JPH07122467A - 電気二重層コンデンサ - Google Patents
電気二重層コンデンサInfo
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- JPH07122467A JPH07122467A JP5291444A JP29144493A JPH07122467A JP H07122467 A JPH07122467 A JP H07122467A JP 5291444 A JP5291444 A JP 5291444A JP 29144493 A JP29144493 A JP 29144493A JP H07122467 A JPH07122467 A JP H07122467A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
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- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/30—Electrodes characterised by their material
- H01G11/32—Carbon-based
- H01G11/34—Carbon-based characterised by carbonisation or activation of carbon
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 第４級アンモニウム塩または第４級ホスホニ
ウム塩を溶質とした電解液を用いた巻回型の電気二重層
コンデンサにおいて、液漏れを防止すること。 【構成】 ゴム封口体４としてブチルゴムを樹脂加硫も
しくはパーオキサイド加硫し、その硬度が６０〜９０
（ウォーレス硬度計による）の範囲のものを用いる。
ウム塩を溶質とした電解液を用いた巻回型の電気二重層
コンデンサにおいて、液漏れを防止すること。 【構成】 ゴム封口体４としてブチルゴムを樹脂加硫も
しくはパーオキサイド加硫し、その硬度が６０〜９０
（ウォーレス硬度計による）の範囲のものを用いる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電気二重層コンデンサに
関し、さらに詳しく言えば、巻回型電気二重層コンデン
サの封口部分の改良に関するものである。
関し、さらに詳しく言えば、巻回型電気二重層コンデン
サの封口部分の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】巻回型電気二重層コンデンサは、アルミ
ニウムエッチング箔などの集電体に活性炭およびカーボ
ンブラックなどを主体とする分極性電極を付着した電極
体の一対をセパレータ紙を介して巻回したコンデンサ素
子を有し、同コンデンサ素子に電解液を含浸させた後、
ゴム封口体とともにアルミニウム製外装ケース内に組み
込み、同外装ケースの開口部を封止することにより製造
される。
ニウムエッチング箔などの集電体に活性炭およびカーボ
ンブラックなどを主体とする分極性電極を付着した電極
体の一対をセパレータ紙を介して巻回したコンデンサ素
子を有し、同コンデンサ素子に電解液を含浸させた後、
ゴム封口体とともにアルミニウム製外装ケース内に組み
込み、同外装ケースの開口部を封止することにより製造
される。
【０００３】この場合、図１に例示されているように、
陽極側および陰極側の各集電体１，２には、それぞれ引
出端子としてのタブ端子３がカシメやコールドウェルド
法などにて固着され、ゴム封口体４の透孔４ａを通して
外部に引き出されている。
陽極側および陰極側の各集電体１，２には、それぞれ引
出端子としてのタブ端子３がカシメやコールドウェルド
法などにて固着され、ゴム封口体４の透孔４ａを通して
外部に引き出されている。
【０００４】なお、タブ端子３はアルミニウムの丸棒部
３ａと、同丸棒部３ａの一部分を偏平に加工した平坦部
３ｂと、丸棒部３ａに溶接された引出線３ｃとからな
る。一般に、引出線３ｃにはＣＰ線（銅被覆鋼線）が用
いられるが、さらにその表面に半田メッキや錫メッキが
施されることもある。
３ａと、同丸棒部３ａの一部分を偏平に加工した平坦部
３ｂと、丸棒部３ａに溶接された引出線３ｃとからな
る。一般に、引出線３ｃにはＣＰ線（銅被覆鋼線）が用
いられるが、さらにその表面に半田メッキや錫メッキが
施されることもある。
【０００５】電解液について説明すると、近年において
はコンデンサの特性を向上させるために、高電導化のも
のや高温での使用下において安定性を有するものが使用
されている。
はコンデンサの特性を向上させるために、高電導化のも
のや高温での使用下において安定性を有するものが使用
されている。
【０００６】例えば、γ−ブチロラクトン、プロピレン
カーボネート、エチレンカーボネード、ジメトキシエタ
ン、アセトニトリルなどの単一もしくは混合溶媒中に第
