JPH0711032U - フォトカプラ試験装置 - Google Patents

フォトカプラ試験装置

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JPH0711032U
JPH0711032U JP3931093U JP3931093U JPH0711032U JP H0711032 U JPH0711032 U JP H0711032U JP 3931093 U JP3931093 U JP 3931093U JP 3931093 U JP3931093 U JP 3931093U JP H0711032 U JPH0711032 U JP H0711032U
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JP
Japan
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photocoupler
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light emitting
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貴子 筒井
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Tamagawa Seiki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案はフォトカプラ試験装置に関し、特
に、フォトカプラ部への入力信号とフォトカプラ部から
の出力信号とを比較し、フォトカプラ部の動作を簡単か
つ確実に試験することを特徴とする。 【構成】 本考案によるフォトカプラ試験装置は、フォ
トカプラ部(3)の入力信号(2a)と出力信号(5a)とを第1
ゲート回路(10)で比較し、一致の場合はフォトカプラ部
(3)が正常であるため表示発光部(8)が点滅し、不一致の
場合にはフォトカプラ部(3)が故障であるため表示発光
部(8)が点灯することにより、正常と故障の識別が容易
となる構成である。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、フォトカプラ試験装置に関し、特に、フォトカプラ部への入力信号 とフォトカプラ部からの出力信号とを比較し、フォトカプラ部の動作を簡単にか つ確実に試験するための新規な改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、用いられていたこの種のフォトカプラ部の試験装置としては、一般に、 図2で示す構成が採用されており、パルス発生回路1からの0.5Hzの駆動信 号1aは、第1バッファカード2を介してフォトカプラ部3のカプラ用発光部4 に入力され、このフォトカプラ部3の受光体5からの出力信号5aは、第2バッ ファカード6を介してパネル7の表示発光部8に入力されている。 従って、このフォトカプラ部3に電流が流れると、駆動信号1aの周波数(0 .5Hz)に応じて表示発光部8はこの周波数で点滅していた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
従来のフォトカプラ試験装置は、以上のように構成されているため、次のよう な課題が存在していた。すなわち、フォトカプラ部が正常動作を行っている場合 は、表示発光部が点滅し、フォトカプラ部が故障した場合には表示発光部が消灯 する構成であるため、フォトカプラ部が一度故障し、しばらく時間をおいて再び 何らかの原因で正常となるような場合、例えば、チェックした検査員がたまたま この故障後の正常状態を見てチェックした場合には、故障のフォトカプラ部であ るにも拘わらず、良品であると判断することがあり、実際に出荷後における故障 の原因となっていた。
【0004】 本考案は、以上のような課題を解決するためになされたもので、特に、フォト カプラ部への入力信号とフォトカプラ部からの出力信号とを比較し、フォトカプ ラ部の動作を簡単かつ確実に試験するようにしたフォトカプラ試験装置を提供す ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本考案によるフォトカプラ試験装置は、パルス発生回路から出力される第1、 第2駆動信号と、前記第1駆動信号を入力信号とするフォトカプラ部のカプラ用 発光部と、前記フォトカプラ部に設けられ出力信号を出力するための受光部と、 前記入力信号と出力信号を入力するための第1ゲート回路と、前記第1ゲート回 路の第1出力と前記第2駆動信号とを入力するためのフリップフロップ回路と、 前記フリップフロップ回路の第2出力をインバータを介して入力するための表示 発光部と、前記フォトカプラ部の出力端と前記表示発光部の入力端との間に接続 された第2ゲート回路とを備え、前記入力信号と出力信号が不一致の場合に前記 表示発光部が点灯状態となり一致の場合に点滅するようにした構成である。
【0006】
【作用】
本考案によるフォトカプラ試験装置においては、フォトカプラ部における入力 信号と出力信号を第1ゲート回路で比較し、この第1ゲート回路からの第1出力 とパルス発生回路からの第2駆動信号をフリップフロップに入力しているため、 入力信号と出力信号が一致している時は表示発光体が0.5Hzで点滅を繰返す 。また、前述の入力信号と出力信号が不一致の時(フォトカプラが故障している 時)は、フリップフロップ回路の第2出力に接続されたインバータの出力がLO Wとなり、表示発光部は連続点灯となる。従って、フォトカプラ部が故障した場 合には、表示発光部は点灯となるため、何時チェックをしても故障の発見が容易 となる。
【0007】
【実施例】
以下、図面と共に本考案によるフォトカプラ試験装置の好適な実施例について 詳細に説明する。なお、従来例と同一部分には同一符号を付して説明する。 図1において符号1で示されるものはパルス発生回路であり、このパルス発生 回路1からの0.5Hzの第1駆動信号1aは、第1バッファカード2を介して 入力信号2aとしてフォトカプラ部3のカプラ用発光部4に入力され、このフォ トカプラ部3の受光体5からの出力信号5aはNANDからなる第2ゲート回路 6aを有する第2バッファカード6を介してパネル7の表示発光部8に入力され ている。
【0008】 さらに、前記入力信号2aと出力信号5aはEX−ORからなる第1ゲート回 路10に入力され、その第1入力10aはフリップフロップ回路11のD端子1 1aに入力され、そのT端子11bにはパルス発生回路1からの1Hzからなる 第2駆動信号1bが入力されている。
【0009】 前記フリップフロップ回路11のR端子11cにはリセット信号12が入力さ れて電源入力時及びリセットスイッチオン時のリセットが行われるように構成さ れており、そのQ端子11dからの第2出力11eはインバータ13を介してパ ネル7に接続されている。従って、前述の第1ゲート10、フリップフロップ回 路11及びインバータ13等により異常検出回路14を構成している。
【0010】 次に動作について述べる。まず、フォトカプラ部3が正常動作している場合、 入力信号2aと出力信号5aが第1ゲート10で一致していることが判明し、イ ンバータ13がHIGHとなり、第2バッファカード6からの出力によって表示 発光部8は、0.5Hzで点滅を繰り返す。また、このフォトカプラ部3が故障 している時は、インバータ13からの出力がLOWとなって0Vとなり表示発光 部8は連続の点灯状態となる。
【0011】
【考案の効果】
本考案によるフォトカプラ試験装置は、以上のように構成されているため、フ ォトカプラ部が正常時には点滅、故障時には点灯となるため、故障の発見が見や すく、自然復帰による間欠故障が発見しやすくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案によるフォトカプラ試験装置を示すブロ
ック図である。
【図2】従来の装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 パルス発生回路 1a,1b 第1、第2駆動信号 2a 入力信号 3 フォトカプラ部 4 カプラ用発光部 5 受光部 5a 出力信号 8 表示発光部 10 第1ゲート回路 10a 第1出力 11 フリップフロップ回路 11e 第2出力 13 インバータ

