JPH07101652B2 - 高周波コイルの製造方法 - Google Patents
高周波コイルの製造方法Info
- Publication number
- JPH07101652B2 JPH07101652B2 JP63278131A JP27813188A JPH07101652B2 JP H07101652 B2 JPH07101652 B2 JP H07101652B2 JP 63278131 A JP63278131 A JP 63278131A JP 27813188 A JP27813188 A JP 27813188A JP H07101652 B2 JPH07101652 B2 JP H07101652B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- conductor
- film
- coil conductor
- high frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 85
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 12
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 claims description 3
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 71
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 14
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 6
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 5
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Cores, Coils, And Magnets (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、基板上にコイル導体を形成してなる高周波コ
イルに関し、特にコイル導体の幅及び隣合うコイル導体
の間隔を小さくすることによりコイルの小型化をはか
り、かつコイル導体の厚みを大きくすることによりコイ
ルのQを向上できるようにした構造及びその製造方法に
関する。
イルに関し、特にコイル導体の幅及び隣合うコイル導体
の間隔を小さくすることによりコイルの小型化をはか
り、かつコイル導体の厚みを大きくすることによりコイ
ルのQを向上できるようにした構造及びその製造方法に
関する。
従来から、コイルとして、金属導体を螺旋状に巻回して
なる空心コイル及びフェライトやアルミナ等のボビンに
巻線を施してなるボビン巻線コイル等がある。しかしこ
の両コイルは形状が大きく,特性が不安定であることか
ら、高周波領域では採用できない。これに対して絶縁体
基板の表面に金属薄膜からなる帯状のコイル導体を形成
してなる高周波コイルは、部品形状を小型化できるとと
もに、マイクロ波帯の高周波領域に採用できる。この高
周波コイルを製造する場合は、従来、以下の方法が採用
されている。例えばガラス,セラミックス製基板の表面
全面にスパッタリングあるいは蒸着法等によりAg等の金
属薄膜を形成し、該薄膜の上面にコイルパターンに応じ
た形状のレジスト膜を形成し、これにより上記薄膜の不
要部分をウェットエッチング(化学エッチング)により
除去してコイル導体を形成する。
なる空心コイル及びフェライトやアルミナ等のボビンに
巻線を施してなるボビン巻線コイル等がある。しかしこ
の両コイルは形状が大きく,特性が不安定であることか
ら、高周波領域では採用できない。これに対して絶縁体
基板の表面に金属薄膜からなる帯状のコイル導体を形成
してなる高周波コイルは、部品形状を小型化できるとと
もに、マイクロ波帯の高周波領域に採用できる。この高
周波コイルを製造する場合は、従来、以下の方法が採用
されている。例えばガラス,セラミックス製基板の表面
全面にスパッタリングあるいは蒸着法等によりAg等の金
属薄膜を形成し、該薄膜の上面にコイルパターンに応じ
た形状のレジスト膜を形成し、これにより上記薄膜の不
要部分をウェットエッチング(化学エッチング)により
除去してコイル導体を形成する。
ところで、上記従来の高周波コイルにおいては、コイル
導体をスパッタリング等の薄膜技術により形成すること
から、このコイル導体の厚みが薄い分導体抵抗が大きく
なり、Qが低いという問題があり、このQの向上が要請
されている。
導体をスパッタリング等の薄膜技術により形成すること
から、このコイル導体の厚みが薄い分導体抵抗が大きく
なり、Qが低いという問題があり、このQの向上が要請
されている。
ここで、上記Qを向上させるには、コイル導体の幅ある
いは厚みの少なくとも一方を大きくして導体抵抗を小さ
くしてやればよいことが知られている。しかし、コイル
導体の幅を大きくすれば、コイル形状が大きくなってし
まうという別の問題が発生して好ましくない。そこで、
コイル導体の厚みのみを大きくすること、すなわち上記
薄膜技術により形成されたコイル導体の上面に、さらに
