JPH07123003A - A/d変換器 - Google Patents

A/d変換器

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JPH07123003A
JPH07123003A JP26864693A JP26864693A JPH07123003A JP H07123003 A JPH07123003 A JP H07123003A JP 26864693 A JP26864693 A JP 26864693A JP 26864693 A JP26864693 A JP 26864693A JP H07123003 A JPH07123003 A JP H07123003A
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JP26864693A
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Yasuo Takahashi
泰雄 高橋
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速変換を行うことのできるA/D変換器を
実現すること。 【構成】 A/D変換の対象となるアナログ信号が入力
される入力端子と、前記入力端子より入力されたアナロ
グ信号を保持するサンプル&ホールド回路と、入力され
た複数のデジタル信号をアナログ信号に変換することに
より、それぞれ異なる複数の基準電圧を発生する多基準
電圧発生回路と、前記サンプル&ホールド回路で保持さ
れた信号と、前記多基準電圧発生回路が発生する各基準
電圧とをそれぞれ比較する複数の比較器と、前記複数の
比較器に対応して設けられた複数の比較レジスタと、前
記複数の比較器の各比較結果に応じて各比較レジスタの
複数ビットの格納内容を設定し、かつ、各比較レジスタ
の格納内容を前記多基準電圧発生回路に基準電圧に変換
するための複数のデジタル信号として出力する制御回路
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は入力されたアナログ信号
をデジタル信号に変換して出力するA/D変換器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】本発明の基となる逐次比較型A/D変換
器と追従比較型A/D変換器の従来技術について説明す
る。
【0003】図3は、従来より使用されている逐次比較
型A/D変換器の構成を示す図である。
【0004】本従来例は、A/D変換の対象となる信号
を受ける入力端子301と、入力信号を保持する為のサ
ンプル&ホールド回路302と、サンプル&ホールド回
路302で保持された信号とD/A変換器315の出力
とを比較する比較器313と、比較器313の出力を保
持する比較レジスタ314と、比較レジスタ314の値
をアナログ信号に変換するD/A変換器315と、上記
回路構成要素を制御する為の制御回路36とで構成され
たA/D変換器である。
【0005】入力端子301から入力されたアナログ信
号は、サンプル&ホールド回路302で保持される。サ
ンプル&ホールド回路302の出力とD/A変換器31
5からの信号は比較器313で比較され、最上位ビット
から下位ビットへ順にデジタル変換値が決定される。
【0006】A/D変換の最初の段階として、まず、入
力端子301で受けた入力信号をサンプル&ホールド回
路302でサンプリングする。この時、比較レジスタ3
14には最上位ビットのみセットされたデジタル値が格
納されており、その他のビットはリセットされている。
この値がD/A変換器315によりアナログ信号に変換
される。この時、D/A変換器315が出力するアナロ
グ信号はフルスケールの2分の1の値になる。D/A変
換器315の出力は比較器313に入力され、サンプル
&ホールド回路302に保持されたアナログ入力信号と
比較される。その結果、アナログ入力信号の方が大きけ
れば比較器313は“1”を出力し、逆にアナログ入力
信号の方が小さければ比較器313は“0”を出力す
る。比較器313の出力信号は比較レジスタ314でセ
ットした最上位ビットに入力され、比較レジスタ314
の最上位ビットが決定される。
【0007】次に、上位2ビット目をセットして上記の
D/A変換器315によるアナログ信号変換処理以降の
動作を、最下位ビットの比較が終了するまで繰り返す。
比較レジスタ314の最下位ビットの決定が終了した時
点で1回のA/D変換が終了したことになる。
【0008】逐次比較型A/D変換器は、上記の通りの
動作するので、変換精度nビットの場合、1回の変換は
最上位ビットから最下位ビットまでのn回の比較を必要
