JPH07104383B2 - プリント配線板のパターン検査方法 - Google Patents
プリント配線板のパターン検査方法Info
- Publication number
- JPH07104383B2 JPH07104383B2 JP61256891A JP25689186A JPH07104383B2 JP H07104383 B2 JPH07104383 B2 JP H07104383B2 JP 61256891 A JP61256891 A JP 61256891A JP 25689186 A JP25689186 A JP 25689186A JP H07104383 B2 JPH07104383 B2 JP H07104383B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- terminal
- printed wiring
- wiring board
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント配線板のパターン（導体回路）に断
線又は短絡が存在するか否かを正確に判定することがで
きる検査方法に関する。
線又は短絡が存在するか否かを正確に判定することがで
きる検査方法に関する。
一般に、プリント配線板のパターンの断線・短絡検査
は、各パターンの始端及び終端に各々プローブピンを接
触させ、この状態で各プローブピン間に通電し、導通の
有無によりパターンの断線・短絡の判定をするものであ
る。
は、各パターンの始端及び終端に各々プローブピンを接
触させ、この状態で各プローブピン間に通電し、導通の
有無によりパターンの断線・短絡の判定をするものであ
る。
第１図の例においては、IC搭載側のＡ端子と配線板の一
辺端側のＢ端子とが、各パターンの始端・終端となる。
辺端側のＢ端子とが、各パターンの始端・終端となる。
しかるにLCD基板やボンディング基板の如きプリント配
線板にあってはＢ端子部の端子間ピッチは0.3〜0.5mm前
後の細かいピッチとなることが多く、通常のプローブピ
ンの尖端部径は1.5mm前後であるから、プローブピンを
１本ずつ各Ｂ端子に接触させることは物理的に困難とな
り、さらにはＢ端子部にプローブピンを接触させる際に
ピン先端でパターンにキズを付けてしまう等の問題もあ
った。
線板にあってはＢ端子部の端子間ピッチは0.3〜0.5mm前
後の細かいピッチとなることが多く、通常のプローブピ
ンの尖端部径は1.5mm前後であるから、プローブピンを
１本ずつ各Ｂ端子に接触させることは物理的に困難とな
り、さらにはＢ端子部にプローブピンを接触させる際に
ピン先端でパターンにキズを付けてしまう等の問題もあ
った。
このような問題に対処するため、導通マットを使用する
プリント配線板の検査方法も知られている。即ちＢ端子
間を意識的にショート状態にする導通マットをＢ端子の
全部に圧接し、この状態で各Ａ端子に接触させたプロー
ブピンにて各パターンの断線を検出せんとするものであ
る。このことは、各Ａ端子間のプローブピンにて導通が
確認されれば各パターンの断線が無いことを意味してい
る。
プリント配線板の検査方法も知られている。即ちＢ端子
間を意識的にショート状態にする導通マットをＢ端子の
全部に圧接し、この状態で各Ａ端子に接触させたプロー
ブピンにて各パターンの断線を検出せんとするものであ
る。このことは、各Ａ端子間のプローブピンにて導通が
確認されれば各パターンの断線が無いことを意味してい
る。
ところが、この導通マットを使用する検査方法で断線検
査をする場合には、接触状態を良好にするため導電マッ
トをＢ端子間に圧接する必要があり、その圧接手段とし
ては第２図又は第３図に示すようなものがあった。
査をする場合には、接触状態を良好にするため導電マッ
トをＢ端子間に圧接する必要があり、その圧接手段とし
ては第２図又は第３図に示すようなものがあった。
図中符号１は支持台、２はプリント配線板、３は導電マ
ット、４はピンボード、５はプローブピン、６は加圧シ
リンダーである。
ット、４はピンボード、５はプローブピン、６は加圧シ
リンダーである。
ところで、検査の順序としては、先ず最初に断線状態が
ないことを前提にパターンの短絡検査をする必要（後で
行う短絡検査が無駄にならないため）の観点から、上記
断線検査終了後に短絡検査を行うこととなるが、従来の
検査方法ではピンボード又は支持台の加圧力にて導電マ
ットをＢ端子に圧接していたので、この加圧力を緩るめ
て導電マットを取り外し（このときプローブピンとＡ端
子の接触は解除される）、ついで再度加圧シリンダーを
駆動して前記プローブピンとＡ端子を接触させ、この状
態で各プローブピン間に導電し、導通の有無によりパタ
ーンの短絡の判定をしていた。
