JPH07111176A - コネクタ検査用治具 - Google Patents
コネクタ検査用治具Info
- Publication number
- JPH07111176A JPH07111176A JP5257048A JP25704893A JPH07111176A JP H07111176 A JPH07111176 A JP H07111176A JP 5257048 A JP5257048 A JP 5257048A JP 25704893 A JP25704893 A JP 25704893A JP H07111176 A JPH07111176 A JP H07111176A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- axis direction
- inspection
- probe
- jig
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 コネクタが基板等に実装された状態で，基板
等の機能検査を効率良く，かつ実装密度を低下させるこ
となく，しかもコネクタの実装状態を確認しながら検査
を行うことのできる検査用治具を提供すること。 【構成】ベース部材１とジョイント部材３を第１の板バ
ネ２Ａ，２Ｂで連結し，ジョイント部材３とプローブホ
ルダ５を第２の板バネ４Ａ，４Ｂで連結する。第１の板
バネはＸ軸方向に可撓性を，第２の板バネはＹ軸方向に
可撓性を有する。プローブホルダには電線７と接続する
プローブ６が固定されている。コネクタ１０の基板９上
の実装位置がＸ軸および／またはＹ軸方向に多少ずれて
いても，治具をＺ軸方向に真っ直ぐに降下させるだけ
で，ガイド部５１，８１によってプローブホルダ５がＸ
軸方向および／またはＹ軸方向に移動でき，プローブの
接触子６ａをコネクタ１０の端子部１０ａに接触させる
ことができる。
等の機能検査を効率良く，かつ実装密度を低下させるこ
となく，しかもコネクタの実装状態を確認しながら検査
を行うことのできる検査用治具を提供すること。 【構成】ベース部材１とジョイント部材３を第１の板バ
ネ２Ａ，２Ｂで連結し，ジョイント部材３とプローブホ
ルダ５を第２の板バネ４Ａ，４Ｂで連結する。第１の板
バネはＸ軸方向に可撓性を，第２の板バネはＹ軸方向に
可撓性を有する。プローブホルダには電線７と接続する
プローブ６が固定されている。コネクタ１０の基板９上
の実装位置がＸ軸および／またはＹ軸方向に多少ずれて
いても，治具をＺ軸方向に真っ直ぐに降下させるだけ
で，ガイド部５１，８１によってプローブホルダ５がＸ
軸方向および／またはＹ軸方向に移動でき，プローブの
接触子６ａをコネクタ１０の端子部１０ａに接触させる
ことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，コネクタが基板等に実
装された状態で基板等の電気的な機能検査を行うための
検査用治具に関し，特にある誤差範囲で位置決めされた
基板等やコネクタの位置誤差を吸収して，検査用治具の
接触子が正確にコネクタの露出した端子部に接触するよ
うに構成された検査用治具に関するものである。
装された状態で基板等の電気的な機能検査を行うための
検査用治具に関し，特にある誤差範囲で位置決めされた
基板等やコネクタの位置誤差を吸収して，検査用治具の
接触子が正確にコネクタの露出した端子部に接触するよ
うに構成された検査用治具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来，コネクタが実装された状態で基板
等の機能の検査を行う方法としては，第１の方法とし
て，コネクタと他の機能基板等とを別のコネクタを介し
て接続して機能検査を行うことが行われていた。また，
第２の方法としては，コネクタの周辺に検査用パッドを
設け，該検査用パッドに接触子を押し当てて検査すると
いう方法がとられていた。
等の機能の検査を行う方法としては，第１の方法とし
て，コネクタと他の機能基板等とを別のコネクタを介し
て接続して機能検査を行うことが行われていた。また，
第２の方法としては，コネクタの周辺に検査用パッドを
設け，該検査用パッドに接触子を押し当てて検査すると