４級アンモニウム塩もしくは第４級ホスホニウム塩を溶
質として溶解したものが電解液として使用されている。
カーボネート、エチレンカーボネード、ジメトキシエタ
ン、アセトニトリルなどの単一もしくは混合溶媒中に第
４級アンモニウム塩もしくは第４級ホスホニウム塩を溶
質として溶解したものが電解液として使用されている。
【０００７】溶質例として、カチオン種は（Ｃ２Ｈ５）
４Ｐ＋、（Ｃ２Ｈ５）３ＣＨ３Ｐ＋、（Ｃ３Ｈ７）４Ｐ
＋、（Ｃ２Ｈ５）４Ｎ＋、（Ｃ２Ｈ５）３ＣＨ３Ｎ＋、
アニオン種はＢＦ４ −、ＰＦ４ −、ＣＦ３ＳＯ３ −、Ｃ
ｌＯ４ −などである。
４Ｐ＋、（Ｃ２Ｈ５）３ＣＨ３Ｐ＋、（Ｃ３Ｈ７）４Ｐ
＋、（Ｃ２Ｈ５）４Ｎ＋、（Ｃ２Ｈ５）３ＣＨ３Ｎ＋、
アニオン種はＢＦ４ −、ＰＦ４ −、ＣＦ３ＳＯ３ −、Ｃ
ｌＯ４ −などである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た第４級アンモニウム塩や第４級ホスホニウム塩を溶質
としたこの種の電解液は、低粘度で、かつ、活性である
ため、ゴム封口体とタブ端子の丸棒部との間の微小な隙
間からでも漏液してしまうという問題があった。
た第４級アンモニウム塩や第４級ホスホニウム塩を溶質
としたこの種の電解液は、低粘度で、かつ、活性である
ため、ゴム封口体とタブ端子の丸棒部との間の微小な隙
間からでも漏液してしまうという問題があった。
【０００９】特に、陰極側に固着されたタブ端子の近傍
においては、電場が印加されることにより、電解液のｐ
Ｈが強アルカリとなり、これによりタブ端子の丸棒部が
腐蝕され、また、ゴム封口体が膨潤され、高温での寿命
試験において漏液が発生するという不良が多発してい
た。
においては、電場が印加されることにより、電解液のｐ
Ｈが強アルカリとなり、これによりタブ端子の丸棒部が
腐蝕され、また、ゴム封口体が膨潤され、高温での寿命
試験において漏液が発生するという不良が多発してい
た。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は上記した課題を
解決するためになされたもので、その構成上の特徴は、
タブ端子が固着された集電体に活性炭およびカーボンブ
ラックなどを主体とする分極性電極を付着させてなる電
極体の一対をセパレータ紙を介して巻回したコンデンサ
素子を有し、同コンデンサ素子に第４級アンモニウム塩
または第４級ホスホニウム塩を溶質とした駆動用電解液
を含浸させ、ゴム封口体とともに外装ケース内に収納し
た電気二重層コンデンサにおいて、上記ゴム封口体がブ
チルゴムを樹脂加硫もしくはパーオキサイド加硫したも
のからなり、そのウォーレス硬度計による硬度が６０〜
９０、好ましくは６５〜８５としたことにある。
解決するためになされたもので、その構成上の特徴は、
タブ端子が固着された集電体に活性炭およびカーボンブ
ラックなどを主体とする分極性電極を付着させてなる電
極体の一対をセパレータ紙を介して巻回したコンデンサ
素子を有し、同コンデンサ素子に第４級アンモニウム塩
または第４級ホスホニウム塩を溶質とした駆動用電解液
を含浸させ、ゴム封口体とともに外装ケース内に収納し
た電気二重層コンデンサにおいて、上記ゴム封口体がブ
チルゴムを樹脂加硫もしくはパーオキサイド加硫したも
のからなり、そのウォーレス硬度計による硬度が６０〜
９０、好ましくは６５〜８５としたことにある。
【００１１】本発明においては、さらに少なくとも陰極
側の集電体に固着された上記タブ端子に、酸化性を有す
る化学的薬剤による化学的酸化または電解酸化により形
成される化成皮膜を設けることが好ましい。
側の集電体に固着された上記タブ端子に、酸化性を有す
る化学的薬剤による化学的酸化または電解酸化により形
成される化成皮膜を設けることが好ましい。
【００１２】本発明に係るゴム封口体において、ゴムの
圧縮永久歪は５０％以下が好ましく、特に好ましくは２
５％以下のゴムが採用される。
圧縮永久歪は５０％以下が好ましく、特に好ましくは２
５％以下のゴムが採用される。
【００１３】圧縮永久歪の測定法を次に例示する。直径
１６ｍｍ、厚さ２．００ｍｍのゴム円板を５枚重ね、そ
の厚み（ｔ０）を測定する。５枚のゴム円板を金属板で
挟み、厚さ７．５ｍｍ（ｔ２）に圧縮し、１１５℃で７
０時間放置した後に金属板を除去し、開放後のゴム円板
の厚み（ｔ）を実測する。圧縮永久歪は（１）式によっ
て示される。
１６ｍｍ、厚さ２．００ｍｍのゴム円板を５枚重ね、そ
の厚み（ｔ０）を測定する。５枚のゴム円板を金属板で
挟み、厚さ７．５ｍｍ（ｔ２）に圧縮し、１１５℃で７
０時間放置した後に金属板を除去し、開放後のゴム円板
の厚み（ｔ）を実測する。圧縮永久歪は（１）式によっ
て示される。
【００１４】 圧縮永久歪（％）＝｛（ｔ０−ｔ）／（ｔ０−ｔ２）｝×１００…（１） ＝｛（１０．００−ｔ）／（１０．００−７．５０）｝×１００。
【００１５】本発明において、ゴムに配合するフィラー
としてカーボンの他に、ジルコニア、アルミナ、シリ
カ、シリカアルミナまたはそれらの焼成体などが耐アル
カリの見地から適宜用いられる。なお、ＺｎＯ、ＰｂＯ
などの重金属はアルカリに溶解し易いので好ましくな
い。
としてカーボンの他に、ジルコニア、アルミナ、シリ
カ、シリカアルミナまたはそれらの焼成体などが耐アル
カリの見地から適宜用いられる。なお、ＺｎＯ、ＰｂＯ
などの重金属はアルカリに溶解し易いので好ましくな
い。
【００１６】タブ端子を化学的酸化で化成処理するため
の化成液としては、酸化性を有する化学的薬剤のうち一
種以上を混合した水溶液、もしくはアルコール溶液を使
用することが好ましい。さらに好ましくは、酸化性を有
する化学的薬剤のうち一種以上と、リンを含有した化合
物類を一種以上混合した水溶液、もしくはアルコール溶
液を使用するのが良いが、これに限定されるものではな
い。
の化成液としては、酸化性を有する化学的薬剤のうち一
種以上を混合した水溶液、もしくはアルコール溶液を使
用することが好ましい。さらに好ましくは、酸化性を有
する化学的薬剤のうち一種以上と、リンを含有した化合
物類を一種以上混合した水溶液、もしくはアルコール溶
液を使用するのが良いが、これに限定されるものではな
い。
【００１７】タブ端子の電解酸化の場合には、タブ端子
をアジピン酸系水溶液や硼酸系水溶液などの電解液にて
陽極酸化処理を行なうのが好ましい。
をアジピン酸系水溶液や硼酸系水溶液などの電解液にて
陽極酸化処理を行なうのが好ましい。
【００１８】本発明において、上記ゴム封口体と上記タ
ブ端子とを併用するのが好ましい。なお、化成皮膜はタ
ブ端子の少なくとも丸棒部に形成されれば良いが、場合
によっては、平坦部にも形成しても良い。
ブ端子とを併用するのが好ましい。なお、化成皮膜はタ
ブ端子の少なくとも丸棒部に形成されれば良いが、場合
によっては、平坦部にも形成しても良い。
【００１９】また、製品中の電解液中の水分量は５００
ｐｐｍ以下が好ましい。これは電圧印加により電解液の
水分が電気分解し水素が発生する。これにより、電解液
の耐圧が下がると同時に、内圧が上昇し製品の封止性を
損ねるとともに、電解液の蒸散が速められ、製品の寿命
が短くなるためである。
ｐｐｍ以下が好ましい。これは電圧印加により電解液の
水分が電気分解し水素が発生する。これにより、電解液
の耐圧が下がると同時に、内圧が上昇し製品の封止性を
損ねるとともに、電解液の蒸散が速められ、製品の寿命
が短くなるためである。
【００２０】
【作用】ブチルゴムを樹脂加硫もしくはパーオキサイド
加硫することにより、電解液の透過飛散量が小さく気密
性に優れるとともに、耐アルカリ性も改善される。な
お、硬度を上記の範囲とすることにより、例えばパーツ
フィーダで搬送する際に静電気が帯びにくくなり、部品
の流れ工程がよりスムースとなり生産効率が向上する。
また、タブ端子に化成皮膜を形成することにより、耐ア
ルカリ性が良好となる。
加硫することにより、電解液の透過飛散量が小さく気密
性に優れるとともに、耐アルカリ性も改善される。な
お、硬度を上記の範囲とすることにより、例えばパーツ
フィーダで搬送する際に静電気が帯びにくくなり、部品
の流れ工程がよりスムースとなり生産効率が向上する。
また、タブ端子に化成皮膜を形成することにより、耐ア
ルカリ性が良好となる。
【００２１】
【実施例】エッチング処理した厚さ４０μｍ、幅１３ｍ
ｍ、長さ６０ｍｍのアルミニウム箔（集電体）の表面
に、活性炭を主体とし、アセチレンブラックとバインダ
ー（ＰＴＦＥ；ポリテトラフルオロエチレン）とを６：
３：１の割合で混練した炭素膜（分極性電極）を厚さ１
００μｍとして付着させて炭素電極とし、この炭素電極
の一対を厚さ６０μｍのセパレータ紙を挟んで巻回して
コンデンサ素子を形成し、同コンデンサ素子にＥｔ４Ｎ
ＢＦ４（テトラエチルアンモニウムテトラフルオロボレ
ート）／ＰＣ（プロピレンカーボネイト）が１ｍｏｌ／
ｌ（リットル）からなる電解液を含浸させて、定格２．
５Ｖ１．０Ｆ、直径８ｍｍ、軸長２０ｍｍの巻回型電気
二重層コンデンサを作製するにあたり、ゴム封口体と、
タブ端子として以下のものを用いた。
ｍ、長さ６０ｍｍのアルミニウム箔（集電体）の表面
に、活性炭を主体とし、アセチレンブラックとバインダ
ー（ＰＴＦＥ；ポリテトラフルオロエチレン）とを６：
３：１の割合で混練した炭素膜（分極性電極）を厚さ１
００μｍとして付着させて炭素電極とし、この炭素電極
の一対を厚さ６０μｍのセパレータ紙を挟んで巻回して
コンデンサ素子を形成し、同コンデンサ素子にＥｔ４Ｎ
ＢＦ４（テトラエチルアンモニウムテトラフルオロボレ
ート）／ＰＣ（プロピレンカーボネイト）が１ｍｏｌ／
ｌ（リットル）からなる電解液を含浸させて、定格２．
５Ｖ１．０Ｆ、直径８ｍｍ、軸長２０ｍｍの巻回型電気
二重層コンデンサを作製するにあたり、ゴム封口体と、
タブ端子として以下のものを用いた。
【００２２】なお、寸法について説明すると、ゴム封口
体の直径７．４ｍｍ、厚さ４．０ｍｍ、透孔（端子挿通
孔）１．２ｍｍとし、また、タブ端子としては図１のよ
うな形状で、丸棒部の直径１．３ｍｍ、同長さ２．４ｍ
ｍ、平坦部の幅１．５ｍｍ、同厚さ０．２５ｍｍ、同長
さ１０ｍｍとした。
体の直径７．４ｍｍ、厚さ４．０ｍｍ、透孔（端子挿通
孔）１．２ｍｍとし、また、タブ端子としては図１のよ
うな形状で、丸棒部の直径１．３ｍｍ、同長さ２．４ｍ
ｍ、平坦部の幅１．５ｍｍ、同厚さ０．２５ｍｍ、同長
さ１０ｍｍとした。
【００２３】《実施例１》ゴム封口体として、カーボン
とシリカアルミナの焼結微粉末をフィラーとしたブチル
ゴムをパーオキサイド加硫したウォーレス硬度が７５の
ものを用いた。タブ端子は未化成とした。
とシリカアルミナの焼結微粉末をフィラーとしたブチル
ゴムをパーオキサイド加硫したウォーレス硬度が７５の
ものを用いた。タブ端子は未化成とした。
【００２４】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、定格電圧
２．５Ｖを印加し、７０℃、２０００時間の高温負荷試
験を行なったところ、重量変化は−２．４ｍｇ（平均
値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、定格電圧
２．５Ｖを印加し、７０℃、２０００時間の高温負荷試
験を行なったところ、重量変化は−２．４ｍｇ（平均
値）、液漏れ数は０個であった。
【００２５】次に、ここで使用したブチルゴムと同ロッ
トのゴムを２ｍｍ厚のシート状に成型し、直径１６ｍｍ
に打ち抜き、５枚重ねたものを２５％（７．５０ｍｍ）
圧縮変形し、１１５℃で７０時間保持した後に開放し、
圧縮永久歪を測定したところ、１０％であった。
トのゴムを２ｍｍ厚のシート状に成型し、直径１６ｍｍ
に打ち抜き、５枚重ねたものを２５％（７．５０ｍｍ）
圧縮変形し、１１５℃で７０時間保持した後に開放し、
圧縮永久歪を測定したところ、１０％であった。
【００２６】なお、高温負荷試験前の電気二重層コンデ
ンサを解体し、電解液中の水分をカールフィッシャー法
で測定したところ、１８０ｐｐｍであった。
ンサを解体し、電解液中の水分をカールフィッシャー法
で測定したところ、１８０ｐｐｍであった。
【００２７】《実施例２》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムをパーオキサイ
ド加硫したウォーレス硬度が８０のものを用いた。そし
て、タブ端子には次のようにして化学的に化成皮膜を形
成した。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムをパーオキサイ
ド加硫したウォーレス硬度が８０のものを用いた。そし
て、タブ端子には次のようにして化学的に化成皮膜を形
成した。
【００２８】すなわち、リン酸０．５重量％およびクロ
ム酸カリウム０．５重量％からなる水溶液を沸騰させた
ものを反応浴とし、この反応浴中にタブ端子を浸漬して
１０分間化成処理し、丸棒部と平坦部に化成皮膜を形成
した。
ム酸カリウム０．５重量％からなる水溶液を沸騰させた
ものを反応浴とし、この反応浴中にタブ端子を浸漬して
１０分間化成処理し、丸棒部と平坦部に化成皮膜を形成
した。
【００２９】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．５ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．５ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００３０】《実施例３》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムをパーオキサイ
ド加硫したウォーレス硬度が８２のものを用いた。そし
て、タブ端子には次のようにして電気化学的に化成皮膜
を形成した。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムをパーオキサイ
ド加硫したウォーレス硬度が８２のものを用いた。そし
て、タブ端子には次のようにして電気化学的に化成皮膜
を形成した。
【００３１】アジピン酸アンモニウム５重量％の水溶液
を液温５０℃に維持し、この化成浴中にタブ端子の平坦
部と丸棒部とを浸漬し、引出線を陽極とし、化成浴中に
対極を配置して電流密度１０ｍＡ／ｃｍ２、電圧１５０
Ｖを２時間印加し、陽極酸化処理した。
を液温５０℃に維持し、この化成浴中にタブ端子の平坦
部と丸棒部とを浸漬し、引出線を陽極とし、化成浴中に
対極を配置して電流密度１０ｍＡ／ｃｍ２、電圧１５０
Ｖを２時間印加し、陽極酸化処理した。
【００３２】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．８ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．８ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００３３】《実施例４》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７８のものを用いた。タブ端子は未化
成とした。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７８のものを用いた。タブ端子は未化
成とした。
【００３４】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．５ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．５ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００３５】《実施例５》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７６のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７６のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
【００３６】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．６ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．６ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００３７】《実施例６》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７５のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例３と同様にして電気化学的に化成皮膜を形
成した。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が７５のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例３と同様にして電気化学的に化成皮膜を形
成した。
【００３８】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．８ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
１．８ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００３９】《実施例７》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が６０のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が６０のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
【００４０】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．２ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．２ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００４１】《実施例８》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が８９のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が８９のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
【００４２】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．１ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．１ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００４３】《実施例９》ゴム封口体として、実施例１
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が６８のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫した
ウォーレス硬度が６８のものを用いた。そして、タブ端
子には実施例２と同様にして化学的に化成皮膜を形成し
た。
【００４４】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．３ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．３ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００４５】《実施例１０》ゴム封口体として、実施例
１と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫し
たウォーレス硬度が７２のものを用いた。そして、タブ
端子には実施例３と同様にして電気化学的に化成皮膜を
形成した。
１と同様のフィラーを含有するブチルゴムを樹脂加硫し
たウォーレス硬度が７２のものを用いた。そして、タブ
端子には実施例３と同様にして電気化学的に化成皮膜を
形成した。
【００４６】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．４ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
２．４ｍｇ（平均値）、液漏れ数は０個であった。
【００４７】〈従来例１〉ゴム封口体として、カーボ
ン、酸化亜鉛およびシリカ粉末をフィラーとしたブチル
ゴムをイオウ加硫したウォーレス硬度が７０のものを用
いた。タブ端子は未化成とした。
ン、酸化亜鉛およびシリカ粉末をフィラーとしたブチル
ゴムをイオウ加硫したウォーレス硬度が７０のものを用
いた。タブ端子は未化成とした。
【００４８】このゴム封口体およびタブ端子を適用した
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
６．２ｍｇ（平均値）、液漏れ数は３個であった。次
に、実施例１と同じ方法でゴムの圧縮永久歪を測定した
ところ、９０％であった。
上記電気二重層コンデンサ２００個について、実施例１
と同様の高温負荷試験を行なったところ、重量変化は−
６．２ｍｇ（平均値）、液漏れ数は３個であった。次
に、実施例１と同じ方法でゴムの圧縮永久歪を測定した
ところ、９０％であった。
【００４９】比較を容易にするため、上記実施例１〜１
０および従来例１の試験結果を表１に示すが、本発明に
よれば電解液の液漏れ量が大幅に減り、それに伴って液
漏れ不良をほぼ「０」にすることができた。
０および従来例１の試験結果を表１に示すが、本発明に
よれば電解液の液漏れ量が大幅に減り、それに伴って液
漏れ不良をほぼ「０」にすることができた。
【００５０】
【表１】
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ゴム封口体としてブチルゴムを樹脂加硫もしくはパーオ
キサイド加硫したものからなり、その硬度を６０〜９０
（ウォーレス硬度計による）の範囲としたことにより、
さらにはタブ端子に酸化性を有する化学的薬剤による化
学的酸化または電解酸化により形成される化成皮膜を設
けることにより、第４級アンモニウム塩や第４級ホスホ
ニウム塩を溶質とした電解液を用いた巻回型電気二重層
コンデンサにおいて、漏液の発生を防止することができ
る。
ゴム封口体としてブチルゴムを樹脂加硫もしくはパーオ
キサイド加硫したものからなり、その硬度を６０〜９０
（ウォーレス硬度計による）の範囲としたことにより、
さらにはタブ端子に酸化性を有する化学的薬剤による化
学的酸化または電解酸化により形成される化成皮膜を設
けることにより、第４級アンモニウム塩や第４級ホスホ
ニウム塩を溶質とした電解液を用いた巻回型電気二重層
コンデンサにおいて、漏液の発生を防止することができ
る。
【図１】ゴム封口体とタブ端子とを示した模式図。
１，２ 集電体 ３ タブ端子 ３ａ 丸棒部 ３ｂ 平坦部 ４ ゴム封口体 ４ａ 透孔
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｃ (72)発明者 数原 学 神奈川県藤沢市辻堂新町２丁目２番１号 エルナー株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 タブ端子が固着された集電体に活性炭お
よびカーボンブラックなどを主体とする分極性電極を付
着させてなる電極体の一対をセパレータ紙を介して巻回
したコンデンサ素子を有し、同コンデンサ素子に第４級
アンモニウム塩または第４級ホスホニウム塩を溶質とし
た電解液を含浸させ、ゴム封口体とともに外装ケース内
に収納した電気二重層コンデンサにおいて、上記ゴム封
口体はブチルゴムを樹脂加硫もしくはパーオキサイド加
硫したものからなり、その硬度は６０〜９０（ウォーレ
ス硬度計による）の範囲であることを特徴とする電気二
重層コンデンサ。 - 【請求項２】 少なくとも陰極側の集電体に固着された
上記タブ端子には、酸化性を有する化学的薬剤による化
学的酸化または電解酸化により形成される化成皮膜が設
けられていることを特徴とする請求項１に記載の電気二
重層コンデンサ。 - 【請求項３】 上記化学的薬剤にはリンを含む化合物類
が混合されることを特徴とする請求項２に記載の電気二
重層コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5291444A JPH07122467A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 電気二重層コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5291444A JPH07122467A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 電気二重層コンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07122467A true JPH07122467A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17768951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5291444A Pending JPH07122467A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 電気二重層コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07122467A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0952594A3 (en) * | 1998-03-23 | 2004-01-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Aluminium electrolytic capacitor |
| WO2005076300A1 (ja) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | アルミ電解コンデンサ及びその製造方法 |
| US7768770B2 (en) * | 2006-02-14 | 2010-08-03 | Ls Mtron Ltd. | Connecting structure between electrode and lead, electric double layer capacitor having the same, and method for manufacturing the capacitor |
| US8780528B2 (en) | 2011-06-27 | 2014-07-15 | Panasonic Corporation | Electrolyte and electric double-layer capacitor using same |
-
1993
- 1993-10-27 JP JP5291444A patent/JPH07122467A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0952594A3 (en) * | 1998-03-23 | 2004-01-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Aluminium electrolytic capacitor |
| WO2005076300A1 (ja) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | アルミ電解コンデンサ及びその製造方法 |
| US7400491B2 (en) | 2004-02-05 | 2008-07-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Aluminum electrolytic capacitor and method of producing the same |
| US7768770B2 (en) * | 2006-02-14 | 2010-08-03 | Ls Mtron Ltd. | Connecting structure between electrode and lead, electric double layer capacitor having the same, and method for manufacturing the capacitor |
| US8780528B2 (en) | 2011-06-27 | 2014-07-15 | Panasonic Corporation | Electrolyte and electric double-layer capacitor using same |
| JP5655945B2 (ja) * | 2011-06-27 | 2015-01-21 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 電気二重層キャパシタ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030423 |