コイル導体を重ねて形成して厚みを大きくすることが考
えられる。しかしながら、線幅,間隔が数十μmと非常
に細いコイル導体の上面に寸法精度よく同一のコイル導
体を形成することは困難である。
いは厚みの少なくとも一方を大きくして導体抵抗を小さ
くしてやればよいことが知られている。しかし、コイル
導体の幅を大きくすれば、コイル形状が大きくなってし
まうという別の問題が発生して好ましくない。そこで、
コイル導体の厚みのみを大きくすること、すなわち上記
薄膜技術により形成されたコイル導体の上面に、さらに
コイル導体を重ねて形成して厚みを大きくすることが考
えられる。しかしながら、線幅,間隔が数十μmと非常
に細いコイル導体の上面に寸法精度よく同一のコイル導
体を形成することは困難である。
ここで、本件発明者らは、予め大きなQが得られるよう
に厚みの大きな導体膜を形成しておき、これをウエット
エッチクングしてコイル導体を形成する方法を検討し
た。しかしながら、導体膜の上面にコイル導体に応じた
形状のレジスト膜を形成した後、これを薬品溶液中に浸
漬してエッチングするウエットエッチングでは、コイル
導体のエッジ部分や厚み方向の側面が侵食されてギザギ
ザになり易く、加工精度が悪化するため、例えばコイル
導体の幅を10μmに設計した場合、コイル導体の厚みを
2μmより大きくすることができなかった。これを、コ
イル導体の幅と厚みの関係で示すと、幅と厚みの比率
(厚み/幅)を0.2以上にすることができなかった。つ
まり、ウエットエッチングによる方法では、コイル導体
の厚みを大きくしてQを大きくするという目的は達成で
きないのである。
に厚みの大きな導体膜を形成しておき、これをウエット
エッチクングしてコイル導体を形成する方法を検討し
た。しかしながら、導体膜の上面にコイル導体に応じた
形状のレジスト膜を形成した後、これを薬品溶液中に浸
漬してエッチングするウエットエッチングでは、コイル
導体のエッジ部分や厚み方向の側面が侵食されてギザギ
ザになり易く、加工精度が悪化するため、例えばコイル
導体の幅を10μmに設計した場合、コイル導体の厚みを
2μmより大きくすることができなかった。これを、コ
イル導体の幅と厚みの関係で示すと、幅と厚みの比率
(厚み/幅)を0.2以上にすることができなかった。つ
まり、ウエットエッチングによる方法では、コイル導体
の厚みを大きくしてQを大きくするという目的は達成で
きないのである。
本発明の目的は、上記厚膜化した導体膜を精度良く加工
できるエッチング方法を見出し、コイルの小型化をはか
り、かつQを向上できる高周波コイル及びその製造方法
を提供することにある。
できるエッチング方法を見出し、コイルの小型化をはか
り、かつQを向上できる高周波コイル及びその製造方法
を提供することにある。
そこで本発明は、基板の表面に導体膜を形成し、該導体
膜の表面を覆うように上記基板の上面にレジスト膜を形
成し、該レジスト膜の不要部分をエッチング法により除
去してコイル導体に対応するマスクを形成し、しかる後
該マスクの開口部分の導体膜をドライエッチング法によ
り除去して幅と厚みの比率が0.2以上5.0以下のコイル導
体を形成したことを特徴としている。
膜の表面を覆うように上記基板の上面にレジスト膜を形
成し、該レジスト膜の不要部分をエッチング法により除
去してコイル導体に対応するマスクを形成し、しかる後
該マスクの開口部分の導体膜をドライエッチング法によ
り除去して幅と厚みの比率が0.2以上5.0以下のコイル導
体を形成したことを特徴としている。
ここで、上記ドライエッチングとしては、イオンビーム
エッチング,スパッタエッチング,プラズマエッチング
が採用できる。
エッチング,スパッタエッチング,プラズマエッチング
が採用できる。
また、上記導体膜の形成方法としては、スパッタリン
グ,蒸着,イオンプレーティング,あるいは電解,無電
解メッキ法が採用でき、これらの方法により一層,ある
いは複数層からなる導体膜を形成すればよい。
グ,蒸着,イオンプレーティング,あるいは電解,無電
解メッキ法が採用でき、これらの方法により一層,ある
いは複数層からなる導体膜を形成すればよい。
さらに、本発明の高周波コイルには、基板上にコイル導
体及び絶縁膜を一層だけ形成してなる単層のもの、コイ
ル導体と絶縁膜を交互に積層してなる多層のものが含ま
れる。
体及び絶縁膜を一層だけ形成してなる単層のもの、コイ
ル導体と絶縁膜を交互に積層してなる多層のものが含ま
れる。
さらにまた、本発明のコイル導体の形状としては、例え
ばスパイラルタイプ,ミアンダタイプ等が考えられ、特
に限定されるものではない。
ばスパイラルタイプ,ミアンダタイプ等が考えられ、特
に限定されるものではない。
本発明に係る高周波コイルの製造方法によれば、基板に
形成された導体膜の不要部分を、ドライエッチングによ
り除去してコイル導体を形成したので、ウェットエッチ
ングによる場合の加工精度の悪化を回避でき、寸法精度
が高く、かつ幅に対して厚みの大きなコイル導体を形成
でき、小型でかつQの大きなコイルを形成することがで
きる。このドライエッチング法は、導体膜の不要部分を
薬品溶液で溶かすという方法ではなく、例えば不活性ガ
ス,イオン等を打ち込んで削り取る方法であるから、高
い加工精度が得られる。その結果、幅と厚みの比率を0.
2以上に形成した場合にも、厚み方向の側面を精度良く
垂直にでき、導体抵抗を小さくしてQを向上できる。た
だし、幅と厚みの比率が5.0を超えると、コイル導体の
形成は困難である。
形成された導体膜の不要部分を、ドライエッチングによ
り除去してコイル導体を形成したので、ウェットエッチ
ングによる場合の加工精度の悪化を回避でき、寸法精度
が高く、かつ幅に対して厚みの大きなコイル導体を形成
でき、小型でかつQの大きなコイルを形成することがで
きる。このドライエッチング法は、導体膜の不要部分を
薬品溶液で溶かすという方法ではなく、例えば不活性ガ
ス,イオン等を打ち込んで削り取る方法であるから、高
い加工精度が得られる。その結果、幅と厚みの比率を0.
2以上に形成した場合にも、厚み方向の側面を精度良く
垂直にでき、導体抵抗を小さくしてQを向上できる。た
だし、幅と厚みの比率が5.0を超えると、コイル導体の
形成は困難である。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第1図ないし第3図は本発明の一実施例による高周波コ
イルの製造方法を説明するための図である。
イルの製造方法を説明するための図である。
まず、本発明の一実施例による高周波コイルの構造につ
いて説明する。
いて説明する。
絶縁膜の導体表面より上側部分を除去した状態を示す第
1図において、1は本実施例のチップ型の高周波コイル
であり、これはガラス又はセラミックスからなる絶縁体
基板2の上面の中央部に、膜厚2〜50μm,線幅10μm,間
隔10μmの金属膜からなるスパイラル状のコイル導体4
をパターン形成するとともに、上記基板2上面の左,右
縁部に端子電極3a,3bを形成して構成されている。ま
た、上記コイル導体4の外端部4aは図面左側の端子電極
3aに接続されており、内端部4bは後述するリード電極8
を介して図面右側の端子電極3bに接続されている。
1図において、1は本実施例のチップ型の高周波コイル
であり、これはガラス又はセラミックスからなる絶縁体
基板2の上面の中央部に、膜厚2〜50μm,線幅10μm,間
隔10μmの金属膜からなるスパイラル状のコイル導体4
をパターン形成するとともに、上記基板2上面の左,右
縁部に端子電極3a,3bを形成して構成されている。ま
た、上記コイル導体4の外端部4aは図面左側の端子電極
3aに接続されており、内端部4bは後述するリード電極8
を介して図面右側の端子電極3bに接続されている。
上記コイル導体4及び端子電極3a,3bは、上記基板2の
上面に、Ti,Cr,Pd等からなる金属膜、及びこれの表面に
Ni,Cu,Ag,Al等からなる金属膜を蒸着,スパッタリング
あるいはイオンプレーティング等により形成し、さらに
該金属膜の表面に電解,又は無電解メッキによりAg,Cu,
Au等を被覆して厚さが2μm以上になるように導体膜を
形成し、この導体膜の不要部分をドライエッチングによ
り除去して形成されたものである。
上面に、Ti,Cr,Pd等からなる金属膜、及びこれの表面に
Ni,Cu,Ag,Al等からなる金属膜を蒸着,スパッタリング
あるいはイオンプレーティング等により形成し、さらに
該金属膜の表面に電解,又は無電解メッキによりAg,Cu,
Au等を被覆して厚さが2μm以上になるように導体膜を
形成し、この導体膜の不要部分をドライエッチングによ
り除去して形成されたものである。
また、上記コイルの断面を示す第2図において、上記基
板2の各端子電極3a,3bを除くコイル導体4の上面には
ポリイミドあるいはポリアミド等からなる樹脂製絶縁膜
5がコーティングされており、この絶縁膜5の上記コイ
ル導体4の内端部4b部分にはスルーホール6が形成され
ている。また、上記絶縁膜5の上面には帯状のリード電
極8が形成されており、該電極8の一端は上記スルーホ
ール6を介して内端部4bに接続され、他端は端子電極3b
に接続されている。これにより本実施例の高周波コイル
1が構成されている。なお、電極8を保護、絶縁するた
めに、絶縁膜5及び電極8の上面に、さらに絶縁膜を形
成してもよい。
板2の各端子電極3a,3bを除くコイル導体4の上面には
ポリイミドあるいはポリアミド等からなる樹脂製絶縁膜
5がコーティングされており、この絶縁膜5の上記コイ
ル導体4の内端部4b部分にはスルーホール6が形成され
ている。また、上記絶縁膜5の上面には帯状のリード電
極8が形成されており、該電極8の一端は上記スルーホ
ール6を介して内端部4bに接続され、他端は端子電極3b
に接続されている。これにより本実施例の高周波コイル
1が構成されている。なお、電極8を保護、絶縁するた
めに、絶縁膜5及び電極8の上面に、さらに絶縁膜を形
成してもよい。
次に、本発明の一実施例による上記高周波コイル1の製
造方法を説明する。
造方法を説明する。
第3図(a)ないし第3図(h)は本実施例の製造工程
を示す断面図であり、この各図は第2図の中央部分を示
す。
を示す断面図であり、この各図は第2図の中央部分を示
す。
まず、鏡面研磨が施された厚さ0.6mmのガラス基板
2の上面全面に、密着性を向上させるためのTi膜7aをス
パッタリング法により形成し、次に該Ti膜7aの表面にT
i,Agを同時に2元スパッタリングすることによりTi-Ag
膜7bを形成し、続いてこのTi-Ag膜7bの表面に導電性の
良いAg膜7cを同じくスパッタリングにより形成して、3
層構造の第1金属膜7を形成する(第3図(a))。
2の上面全面に、密着性を向上させるためのTi膜7aをス
パッタリング法により形成し、次に該Ti膜7aの表面にT
i,Agを同時に2元スパッタリングすることによりTi-Ag
膜7bを形成し、続いてこのTi-Ag膜7bの表面に導電性の
良いAg膜7cを同じくスパッタリングにより形成して、3
層構造の第1金属膜7を形成する(第3図(a))。
次に、上記第1金属膜7の表面に、電解,又は無電
解メッキにより第2金属膜9を形成する。これにより、
厚さ2〜50μm程度の導体膜10を形成する(第3図
(b))。
解メッキにより第2金属膜9を形成する。これにより、
厚さ2〜50μm程度の導体膜10を形成する(第3図
(b))。
上記導体膜10の表面に感光性ポリイミド樹脂からな
るレジスト膜11をコーティングし、これを乾燥させる
(第3図(c))。そして、上記レジスト膜11のコイル
導体4及び端子電極3a,3b部分以外の不要部分をマスク
で覆い、これを露光する。次に、これを現像(エッチン
グ)する。すると、コイル導体4及び端子電極3a,3b部
分の上面のみレジスト膜11が残ることになる。これによ
り、コイル導体4,端子電極3a,3bに対応した開口12aを有
するマスク12が形成されることとなる(第3図
(d))。
るレジスト膜11をコーティングし、これを乾燥させる
(第3図(c))。そして、上記レジスト膜11のコイル
導体4及び端子電極3a,3b部分以外の不要部分をマスク
で覆い、これを露光する。次に、これを現像(エッチン
グ)する。すると、コイル導体4及び端子電極3a,3b部
分の上面のみレジスト膜11が残ることになる。これによ
り、コイル導体4,端子電極3a,3bに対応した開口12aを有
するマスク12が形成されることとなる(第3図
(d))。
次に、上記ガラス基板2の上面にドライエッチング
を施す。このドライエッチングは、ECRプラズマエッチ
ング,希ガスイオンビームエッチング,あるいは希ガス
逆スパッタリングエッチングを採用する。例えば反応性
ECRプラズマエッチングは、減圧したガスに高周波電界
をかけて放電を起こし、この低温のプラズマ中に存在す
る化学的に活性な原子,電子,イオンと、上記不要部分
の導電膜10との化学反応でエッチングするものである。
を施す。このドライエッチングは、ECRプラズマエッチ
ング,希ガスイオンビームエッチング,あるいは希ガス
逆スパッタリングエッチングを採用する。例えば反応性
ECRプラズマエッチングは、減圧したガスに高周波電界
をかけて放電を起こし、この低温のプラズマ中に存在す
る化学的に活性な原子,電子,イオンと、上記不要部分
の導電膜10との化学反応でエッチングするものである。
これにより、上記マスク12の開口12a部分の導体膜10が
削り取られ、線幅10μm,間隔10μmのコイル導体4及び
端子電極3a,3bが形成される(第3図(e))。しかる
後、上記マスク12を剥離,除去する。
削り取られ、線幅10μm,間隔10μmのコイル導体4及び
端子電極3a,3bが形成される(第3図(e))。しかる
後、上記マスク12を剥離,除去する。
なお、上記ポリイミドが非感光性の場合は、ポジ形レジ
ストを塗布した後、絶縁膜11の残さない部分を露光して
エッチングすればよい。
ストを塗布した後、絶縁膜11の残さない部分を露光して
エッチングすればよい。
次に、上記コイル導体4,端子電極3a,3bのガラス基
板2上面全面に感光性ポリイミド樹脂をコーティングし
て絶縁膜5を形成し、乾燥させる(第3図(f))。そ
して、マスクをかけてこの絶縁膜5の上記端子電極3a,3
b(第2図参照),及びスルーホール6対応部分を除く
以外の部分について、上記工程と同様の方法にて露光
−現像を行う。すると、上記端子電極3a,3b(第2図参
照)部分が露出されるとともに、内端部4b部分にスルー
ホール6が形成されることになる(第3図(g))。
板2上面全面に感光性ポリイミド樹脂をコーティングし
て絶縁膜5を形成し、乾燥させる(第3図(f))。そ
して、マスクをかけてこの絶縁膜5の上記端子電極3a,3
b(第2図参照),及びスルーホール6対応部分を除く
以外の部分について、上記工程と同様の方法にて露光
−現像を行う。すると、上記端子電極3a,3b(第2図参
照)部分が露出されるとともに、内端部4b部分にスルー
ホール6が形成されることになる(第3図(g))。
最後に、上記絶縁膜5の上面にスパッタリングによ
り金属膜を形成し、これの不要部分をエッチングして、
上記内端部4bと端子電極3bとを接続するリード電極8を
形成する(第3図(h))。これにより、本実施例の1.
6×3.2×0.8mmからなる大きさの高周波コイル1が製造
される(第1図及び第2図参照)。
り金属膜を形成し、これの不要部分をエッチングして、
上記内端部4bと端子電極3bとを接続するリード電極8を
形成する(第3図(h))。これにより、本実施例の1.
6×3.2×0.8mmからなる大きさの高周波コイル1が製造
される(第1図及び第2図参照)。
なお、上記工程では、コイル導体4の内端部4bと端子
電極3bとをリード電極8で接続したが、上記両者4b,3b
をAu線によるワイヤボンディングにより接続し、これを
ナイロン,エポキシ樹脂系の接着剤で固定してもよい。
電極3bとをリード電極8で接続したが、上記両者4b,3b
をAu線によるワイヤボンディングにより接続し、これを
ナイロン,エポキシ樹脂系の接着剤で固定してもよい。
次に本実施例の作用効果について説明する。
本実施例の高周波コイル1によれば、基板2の上面に導
体膜10を形成し、該導体膜10の表面を覆うように上記基
板2の上面にレジスト膜11を形成し、該レジスト膜11の
不要部分をエッチングにより除去してコイル導体4、端
子電極3a,3bに対応するマスク12を形成し、しかる後マ
スク12の開口12a部分の導体膜10をドライエッチング法
により除去したので、加工精度の良い垂直な側面を有す
る幅と厚みの比率が0.2以上のコイル導体4が形成で
き、それだけ導体抵抗を小さくでき、Qを向上できる。
これにより、高周波領域,GHZ帯まで自己共振しない小型
の平面コイルが得られる。
体膜10を形成し、該導体膜10の表面を覆うように上記基
板2の上面にレジスト膜11を形成し、該レジスト膜11の
不要部分をエッチングにより除去してコイル導体4、端
子電極3a,3bに対応するマスク12を形成し、しかる後マ
スク12の開口12a部分の導体膜10をドライエッチング法
により除去したので、加工精度の良い垂直な側面を有す
る幅と厚みの比率が0.2以上のコイル導体4が形成で
き、それだけ導体抵抗を小さくでき、Qを向上できる。
これにより、高周波領域,GHZ帯まで自己共振しない小型
の平面コイルが得られる。
また、本実施例によれば、レジスト膜11,絶縁膜5にポ
リイミドあるいはポリアミド樹脂を採用することによ
り、マスク12やスルーホール6を形成する際の微細加工
を可能にでき、寸法精度に対する信頼性を向上できると
ともに、耐熱性,耐薬剤性,耐湿性に優れ、かつヒート
ショック性,耐振動性特性にも優れた部品が得られる。
リイミドあるいはポリアミド樹脂を採用することによ
り、マスク12やスルーホール6を形成する際の微細加工
を可能にでき、寸法精度に対する信頼性を向上できると
ともに、耐熱性,耐薬剤性,耐湿性に優れ、かつヒート
ショック性,耐振動性特性にも優れた部品が得られる。
なお、上記実施例では、ガラス基板2上に、コイル導体
4及び絶縁膜5を一層形成した場合を例にとって説明し
たが、本発明は上記実施例のコイル1において、上記絶
縁膜5の上面にさらにコイル導体,絶縁膜を繰り返し形
成してなる多層コイルにも適用でき、また上記基板2を
挟んだ両表面にコイルを形成してなるものにも適用でき
る。
4及び絶縁膜5を一層形成した場合を例にとって説明し
たが、本発明は上記実施例のコイル1において、上記絶
縁膜5の上面にさらにコイル導体,絶縁膜を繰り返し形
成してなる多層コイルにも適用でき、また上記基板2を
挟んだ両表面にコイルを形成してなるものにも適用でき
る。
また、上記実施例では、第1金属膜7の上面に第2金属
膜9を形成して導体膜10を形成した場合を例にとって説
明したが、この導体膜10の形成方法はこれに限られるも
のではなく、例えばスパッタリング,あるいは電解,無
電解メッキだけで導体膜10を形成してもよい。
膜9を形成して導体膜10を形成した場合を例にとって説
明したが、この導体膜10の形成方法はこれに限られるも
のではなく、例えばスパッタリング,あるいは電解,無
電解メッキだけで導体膜10を形成してもよい。
さらに、上記実施例ではスパイラル状のコイルを例にと
って説明したが、本発明は勿論これに限られるものでは
ない。例えば、第4図に示すようなミアンダタイプのコ
イル導体20にも適用でき、この場合も上記実施例と同様
の効果が得られる。
って説明したが、本発明は勿論これに限られるものでは
ない。例えば、第4図に示すようなミアンダタイプのコ
イル導体20にも適用でき、この場合も上記実施例と同様
の効果が得られる。
さらにまた、上記実施例では高周波コイル1を例にとっ
たが、本発明はコイルとコンデンサとを組み合わせてな