とする。従って、逐次比較型A/D変換器の1回のA/
D変換時間は、変換精度nビットの場合、n回の比較を
行う時間が必要となる。
【0009】図4に従来の追従比較型A/D変換器の構
成を示す。図4は、A/D変換の対象となる信号を受け
る入力端子401と、前記信号を保持する為のサンプル
&ホールド回路402と、前記サンプル&ホールド回路
402で保持された信号と後述するD/A変換器415
の出力とを比較する比較器413と、前記比較器413
の出力を受ける制御回路406と、前記制御回路406
の出力信号を受けて保持値をインクリメント又はディク
リメントするレジスタ416と、前記レジスタ416の
値をアナログ値に変換するD/A変換器415とで構成
されたA/D変換器である。
【0010】従来の追従比較方式は、前回のA/D変換
結果を保持しておき、今回のA/D変換に利用する。
【0011】前回のA/D変換結果を保持したレジスタ
416の値をD/A変換器415でアナログ信号に変換
し、このアナログ信号と当回のアナログ入力信号とを比
較器413で比較する。アナログ入力信号の方が大きけ
れば比較器413は“1”を出力する。逆にアナログ入
力信号の方が小さければ比較器413は“0”を出力す
る。制御回路406は、比較器413の出力が“1”な
らばレジスタ416の内容を1インクリメントする信号
を出力し、比較器13の出力が“0”ならばレジスタ4
16の内容を1ディクリメントする信号を出力する。レ
ジスタ416は、制御回路406の信号により、その内
容のインクリメント又はディクリメントを行う。
【0012】以下、インクリメント又はディクリメント
したレジスタ416の値を使用し、再びアナログ入力信
号との比較を繰り返す。入力信号とD/A変換器415
の出力信号が等しくなった時点のレジスタ416の値が
A/D変換結果となる。
【0013】追従比較型A/D変換器は、上記の通りに
動作するので、1回の変換時間はまちまちである。前回
の入力信号と当回の入力信号がほぼ等しければ、数回の
比較でA/D変換を終了することができる。逆に、前回
の入力信号と当回の入力信号がかけ離れていれば、かな
り多量の比較回数を必要とし、A/D変換時間も長くな
る。変換精度nビットの場合、最大で、前回の入力信号
が0、今回の入力信号がフルスケールの場合には、1づ
つインクリメントしていくため、2n回の比較が必要と
なる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】従来の、変動の少ない
アナログ信号の変換に用いられる追従比較型A/D変換
器は、A/D変換精度nビットとした時、最大で、2n
回の比較が必要となり、変換時間がかかりすぎるという
問題点を有している。
【0015】これに対し従来の逐次比較型A/D変換器
は、変換時間は常に一定であり、A/D変換精度nビッ
トとした時、アナログ入力信号が変化していなくても、
つねにn回の比較が必要となり、不必要に変換時間を要
しているという問題点を有している。
【0016】本発明は上述したような従来の技術が有す
る問題点に鑑みてなされたものであって、高速にA/D
変換を行うことのできるA/D変換器を実現することを
目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明のA/D変換器
は、A/D変換の対象となるアナログ信号が入力される
入力端子と、前記入力端子より入力されたアナログ信号
を保持するサンプル&ホールド回路と、入力された複数
のデジタル信号をアナログ信号に変換することにより、
それぞれ異なる複数の基準電圧を発生する多基準電圧発
生回路と、前記サンプル&ホールド回路で保持された信
号と、前記多基準電圧発生回路が発生する各基準電圧と
をそれぞれ比較する複数の比較器と、前記複数の比較器
に対応して設けられた複数の比較レジスタと、前記複数
の比較器の各比較結果に応じて各比較レジスタの複数ビ
ットの格納内容を決定し、かつ、各比較レジスタの格納
内容を前記多基準電圧発生回路に基準電圧に変換するた
めの複数のデジタル信号として出力する制御回路とを有
することを特徴とする。
【0018】この場合、制御装置は、変換動作開始時に
は各比較レジスタに対して前回のA/D変換結果の上位
の数ビットを設定し、以下の複数ビットについては格納
内容がそれぞれ異なるように設定してもよい。
【0019】本発明の他の形態によるA/D変換器は、
A/D変換の対象となるアナログ信号が入力される入力
端子と、前記入力端子より入力されたアナログ信号を保
持するサンプル&ホールド回路と、入力された複数のデ
ジタル信号をアナログ信号に変換することにより、それ
ぞれ異なる複数の基準電圧を発生する多基準電圧発生回
路と、前記サンプル&ホールド回路で保持された信号
と、前記多基準電圧発生回路が発生する各基準電圧とを
それぞれ比較する複数の比較器と、前記複数の比較器に
対応して設けられた複数の比較レジスタと、A/D変換
開始時における前記複数の比較レジスタの任意のビット
を固定する固定手段と、前記複数の比較器の各比較結果
に応じて各比較レジスタの複数ビットの格納内容を設定
し、かつ、各比較レジスタの格納内容を前記多基準電圧
発生回路に基準電圧に変換するための複数のデジタル信
号として出力する制御回路とを有することを特徴とす
る。
【0020】
【作用】A/D変換を行うための比較用基準電圧および
比較器が複数設けられているので、従来例のように1ビ
ットづつの比較を行うことなく、複数ビットを同時に比
較することができ、高速な変換がなされる。
【0021】また、複数の比較レジスタの内容は制御装
置や固定手段によって決定されるため、例えば、前回の
A/D変換結果のうちの上位の数ビットを残し、下位の
複数ビットのみを変更することができ、変動の少ない、
アナログ信号については、さらに高速な変換が可能とな
る。
【0022】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0023】図1は本発明の一実施例の構成を示す図で
あり、以下に図1に従って説明する。ここでは、比較器
を3個用いた8ビットA/D変換器の例を示す。
【0024】回路は、アナログ入力端子101、アナロ
グ電圧を保持する為のサンプル&ホールド回路102、
3個の比較器103〜105、多基準電圧発生回路11
0、各比較器103〜105にそれぞれ対応して設けら
れた比較レジスタ107〜109、各比較レジスタ10
7〜109の任意のビットの保持状態を設定する機能を
有するレジスタ111及び上記の各回路を制御する制御
回路106より構成される。
【0025】比較レジスタ107〜109に格納される
デジタル値は、多基準電圧発生回路110で各比較レジ
スタ107〜109に対応するアナログ値に変換され
て、比較器103〜105にそれぞれ入力される。レジ
スタ111の内容は可変で自由に設定できる。この値を
調整することで、振幅の異なるアナログ入力端子101
より入力されたアナログ入力信号に対応することができ
る。振幅の小さなアナログ入力信号には、各比較レジス
タ107〜109の上位ビットをなるべく保持するよう
にすれば良く、振幅の大きなアナログ入力信号には、各
比較レジスタ107〜109の上位ビットをあまり保持
しないようにすれば良い。
【0026】制御回路6はこれらの各比較レジスタ10
7〜109の保持内容を多基準電圧発生回路10変出力
する。多基準電圧発生回路10は、D/A変換機能を有
するもので、制御回路6より送られてきた複数のデジタ
ル値を同時にアナログ信号に変換して比較器103〜1
05へ出力する。
【0027】比較器103〜105のそれぞれは、サン
プル&ホールド回路2の出力と多基準電圧発生回路10
の出力を比較し、サンプル&ホールド回路2の出力の方
が大きければ“1”を出力し、逆に多基準電圧発生回路
10の出力の方が大きければ、“0”を出力する。
【0028】A/D変換のタイミングを制御する制御回
路6は、各比較器103〜105の出力を受けて該出力
の内容に応じて各比較レジスタ107〜109に保持さ
せる内容を決定して保持させ、続いて各比較レジスタ1
07〜109の保持内容を読み出して多基準電圧発生回
路10に出力する。
【0029】次に、本実施例の具体的な変換動作につい
て説明する。
【0030】前回のA/D変換結果を8ビット2進数で
“xxxxxxxx”とする。ここで、“x”は、
“0”または“1”である。これらの値は、各比較レジ
スタ107〜109に格納されている。
【0031】以下の説明では、レジスタ111に予め比
較レジスタ107〜109の上位4ビットを保持する信
号が入っているものとして説明する。
【0032】今回のA/D変換が開始されると、アナロ
グ入力端子101より入力されたアナログ入力信号は、
サンプル&ホールド回路102で保持される。制御回路
106は、比較レジスタ107に対してはレジスタ11
1により設定された上位4ビット以外のビットをセット
する信号をに送るとともに、比較レジスタ109に対し
てはレジスタ111で設定された上位4ビット以外のビ
ットをリセットする信号を送る。これにより、各比較レ
ジスタ107〜109には表1に示す値が設定される。
【0033】
【表1】 MSB:最上位ビット LSB:最下位ビット 表1に示す値が制御回路106を通して多基準電圧発生
回路110でアナログ信号に変換され、各比較器103
〜105に入力される。
【0034】1回目の比較は、入力信号が比較レジスタ
107と比較レジスタ109の値の間にあるかどうかを
確認することを目的としている。
【0035】仮に、アナログ入力信号が比較レジスタ1
07と比較レジスタ108の値の間であるとすると、1
回目の比較では上記の値が各比較レジスタ107〜10
9に設定されているため、各比較器103〜105の出
力内容は表2に示す様になる。
【0036】
【表2】 この時点で、A/D変換対象となるサンプル&ホールド
回路102で保持された入力信号は、比較レジスタ10
7と比較レジスタ109の間の値であることがわかる。
従って、上位4ビットはこのまま“xxxx”で決定す
ることができるため、制御回路106は各比較レジスタ
107〜109に上位4ビットを決定する信号を送る。
【0037】逆に、アナログ入力信号が比較レジスタ1
07と109の値の間にないとする。この時の比較器1
03〜105の出力は表3に示すように全て“1”もし
くは全て“0”となる。
【0038】
【表3】 表3の値を制御回路6が受け取った場合、アナログ入力
信号が比較レジスタ107比較レジスタ109の値の間
にないことがわかる。従って、2回目の比較では、入力
信号が比較レジスタ107と比較レジスタ109の値の
間にないので、レジスタ111に保持されている各比較
レジスタ107〜109の上位nビットを無効とし、最
上位ビットから変換する必要があるため、制御回路10
6は、各比較レジスタ107〜109に対して上位4ビ
ットを無効とする信号を送出する。
【0039】2回目の比較からは、最初の比較で決定さ
れたビットの次のビットから逐次比較方式の変換を行
う。ここでは、比較器が3個設けられているので、2ビ
ットづつ変換していくことができる。
【0040】制御回路106は、これまでの比較により
既に決定されたビットの次のビットから表4に示す値を
比較レジスタ107〜109へ出力し、それ以降のビッ
トは全てリセットするような信号を出力する。
【0041】
【表4】 例えば、アナログ入力信号が比較レジスタ107比較レ
ジスタ109の値の間にある場合には、2回目の比較時
に決定されているビットは上位4ビットである。また、
アナログ入力信号が比較レジスタ107と比較レジスタ
109の値の間にない場合には、2回目の比較時に決定
しているビットはないことになる。
【0042】従って、アナログ入力信号が比較レジスタ
107比較レジスタ108の値の間であるとした場合に
は、それぞれの比較レジスタ107〜109の値は表5
に示すものとなる。
【0043】
【表5】 制御回路106は、表5に示した値を受け取り、多基準
電圧発生回路110に出力する。多基準電圧発生回路1
10は制御回路106より入力された値をアナログ信号
に変換し、各比較器103〜105に入力する。各比較
器103〜105は、アナログ入力信号と多基準電圧発
生回路10で変換されたアナログ信号とを比較し、比較
結果を制御回路106に出力する。制御回路106は、
各比較器103〜105のそれぞれの出力に対応した値
を、これまでの比較で既に決定されているビットの次の
ビットから比較レジスタ107〜109へ出力する。制
御回路106の出力は表6の様になる。
【0044】
【表6】 (i) :変換対象の入力信号が、比較レジスタ109の
値より小さい場合 (ii) :変換対象の入力信号が、比較レジスタ109の
値より大きく、比較レジスタ108より小さい場合 (iii):変換対象の入力信号が、比較器レジスタ108
の値より大きく、比較器レジスタ107より小さい場合 (iv) :変換対象の入力信号が、比較器レジスタ107
の値より大きい場合 制御回路106からの出力を受け取った各比較レジスタ
107〜109は、既に決定されたビットの次のビット
から上記の値を代入することになる。つまり、この時点
で、変換対象の入力信号が比較レジスタ107と比較レ
ジスタ109の間の値である場合には、上位5ビット目
及び6ビット目が決定される。
【0045】制御回路106は比較の対象とするビット
を決定すると同時に、既に決定されているビットの次の
ビットから比較の対象とするように、この場合では比較
レジスタ107〜109の上位7及び8ビット目に、表
4に示した値を出力する。
【0046】以下、上記2回目の比較以降の動作を繰り
返し、最下位ビットの値が決定した時点でA/D変換が
終了する。
【0047】次に、本発明の第2の実施例について図2
を参照して説明する。
【0048】第1の実施例では、比較レジスタ107〜
109の上位nビットを保持させる固定手段としてレジ
スタ111を設けたが、第2の実施例では、外部入力端
子212を設け、外部より任意に設定できるようにした
