半導体集積回路
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JP6584802B2 (ja) * 2015-03-18 2019-10-02 日本信号株式会社 アナログ信号処理装置
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