ないことを前提にパターンの短絡検査をする必要（後で
行う短絡検査が無駄にならないため）の観点から、上記
断線検査終了後に短絡検査を行うこととなるが、従来の
検査方法ではピンボード又は支持台の加圧力にて導電マ
ットをＢ端子に圧接していたので、この加圧力を緩るめ
て導電マットを取り外し（このときプローブピンとＡ端
子の接触は解除される）、ついで再度加圧シリンダーを
駆動して前記プローブピンとＡ端子を接触させ、この状
態で各プローブピン間に導電し、導通の有無によりパタ
ーンの短絡の判定をしていた。
ところで、従来方法は短絡検査直前にプローブピンとＡ
端子の接触を一旦解除するため、断線検査時にプローブ
ピンとＡ端子が接触していても、２度目の検査である短
絡検査時に再度正確にプローブピンとＡ端子が接触して
いるか否かの保証はないこととなる。仮りにプローブピ
ンとＡ端子間の接触がなかった場合には、パターンに短
絡箇所が存在していたとしてもこれを発見することがで
きず、その検査結果は信頼されないものとなる。
端子の接触を一旦解除するため、断線検査時にプローブ
ピンとＡ端子が接触していても、２度目の検査である短
絡検査時に再度正確にプローブピンとＡ端子が接触して
いるか否かの保証はないこととなる。仮りにプローブピ
ンとＡ端子間の接触がなかった場合には、パターンに短
絡箇所が存在していたとしてもこれを発見することがで
きず、その検査結果は信頼されないものとなる。
即ち電気的には、１本のパターンに１本のプローブピン
を接触させて隣接するパターン同士の導通がないことを
確認するのが短絡検査であるが、そもそもプローブピン
と端子間の接触不良がある場合には、パターンの状態如
何にかかわらず常時導通が無い状態を検知することにな
るからである。
を接触させて隣接するパターン同士の導通がないことを
確認するのが短絡検査であるが、そもそもプローブピン
と端子間の接触不良がある場合には、パターンの状態如
何にかかわらず常時導通が無い状態を検知することにな
るからである。
さらに出願時には未公開であった、本発明の先願になる
実開昭62-108874号公報に示される方法のように、短絡
検査を先に行い、断線検査を後から行う方法では、第一
段階ではプローブＩ（本発明のプローブピン５）と端子
13およびスルホール14（本発明のＡ端子）を接触させて
短絡検査を行い、ついで導電性ゴムよりなるプローブII
（本発明の導電マット）をプレス機構を利用してステッ
チ部12（本発明のＢ端子）に圧接することになるため、
このプローブIIとステッチ部12との圧接時にプローブII
からの圧接力がプリント配線板に加わるから、そのとき
の衝撃力は時にプローブＩと端子13およびスルホール14
との接触を妨げるという悪影響を生ずることになる。ま
たこの先願に示された方法では、ステッチ部12とプロー
ブIIとの接触時に、プローブIIから各種の導電素材の残
留物（導電マット滓、空中浮遊物滓、銅箔滓等）がステ
ッチ部12側に付着する事故が発生した場合に、せっかく
先に行った短絡検査の結果が変わってしまうという異常
事態を生ずることにもなっていた。
実開昭62-108874号公報に示される方法のように、短絡
検査を先に行い、断線検査を後から行う方法では、第一
段階ではプローブＩ（本発明のプローブピン５）と端子
13およびスルホール14（本発明のＡ端子）を接触させて
短絡検査を行い、ついで導電性ゴムよりなるプローブII
（本発明の導電マット）をプレス機構を利用してステッ
チ部12（本発明のＢ端子）に圧接することになるため、
このプローブIIとステッチ部12との圧接時にプローブII
からの圧接力がプリント配線板に加わるから、そのとき
の衝撃力は時にプローブＩと端子13およびスルホール14
との接触を妨げるという悪影響を生ずることになる。ま
たこの先願に示された方法では、ステッチ部12とプロー
ブIIとの接触時に、プローブIIから各種の導電素材の残
留物（導電マット滓、空中浮遊物滓、銅箔滓等）がステ
ッチ部12側に付着する事故が発生した場合に、せっかく
先に行った短絡検査の結果が変わってしまうという異常
事態を生ずることにもなっていた。
本発明の目的は、導通マットの抜き取り作業時にプロー
ブピンとＡ端子を常時接触状態にしておき、この状態で
断線及び短絡の検査をして、信頼性のある検査結果を得
られるようにしたプリント配線板のパターン検査方法を
提供することにある。
ブピンとＡ端子を常時接触状態にしておき、この状態で
断線及び短絡の検査をして、信頼性のある検査結果を得
られるようにしたプリント配線板のパターン検査方法を
提供することにある。
本発明は、最初に導電マットをプリント配線板の一方の
端子に接触させた状態で他方の端子にプローブピンを接
触させて断線検査をなし、ついで端子とプローブピンと