いう方法がとられていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし，前記第１の方
法においては，基板等を単体で検査することができず，
このため検査に要する工数が多くなり，検査工程が煩雑
になるといった欠点を有していた。また，第２の方法に
おいては，検査用パッドを設けることから実装密度が低
下するばかりでなく，コネクタ自身の実装の状態を確認
することができないといった欠点を有していた。
法においては，基板等を単体で検査することができず，
このため検査に要する工数が多くなり，検査工程が煩雑
になるといった欠点を有していた。また，第２の方法に
おいては，検査用パッドを設けることから実装密度が低
下するばかりでなく，コネクタ自身の実装の状態を確認
することができないといった欠点を有していた。
【０００４】そこで，本発明の技術的課題は，前記従来
技術の課題に鑑みて，コネクタが基板等に実装された状
態で，基板等の機能検査を効率良く，かつ実装密度を低
下させることなく，しかもコネクタの実装状態を確認し
ながら検査を行うことのできる検査用治具を提供するこ
とにある。
技術の課題に鑑みて，コネクタが基板等に実装された状
態で，基板等の機能検査を効率良く，かつ実装密度を低
下させることなく，しかもコネクタの実装状態を確認し
ながら検査を行うことのできる検査用治具を提供するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によれば，実装状
態のコネクタの電気的な検査をするためのコネクタ検査
用治具において，前記コネクタの露出した端子部に接触
するための互いに電気的に絶縁された複数の検査用接触
子と，前記検査用接触子を前記端子部に接触させるとと
もに前記検査用接触子と前記コネクタとの相対位置を案
内する案内機構とを備えていることを特徴とするコネク
タ検査用治具が得られる。
態のコネクタの電気的な検査をするためのコネクタ検査
用治具において，前記コネクタの露出した端子部に接触
するための互いに電気的に絶縁された複数の検査用接触
子と，前記検査用接触子を前記端子部に接触させるとと
もに前記検査用接触子と前記コネクタとの相対位置を案
内する案内機構とを備えていることを特徴とするコネク
タ検査用治具が得られる。
【０００６】本発明によれば，前記コネクタ検査用治具
において，搬送力を受けるベース部材と前記検査用接触
子との間を２軸のコンプライアンス機構を介して接続し
たことを特徴とするコネクタ検査治具が得られる。
において，搬送力を受けるベース部材と前記検査用接触
子との間を２軸のコンプライアンス機構を介して接続し
たことを特徴とするコネクタ検査治具が得られる。
【０００７】本発明によれば，前記コネクタにおいて，
前記２軸のコンプライアンス機構の各々は互いに平行な
２枚の板バネを有していることを特徴とするコネクタ検
査用治具が得られる。
前記２軸のコンプライアンス機構の各々は互いに平行な
２枚の板バネを有していることを特徴とするコネクタ検
査用治具が得られる。
【０００８】
【作用】前記構成の本発明によれば，基板等に実装され
たコネクタがＸ軸方向および／またはＹ軸方向に誤差を
もって位置決めされていても，治具をＺ軸方向に降下さ
せるだけで，治具の接触子をコネクタの端子部に正確に
押し当てることができる。
たコネクタがＸ軸方向および／またはＹ軸方向に誤差を
もって位置決めされていても，治具をＺ軸方向に降下さ
せるだけで，治具の接触子をコネクタの端子部に正確に
押し当てることができる。
【０００９】
【実施例】次に，本発明の一実施例について添付の図面
を参照して説明する。図１は本発明の一実施例のコネク
タ検査用治具を示した斜視図で，図２は動作状態を示し
た正面図である。なお，以下の記載にあっては，上下方
向をＺ軸方向，前後方向をＸ軸方向，左右方向をＹ軸方
向と呼ぶ。
を参照して説明する。図１は本発明の一実施例のコネク
タ検査用治具を示した斜視図で，図２は動作状態を示し
た正面図である。なお，以下の記載にあっては，上下方
向をＺ軸方向，前後方向をＸ軸方向，左右方向をＹ軸方
向と呼ぶ。
【００１０】図１および図２に示すように，長方体状の
ベース部材１の長辺を形成する側の対向する両側面に
は，これら側面と平行に下方に延出した第１の板バネ２
Ａ，２Ｂの上端がネジＳ１によって固定されている。こ
れら第１の板バネ２Ａ，２Ｂは，コンプライアンス機構
を構成する。第１の板バネ２Ａ，２Ｂの下端は，水平断
面形状が十字状をしたジョイント部材３の正面および背
面（Ｘ軸と直交する面）側の中央突出部の外側壁面にネ
ジＳ２によって固定されている。この第１の板バネ２
Ａ，２Ｂは板厚方向に弾性を有しており，ベース部材１
とジョイント部材３を板バネ２Ａ，２Ｂの板厚方向たる
Ｘ軸方向に相対的に反対方向に移動させたとき，撓むよ
うに構成されている。すなわち，ベース部材１を固定位
置においた状態のとき，ジョイント部材３は板バネ２
Ａ，２Ｂを撓ませてＸ軸方向に移動することが可能とな
っている。
ベース部材１の長辺を形成する側の対向する両側面に
は，これら側面と平行に下方に延出した第１の板バネ２
Ａ，２Ｂの上端がネジＳ１によって固定されている。こ
れら第１の板バネ２Ａ，２Ｂは，コンプライアンス機構
を構成する。第１の板バネ２Ａ，２Ｂの下端は，水平断
面形状が十字状をしたジョイント部材３の正面および背
面（Ｘ軸と直交する面）側の中央突出部の外側壁面にネ
ジＳ２によって固定されている。この第１の板バネ２
Ａ，２Ｂは板厚方向に弾性を有しており，ベース部材１
とジョイント部材３を板バネ２Ａ，２Ｂの板厚方向たる
Ｘ軸方向に相対的に反対方向に移動させたとき，撓むよ
うに構成されている。すなわち，ベース部材１を固定位
置においた状態のとき，ジョイント部材３は板バネ２
Ａ，２Ｂを撓ませてＸ軸方向に移動することが可能とな
っている。
【００１１】また，ジョイント部材３の両側面（Ｙ軸方
向と直交する面）には夫々第２の板バネ４Ａ，４Ｂの上
端部がネジＳ３によって固定されている。第２の板バネ
の下端４Ａ，４Ｂはプローブホルダ５の両側面にネジＳ
４でもって固定されている。この第２の板バネ４Ａ，４
Ｂも板厚方向に弾性を有しており，ジョイント部材３と
プローブホルダ５をＹ軸方向に相対的に反対方向に移動
させたとき，第２の板バネ４Ａ，４Ｂは図２に示すよう
に撓むように構成されている。すなわち，プローブホル
ダ５はジョイント部材３を中心としてＹ方向に移動可能
になっている。
向と直交する面）には夫々第２の板バネ４Ａ，４Ｂの上
端部がネジＳ３によって固定されている。第２の板バネ
の下端４Ａ，４Ｂはプローブホルダ５の両側面にネジＳ
４でもって固定されている。この第２の板バネ４Ａ，４
Ｂも板厚方向に弾性を有しており，ジョイント部材３と
プローブホルダ５をＹ軸方向に相対的に反対方向に移動
させたとき，第２の板バネ４Ａ，４Ｂは図２に示すよう
に撓むように構成されている。すなわち，プローブホル
ダ５はジョイント部材３を中心としてＹ方向に移動可能
になっている。
【００１２】プローブホルダ５の背面側には上下に貫通
するプローブ６が側面方向（Ｙ方向）に向けて列設され
ている。プローブ６の上端には，図示しない検査用機器
に接続された電線７を挿通状態で受容する開口部が形成
されている。また，プローブ６の下端には，前記電線７
と電気的接続される接触子６ａが形成されている。この
接触子６ａを基板９上に実装されたコネクタ１０の端子
部１０ａに押し当てることによってコネクタおよび基板
９の検査を行う。
するプローブ６が側面方向（Ｙ方向）に向けて列設され
ている。プローブ６の上端には，図示しない検査用機器
に接続された電線７を挿通状態で受容する開口部が形成
されている。また，プローブ６の下端には，前記電線７
と電気的接続される接触子６ａが形成されている。この
接触子６ａを基板９上に実装されたコネクタ１０の端子
部１０ａに押し当てることによってコネクタおよび基板
９の検査を行う。
【００１３】プローブホルダ５の両側面には，コネクタ
１０の両側面に当接して位置決めするコネクタガイド８
Ａ，８Ｂが設けられている。プローブホルダ５の底面側
の前後方向には，図１から分るように，コネクタ１０を
Ｘ軸方向に案内するテーパー状のガイド部５１が形成さ
れている。またコネクタガイド８Ａ，８Ｂの内側にも，
図２から分るようにコネクタ１０をＹ軸方向に案内する
テーパー状のガイド部８１が形成されている。これらの
ガイド部５１，８１はコネクタ案内機構を構成する。即
ち，検査時において本発明の実施例に係る治具をコネク
タ１０側に押し付けると，これらのガイド部５１，８１
によって案内されながらコネクタ１０がプローブホルダ
５とコネクタガイド８Ａ，８Ｂによって画定されたコネ
クタ収容部に収容されていき，プローブ６の接触子６ａ
をコネクタ１０の対応する端子部１０ａへ導通状態に接
触させることができる。
１０の両側面に当接して位置決めするコネクタガイド８
Ａ，８Ｂが設けられている。プローブホルダ５の底面側
の前後方向には，図１から分るように，コネクタ１０を
Ｘ軸方向に案内するテーパー状のガイド部５１が形成さ
れている。またコネクタガイド８Ａ，８Ｂの内側にも，
図２から分るようにコネクタ１０をＹ軸方向に案内する
テーパー状のガイド部８１が形成されている。これらの
ガイド部５１，８１はコネクタ案内機構を構成する。即
ち，検査時において本発明の実施例に係る治具をコネク
タ１０側に押し付けると，これらのガイド部５１，８１
によって案内されながらコネクタ１０がプローブホルダ
５とコネクタガイド８Ａ，８Ｂによって画定されたコネ
クタ収容部に収容されていき，プローブ６の接触子６ａ
をコネクタ１０の対応する端子部１０ａへ導通状態に接
触させることができる。
【００１４】つぎに，本発明の実施例に係る治具におけ
るコンプライアンス機構の作動状態について図２を参照
しながら説明する。コネクタ１０が例えば正規の位置か
らＹ軸方向にδ１（＜δ２（ガイド部８１の面取り
量））だけずれて位置決めされて取付けられていたとす
る。この場合，プローブホルダ５は第２のバネ部材４
Ａ，４Ｂによって追従移動可能にジョイント部材３に取
付けられているので，Ｙ軸方向の案内機構であるコネク
タガイド８Ａ，８Ｂに形成された面取り量をδ２とする
ガイド部８１により，本治具が降下するにしたがってコ
ネクタ１０の両側端面がガイド部８１を滑りながらＹ軸
方向（図２に示す場合は左方向）に移動する。そして，
最終的に図２に示すようにプローブホルダ５とコネクタ
ガイド８Ａ，８Ｂ内に画定された収容部に収容され，プ
ローブ６の接触子６ａをコネクタ１０の端子部１０ａに
押し当てることができる。
るコンプライアンス機構の作動状態について図２を参照
しながら説明する。コネクタ１０が例えば正規の位置か
らＹ軸方向にδ１（＜δ２（ガイド部８１の面取り
量））だけずれて位置決めされて取付けられていたとす
る。この場合，プローブホルダ５は第２のバネ部材４
Ａ，４Ｂによって追従移動可能にジョイント部材３に取
付けられているので，Ｙ軸方向の案内機構であるコネク
タガイド８Ａ，８Ｂに形成された面取り量をδ２とする
ガイド部８１により，本治具が降下するにしたがってコ
ネクタ１０の両側端面がガイド部８１を滑りながらＹ軸
方向（図２に示す場合は左方向）に移動する。そして，
最終的に図２に示すようにプローブホルダ５とコネクタ
ガイド８Ａ，８Ｂ内に画定された収容部に収容され，プ
ローブ６の接触子６ａをコネクタ１０の端子部１０ａに
押し当てることができる。
【００１５】前記の場合は，Ｙ軸方向にコネクタ１０の
基板９への実装位置がずれている場合について説明した
が，コネクタ１０がＸ軸方向たる図２における紙面垂直
方向にずれている場合には，プローブホルダ５の前後側
に形成されたガイド部５１により，本治具が降下するに
したがってコネクタ１０の前後面がガイド部５１を滑り
ながらＸ軸方向に移動する。すなわち，ジョイント部材
３がＸ軸方向に追従移動してプローブホルダ５とコネク
タガイド８Ａ，８Ｂ内に画定された収容部にコネクタ１
０を収容させ，プローブ６の接触子６ａをコネクタ１０
の端子部１０ａに押し当てる。
基板９への実装位置がずれている場合について説明した
が，コネクタ１０がＸ軸方向たる図２における紙面垂直
方向にずれている場合には，プローブホルダ５の前後側
に形成されたガイド部５１により，本治具が降下するに
したがってコネクタ１０の前後面がガイド部５１を滑り
ながらＸ軸方向に移動する。すなわち，ジョイント部材
３がＸ軸方向に追従移動してプローブホルダ５とコネク
タガイド８Ａ，８Ｂ内に画定された収容部にコネクタ１
０を収容させ，プローブ６の接触子６ａをコネクタ１０
の端子部１０ａに押し当てる。
【００１６】なお，前記説明においては，プローブホル
ダ５とコネクタガイド８Ａ，８Ｂとを別体に構成した上
で一体的に接続するものとして説明したが，本発明はこ
れに限定されるものではなく，プローブホルダ５とコネ
クタガイド８Ａ，８Ｂとを一体的に成形しておくもので
も良い。すなわち，プローブホルダ５にコネクタガイド
８Ａ，８Ｂの機能をもたせるような形状構造にしておい
てもよいものである。
ダ５とコネクタガイド８Ａ，８Ｂとを別体に構成した上
で一体的に接続するものとして説明したが，本発明はこ
れに限定されるものではなく，プローブホルダ５とコネ
クタガイド８Ａ，８Ｂとを一体的に成形しておくもので
も良い。すなわち，プローブホルダ５にコネクタガイド
８Ａ，８Ｂの機能をもたせるような形状構造にしておい
てもよいものである。
【００１７】
【発明の効果】以上の説明の通り，本発明の治具によれ
ば，プローブを保持したプローブホルダがＸ軸方向，Ｙ
軸方向に移動可能に構成されており，かつ，検査時にコ
ネクタを保持するプローブホルダおよびコネクタガイド
にガイド部が形成されているので，コネクタの実装位置
がＸ軸方向およびＹ軸方向に多少ずれていても，治具を
単にＺ軸方向に降下させるだけで，プローブの接触子を
確実にコネクタの端子部に押し当てることができ，コネ
クタおよび該コネクタが装填された基板の電気的検査を
迅速かつ正確に行うことができる。また，本発明におい
ては，検査用治具を降下させるだけで，プローブの接触
子をコネクタの端子部に接触させることができるので，
コネクタの実装状態を確認しながら検査を行うことがで
きる。
ば，プローブを保持したプローブホルダがＸ軸方向，Ｙ
軸方向に移動可能に構成されており，かつ，検査時にコ
ネクタを保持するプローブホルダおよびコネクタガイド
にガイド部が形成されているので，コネクタの実装位置
がＸ軸方向およびＹ軸方向に多少ずれていても，治具を
単にＺ軸方向に降下させるだけで，プローブの接触子を
確実にコネクタの端子部に押し当てることができ，コネ
クタおよび該コネクタが装填された基板の電気的検査を
迅速かつ正確に行うことができる。また，本発明におい
ては，検査用治具を降下させるだけで，プローブの接触
子をコネクタの端子部に接触させることができるので，
コネクタの実装状態を確認しながら検査を行うことがで
きる。
【００１８】しかも，本発明の治具を用いると検査用パ
ッドを設ける必要がなくなり，コネクタの実装密度を向
上させることができる。
ッドを設ける必要がなくなり，コネクタの実装密度を向
上させることができる。
【００１９】さらに，本発明においては構成が極めて簡
単であるので，保守が容易で，かつ製作費用も安価とな
り，コストダウンの要請に応えることができる。
単であるので，保守が容易で，かつ製作費用も安価とな
り，コストダウンの要請に応えることができる。
【図１】本発明の一実施例におけるコネクタ検査用治具
を示した外観斜視図である。
を示した外観斜視図である。
【図２】本発明の一実施例におけるコネクタ検査用治具
を示した正面図である。
を示した正面図である。
１ ベース部材 ２Ａ，２Ｂ 第１の板バネ ３ ジョイント部材 ４Ａ，４Ｂ 第２の板バネ ５ プローブホルダ ６ プローブ ７ 電線 ８Ａ，８Ｂ コネクタガイド ９ 基板 １０ コネクタ
Claims (3)
- 【請求項１】 実装状態のコネクタの電気的な検査をす
るためのコネクタ検査用治具において，前記コネクタの
露出した端子部に接触するための互いに電気的に絶縁さ
れた複数の検査用接触子と，前記検査用接触子を前記端
子部に接触させるとともに前記検査用接触子と前記コネ
クタとの相対位置を案内する案内機構とを備えているこ
とを特徴とするコネクタ検査用治具。 - 【請求項２】 請求項１記載のコネクタ検査用治具にお
いて，搬送力を受けるベース部材と前記検査用接触子と
の間を２軸のコンプライアンス機構を介して接続したこ
とを特徴とするコネクタ検査用治具。 - 【請求項３】 請求項２記載のコネクタにおいて，前記
２軸のコンプライアンス機構の各々は互いに平行な２枚
の板バネを有していることを特徴とするコネクタ検査用