るLCフィルタや、トランスなどにも適用できる。
たが、本発明はコイルとコンデンサとを組み合わせてな
るLCフィルタや、トランスなどにも適用できる。
以上のように本発明に係る高周波コイルの製造方法によ
れば、基板上に形成された導体膜をドライエッチングで
処理してコイル導体を形成したので、加工精度を向上し
て寸法精度に優れ、かつ幅に対して厚みの大きなコイル
パターンが形成できるとともに、Qを向上できる効果が
ある。
れば、基板上に形成された導体膜をドライエッチングで
処理してコイル導体を形成したので、加工精度を向上し
て寸法精度に優れ、かつ幅に対して厚みの大きなコイル
パターンが形成できるとともに、Qを向上できる効果が
ある。
第1図ないし第3図は本発明の一実施例による高周波コ
イルの製造方法を説明するための図であり、第1図はそ
の平面図、第2図はその断面図、第3図(a)ないし第
3図(h)はそれぞれ製造工程を示す断面図、第4図は
上記実施例の変形例を示す斜視図である。 図において、1は高周波コイル、2はガラス基板(基
板)、4はコイル導体、10は導体膜、11はレジスト膜、
12はドライエッチング用マスク、12aはドライエッチン
グ用マスクの開口である。
イルの製造方法を説明するための図であり、第1図はそ
の平面図、第2図はその断面図、第3図(a)ないし第
3図(h)はそれぞれ製造工程を示す断面図、第4図は
上記実施例の変形例を示す斜視図である。 図において、1は高周波コイル、2はガラス基板(基
板)、4はコイル導体、10は導体膜、11はレジスト膜、
12はドライエッチング用マスク、12aはドライエッチン
グ用マスクの開口である。
Claims (1)
- 【請求項1】基板の表面に、蒸着,スパッタリング,イ
オンプレーテイングにより第1導体膜を形成し、該第1
導体膜上に電解メッキまたは無電解メッキにより第2導
体膜を形成し、該第2導体膜の表面を覆うように上記基
板の上面にレジスト膜を形成し、該レジスト膜の不要部
分をエッチング法により除去してコイル導体に対応する
マスクを形成し、しかる後該マスクの開口部分の導体膜
をドライエッチング法により除去して上記導体膜の幅と
厚みの比率(厚み/幅)が0.2以上5.0以下のコイル導体
を形成したことを特徴とする高周波コイルの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63278131A JPH07101652B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 高周波コイルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63278131A JPH07101652B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 高周波コイルの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02123706A JPH02123706A (ja) | 1990-05-11 |
| JPH07101652B2 true JPH07101652B2 (ja) | 1995-11-01 |
Family
ID=17593030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63278131A Expired - Lifetime JPH07101652B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 高周波コイルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07101652B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2982193B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1999-11-22 | 株式会社村田製作所 | 高周波コイルの製造方法 |
| JPH0430406A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-03 | Murata Mfg Co Ltd | 高周波コイル |
| DE4117878C2 (de) | 1990-05-31 | 1996-09-26 | Toshiba Kawasaki Kk | Planares magnetisches Element |
| JP3128825B2 (ja) * | 1990-12-05 | 2001-01-29 | 株式会社村田製作所 | 高周波コイル |
| JP2933096B2 (ja) * | 1990-12-25 | 1999-08-09 | 株式会社村田製作所 | シールド付チップ型コイル |