の接触状態を保持しつつ導電マットのみを端子から引離
し、この状態で短絡検査を行なうことを特徴とするプリ
ント配線板のパターン検査方法である。
端子に接触させた状態で他方の端子にプローブピンを接
触させて断線検査をなし、ついで端子とプローブピンと
の接触状態を保持しつつ導電マットのみを端子から引離
し、この状態で短絡検査を行なうことを特徴とするプリ
ント配線板のパターン検査方法である。
つぎに本発明のプリント配線板のパターン検査方法の手
順を実施例について図面第４図〜第７図に基づき説明す
る。
順を実施例について図面第４図〜第７図に基づき説明す
る。
図中符号１は支持台、２はプリント配線板、３はゴム、
合成樹脂等の可撓性素材からなる導電マット、４はピン
ボード、５はプローブピン、６は加圧シリンダー、７は
導電マットのみを上下動させる上下移動機構である。
合成樹脂等の可撓性素材からなる導電マット、４はピン
ボード、５はプローブピン、６は加圧シリンダー、７は
導電マットのみを上下動させる上下移動機構である。
まず被検体たるプリント配線板２を支持台１とピンボー
ド４で挾持するようにセットし、Ａ端子にはプローブピ
ン５を接触させ、同時に上下移動機構７に載置した導電
マット３をＢ端子に接触させ、この状態で各プローブピ
ンに通電し、導通の有無によりプリント配線板のパター
ンの断線検査を行う（第４図及び第６図参照）。
ド４で挾持するようにセットし、Ａ端子にはプローブピ
ン５を接触させ、同時に上下移動機構７に載置した導電
マット３をＢ端子に接触させ、この状態で各プローブピ
ンに通電し、導通の有無によりプリント配線板のパター
ンの断線検査を行う（第４図及び第６図参照）。
ついでプローブピン５とＡ端子の接触状態を変化させず
に、上下移動機構７を駆動して導電マット３をＢ端子か
ら離す方向へ移動させ、この状態で各プローブピンに通
電し、導通の有無によりプリント配線板のパターンの短
絡検査を行う（第５図及び第７図参照）。
に、上下移動機構７を駆動して導電マット３をＢ端子か
ら離す方向へ移動させ、この状態で各プローブピンに通
電し、導通の有無によりプリント配線板のパターンの短
絡検査を行う（第５図及び第７図参照）。
上記断線・短絡の検査は、各プローブピンと接続する検
査機本体（コンピューター）のメモリーに記録した適正
基準データと当該被検体のデータとを比較して判定さ
れ、好ましくは断線検査スタート信号を検知（例えば支
持台の加圧シリンダーのOUT状態を検出して行う）して
断線検査を行い、短絡検査スタート信号を検知（例えば
上下移動機構の加圧シリンダーのIN状態を検出して行
う）して短絡検査を行い、両検査の適正基準データは同
一メモリーに記録し、プログラムによりメモリーエリア
の自動変換ができるようセットする。このようにすれ
ば、１台の装置でプリント配線板のパターンの断線及び
短絡検査がシーケンシャルに行えることとなる。
査機本体（コンピューター）のメモリーに記録した適正
基準データと当該被検体のデータとを比較して判定さ
れ、好ましくは断線検査スタート信号を検知（例えば支
持台の加圧シリンダーのOUT状態を検出して行う）して
断線検査を行い、短絡検査スタート信号を検知（例えば
上下移動機構の加圧シリンダーのIN状態を検出して行
う）して短絡検査を行い、両検査の適正基準データは同
一メモリーに記録し、プログラムによりメモリーエリア
の自動変換ができるようセットする。このようにすれ
ば、１台の装置でプリント配線板のパターンの断線及び
短絡検査がシーケンシャルに行えることとなる。
検査を終えたプリント配線板は支持台１とピンボード４
の挾持から解放され、続いて被検体がセットされ、上記
検査が繰り返される。
の挾持から解放され、続いて被検体がセットされ、上記
検査が繰り返される。
本発明では、端子とプローブピンとの接触状態を保持し
つつ導通マットのみを端子から引き離して短絡検査を後
から行うようにしたため、実開昭62-108874号公報に示
される方法のようなプローブII（本発明の導通マットに
相当）圧接時の衝撃を受けずに第二段階の短絡検査を行
うことができ、プローブピンとＡ端子との接触状況が悪
影響を受けず、さらには導電マットからの各種の導電素
材の残留物がＡ端子側に付着するような事故が発生した
場合には、そのことを第二段階の短絡検査にて直ちに発
見できることとなる。
つつ導通マットのみを端子から引き離して短絡検査を後
から行うようにしたため、実開昭62-108874号公報に示
される方法のようなプローブII（本発明の導通マットに
相当）圧接時の衝撃を受けずに第二段階の短絡検査を行
うことができ、プローブピンとＡ端子との接触状況が悪
影響を受けず、さらには導電マットからの各種の導電素
材の残留物がＡ端子側に付着するような事故が発生した
場合には、そのことを第二段階の短絡検査にて直ちに発
