JPH0697704B2 - MIS型ZnS青色発光素子 - Google Patents
MIS型ZnS青色発光素子Info
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- JPH0697704B2 JPH0697704B2 JP1640886A JP1640886A JPH0697704B2 JP H0697704 B2 JPH0697704 B2 JP H0697704B2 JP 1640886 A JP1640886 A JP 1640886A JP 1640886 A JP1640886 A JP 1640886A JP H0697704 B2 JPH0697704 B2 JP H0697704B2
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- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/052—Light-emitting semiconductor devices having Schottky type light-emitting regions; Light emitting semiconductor devices having Metal-Insulator-Semiconductor type light-emitting regions
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、低抵抗ZnSを発光層、2層以上の複合絶縁物
を正孔注入用高抵抗層とする金属−絶縁物−半導体(Me
tal−Insulator−Semiconductor:MIS)構造のZnS青色発
光素子に関する。
を正孔注入用高抵抗層とする金属−絶縁物−半導体(Me
tal−Insulator−Semiconductor:MIS)構造のZnS青色発
光素子に関する。
(従来の技術と発明の背景) II−VI族化合物半導体ZnSは、室温において3.7eVの直接
遷移型の禁制帯幅を持つので、高効率青色発光材料とし
てGaN,SiC,ZnSeなどとともに試作,実用化への開発、研
究が行なわれている。高圧溶融法、昇華法、ハロゲン輸
送法等で成長させたZnS単結晶は、Al,Iなどを不純物と
して添加した上、850〜1050℃の溶融亜鉛中で熱処理す
ることにより、低抵抗n型(〜1Ω・cm)となり、450
〜480nmに発光ピークを持つ青色発光を示す。しかし、
p型ZnSは得られていないため、発光素子の構造として
は従来からMIS構造が用いられている。
遷移型の禁制帯幅を持つので、高効率青色発光材料とし
てGaN,SiC,ZnSeなどとともに試作,実用化への開発、研
究が行なわれている。高圧溶融法、昇華法、ハロゲン輸
送法等で成長させたZnS単結晶は、Al,Iなどを不純物と
して添加した上、850〜1050℃の溶融亜鉛中で熱処理す
ることにより、低抵抗n型(〜1Ω・cm)となり、450
〜480nmに発光ピークを持つ青色発光を示す。しかし、
p型ZnSは得られていないため、発光素子の構造として
は従来からMIS構造が用いられている。
第3図に示す従来のMIS型発光素子においては、正孔担
体注入用の低抵抗ZnS層(S層)4の上に高抵抗層(I
層)3を積層し、さらに、その上に注入側電極(M層)
2を設ける。また、低抵抗ZnS層4にはオーミックコン
タクト電極5を設ける。各電極2,5には、それぞれ、リ
ード線1,1を接続する。ここで、高抵抗層3としては、
低抵抗ZnS層4上に熱処理によって形成する絶縁層,蒸
着によって堆積させた絶縁層,または、MOCVD(有機金
属化学堆積)法によって形成した高抵抗ZnS層が用いら
れている。このMIS構造の素子においては、発光の外部
量子効率は0.08%までの高い値が報告されている。
体注入用の低抵抗ZnS層(S層)4の上に高抵抗層(I
層)3を積層し、さらに、その上に注入側電極(M層)
2を設ける。また、低抵抗ZnS層4にはオーミックコン
タクト電極5を設ける。各電極2,5には、それぞれ、リ
ード線1,1を接続する。ここで、高抵抗層3としては、
低抵抗ZnS層4上に熱処理によって形成する絶縁層,蒸
着によって堆積させた絶縁層,または、MOCVD(有機金
属化学堆積)法によって形成した高抵抗ZnS層が用いら
れている。このMIS構造の素子においては、発光の外部
量子効率は0.08%までの高い値が報告されている。
(発明の解決しようとする問題点) 従来のMIS構造の発光素子においては、いずれの場合に
もI層3は単一の高抵抗層から成っており、この層の性
質制御性、膜厚、平坦性、安定性等に係わる問題のため
に、発光素子の安定動作と発光効率の再現性は未だに解
決されないでいる。
もI層3は単一の高抵抗層から成っており、この層の性
質制御性、膜厚、平坦性、安定性等に係わる問題のため
に、発光素子の安定動作と発光効率の再現性は未だに解
決されないでいる。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、その
目的は、MIS構造を有し、安定な注入発光を持続するこ
とのできるZnS高効率青色発光素子を提供することであ
る。