| JPH0945570A (ja) * | 1995-08-03 | 1997-02-14 | Koa Corp | 電子部品およびその製造方法 |
| KR100665114B1 (ko) | 2005-01-07 | 2007-01-09 | 삼성전기주식회사 | 평면형 자성 인덕터의 제조 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5691406A (en) * | 1979-12-26 | 1981-07-24 | Hitachi Ltd | Thin film coil |
| JPS5739598A (en) * | 1980-08-21 | 1982-03-04 | Asahi Chemical Ind | Thick film fine pattern |
-
1988
- 1988-11-01 JP JP63278131A patent/JPH07101652B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02123706A (ja) | 1990-05-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2615151B2 (ja) | チップ型コイル及びその製造方法 | |
| US6249039B1 (en) | Integrated inductive components and method of fabricating such components | |
| US7318269B2 (en) | Method of manufacturing coil component | |
| JPH06318672A (ja) | 薄膜コンデンサの形成方法、薄膜コンデンサの製造方法、薄膜バイパスコンデンサの製造方法および薄膜コンデンサ | |
| CN110739117B (zh) | 线圈组件 | |
| JP3000579B2 (ja) | チップコイルの製造方法 | |
| JP2982193B2 (ja) | 高周波コイルの製造方法 | |
| US20230253139A1 (en) | Laminated inductor component | |
| JPH07101652B2 (ja) | 高周波コイルの製造方法 | |
| CN115132449B (zh) | 线圈部件及其制造方法 | |
| US7612428B2 (en) | Inductor fabricated with dry film resist and cavity and method of fabricating the inductor | |
| JP2001250723A (ja) | 高q高周波コイル及びその製造方法 | |
| JP5406274B2 (ja) | 少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品の製造方法、及び少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品 | |
| JP3498190B2 (ja) | 薄膜積層電極の製造方法 | |
| JP3467615B2 (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
| JPH09270330A (ja) | 電子部品 | |
| JP3128825B2 (ja) | 高周波コイル | |
| JPS6331138A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH04223307A (ja) | シールド付チップ型コイル | |
| JP2000182873A (ja) | チップインダクタの製造方法およびチップインダクタ | |
| KR0167392B1 (ko) | 박막형 인덕터 및 그의 제조방법 | |
| JP2001196252A (ja) | 電子デバイスの製造方法 | |
| JPH09270355A (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
| JPH05315177A (ja) | 平面インダクタの製造方法 | |
| JP2004327867A (ja) | 薄膜コンデンサおよびそれを用いたコンデンサ基板 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071101 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081101 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |