JPH07109641B2 - 磁気ディスクの欠陥検査装置 - Google Patents
磁気ディスクの欠陥検査装置Info
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- JPH07109641B2 JPH07109641B2 JP63181379A JP18137988A JPH07109641B2 JP H07109641 B2 JPH07109641 B2 JP H07109641B2 JP 63181379 A JP63181379 A JP 63181379A JP 18137988 A JP18137988 A JP 18137988A JP H07109641 B2 JPH07109641 B2 JP H07109641B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ディスクの欠陥検査装置（以下サーテ
ィファイア）に関し、詳しくは、磁気ディスクの試験ト
ラックに特定のテスト周波数の正弦波を書込み、これを
読出して各種のテスト周波数における欠陥データを採取
する場合にそのテスト周波数の切換え制御が容易なサー
ティファイアに関する。
ィファイア）に関し、詳しくは、磁気ディスクの試験ト
ラックに特定のテスト周波数の正弦波を書込み、これを
読出して各種のテスト周波数における欠陥データを採取
する場合にそのテスト周波数の切換え制御が容易なサー
ティファイアに関する。
［従来の技術］ コンピュータシステムに使用される磁気ディスク装置
は、その磁気媒体に不均一な欠陥があるときは、書込み
データの記録が不完全となり、ミッシングエラー又は湧
き出しエラー（エキストラエラー）が発生する。このよ
うな欠陥をなくして良好な品質を維持し、向上させるた
め、その生産工場においてはサーティファイアにより各
種の検査が行われており、その１つに磁気媒体の欠陥検
査がある。
は、その磁気媒体に不均一な欠陥があるときは、書込み
データの記録が不完全となり、ミッシングエラー又は湧
き出しエラー（エキストラエラー）が発生する。このよ
うな欠陥をなくして良好な品質を維持し、向上させるた
め、その生産工場においてはサーティファイアにより各
種の検査が行われており、その１つに磁気媒体の欠陥検
査がある。
この検査としては、まず、試験トラックに正弦波やクロ
ック信号（１ビットの連続するビットデータ）を書込
み、それを読出してその判定を行い、不良ビット（ミッ
シング）の個数や長さを集計してトラックの良否を判定
する。同様にして、正弦波や書込んだビットデータを消
去して湧き出し不良ビット（エキストラ）の判定を行
う。さらに全トラックにある不良トラックの数によりそ
の等級の判定を行う。そして、このような判定に基づい
て、磁気ディスクの評価を行い、ある程度以上の欠陥が
あると不合格とする。
ック信号（１ビットの連続するビットデータ）を書込
み、それを読出してその判定を行い、不良ビット（ミッ
シング）の個数や長さを集計してトラックの良否を判定
する。同様にして、正弦波や書込んだビットデータを消
去して湧き出し不良ビット（エキストラ）の判定を行
う。さらに全トラックにある不良トラックの数によりそ
の等級の判定を行う。そして、このような判定に基づい
て、磁気ディスクの評価を行い、ある程度以上の欠陥が
あると不合格とする。
ところで、磁気ディスクに記録されたデータの密度は、
年々高密度化し、それに応じて、サーティファイアは、
例えば、磁気ディスクに記録されるデータ記録密度に応
じて決定される最高書込周波数に相当するテスト周波数
である2F周波数が2.5MHz,3.33MHz,5.0MHz等のように各
種のテスト周波数において欠陥検査をする必要がある。
年々高密度化し、それに応じて、サーティファイアは、
例えば、磁気ディスクに記録されるデータ記録密度に応
じて決定される最高書込周波数に相当するテスト周波数
である2F周波数が2.5MHz,3.33MHz,5.0MHz等のように各
種のテスト周波数において欠陥検査をする必要がある。
［解決しようとする課題］ 前記のように2F周波数の書込みを行う欠陥検査では、一
定の波高値の2F周波数の正弦波をテストデータとして書
込み、これを読出してその出力レベルが一定とならず、
低下したり、必要以上に高くなったりすることで磁気媒
体に不均一な欠陥があることを検出して磁気ディスクの
特性を評価する。この場合、2F周波数のテスト周波数が
切換えられると、それに応じて読出し周波数が変わり、
テスト周波数が高くなると不要な帯域もそれにつれて高
い方向へ移行するため、それに対応して不要帯域をカッ
トしなければより正確な測定が行えなくなる。そのため
に磁気ヘッドリード回路のローパスフィルタ回路を変更
してそのカットオフ周波数を変えている。
定の波高値の2F周波数の正弦波をテストデータとして書
込み、これを読出してその出力レベルが一定とならず、
低下したり、必要以上に高くなったりすることで磁気媒
体に不均一な欠陥があることを検出して磁気ディスクの
特性を評価する。この場合、2F周波数のテスト周波数が
切換えられると、それに応じて読出し周波数が変わり、
テスト周波数が高くなると不要な帯域もそれにつれて高
い方向へ移行するため、それに対応して不要帯域をカッ
トしなければより正確な測定が行えなくなる。そのため
に磁気ヘッドリード回路のローパスフィルタ回路を変更
してそのカットオフ周波数を変えている。
しかし、従来のものでは、Ｌ（コイル）,C（コンデン
サ）,R（抵抗）等からなるローパスフィルタを読出し回
路に挿入していて、固定回路となっているため、この回
路の変更はその都度回路を変換しなければならず、しか
も、取付状態によっては、正確な測定ができない欠点が
ある。
サ）,R（抵抗）等からなるローパスフィルタを読出し回
路に挿入していて、固定回路となっているため、この回
路の変更はその都度回路を変換しなければならず、しか
も、取付状態によっては、正確な測定ができない欠点が
ある。
この発明の目的は、このような問題点を解決するもので
あって、テスト周波数に応じてリード回路系の回路のカ
ットオフ特性を容易に切換え設定することができるサー
ティファイアを提供することにある。
あって、テスト周波数に応じてリード回路系の回路のカ
ットオフ特性を容易に切換え設定することができるサー
ティファイアを提供することにある。
［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するためのこの発明の磁気ディス
クの欠陥検査装置の特徴は、磁気ディスクに記録される
データ記録密度に応じて決定される最高書込周波数に相
当するテスト周波数を持つテストデータを前記磁気ディ
スクに書込むものであって、異なるデータ記録密度に応
じて決定されるテスト周波数に応じて読出し時に発生す
る不要高域ノイズをカットする特性で外部からの選択信
号に応じて切り替え可能なローパスフィルタを異なるデ
ータ記録密度に対応する異なるテスト周波数に対応して
それぞれ有する読出し回路と、異なるテスト周波数の任
意の１つを選択する制御信号を発生する制御回路とを備
えていて、制御回路からの制御信号を選択信号として読
出し回路に送出して複数のローパスフィルタのうちの選
択したテスト周波数に応じたフィルタを選択するもので
ある。
クの欠陥検査装置の特徴は、磁気ディスクに記録される
データ記録密度に応じて決定される最高書込周波数に相
当するテスト周波数を持つテストデータを前記磁気ディ
スクに書込むものであって、異なるデータ記録密度に応
じて決定されるテスト周波数に応じて読出し時に発生す
る不要高域ノイズをカットする特性で外部からの選択信
号に応じて切り替え可能なローパスフィルタを異なるデ
ータ記録密度に対応する異なるテスト周波数に対応して
それぞれ有する読出し回路と、異なるテスト周波数の任
意の１つを選択する制御信号を発生する制御回路とを備
えていて、制御回路からの制御信号を選択信号として読
出し回路に送出して複数のローパスフィルタのうちの選
択したテスト周波数に応じたフィルタを選択するもので
ある。
［作用］ このように、リード回路に複数のローパスフィルタ回路
を設けて、それをテスト周波数に応じて切換えるように
しているので、各種のテスト周波数に対応してより正確
な欠陥検査が効率よくでき、検査効率を向上させること
ができる。
を設けて、それをテスト周波数に応じて切換えるように
しているので、各種のテスト周波数に対応してより正確
な欠陥検査が効率よくでき、検査効率を向上させること
ができる。
［実施例］ 以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は、この発明によるサーティファイアの読出し回
路部分を中心とする一実施例のブロック図、第２図は、
その全体的な構成を示すブロック図である。なお、これ
ら各図において、同等の構成要素は同一の符号で示し、
その説明を割愛する。
路部分を中心とする一実施例のブロック図、第２図は、
その全体的な構成を示すブロック図である。なお、これ
ら各図において、同等の構成要素は同一の符号で示し、
その説明を割愛する。
第２図において、１は磁気ディスクを１枚づつ駆動する
磁気ディスク駆動装置で、これに被検査の磁気ディスク
２が装着される。プログラムで制御されるマイクロプロ
セッサ（MPU）６の指令に応じて検査シーケンス制御回
路７が制御され、検査シーケンス制御回路７の制御によ
って磁気ディスク駆動装置１と、磁気ヘッドを含む書き
込み／読出し回路（R/W回路）３とが動作して、まず正
弦波信号のテストデータが磁気ディスク２の試験トラッ
クに書込まれる。ついで、書込まれたテストデータが読
出されて、その読出し信号（リード信号）は、平均値回
路４に入力されて試験トラックの１周に対する、リード
信号の波高値の平均値が求められる。この場合、平均値
回路４はハード構成によりトラック１周についてリード
信号波形の積分を行って、平均値を求めるものであっ
て、従来からサーティファイアなどに使用されている公
知のものである。これにより得られた平均値は、A/D回
路５においてデジタル値に変換されて、MPU6に取り込ま
れる。
磁気ディスク駆動装置で、これに被検査の磁気ディスク
２が装着される。プログラムで制御されるマイクロプロ
セッサ（MPU）６の指令に応じて検査シーケンス制御回
路７が制御され、検査シーケンス制御回路７の制御によ
って磁気ディスク駆動装置１と、磁気ヘッドを含む書き
込み／読出し回路（R/W回路）３とが動作して、まず正
弦波信号のテストデータが磁気ディスク２の試験トラッ
クに書込まれる。ついで、書込まれたテストデータが読
出されて、その読出し信号（リード信号）は、平均値回
路４に入力されて試験トラックの１周に対する、リード
信号の波高値の平均値が求められる。この場合、平均値
回路４はハード構成によりトラック１周についてリード
信号波形の積分を行って、平均値を求めるものであっ
て、従来からサーティファイアなどに使用されている公
知のものである。これにより得られた平均値は、A/D回
路５においてデジタル値に変換されて、MPU6に取り込ま
れる。
MPU6は、この平均値に対して２種類の係数をかけて判定
レベルの上、下限値をそれぞれ得て、これらを欠陥検出
回路８に与え、A/D回路５を欠陥検出回路８側へと切換
える。ここで、再度テストデータが読出されて、リード
信号の欠陥ピットが前記上限値と下限値に基づき欠陥検
出回路８により検出され、A/D回路５によりデジタル化
されて、MPU6に転送される。
レベルの上、下限値をそれぞれ得て、これらを欠陥検出
回路８に与え、A/D回路５を欠陥検出回路８側へと切換
える。ここで、再度テストデータが読出されて、リード
信号の欠陥ピットが前記上限値と下限値に基づき欠陥検
出回路８により検出され、A/D回路５によりデジタル化
されて、MPU6に転送される。
MPU6は、欠陥検出回路８により検出され欠陥ピットに基
づき、欠陥ピット長の長短に従って、コレクトエラー或
いはアンコレクトエラー等の評価を行い、その個数をカ
ウントしてこのカウント値とエラーの種別、そしてそれ
が発生した位置データとがバス13を介してメモリ９に記
憶される。なお、欠陥の位置は、磁気ディスク駆動装置
１から得る（この関係は図示せず）。
づき、欠陥ピット長の長短に従って、コレクトエラー或
いはアンコレクトエラー等の評価を行い、その個数をカ
ウントしてこのカウント値とエラーの種別、そしてそれ
が発生した位置データとがバス13を介してメモリ９に記
憶される。なお、欠陥の位置は、磁気ディスク駆動装置
１から得る（この関係は図示せず）。
ここで、キーボード（図示せず）等からの入力により試
験トラックに書込まれる正弦波のテスト周波数が変更さ
れたときには、MPU6は、その信号を受けて選択されたテ
スト周波数に対応する制御信号を切換回路10に送出す
る。切換回路10は、この制御信号に応じて切換信号をR/
W回路３へと出力して、そのローパスフィルタをテスト
周波数に対応するものに切換える。
験トラックに書込まれる正弦波のテスト周波数が変更さ
れたときには、MPU6は、その信号を受けて選択されたテ
スト周波数に対応する制御信号を切換回路10に送出す
る。切換回路10は、この制御信号に応じて切換信号をR/
W回路３へと出力して、そのローパスフィルタをテスト
周波数に対応するものに切換える。
第１図は、このローパスフィルタの切換えを説明する読
出し回路部分を中心とした具体的な回路であって、R/W
回路３のリード系は、磁気ヘッド31と増幅回路32、そし
てプログラマブルローパスフィルタ回路33とからなり、
プログラマブルローパスフィルタ回路33は、コイルL1，
スイッチSW1、コイルL2，スイッチSW2、コイルL2，スイ
ッチSW2、・・・からなる、コイルとスイッチの直列回
路を並列に接続した複数の回路群と、可変容量ダイオー
ド（バリキャップダイオード）VD、抵抗R,抵抗Ｒとを有
する抵抗とコンデンサを共通とし、コイルを選択する形
態のＬ型フィルタである。このフィルタは、それぞれの
スイッチを選択的に接続し、かつバリキャップダイオー
ドVDの電圧を設定することにより書込み正弦波の周波数
に対応する特性のカットオフ周波数を持つローパスフィ
ルタとなる。
出し回路部分を中心とした具体的な回路であって、R/W
回路３のリード系は、磁気ヘッド31と増幅回路32、そし
てプログラマブルローパスフィルタ回路33とからなり、
プログラマブルローパスフィルタ回路33は、コイルL1，
スイッチSW1、コイルL2，スイッチSW2、コイルL2，スイ
ッチSW2、・・・からなる、コイルとスイッチの直列回
路を並列に接続した複数の回路群と、可変容量ダイオー
ド（バリキャップダイオード）VD、抵抗R,抵抗Ｒとを有
する抵抗とコンデンサを共通とし、コイルを選択する形
態のＬ型フィルタである。このフィルタは、それぞれの
スイッチを選択的に接続し、かつバリキャップダイオー
ドVDの電圧を設定することにより書込み正弦波の周波数
に対応する特性のカットオフ周波数を持つローパスフィ
ルタとなる。
ここで、各スイッチの選択的な切換えは切換回路10によ
り行われ、各スイッチSW1，スイッチSW2，スイッチS
W2，・・・は、リレーのスイッチ部分となっている。切
換回路10のドライバ11は、各スイッチに対応する各リレ
ーの駆動コイルに電流を流すことで各スイッチのうちの
１つ又は複数を接続状態にする。そのため、ドライバ11
は、リレーのコイル部分と、このそれぞれのコイル部分
に電流を流してリレーそれぞれを駆動する複数の駆動回
路とレジスタとを有していて、このレジスタにバス13を
介してMPU6からデータがセットされることで選択的に駆
動回路が動作する。それは、例えば、レジスタにセット
されるデータの桁位置に対応に駆動回路を割当て、その
データのビットが“1"とされた対応する桁位置の駆動回
路が駆動されて、それに対応するリレーのスイッチが接
続状態となるものである。その結果、接続されたスイッ
チのコイルがフィルタを構成する素子となる。
り行われ、各スイッチSW1，スイッチSW2，スイッチS
W2，・・・は、リレーのスイッチ部分となっている。切
換回路10のドライバ11は、各スイッチに対応する各リレ
ーの駆動コイルに電流を流すことで各スイッチのうちの
１つ又は複数を接続状態にする。そのため、ドライバ11
は、リレーのコイル部分と、このそれぞれのコイル部分
に電流を流してリレーそれぞれを駆動する複数の駆動回
路とレジスタとを有していて、このレジスタにバス13を
介してMPU6からデータがセットされることで選択的に駆
動回路が動作する。それは、例えば、レジスタにセット
されるデータの桁位置に対応に駆動回路を割当て、その
データのビットが“1"とされた対応する桁位置の駆動回
路が駆動されて、それに対応するリレーのスイッチが接
続状態となるものである。その結果、接続されたスイッ
チのコイルがフィルタを構成する素子となる。
また、バリキャップダイオードVDの逆方向バイアス電圧
がプログラマブル電源12により保護抵抗を介して設定さ
れ、その電圧で決定される容量のコンデンサがフィルタ
を構成する素子となる。プログラマブル電源12は、前記
のドライバ11と同様に内部にレジスタを有していて、MP
U6からバス13を介してデータがセットされることで設定
されたデータに対応する電圧を発生し、それをバリキャ
ップダイオードVDに加える。
がプログラマブル電源12により保護抵抗を介して設定さ
れ、その電圧で決定される容量のコンデンサがフィルタ
を構成する素子となる。プログラマブル電源12は、前記
のドライバ11と同様に内部にレジスタを有していて、MP
U6からバス13を介してデータがセットされることで設定
されたデータに対応する電圧を発生し、それをバリキャ
ップダイオードVDに加える。
その結果、テスト周波数に対応して、レジスタの設定デ
ータに応じてコイルとバリキャップダイオードVDの電圧
とが選択され、それに対応してプログラマブルローパス
フィルタ回路33のインダクタンスと容量とが決定され、
テスト周波数に対応するローパスフィルタが回路構成さ
れる。したがって、R/W回路３のカットオフ周波数をMPU
6から切換え回路10にデータをセットするだけで適切な
ものに設定できる。なお、前記のコイルとバリキャップ
ダイオードVDの電圧とを選択するデータは、あらかじめ
メモリ９の特定領域に記憶されていて、MPU6はこれを読
出して切換回路10にデータをセットする。
ータに応じてコイルとバリキャップダイオードVDの電圧
とが選択され、それに対応してプログラマブルローパス
フィルタ回路33のインダクタンスと容量とが決定され、
テスト周波数に対応するローパスフィルタが回路構成さ
れる。したがって、R/W回路３のカットオフ周波数をMPU
6から切換え回路10にデータをセットするだけで適切な
ものに設定できる。なお、前記のコイルとバリキャップ
ダイオードVDの電圧とを選択するデータは、あらかじめ
メモリ９の特定領域に記憶されていて、MPU6はこれを読
出して切換回路10にデータをセットする。
なお、この実施例のように、複数のコイルに共通にバリ
キャップダイオードを共通に設けることによりローパス
フィルタ回路を単純化でき、かつテスト周波数対応のロ
ーパスフィルタを容易に実現できる利点がある。
キャップダイオードを共通に設けることによりローパス
フィルタ回路を単純化でき、かつテスト周波数対応のロ
ーパスフィルタを容易に実現できる利点がある。
以上説明してきたが、この発明は、ハードディスクに限
らず、いわゆるフレキシブルディスクについても適用も
できることはもちろんである。
らず、いわゆるフレキシブルディスクについても適用も
できることはもちろんである。
［発明の効果］ 以上のように、この発明にあっては、リード回路に複数
のローパスフィルタ回路を設けて、それをテスト周波数
に応じて切換えるようにしているので、各種のテスト周
波数に対応してより正確な欠陥検査が効率よくでき、検
査効率を向上させることができる。
のローパスフィルタ回路を設けて、それをテスト周波数
に応じて切換えるようにしているので、各種のテスト周
波数に対応してより正確な欠陥検査が効率よくでき、検
査効率を向上させることができる。
第１図は、この発明によるサーティファイアの読出し回
路部分を中心とする一実施例のブロック図、第２図は、
その全体的な構成を示すブロック図である。 １……磁気ディスク駆動装置、２……磁気ディスク、３
……書き込み／読出し（R/W）回路、４……平均値回
路、５……A/D回路、６……マイクロプロセッサ（MP
U）、７……検査シーケンス制御回路、８……欠陥検出
回路、９……メモリ、10……切換え回路、11……ドライ
バ、12……プログラマブル電源、13……バス。
路部分を中心とする一実施例のブロック図、第２図は、
その全体的な構成を示すブロック図である。 １……磁気ディスク駆動装置、２……磁気ディスク、３
……書き込み／読出し（R/W）回路、４……平均値回
路、５……A/D回路、６……マイクロプロセッサ（MP
U）、７……検査シーケンス制御回路、８……欠陥検出
回路、９……メモリ、10……切換え回路、11……ドライ
バ、12……プログラマブル電源、13……バス。
Claims (1)
- 【請求項１】試験トラックに正弦波になるテストデータ
を書き込み、これを読出し回路により読出して欠陥を検
査する磁気ディスク欠陥検査装置において、磁気ディス
クに記録されるデータ記録密度に応じて決定される最高
書込周波数に相当するテスト周波数を持つテストデータ
を前記磁気ディスクに書込むものであって、異なる前記
データ記録密度に応じて決定される前記テスト周波数に
応じて読出し時に発生する不要高域ノイズをカットする
特性で外部からの選択信号に応じて切り替え可能なロー
パスフィルタを異なる前記データ記録密度に対応する異
なるテスト周波数に対応してそれぞれ有する前記読出し
回路と、前記異なるテスト周波数の任意の１つを選択す
る制御信号を発生する制御回路とを備え、前記制御回路
からの前記制御信号を前記選択信号として前記読出し回
路に送出して前記複数のローパスフィルタのうちの選択
した前記テスト周波数に応じたフィルタを選択すること
を特徴とする磁気ディスクの欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181379A JPH07109641B2 (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63181379A JPH07109641B2 (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0231182A JPH0231182A (ja) | 1990-02-01 |
| JPH07109641B2 true JPH07109641B2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=16099700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63181379A Expired - Fee Related JPH07109641B2 (ja) | 1988-07-20 | 1988-07-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07109641B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61283877A (ja) * | 1985-06-10 | 1986-12-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気デイスクの検査方法 |
-
1988
- 1988-07-20 JP JP63181379A patent/JPH07109641B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0231182A (ja) | 1990-02-01 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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