目的は、MIS構造を有し、安定な注入発光を持続するこ
とのできるZnS高効率青色発光素子を提供することであ
る。
(問題点を解決するための手段) 本発明に係るMIS型ZnS青色発光素子は、発光層としての
低抵抗ZnS層と、この低抵抗ZnS層の上に積層された2層
以上の、それぞれ異なる絶縁性化合物から成る正孔担体
注入用の高抵抗絶縁層と、この高抵抗絶縁層の上に形成
された電極とからなる。
低抵抗ZnS層と、この低抵抗ZnS層の上に積層された2層
以上の、それぞれ異なる絶縁性化合物から成る正孔担体
注入用の高抵抗絶縁層と、この高抵抗絶縁層の上に形成
された電極とからなる。
(作用) 本発明に係るMIS構造のZnS青色発光素子は、高抵抗絶縁
層を2層以上の複合層とする。そして、ZnS低抵抗層に
接する第1層は、発光素子の特性を再現性よく実現でき
るように制御して形成し、また、他の層は、第1層を保
護し、素子の動作を安定させる。
層を2層以上の複合層とする。そして、ZnS低抵抗層に
接する第1層は、発光素子の特性を再現性よく実現でき
るように制御して形成し、また、他の層は、第1層を保
護し、素子の動作を安定させる。
(実施例) 本発明のMIS型ZnS発光素子の特徴は、I層が低抵抗ZnS
層(M層)の劈開面、あるいは切断,研磨の後安定化さ
せた任意の面の上に2種類以上の絶縁物を順次形成する
ことにより多層構造絶縁層としたことである。より具体
的には、低抵抗ZnS層は、高圧溶融法、昇華法、ハロゲ
ン輪送法により成長させたZnSバルク単結晶より切り出
した小ペレットウエハー、あるいはMBE(分子線エピタ
キシャル)成長法、MOCVD成長法により堆積したZnS層、
または、ホモエピタキシャル層またはヘテロエピタキシ
ャル層から成るZnS層である。その上に、総層厚5〜100
nmの複合高抵抗層6として、高抵抗ZnS、高抵抗ZnO,Al2
O3,SiO,SiO2,Ta2O5,ZrO2,TiO2,Nb2O3,Y2O3,BaO,Ba
S,CaS,CrS,B2O3,B2S3,LiF,KF,NaF,NaI,GaF2,MgF2,Mn
F2,KCl,NaCl,KBr,NaBr,CaBr2,CsI,Si3N4,BeO,BeS,BeSe,
BeTe等の絶縁体あるいはその混合物のうちから2種類以
上を組み合わせて形成する。ここに、M層に接する第1
層目の絶縁層は、注入層としての特性を再現性よく確保
するように、厳密に膜厚や性質が制御された状態で形成
する。第2層目以降の絶縁層は膜厚を適当に選びかつ物
質を適当に選ぶことにより、素子の形状を最適化する。
層(M層)の劈開面、あるいは切断,研磨の後安定化さ
せた任意の面の上に2種類以上の絶縁物を順次形成する
ことにより多層構造絶縁層としたことである。より具体
的には、低抵抗ZnS層は、高圧溶融法、昇華法、ハロゲ
ン輪送法により成長させたZnSバルク単結晶より切り出
した小ペレットウエハー、あるいはMBE(分子線エピタ
キシャル)成長法、MOCVD成長法により堆積したZnS層、
または、ホモエピタキシャル層またはヘテロエピタキシ
ャル層から成るZnS層である。その上に、総層厚5〜100
nmの複合高抵抗層6として、高抵抗ZnS、高抵抗ZnO,Al2
O3,SiO,SiO2,Ta2O5,ZrO2,TiO2,Nb2O3,Y2O3,BaO,Ba
S,CaS,CrS,B2O3,B2S3,LiF,KF,NaF,NaI,GaF2,MgF2,Mn
F2,KCl,NaCl,KBr,NaBr,CaBr2,CsI,Si3N4,BeO,BeS,BeSe,
BeTe等の絶縁体あるいはその混合物のうちから2種類以
上を組み合わせて形成する。ここに、M層に接する第1
層目の絶縁層は、注入層としての特性を再現性よく確保
するように、厳密に膜厚や性質が制御された状態で形成
する。第2層目以降の絶縁層は膜厚を適当に選びかつ物
質を適当に選ぶことにより、素子の形状を最適化する。
以下、本発明の実施例を第1図と第2図によって説明す
る。
る。
[実施例1] 本発明の第1の実施例を第1図に示す。発光層となるZn
S層4′は、高圧溶融法、昇華法により成長させた単結
晶ZnSを1000℃のZn,Al融体中で100時間低抵抗化処理し
た約5Ω・cmの単結晶ペレット、あるいは、ハロゲン輸
送法(例えばヨウ素輸送法)により成長させた単結晶Zn
Sを950℃の溶融Zn中で100時間熱処理することにより得
られる1Ω・cm程度の低抵抗ZnS単結晶ペレットであ
る。その劈開面、あるいは研磨・化学エッチングを施し
た任意の面の上に10-8Torr以下でZn薄膜層を蒸着後、35
0℃程度まで加熱し、前記Znを蒸発させた後の清浄なZnS
面の上に、例えばMBE法、MOCVD法等を用いた単原子層成
長法のような膜厚が原子層程度で厳密に制御される方法
でZnO層7を50〜200Å堆積される。しかる後、Al2O3を
同様の方法あるいはスパッタリング法で100〜300Å堆積
させることにより絶縁層8とし、その上に適当な膜厚を
有するAuを蒸着して注入側の電極2′とする。低抵抗Zn
S側のオーミック電極5′としてはIn−Hg等を用いる。
各電極2′,5′には、それぞれ、リード線1′,1′を持
続する。
S層4′は、高圧溶融法、昇華法により成長させた単結
晶ZnSを1000℃のZn,Al融体中で100時間低抵抗化処理し
た約5Ω・cmの単結晶ペレット、あるいは、ハロゲン輸
送法(例えばヨウ素輸送法)により成長させた単結晶Zn
Sを950℃の溶融Zn中で100時間熱処理することにより得
られる1Ω・cm程度の低抵抗ZnS単結晶ペレットであ
る。その劈開面、あるいは研磨・化学エッチングを施し
た任意の面の上に10-8Torr以下でZn薄膜層を蒸着後、35
0℃程度まで加熱し、前記Znを蒸発させた後の清浄なZnS
面の上に、例えばMBE法、MOCVD法等を用いた単原子層成
長法のような膜厚が原子層程度で厳密に制御される方法
でZnO層7を50〜200Å堆積される。しかる後、Al2O3を
同様の方法あるいはスパッタリング法で100〜300Å堆積
させることにより絶縁層8とし、その上に適当な膜厚を
有するAuを蒸着して注入側の電極2′とする。低抵抗Zn
S側のオーミック電極5′としてはIn−Hg等を用いる。
各電極2′,5′には、それぞれ、リード線1′,1′を持
続する。
本実施例において、安定な注入発光が持続できた。
「実施例2」 第2の実施例を第2図に示す。発光層10となるZnSは、
実施例1に記したと同様な低抵抗ZnS基板、GaAs,GaP,Si
などの低抵抗n型基板、あるいは、In2O3のような導電
性基板11上に堆積もしくはエピタキシャル成長させた低
抵抗ZnS層10とし、引き続き注入用高抵抗層7′として
高抵抗層ZnS(ZnO)あるいはAl2O3、次いで絶縁保持用
高抵抗層8′,9としてZnO(Al2O3)あるいはSiO2(Si3N
4)などをそれぞれ堆積させることにより、MIS構造とす
る。金属電極2″,5″,1″以下の構造は、実施例1に同
じである。
実施例1に記したと同様な低抵抗ZnS基板、GaAs,GaP,Si
などの低抵抗n型基板、あるいは、In2O3のような導電
性基板11上に堆積もしくはエピタキシャル成長させた低
抵抗ZnS層10とし、引き続き注入用高抵抗層7′として
高抵抗層ZnS(ZnO)あるいはAl2O3、次いで絶縁保持用
高抵抗層8′,9としてZnO(Al2O3)あるいはSiO2(Si3N
4)などをそれぞれ堆積させることにより、MIS構造とす
る。金属電極2″,5″,1″以下の構造は、実施例1に同
じである。
本実施例2においても、安定な注入発光が持続できた。
(発明の効果) 本発明によれば、従来のMIS型ZnS青色発光素子における
欠点すなわち従来のI層が単一絶縁層であることにより
担体の注入に際しての良質の制御された注入層としての
機能を持つことおよび注入層界面を安定に保持させるた
めの絶縁層としての役割を同時に具備することができな
かった点を改善することが可能となる。すなわち、本発
明における2層以上の多層構造絶縁層では、第1層目の
注入層は素子内部にしかも厳密に膜厚、性質が制御され
た状態で形成することが出来、注入層としての特性を再
現性良く確保できる。また、第2層目以降の絶縁層は、
注入層保護のための上部層となるとともに、膜厚を適当
に選ぶこと、ならびに物質を任意に選ぶことにより素子
の最適化・安定化を容易に達成することが可能になる。
したがって、発光素子の高効率化、高安定素子化が実現
できる。
欠点すなわち従来のI層が単一絶縁層であることにより
担体の注入に際しての良質の制御された注入層としての
機能を持つことおよび注入層界面を安定に保持させるた
めの絶縁層としての役割を同時に具備することができな
かった点を改善することが可能となる。すなわち、本発
明における2層以上の多層構造絶縁層では、第1層目の
注入層は素子内部にしかも厳密に膜厚、性質が制御され
た状態で形成することが出来、注入層としての特性を再
現性良く確保できる。また、第2層目以降の絶縁層は、
注入層保護のための上部層となるとともに、膜厚を適当
に選ぶこと、ならびに物質を任意に選ぶことにより素子
の最適化・安定化を容易に達成することが可能になる。
したがって、発光素子の高効率化、高安定素子化が実現
できる。
第1図と第2図は、それぞれ、本発明の実施例における
MIS型ZnS青色発光素子の素子構造概略図である。 第3図は、従来試作されているMIS型ZnS青色発光素子の
構造例の概略図である。 1′,1″……リード線、2′,2″……注入側電極、 4′……低抵抗ZnS結晶、 5′,5″……オーミックコンタクト電極、 6……多層(二重層)構造I(高抵抗)層、 6′……多層(三重層)構造I(高抵抗)層、 7,7′……注入接合I(高抵抗)層(第1I層)、 8,8′,9……絶縁保持I(高抵抗)層(第2,3I層)、 10……低抵抗堆積ZnS結晶、11……基板。
MIS型ZnS青色発光素子の素子構造概略図である。 第3図は、従来試作されているMIS型ZnS青色発光素子の
構造例の概略図である。 1′,1″……リード線、2′,2″……注入側電極、 4′……低抵抗ZnS結晶、 5′,5″……オーミックコンタクト電極、 6……多層(二重層)構造I(高抵抗)層、 6′……多層(三重層)構造I(高抵抗)層、 7,7′……注入接合I(高抵抗)層(第1I層)、 8,8′,9……絶縁保持I(高抵抗)層(第2,3I層)、 10……低抵抗堆積ZnS結晶、11……基板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中島 重夫 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ヤープ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−98568(JP,A) 特開 昭58−216391(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】発光層としての低抵抗ZnS層と、この低抵