ものである。この他の構成は図1に示した第1の実施例
と同様であるため、図1と同じ番号を付して説明は省略
する。
【0049】本実施例においては、A/D変換候補とな
るデジタル値の上位nビットを、前回の変換結果に関わ
らず、任意に設定できるため、変換する信号の種類に応
じた設定が可能となる。
【0050】なお、以上説明した実施例では、レジスタ
111および外部入力端子212を設けるものとして説
明したが、この機能は制御回路106によっても当然実
現することができるものである。これらの固定手段を設
けることにより、制御手段に要求される機能を下げるこ
とができるが、制御回路106によってデジタル値の上
位nビットを設定するものとしても当然よい。
【0051】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載するような効果を奏する。
【0052】比較器を複数設けたことにより、複数のビ
ットを同時に比較対象とすることができ、高速なA/D
変換を行うことができる効果がある。
【0053】また、各比較器の比較対象となる比較レジ
スタに格納された値が任意に設定可能であるため、前回
のA/D変換結果を上位の複数ビットに残すことが可能
であり、このように使用した場合には、振幅の小さい信
号についてはA/D変換をさらに高速に行うことができ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の構成を示す図である。
【図2】本発明の第2の実施例の構成を示す図である。
【図3】従来の逐次比較型A/D変換器の構成を示す図
である。
【図4】従来の追従比較型A/D変換器の構成を示す図
である。
【符号の説明】
101 アナログ入力端子 102 サンプル&ホールド回路 103 比較器 104 比較器 105 比較器 106 制御回路 107 比較レジスタ 108 比較レジスタ 109 比較レジスタ 110 多基準電圧発生回路 111 アナログ入力端子 212 外部入力端子

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 A/D変換器において、 A/D変換の対象となるアナログ信号が入力される入力
    端子と、 前記入力端子より入力されたアナログ信号を保持するサ
    ンプル&ホールド回路と、 入力された複数のデジタル信号をアナログ信号に変換す
    ることにより、それぞれ異なる複数の基準電圧を発生す
    る多基準電圧発生回路と、 前記サンプル&ホールド回路で保持された信号と、前記
    多基準電圧発生回路が発生する各基準電圧とをそれぞれ
    比較する複数の比較器と、 前記複数の比較器に対応して設けられた複数の比較レジ
    スタと、 前記複数の比較器の各比較結果に応じて各比較レジスタ
    の複数ビットの格納内容を設定し、かつ、各比較レジス
    タの格納内容を前記多基準電圧発生回路に基準電圧に変
    換するための複数のデジタル信号として出力する制御回
    路とを有することを特徴とするA/D変換器。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のA/D変換器において、 制御装置は、変換動作開始時には各比較レジスタに対し
    て前回のA/D変換結果の上位の数ビットを設定し、以
    下の複数ビットについては格納内容がそれぞれ異なるよ
    うに設定することを特徴とするA/D変換器。
  3. 【請求項3】 A/D変換器において、 A/D変換の対象となるアナログ信号が入力される入力
    端子と、 前記入力端子より入力されたアナログ信号を保持するサ
    ンプル&ホールド回路と、 入力された複数のデジタル信号をアナログ信号に変換す
    ることにより、それぞれ異なる複数の基準電圧を発生す
    る多基準電圧発生回路と、 前記サンプル&ホールド回路で保持された信号と、前記
    多基準電圧発生回路が発生する各基準電圧とをそれぞれ
    比較する複数の比較器と、 前記複数の比較器に対応して設けられた複数の比較レジ
    スタと、 A/D変換開始時における前記複数の比較レジスタの任
    意のビットを固定する固定手段と、 前記複数の比較器の各比較結果に応じて各比較レジスタ
    の複数ビットの格納内容を設定し、かつ、各比較レジス
    タの格納内容を前記多基準電圧発生回路に基準電圧に変
    換するための複数のデジタル信号として出力する制御回
    路とを有することを特徴とするA/D変換器。
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