治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5257048A JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5257048A JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07111176A true JPH07111176A (ja) | 1995-04-25 |
| JP2678875B2 JP2678875B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=17301018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5257048A Expired - Lifetime JP2678875B2 (ja) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | コネクタ検査用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2678875B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0817547A (ja) * | 1994-06-30 | 1996-01-19 | Japan Aviation Electron Ind Ltd | スライダーロック治具 |
| JP2007048676A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 端子アライメント検査治具 |
| JP2009257895A (ja) * | 2008-04-16 | 2009-11-05 | Onishi Denshi Kk | 検査治具 |
| JP2010160012A (ja) * | 2009-01-07 | 2010-07-22 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | プローブ検査装置 |
| JP2012059427A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Yokowo Co Ltd | コネクタ接続用検査治具 |
| JP2014203718A (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | モレックス インコーポレイテドＭｏｌｅｘ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ | コネクタ嵌合装置、及び電子機器の検査方法 |
| WO2020129646A1 (ja) | 2018-12-21 | 2020-06-25 | 株式会社ヨコオ | 検査用治具支持具、支持具および検査用治具 |
| US12292478B2 (en) | 2021-08-25 | 2025-05-06 | Lg Energy Solution, Ltd. | Battery module inspection apparatus having positionally adjustable coupling portion |
Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
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| JPH02284370A (ja) * | 1989-04-25 | 1990-11-21 | Matsushita Electric Works Ltd | 電気機器のコネクタ構造 |
-
1993
- 1993-10-14 JP JP5257048A patent/JP2678875B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2007048676A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 端子アライメント検査治具 |
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