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルス発生回路(1)から出力される第
    1、第2駆動信号(1a,1b)と、前記第1駆動信号(1a)を
    入力信号(2a)とするフォトカプラ部(3)のカプラ用発光
    部(4)と、前記フォトカプラ部(3)に設けられ出力信号(5
    a)を出力するための受光部(5)と、前記入力信号(2a)と
    出力信号(5a)を入力するための第1ゲート回路(10)と、
    前記第1ゲート回路(10)の第1出力(10a)と前記第2駆
    動信号(1b)とを入力するためのフリップフロップ回路(1
    1)と、前記フリップフロップ回路(11)の第2出力(11e)
    をインバータ(13)を介して入力するための表示発光部
    (8)と、前記フォトカプラ部(3)の出力側と前記表示発光
    部の入力側との間に接続された第2ゲート回路(6a)とを
    備え、前記入力信号(2a)と出力信号(5a)が不一致の場合
    に前記表示発光部(8)が点灯状態となり一致の場合に点
    滅するように構成したことを特徴とするフォトカプラ試
    験装置。
  2. 【請求項2】 前記第1ゲート回路(10)はEX−ORか
    らなり、前記第2ゲート回路(6a)はNANDからなるこ
    とを特徴とする請求項1記載のフォトカプラ試験装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63161778U (ja) * 1987-04-03 1988-10-21
JP2014085840A (ja) * 2012-10-24 2014-05-12 Mitsubishi Electric Corp デジタル信号出力装置
JP2019518935A (ja) * 2016-11-25 2019-07-04 エルジー・ケム・リミテッド Bms内の絶縁素子診断システム

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US10989753B2 (en) 2016-11-25 2021-04-27 Lg Chem, Ltd. System for diagnosing insulating element in BMS

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