見できることとなる。
よって本発明によれば、断線検査時のプローブピンとＡ
端子の接触が保証されたまま短絡検査を行うので、短絡
検査の結果の信頼性が向上するすぐれた効果を具有す
る。
端子の接触が保証されたまま短絡検査を行うので、短絡
検査の結果の信頼性が向上するすぐれた効果を具有す
る。
特に導電マットを後からＢ端子に圧接することがないた
め、第二段階の検査においてプローブピンとＡ端子との
接触状態が確実に確保され、かつ導電マットからの導通
素材の残留物が付着した場合の検査ミスの発生を確実に
防止できることとなる。
め、第二段階の検査においてプローブピンとＡ端子との
接触状態が確実に確保され、かつ導電マットからの導通
素材の残留物が付着した場合の検査ミスの発生を確実に
防止できることとなる。
第１図はプリント配線板の拡大平面図、第２図及び第３
図は従来の検査装置の正面図、第４図〜第７図は本発明
の検査方法を行う際の正面図である。 １……支持台 ２……プリント配線板 ３……導電マット ４……ピンボード ５……プローブピン ６……加圧シリンダー ７……上下移動機構
図は従来の検査装置の正面図、第４図〜第７図は本発明
の検査方法を行う際の正面図である。 １……支持台 ２……プリント配線板 ３……導電マット ４……ピンボード ５……プローブピン ６……加圧シリンダー ７……上下移動機構
Claims (1)
- 【請求項１】最初に導電マットをプリント配線板の一方
の端子に接触させた状態で他方の端子にプローブピンを
接触させて断線検査をなし、ついで端子とプローブピン
との接触状態を保持しつつ導電マットのみを端子から引
離し、この状態で短絡検査を行なうことを特徴とするプ
リント配線板のパターン検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61256891A JPH07104383B2 (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | プリント配線板のパターン検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61256891A JPH07104383B2 (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | プリント配線板のパターン検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63111474A JPS63111474A (ja) | 1988-05-16 |
| JPH07104383B2 true JPH07104383B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=17298845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61256891A Expired - Fee Related JPH07104383B2 (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | プリント配線板のパターン検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07104383B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10253688A (ja) * | 1997-03-10 | 1998-09-25 | Sony Corp | フレキシブル回路基板の導通検査装置及び導通検査方法 |
| US6977640B1 (en) | 1997-08-21 | 2005-12-20 | Lg Philips Lcd Co., Ltd. | Display apparatus for notebook computer |
| CN109073695A (zh) * | 2016-03-28 | 2018-12-21 | 堺显示器制品株式会社 | 基板的配线路径的检查方法及检查系统 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62108874U (ja) * | 1985-12-26 | 1987-07-11 |
-
1986
- 1986-10-30 JP JP61256891A patent/JPH07104383B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63111474A (ja) | 1988-05-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |