JPH07120401A - 透明物体内の気泡検出装置 - Google Patents
透明物体内の気泡検出装置Info
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- JPH07120401A JPH07120401A JP13833394A JP13833394A JPH07120401A JP H07120401 A JPH07120401 A JP H07120401A JP 13833394 A JP13833394 A JP 13833394A JP 13833394 A JP13833394 A JP 13833394A JP H07120401 A JPH07120401 A JP H07120401A
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- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 27
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 25
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 波長毎の色収差の発生による焦点距離の違い
を利用し、透明物体内の気泡の3次元的な分布を高速で
精度良く自動化により検査する。 【構成】 多波長光源1から出射された多波長の照射光
は色収差発生手段3により分散され、各々の波長毎に異
なる焦点距離で被検査物4の内部に集光する。被検査物
4の内部に気泡が存在すれば、その境界面で一部反射す
る。この反射光を光検出手段5で検出する。
を利用し、透明物体内の気泡の3次元的な分布を高速で
精度良く自動化により検査する。 【構成】 多波長光源1から出射された多波長の照射光
は色収差発生手段3により分散され、各々の波長毎に異
なる焦点距離で被検査物4の内部に集光する。被検査物
4の内部に気泡が存在すれば、その境界面で一部反射す
る。この反射光を光検出手段5で検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、透明物体内の気泡を検
出する装置に関する。
出する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、透明物体内の気泡を検出する装置
として、例えば特開平4−359106号公報に記載さ
れる発明がある。上記発明は、図10に示す様に、被検
査物91をTVカメラ92で撮像できる位置にXYZ移
動装置94により移動させ、被検査物91の表面に対し
て照明装置93で上部斜め方向から光を照射し、その反
射光をTVカメラ92にて撮像する。そして、得られた
画像信号を画像処理装置95に送り、その検査画像に対
して各種の処理を行うことで気泡を検出し、その結果を
出力モニタ96に表示するものである。
として、例えば特開平4−359106号公報に記載さ
れる発明がある。上記発明は、図10に示す様に、被検
査物91をTVカメラ92で撮像できる位置にXYZ移
動装置94により移動させ、被検査物91の表面に対し
て照明装置93で上部斜め方向から光を照射し、その反
射光をTVカメラ92にて撮像する。そして、得られた
画像信号を画像処理装置95に送り、その検査画像に対
して各種の処理を行うことで気泡を検出し、その結果を
出力モニタ96に表示するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、前記従来技
術においては、Z方向に分布する気泡を検出する場合、
XYZ移動装置94でTVカメラ92の光軸方向(Z方
向)に被検査物91を走査しなければならず、高速な検
出ができないという欠点があった。
術においては、Z方向に分布する気泡を検出する場合、
XYZ移動装置94でTVカメラ92の光軸方向(Z方
向)に被検査物91を走査しなければならず、高速な検
出ができないという欠点があった。
【0004】請求項1〜3の目的は、気泡の3次元分布
状態を高速で検出できる透明物体内の気泡検出装置を提
供することにある。
状態を高速で検出できる透明物体内の気泡検出装置を提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段および作用】請求項1記載
の発明は、複数の波長からなる照射光を出射する多波長
光源と、前記照射光の光軸上又は/及び軸外での焦点距
離が異なるように色収差を発生させて被検査物に照射す
る色収差発生手段と、前記被検査物内の気泡からの反射
光を検出する光検出手段とから構成したものである。
の発明は、複数の波長からなる照射光を出射する多波長
光源と、前記照射光の光軸上又は/及び軸外での焦点距
離が異なるように色収差を発生させて被検査物に照射す
る色収差発生手段と、前記被検査物内の気泡からの反射
光を検出する光検出手段とから構成したものである。
【0006】請求項2記載の発明は、複数の波長からな
る照射光を出射する多波長光源と、出射された照射光に
含まれる特定の波長を選択する波長選択手段と、照射光
の光軸上又は/及び軸外での焦点距離が異なるように色
収差を発生させて被検査物に照射する色収差発生手段
と、被検査物内の気泡からの反射光を検出する光検出手
段とから構成したものである。
る照射光を出射する多波長光源と、出射された照射光に
含まれる特定の波長を選択する波長選択手段と、照射光
の光軸上又は/及び軸外での焦点距離が異なるように色
収差を発生させて被検査物に照射する色収差発生手段
と、被検査物内の気泡からの反射光を検出する光検出手
段とから構成したものである。
【0007】請求項3記載の発明は、多波長光源と被検
査物との間に光偏向手段を配置したものである。
査物との間に光偏向手段を配置したものである。
【0008】図1および図2は本発明に係る気泡検出装
置の光学的原理を示す概念図である。被検査物4として
図2に示すような直方体の透明体を仮定し、その内部に
気泡aが存在するものとする。多波長光源1から出射さ
れた多波長の照射光は色収差発生手段3により分散さ
れ、各々の波長(例えば、λ1 ,λ2 )毎に異なる焦点
距離11 ,12 で集光する。この集光は被検査物4の少
なくとも内部において行われる様に設定する(図では内
部および裏面の下方に設定している)。
置の光学的原理を示す概念図である。被検査物4として
図2に示すような直方体の透明体を仮定し、その内部に
気泡aが存在するものとする。多波長光源1から出射さ
れた多波長の照射光は色収差発生手段3により分散さ
れ、各々の波長(例えば、λ1 ,λ2 )毎に異なる焦点
距離11 ,12 で集光する。この集光は被検査物4の少
なくとも内部において行われる様に設定する(図では内
部および裏面の下方に設定している)。
【0009】この場合、色収差発生手段3による各波長
の色収差量を予め求めておけば、波長選択手段により多
波長光源1からの照射光の波長を選択的に変化させるこ
とによって気泡の存在する位置を3次元的(図中、矢印
Zで示す深さ方向)に検査することができる。
の色収差量を予め求めておけば、波長選択手段により多
波長光源1からの照射光の波長を選択的に変化させるこ
とによって気泡の存在する位置を3次元的(図中、矢印
Zで示す深さ方向)に検査することができる。
【0010】被検査物4内の内部に気泡や異物等の混入
がなければ、被検査物4の表面あるいは裏面での反射光
以外はそのまま発散し、被検査物4の外部に抜けてしま
う。しかし、被検査物4の内部に気泡aが存在している
と、被検査物4と気泡a内の気体とでは屈折率が異なる
ため、その境界面で多波長の照射光は一部反射を生じ
る。この気泡aによって生じた反射光を光検出手段5で
検出する。この検出によって被検査物4内に気泡の存在
が確認される。
がなければ、被検査物4の表面あるいは裏面での反射光
以外はそのまま発散し、被検査物4の外部に抜けてしま
う。しかし、被検査物4の内部に気泡aが存在している
と、被検査物4と気泡a内の気体とでは屈折率が異なる
ため、その境界面で多波長の照射光は一部反射を生じ
る。この気泡aによって生じた反射光を光検出手段5で
検出する。この検出によって被検査物4内に気泡の存在
が確認される。
【0011】図3は光検出手段5での被検査物4内の1
個の気泡による特定の波長と反射光の分光強度との関係
を示すグラフである。光強度にピークが生ずる波長に対
応して、その集光点付近に気泡の存在することが確認さ
れる。また、気泡が複数個の場合には、各ピーク付近に
も各気泡のあることが予想されることになる。
個の気泡による特定の波長と反射光の分光強度との関係
を示すグラフである。光強度にピークが生ずる波長に対
応して、その集光点付近に気泡の存在することが確認さ
れる。また、気泡が複数個の場合には、各ピーク付近に
も各気泡のあることが予想されることになる。
【0012】請求項2記載の発明では、各波長毎に波長
選択手段(図1中、多波長光源1と被検査物4との間、
あるいは被検査物4と光検出手段5との間の光軸上に配
置する)で波長を選択することによって、図3に示す様
に、気泡の分布が波長毎の光強度分布として検出される
ことになり、Z方向に存在する気泡が1個か複数個かの
判別と気泡の深さの分布とがわかるようになる。
選択手段(図1中、多波長光源1と被検査物4との間、
あるいは被検査物4と光検出手段5との間の光軸上に配
置する)で波長を選択することによって、図3に示す様
に、気泡の分布が波長毎の光強度分布として検出される
ことになり、Z方向に存在する気泡が1個か複数個かの
判別と気泡の深さの分布とがわかるようになる。
【0013】請求項3記載の発明では、多波長光源1と
被検査物4との間に光偏向手段を配置し、被検査物4へ
の照射光を走査できるようにしたものである。すなわ
ち、光偏向手段を配置したことにより、被検査物4への
照射光の入射位置を変化させることができ、被検査物4
に対する測定範囲(Z方向だけでなくXY方向も含む)
を広げられる。
被検査物4との間に光偏向手段を配置し、被検査物4へ
の照射光を走査できるようにしたものである。すなわ
ち、光偏向手段を配置したことにより、被検査物4への
照射光の入射位置を変化させることができ、被検査物4
に対する測定範囲(Z方向だけでなくXY方向も含む)
を広げられる。
【0014】
【実施例1】図4〜図7は本実施例を示し、図4は概略
構成図、図5は回転フィルター板の斜視図、図6および
図7はグラフである。10はハロゲンランプやキセノン
ランプ等から成る白色光源で、この白色光源10から出
射された照射光31はコリメートレンズ11により平行
光束にされて回転フィルター板12に入射される。回転
フィルター板12は出射された照射光31の波長の中で
特定の波長のみを選択的に透過する複数の干渉フィルタ
ーλ1〜λ5 にて形成されている。誘電体多層膜を蒸着
した干渉フィルターを用いれば、半値幅10nm前後で
任意の波長のみを透過させることが可能である。そし
て、回転フィルター板12はモータ23で回転自在に保
持されており、モータ23はその回転を駆動するモータ
ドライバー22に接続されている。
構成図、図5は回転フィルター板の斜視図、図6および
図7はグラフである。10はハロゲンランプやキセノン
ランプ等から成る白色光源で、この白色光源10から出
射された照射光31はコリメートレンズ11により平行
光束にされて回転フィルター板12に入射される。回転
フィルター板12は出射された照射光31の波長の中で
特定の波長のみを選択的に透過する複数の干渉フィルタ
ーλ1〜λ5 にて形成されている。誘電体多層膜を蒸着
した干渉フィルターを用いれば、半値幅10nm前後で
任意の波長のみを透過させることが可能である。そし
て、回転フィルター板12はモータ23で回転自在に保
持されており、モータ23はその回転を駆動するモータ
ドライバー22に接続されている。
【0015】回転フィルター板12を透過した照射光3
1は、ハーフミラー13で反射されて色収差を発生させ
る色出しレンズ14に入射し、色出しレンズ14を透過
して被検査物4に入射する。照射光31は被検査物4の
内部に存在する気泡aによって反射され、その反射光3
2はハーフミラー13を透過して少なくとも異なる2つ
以上の波長について色収差を補正されたマクロマートや
アポクロマートのような集光レンズ15に入射され、光
センサー16の受光面に集光される。光センサー16は
ホトダイオードやホトトランジスタ等で形成されてお
り、気泡aによって反射された反射光32を電気信号に
変換する。
1は、ハーフミラー13で反射されて色収差を発生させ
る色出しレンズ14に入射し、色出しレンズ14を透過
して被検査物4に入射する。照射光31は被検査物4の
内部に存在する気泡aによって反射され、その反射光3
2はハーフミラー13を透過して少なくとも異なる2つ
以上の波長について色収差を補正されたマクロマートや
アポクロマートのような集光レンズ15に入射され、光
センサー16の受光面に集光される。光センサー16は
ホトダイオードやホトトランジスタ等で形成されてお
り、気泡aによって反射された反射光32を電気信号に
変換する。
【0016】光センサー16は、光センサー16の動作
を制御する光センサーコントローラ17に接続されてい
る。光センサーコントローラ17はI/F18に接続さ
れ、I/F18は装置全体の演算制御を行うMPU21
に接続されている。I/F18は、モータドライバー2
2および光センサコントローラ17とMPU21との間
で制御信号の入出力を行う。さらに、光センサー16
は、光センサー16からの電気信号をA/D変換するA
/D変換器19に接続されている。A/D変換器19は
測定データを記憶する記憶手段20に接続され、記憶手
段20はMPU21に接続されている。
を制御する光センサーコントローラ17に接続されてい
る。光センサーコントローラ17はI/F18に接続さ
れ、I/F18は装置全体の演算制御を行うMPU21
に接続されている。I/F18は、モータドライバー2
2および光センサコントローラ17とMPU21との間
で制御信号の入出力を行う。さらに、光センサー16
は、光センサー16からの電気信号をA/D変換するA
/D変換器19に接続されている。A/D変換器19は
測定データを記憶する記憶手段20に接続され、記憶手
段20はMPU21に接続されている。
【0017】以上の構成から成る装置は、白色光源10
から出射された照射光31がコリメートレンズ11によ
り平行光束にされる。そして、回転フィルター板12の
干渉フィルターにより選択されたある波長λ1 の照射光
がハーフミラー13で反射されて色出しレンズ14に入
射し、ある焦点距離l1 で焦点を結ぶ。もし、この焦点
位置に気泡aが存在すれば、照射光31の一部は反射さ
れる。この反射された反射光32は色出しレンズ14を
透過して集光レンズ15により光センサー16の受光面
上に集光し、電気信号に変換されて光強度値として検出
される。
から出射された照射光31がコリメートレンズ11によ
り平行光束にされる。そして、回転フィルター板12の
干渉フィルターにより選択されたある波長λ1 の照射光
がハーフミラー13で反射されて色出しレンズ14に入
射し、ある焦点距離l1 で焦点を結ぶ。もし、この焦点
位置に気泡aが存在すれば、照射光31の一部は反射さ
れる。この反射された反射光32は色出しレンズ14を
透過して集光レンズ15により光センサー16の受光面
上に集光し、電気信号に変換されて光強度値として検出
される。
【0018】ここで、回転フィルター板12をモータド
ライバー22で回転させて別の干渉フィルターに切換
え、波長λ2 の照射光31を透過させる。この照射光3
1は色出しレンズ14に入射して色収差により上記波長
λ1 の照射光31とは異なる焦点距離l2 で別の焦点位
置に焦点を結ぶ。もし、焦点距離l2 の位置で気泡が存
在すると、上記と同様に照射光31の一部は反射され、
光センサ16を介して光強度が検出される。この様に、
回転フィルター板12を回転させて照射光31の波長を
選択し、異なる焦点距離で焦点を結ばせることにより、
図3で示される様な複数のピーク値が得られ、Z方向に
存在する複数の気泡を検出する。
ライバー22で回転させて別の干渉フィルターに切換
え、波長λ2 の照射光31を透過させる。この照射光3
1は色出しレンズ14に入射して色収差により上記波長
λ1 の照射光31とは異なる焦点距離l2 で別の焦点位
置に焦点を結ぶ。もし、焦点距離l2 の位置で気泡が存
在すると、上記と同様に照射光31の一部は反射され、
光センサ16を介して光強度が検出される。この様に、
回転フィルター板12を回転させて照射光31の波長を
選択し、異なる焦点距離で焦点を結ばせることにより、
図3で示される様な複数のピーク値が得られ、Z方向に
存在する複数の気泡を検出する。
【0019】以上の一連の処理を高速で行うため、MP
U21はI/F(インターフェイス)18を介してモー
タドライバー22と光センサーコントローラ17とを制
御し、光センサー16からの電気信号をA/D変換器1
9で変換して記憶手段20にてデータとして取り込み、
演算処理を行って各波長毎の光強度値を求めることによ
り被検査物4のXY面上の所定位置でのZ方向の気泡の
検出を行う。
U21はI/F(インターフェイス)18を介してモー
タドライバー22と光センサーコントローラ17とを制
御し、光センサー16からの電気信号をA/D変換器1
9で変換して記憶手段20にてデータとして取り込み、
演算処理を行って各波長毎の光強度値を求めることによ
り被検査物4のXY面上の所定位置でのZ方向の気泡の
検出を行う。
【0020】本実施例によれば、被検査物の内部に存在
する気泡へ照射光を集光させて入射方向と同じ方向に反
射してくる反射光を検出することにより、反射効率が向
上し、検出感度が高くなる。また、回転フィルター板を
高速で回転させて干渉フィルターを切り換えることによ
り、Z方向に存在する気泡を高速に走査して検出するこ
とができる。
する気泡へ照射光を集光させて入射方向と同じ方向に反
射してくる反射光を検出することにより、反射効率が向
上し、検出感度が高くなる。また、回転フィルター板を
高速で回転させて干渉フィルターを切り換えることによ
り、Z方向に存在する気泡を高速に走査して検出するこ
とができる。
【0021】尚、白色光源10であるハロゲンランプ3
3やキセノンランプ34は図6に示す様な分光放射特性
を持っている。一方、ホトダイオードやホトトランジス
タ等の光センサ16は図7に示す様な分光感度特性を持
っている。従って、これらの分光特性データを記憶手段
20へ記憶しておき、光センサー16から出力される光
強度値に演算処理を行い、白色光源10および光センサ
ー16の分光特性の影響を補正すればさらに検出精度が
向上する。
3やキセノンランプ34は図6に示す様な分光放射特性
を持っている。一方、ホトダイオードやホトトランジス
タ等の光センサ16は図7に示す様な分光感度特性を持
っている。従って、これらの分光特性データを記憶手段
20へ記憶しておき、光センサー16から出力される光
強度値に演算処理を行い、白色光源10および光センサ
ー16の分光特性の影響を補正すればさらに検出精度が
向上する。
【0022】
【実施例2】図8は本実施例を示す概略構成図である。
本実施例は、前記実施例1と同一な構成部分に同一番号
を付してその説明を省略する。本実施例では、前記実施
例1における回転フィルター板12に代わりフィルター
12aで構成したものである。このフィルター12a
は、特定の範囲の波長λ(λ1 <λ<λ2 )のみを透過
させる広帯域バンドパスフィルターである。
本実施例は、前記実施例1と同一な構成部分に同一番号
を付してその説明を省略する。本実施例では、前記実施
例1における回転フィルター板12に代わりフィルター
12aで構成したものである。このフィルター12a
は、特定の範囲の波長λ(λ1 <λ<λ2 )のみを透過
させる広帯域バンドパスフィルターである。
【0023】上記構成の装置は、波長λ1 での色出しレ
ンズ14の焦点距離l1 、波長λ2での色出しレンズ1
4の焦点距離をl2 とすると、フィルター12aを透過
した波長λ(λ1 <λ<λ2 )の光は色出しレンズ14
により焦点距離l(l1 <l<l2 )で焦点を結ぶ。従
って、波長λ(λ1 <λ<λ2 )の光により、被検査物
4内のl1 <l<l2 の深さ範囲4aにある気泡のみを
選択的に検出できる。この場合、被検査物4の所定深さ
の範囲4a以外に気泡が存在しても、この被検査物4の
実用上の使用に障害が無い場合に有効な測定装置とな
る。
ンズ14の焦点距離l1 、波長λ2での色出しレンズ1
4の焦点距離をl2 とすると、フィルター12aを透過
した波長λ(λ1 <λ<λ2 )の光は色出しレンズ14
により焦点距離l(l1 <l<l2 )で焦点を結ぶ。従
って、波長λ(λ1 <λ<λ2 )の光により、被検査物
4内のl1 <l<l2 の深さ範囲4aにある気泡のみを
選択的に検出できる。この場合、被検査物4の所定深さ
の範囲4a以外に気泡が存在しても、この被検査物4の
実用上の使用に障害が無い場合に有効な測定装置とな
る。
【0024】本実施例によれば、フィルター12aに透
過波長帯域を持たせることにより、被検査物4内の特定
な範囲の気泡のみを選択的に検出できる。
過波長帯域を持たせることにより、被検査物4内の特定
な範囲の気泡のみを選択的に検出できる。
【0025】
【実施例3】図9は本実施例を示す概略構成図である。
本実施例は、前記実施例1における白色光源1と被検査
物4との間に周波数制御装置41が接続された音響光学
素子40を配置して構成した点が異なり、他の構成は同
一な構成部分からなるもので、同一構成部分には同一番
号を付し、構成の説明を省略する。
本実施例は、前記実施例1における白色光源1と被検査
物4との間に周波数制御装置41が接続された音響光学
素子40を配置して構成した点が異なり、他の構成は同
一な構成部分からなるもので、同一構成部分には同一番
号を付し、構成の説明を省略する。
【0026】上記構成の装置は、白色光源10から出射
された照射光31がコリメートレンズ11により平行光
束にされ、回転フィルター板12を透過し、光偏向手段
である音響光学素子40に入射される。音響光学素子4
0を通過する際に射出方向が偏向され、ハーフミラー1
3を透過して被検査物4に入射する。照射光31aは被
検査物4の内部に存在する気泡aによって反射され、そ
の反射光32aはハーフミラー13を透過して十分に色
消しをされた集光レンズ15に入射し、光検出手段であ
るCCDカメラ16aの受光面上の点a’に結像する。
された照射光31がコリメートレンズ11により平行光
束にされ、回転フィルター板12を透過し、光偏向手段
である音響光学素子40に入射される。音響光学素子4
0を通過する際に射出方向が偏向され、ハーフミラー1
3を透過して被検査物4に入射する。照射光31aは被
検査物4の内部に存在する気泡aによって反射され、そ
の反射光32aはハーフミラー13を透過して十分に色
消しをされた集光レンズ15に入射し、光検出手段であ
るCCDカメラ16aの受光面上の点a’に結像する。
【0027】音響光学素子40は、透明媒質中の音波に
よって生ずる屈折率の空間的周期変化により、入射光を
1方向に回折して偏向させるものである。この音響光学
素子40に加える音波の周波数を変化させることによ
り、出射光の偏向方向を変化させることができる。
よって生ずる屈折率の空間的周期変化により、入射光を
1方向に回折して偏向させるものである。この音響光学
素子40に加える音波の周波数を変化させることによ
り、出射光の偏向方向を変化させることができる。
【0028】音響光学素子40に加える音波を変化させ
てその出射光31bを図9中のx方向に偏向させ、色出
しレンズ14によりその光軸外の1点に集光させる。こ
の集光点に被検査物4内の気泡bが存在すれば、その反
射光32bはハーフミラー13で反射され、集光レンズ
15によりその光軸外でCCDカメラ16aの受光面上
の点b’に結像する。
てその出射光31bを図9中のx方向に偏向させ、色出
しレンズ14によりその光軸外の1点に集光させる。こ
の集光点に被検査物4内の気泡bが存在すれば、その反
射光32bはハーフミラー13で反射され、集光レンズ
15によりその光軸外でCCDカメラ16aの受光面上
の点b’に結像する。
【0029】従って、被検査物4を色出しレンズ14の
光軸に対してXY面上で動かす場合、あるいは被検査物
4と色出しレンズ14とを固定するとともに照射光31
の光路を被検査物4の表面上でXY方向に動かすよう
に、回転するポリゴンミラーを使ったり、水平移動する
断面3角形状のプリズムによって光路を偏光させる等の
機械的な駆動手段を用いることなく、被検査物4への照
射光31を走査できる。
光軸に対してXY面上で動かす場合、あるいは被検査物
4と色出しレンズ14とを固定するとともに照射光31
の光路を被検査物4の表面上でXY方向に動かすよう
に、回転するポリゴンミラーを使ったり、水平移動する
断面3角形状のプリズムによって光路を偏光させる等の
機械的な駆動手段を用いることなく、被検査物4への照
射光31を走査できる。
【0030】本実施例によれば、被検査物を機械的な駆
動手段を用いることなく、Z方向およびx方向にスキャ
ンすることができ、高速な気泡検出ができる。また、偏
向方向の異なる音響光学素子を直列に配置することによ
りy方向にも光束をスキャンすることができ、さらに高
速で被検査物内の気泡の3次元的な分布を検出できる。
動手段を用いることなく、Z方向およびx方向にスキャ
ンすることができ、高速な気泡検出ができる。また、偏
向方向の異なる音響光学素子を直列に配置することによ
りy方向にも光束をスキャンすることができ、さらに高
速で被検査物内の気泡の3次元的な分布を検出できる。
【0031】
【発明の効果】請求項1〜3に係わる発明の効果は、波
長毎の色収差の発生による焦点距離の違いを利用し、透
明物体内に存在する気泡の3次元的な分布を高速で精度
良く検査することができるため、検査の自動化が図れ
る。
長毎の色収差の発生による焦点距離の違いを利用し、透
明物体内に存在する気泡の3次元的な分布を高速で精度
良く検査することができるため、検査の自動化が図れ
る。
【図1】本発明を示す概念図である。
【図2】本発明を示す概念図である。
【図3】本発明を示すグラフである。
【図4】実施例1を示す概略構成図である。
【図5】実施例1を示す斜視図である。
【図6】実施例1を示すグラフである。
【図7】実施例1を示すグラフである。
【図8】実施例2を示す概略構成図である。
【図9】実施例3を示す概略構成図である。
【図10】従来例を示す概略構成図である。
1 多波長光源 3 色収差発生手段 4 被検査物 5 光検出手段
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の波長からなる照射光を出射する多
波長光源と、前記照射光の光軸上又は/及び軸外での焦
点距離が異なるように色収差を発生させて被検査物に照
射する色収差発生手段と、前記被検査物内の気泡からの
反射光を検出する光検出手段とから構成したことを特徴
とする透明物体内の気泡検出装置。 - 【請求項2】 複数の波長からなる照射光を出射する多
波長光源と、出射された前記照射光に含まれる特定波長
の光を選択する波長選択手段と、前記照射光の光軸上又
は/及び軸外での焦点距離が異なるように色収差を発生
させて被検査物に照射する色収差発生手段と、前記被検
査物内の気泡からの反射光を検出する光検出手段とから
構成したことを特徴とする透明物体内の気泡検出装置。 - 【請求項3】 前記多波長光源と被検査物との間に光偏
向手段を配置したことを特徴とする請求項1又は2記載
の透明物体内の気泡検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13833394A JPH07120401A (ja) | 1993-09-03 | 1994-05-27 | 透明物体内の気泡検出装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-243757 | 1993-09-03 | ||
| JP24375793 | 1993-09-03 | ||
| JP13833394A JPH07120401A (ja) | 1993-09-03 | 1994-05-27 | 透明物体内の気泡検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07120401A true JPH07120401A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=26471391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13833394A Withdrawn JPH07120401A (ja) | 1993-09-03 | 1994-05-27 | 透明物体内の気泡検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07120401A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011503530A (ja) * | 2007-10-22 | 2011-01-27 | ヴィジョンゲイト,インコーポレーテッド | 光トモグラフィに対する被写界深度拡大 |
| KR101589447B1 (ko) * | 2015-03-13 | 2016-01-28 | 주식회사 이신우 | 기체 공급량 감지조절장치 및 이에 의한 감지조절방법 |
| EP3322975A4 (en) * | 2015-07-14 | 2019-03-13 | Synergx Technologies Inc. | OPTICAL INSPECTION SYSTEM FOR TRANSPARENT MATERIAL |
| CN109476079A (zh) * | 2016-07-20 | 2019-03-15 | 瓦克化学股份公司 | 3d打印机和用于制造物体的方法 |
| CN113658882A (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-16 | 颜鸿任 | 基于光干涉断层的半导体封装封胶内气泡瑕疵成像方法 |
-
1994
- 1994-05-27 JP JP13833394A patent/JPH07120401A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011503530A (ja) * | 2007-10-22 | 2011-01-27 | ヴィジョンゲイト,インコーポレーテッド | 光トモグラフィに対する被写界深度拡大 |
| KR101589447B1 (ko) * | 2015-03-13 | 2016-01-28 | 주식회사 이신우 | 기체 공급량 감지조절장치 및 이에 의한 감지조절방법 |
| EP3322975A4 (en) * | 2015-07-14 | 2019-03-13 | Synergx Technologies Inc. | OPTICAL INSPECTION SYSTEM FOR TRANSPARENT MATERIAL |
| CN109476079A (zh) * | 2016-07-20 | 2019-03-15 | 瓦克化学股份公司 | 3d打印机和用于制造物体的方法 |
| CN109476079B (zh) * | 2016-07-20 | 2021-04-06 | 瓦克化学股份公司 | 3d打印机和用于制造物体的方法 |
| CN113658882A (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-16 | 颜鸿任 | 基于光干涉断层的半导体封装封胶内气泡瑕疵成像方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010731 |