抗ZnS層の上に積層された2層以上の、それぞれ異なる
絶縁性化合物から成る正孔担体注入用の高抵抗絶縁層
と、この高抵抗絶縁層の上に形成された電極とからなる
MIS型ZnS青色発光素子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1640886A JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
| US07/256,125 US4916496A (en) | 1986-01-27 | 1988-10-06 | ZnS blue light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1640886A JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62173775A JPS62173775A (ja) | 1987-07-30 |
| JPH0697704B2 true JPH0697704B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=11915412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1640886A Expired - Lifetime JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4916496A (ja) |
| JP (1) | JPH0697704B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8084782B2 (en) | 2007-08-10 | 2011-12-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-emitting film, light-emitting device and production method thereof |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2579336B2 (ja) * | 1988-03-18 | 1997-02-05 | 三菱化学株式会社 | 青色発光ダイオードの製造方法 |
| JP2708183B2 (ja) * | 1988-07-21 | 1998-02-04 | シャープ株式会社 | 化合物半導体発光素子 |
| EP0377320B1 (en) * | 1988-12-27 | 1997-07-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Electric field light-emitting device |
| US5081632A (en) * | 1989-01-26 | 1992-01-14 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor emitting device |
| JP2809692B2 (ja) * | 1989-04-28 | 1998-10-15 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
| JPH0387073A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-04-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子 |
| JP2588280B2 (ja) * | 1989-07-10 | 1997-03-05 | シャープ株式会社 | 化合物半導体発光素子 |
| US5260958A (en) * | 1991-12-31 | 1993-11-09 | North American Philips Corporation | Materials for II-VI lasers |
| WO1994015369A1 (en) * | 1992-12-22 | 1994-07-07 | Research Corporation Technologies, Inc. | Group ii-vi compound semiconductor light emitting devices and an ohmic contact therefor |
| DE69625384T2 (de) * | 1995-01-20 | 2003-04-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lichtemittierende Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren |
| US6057561A (en) * | 1997-03-07 | 2000-05-02 | Japan Science And Technology Corporation | Optical semiconductor element |
| US6771019B1 (en) * | 1999-05-14 | 2004-08-03 | Ifire Technology, Inc. | Electroluminescent laminate with patterned phosphor structure and thick film dielectric with improved dielectric properties |
| US20050126338A1 (en) * | 2003-02-24 | 2005-06-16 | Nanoproducts Corporation | Zinc comprising nanoparticles and related nanotechnology |
| EP1821578A3 (en) * | 2006-02-21 | 2010-07-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| US9385264B2 (en) | 2012-06-29 | 2016-07-05 | Koninklijke Philips N.V. | II-VI based light emitting semiconductor device |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1789084B2 (de) * | 1961-08-17 | 1973-05-30 | Rca Corp., New York, N.Y. (V.St.A.) | Duennschicht-verknuepfungsglied und verfahren zu seiner herstellung |
| US3366819A (en) * | 1966-02-14 | 1968-01-30 | Ibm | Light emitting semiconductor device |
| US4197552A (en) * | 1975-06-12 | 1980-04-08 | Massachusetts Institute Of Technology | Luminescent semiconductor devices |
| JPS5836475B2 (ja) * | 1979-05-16 | 1983-08-09 | 松下電器産業株式会社 | 磁器発光体 |
| JPS5823191A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | シャープ株式会社 | 薄膜el素子 |
| US4547703A (en) * | 1982-05-28 | 1985-10-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Thin film electroluminescent element |
| JPS59109071A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子写真式プリンタ−の光書込みヘツド |
| EP0141116B1 (en) * | 1983-10-25 | 1989-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film light emitting element |
| JPS60124396A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-03 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜発光素子 |
-
1986
- 1986-01-27 JP JP1640886A patent/JPH0697704B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-10-06 US US07/256,125 patent/US4916496A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8084782B2 (en) | 2007-08-10 | 2011-12-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-emitting film, light-emitting device and production method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4916496A (en) | 1990-04-10 |
| JPS62173775A (ja) | 1987-07-30 |
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