JPH07125205A - サーマルインクジェットヘッド - Google Patents
サーマルインクジェットヘッドInfo
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- JPH07125205A JPH07125205A JP14166293A JP14166293A JPH07125205A JP H07125205 A JPH07125205 A JP H07125205A JP 14166293 A JP14166293 A JP 14166293A JP 14166293 A JP14166293 A JP 14166293A JP H07125205 A JPH07125205 A JP H07125205A
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- Japan
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- substrate
- flow path
- groove
- ink
- heating element
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- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 発熱層等を有する発熱体基板と断面台形状を
なす流路用溝を有する流路基板とを積層するヘッド構造
に関して、流路用溝のディメンジョンを最適化し、噴射
特性を改善するとともに高密度化を可能にすること。 【構成】 基板上に蓄熱層と発熱層とこの発熱層に通電
するための電極と保護層とを形成した発熱体基板2と、
(100)面の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ
基板上に異方性エッチングにより2つの等価な(11
1)面による側面と1つの(100)面による天井面と
で断面台形状となる複数の流路用溝6を形成した流路基
板3とよりなり、発熱体基板2と流路基板3とを発熱面
と溝面とが相対するように積層し、流路用溝6の底部溝
幅aを発熱体基板2に接する面における各溝間幅bに対
して2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設定した。
なす流路用溝を有する流路基板とを積層するヘッド構造
に関して、流路用溝のディメンジョンを最適化し、噴射
特性を改善するとともに高密度化を可能にすること。 【構成】 基板上に蓄熱層と発熱層とこの発熱層に通電
するための電極と保護層とを形成した発熱体基板2と、
(100)面の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ
基板上に異方性エッチングにより2つの等価な(11
1)面による側面と1つの(100)面による天井面と
で断面台形状となる複数の流路用溝6を形成した流路基
板3とよりなり、発熱体基板2と流路基板3とを発熱面
と溝面とが相対するように積層し、流路用溝6の底部溝
幅aを発熱体基板2に接する面における各溝間幅bに対
して2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設定した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ノンインパクト記録用
ヘッドの一つである発熱体基板と流路基板とを積層させ
たヘッド構造のサーマルインクジェットヘッドに関す
る。
ヘッドの一つである発熱体基板と流路基板とを積層させ
たヘッド構造のサーマルインクジェットヘッドに関す
る。
【0002】
【従来の技術】ノンインパクト記録法は、記録時におけ
る騒音の発生が無視し得る程度に極めて小さいという点
において、関心の高い記録法とされている。中でも、高
速記録が可能で、特別な定着処理を必要とせず所謂普通
紙に記録を行うことが可能な、所謂インクジェット記録
法は極めて有力な記録法である。そこで、従来において
もインクジェット記録法に関して様々な方式が提案さ
れ、種々の改良も加えられ、現に商品化されているもの
や、実用化に向けて開発段階のものもある。
る騒音の発生が無視し得る程度に極めて小さいという点
において、関心の高い記録法とされている。中でも、高
速記録が可能で、特別な定着処理を必要とせず所謂普通
紙に記録を行うことが可能な、所謂インクジェット記録
法は極めて有力な記録法である。そこで、従来において
もインクジェット記録法に関して様々な方式が提案さ
れ、種々の改良も加えられ、現に商品化されているもの
や、実用化に向けて開発段階のものもある。
【0003】このようなインクジェット記録法は、所謂
インクと称される記録液体の小滴(droplet) を飛翔さ
せて普通紙などの記録媒体に付着させて記録を行うもの
である。その一例として、例えば本出願人提案による特
公昭56−9429号公報に示されるようなものがあ
る。これは、要約すれば、液室内のインクを加熱して気
泡を発生させることでインクに圧力上昇を生じさせ、微
細な毛細管ノズルからインクを飛び出させて記録するよ
うにしたものである。
インクと称される記録液体の小滴(droplet) を飛翔さ
せて普通紙などの記録媒体に付着させて記録を行うもの
である。その一例として、例えば本出願人提案による特
公昭56−9429号公報に示されるようなものがあ
る。これは、要約すれば、液室内のインクを加熱して気
泡を発生させることでインクに圧力上昇を生じさせ、微
細な毛細管ノズルからインクを飛び出させて記録するよ
うにしたものである。
【0004】その後、このようなインク飛翔原理を利用
して多くの提案がなされている。これらの中で、例えば
特公昭59−31940号公報に示されるような高密度
並設のマルチ方式のヘッドが提案されている。これは、
複数の隣接した吐出インク滴同士が飛翔中に衝突してイ
ンク滴の大きさにバラツキが出たり、被記録面上での付
着点が所望位置よりずれたりして印字に乱れを生じてし
まう点を考慮したもので、互いに近接配置された複数個
の吐出オリフィスを有し、各オリフィスに連絡している
室内に導入される記録液体を、熱エネルギーを利用する
ことにより各オリフィスから小滴として被記録面へ向け
て吐出・飛翔させるものにおいて、複数個の吐出オリフ
ィスを隣接オリフィス中心間の距離Lと隣接オリフィス
間隔Rとを、R/(L−R)≧1/3なる関係を満足す
るように設定したものである。
して多くの提案がなされている。これらの中で、例えば
特公昭59−31940号公報に示されるような高密度
並設のマルチ方式のヘッドが提案されている。これは、
複数の隣接した吐出インク滴同士が飛翔中に衝突してイ
ンク滴の大きさにバラツキが出たり、被記録面上での付
着点が所望位置よりずれたりして印字に乱れを生じてし
まう点を考慮したもので、互いに近接配置された複数個
の吐出オリフィスを有し、各オリフィスに連絡している
室内に導入される記録液体を、熱エネルギーを利用する
ことにより各オリフィスから小滴として被記録面へ向け
て吐出・飛翔させるものにおいて、複数個の吐出オリフ
ィスを隣接オリフィス中心間の距離Lと隣接オリフィス
間隔Rとを、R/(L−R)≧1/3なる関係を満足す
るように設定したものである。
【0005】上記公報に記載されたものは、サーマルヘ
ッドの作製方法と類似の技術を用いて、微細粒子からな
るAl2O3基板上に蓄熱層であるSiO2 、ヒータ層で
あるHfB2 、電極層であるAlを順次薄膜形成技術に
より積層した後、選択エッチングによりパターン形成し
て、発熱体基板を作製し、これとは別に、ガラス板に半
導体チップスクライバ用カッタにブレード刃を付けて溝
を形成した溝板を、発熱体基板上にエポキシ樹脂で接着
してマルチオリフィスアレイ記録装置を作製したもので
ある。よって、上記公報中の記載、及び、このような加
工法から推察すると、このような装置は8〜16本/m
m程度の密度で配列されたヘッドに適用されるものと考
えられる。また、R/(L−R)なる数値の上限に関し
ても、上記公報中記載によれば約20に止めるべきであ
るとされている。
ッドの作製方法と類似の技術を用いて、微細粒子からな
るAl2O3基板上に蓄熱層であるSiO2 、ヒータ層で
あるHfB2 、電極層であるAlを順次薄膜形成技術に
より積層した後、選択エッチングによりパターン形成し
て、発熱体基板を作製し、これとは別に、ガラス板に半
導体チップスクライバ用カッタにブレード刃を付けて溝
を形成した溝板を、発熱体基板上にエポキシ樹脂で接着
してマルチオリフィスアレイ記録装置を作製したもので
ある。よって、上記公報中の記載、及び、このような加
工法から推察すると、このような装置は8〜16本/m
m程度の密度で配列されたヘッドに適用されるものと考
えられる。また、R/(L−R)なる数値の上限に関し
ても、上記公報中記載によれば約20に止めるべきであ
るとされている。
【0006】また、特開平2−67140号公報に示さ
れるような流路基板の製法が本出願人により提案されて
いる。これは、単結晶シリコン(Si)の異方性エッチ
ングを利用したV字溝を流路とするようにしたものであ
る。このように形成されるインク流路は、V字溝の両側
2面を形成する面が(111)面となり、単結晶の精度
で形成でき、かつ、その面も非常に滑らかとなるため、
インクジェットの流路として考えた場合、非常に都合の
よいものとなる。
れるような流路基板の製法が本出願人により提案されて
いる。これは、単結晶シリコン(Si)の異方性エッチ
ングを利用したV字溝を流路とするようにしたものであ
る。このように形成されるインク流路は、V字溝の両側
2面を形成する面が(111)面となり、単結晶の精度
で形成でき、かつ、その面も非常に滑らかとなるため、
インクジェットの流路として考えた場合、非常に都合の
よいものとなる。
【0007】さらに、このようなV字溝(V字状の天井
部付近に気泡が詰まり、インクの流れが阻害されるおそ
れがある)を改良したものとして、同様に(100)面
の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ基板上に異方
性エッチングにより2つの等価な(111)面による側
面と1つの(100)面による天井面とで断面台形状の
流路用溝を形成した流路基板を用いるようにしたものも
考えられている。このような断面台形状の流路用溝ない
しは流路による場合も、単結晶の精度で形成でき、か
つ、その面も非常に滑らかとなるため、上述した特公昭
59−31940号公報例のようなガラス板に対する半
導体チップスクライバ用カッタで溝を形成するものに比
して、極めて優れたものとなる。
部付近に気泡が詰まり、インクの流れが阻害されるおそ
れがある)を改良したものとして、同様に(100)面
の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ基板上に異方
性エッチングにより2つの等価な(111)面による側
面と1つの(100)面による天井面とで断面台形状の
流路用溝を形成した流路基板を用いるようにしたものも
考えられている。このような断面台形状の流路用溝ない
しは流路による場合も、単結晶の精度で形成でき、か
つ、その面も非常に滑らかとなるため、上述した特公昭
59−31940号公報例のようなガラス板に対する半
導体チップスクライバ用カッタで溝を形成するものに比
して、極めて優れたものとなる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】そこで、このように優
れた断面台形状の流路用溝を持つ流路基板を用いたサー
マルインクジェットヘッドを試作し、上述した特公昭5
9−31940号公報中に記載された条件で噴射実験を
行ったところ、断面台形状の流路を有するサーマルイン
クジェットヘッドについては、同公報中に示される条
件、即ち、R/(L−R)≧1/3が必ずしも最適では
ないことが判明したものである。
れた断面台形状の流路用溝を持つ流路基板を用いたサー
マルインクジェットヘッドを試作し、上述した特公昭5
9−31940号公報中に記載された条件で噴射実験を
行ったところ、断面台形状の流路を有するサーマルイン
クジェットヘッドについては、同公報中に示される条
件、即ち、R/(L−R)≧1/3が必ずしも最適では
ないことが判明したものである。
【0009】その原因を検討したところ、第1に、流路
の断面形状に関して、同公報例では正方形状であるのに
対して、本出願人の考えたものでは台形状であるので、
両者の形状が異なるのみならず、その断面積等も異なっ
てくるため、その最適条件が異なるためであると考えら
れる。第2に、同公報例のようにガラス基板に対する半
導体チップスクライバ用カッタで溝を形成したものに比
して、本出願人の考えたものでは単結晶Siの(10
0)面に対する異方性エッチングによるため単結晶の精
度で流路用溝が形成され、表面が非常に滑らかであるた
め、インクが流れる際の流体抵抗が非常に小さく、噴射
特性も異なるためであると考えられる。ちなみに、同公
報例方式の場合の流路表面の粗さは1〜3s程度であっ
たのに対し、単結晶精度で形成された台形状の流路表面
の粗さは0.1s以下となったものである。
の断面形状に関して、同公報例では正方形状であるのに
対して、本出願人の考えたものでは台形状であるので、
両者の形状が異なるのみならず、その断面積等も異なっ
てくるため、その最適条件が異なるためであると考えら
れる。第2に、同公報例のようにガラス基板に対する半
導体チップスクライバ用カッタで溝を形成したものに比
して、本出願人の考えたものでは単結晶Siの(10
0)面に対する異方性エッチングによるため単結晶の精
度で流路用溝が形成され、表面が非常に滑らかであるた
め、インクが流れる際の流体抵抗が非常に小さく、噴射
特性も異なるためであると考えられる。ちなみに、同公
報例方式の場合の流路表面の粗さは1〜3s程度であっ
たのに対し、単結晶精度で形成された台形状の流路表面
の粗さは0.1s以下となったものである。
【0010】これらの点を考慮すると、単結晶Siウエ
ハに対する異方性エッチングにより断面台形状となる流
路用溝を形成した流路基板を用いることは好ましいもの
となるが、その際、高密度配列を実現し、かつ、記録紙
面上で必要な大きさのドット径が得られ、さらには、安
定したインク噴射が確保されるような最適条件を見出す
ことが要望される。同時に、極力高密度配列を確保しつ
つ隣接ジェット同士が影響を及ぼさずに所望のドット径
が得られるような最適条件を見出すことも要望される。
ハに対する異方性エッチングにより断面台形状となる流
路用溝を形成した流路基板を用いることは好ましいもの
となるが、その際、高密度配列を実現し、かつ、記録紙
面上で必要な大きさのドット径が得られ、さらには、安
定したインク噴射が確保されるような最適条件を見出す
ことが要望される。同時に、極力高密度配列を確保しつ
つ隣接ジェット同士が影響を及ぼさずに所望のドット径
が得られるような最適条件を見出すことも要望される。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、基板上に蓄熱層と発熱層とこの発熱層に通電するた
めの電極と保護層とを形成した発熱体基板と、(10
0)面の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ基板上
に異方性エッチングにより2つの等価な(111)面に
よる側面と1つの(100)面による天井面とで断面台
形状となる複数の流路用溝を形成した流路基板とよりな
り、前記発熱体基板とこの流路基板とを発熱面と溝面と
が相対するように積層し、前記流路用溝の底部溝幅aを
前記発熱体基板に接する面における各溝間幅bに対して
2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設定した。
は、基板上に蓄熱層と発熱層とこの発熱層に通電するた
めの電極と保護層とを形成した発熱体基板と、(10
0)面の結晶方位面に切出されたシリコンウエハ基板上
に異方性エッチングにより2つの等価な(111)面に
よる側面と1つの(100)面による天井面とで断面台
形状となる複数の流路用溝を形成した流路基板とよりな
り、前記発熱体基板とこの流路基板とを発熱面と溝面と
が相対するように積層し、前記流路用溝の底部溝幅aを
前記発熱体基板に接する面における各溝間幅bに対して
2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設定した。
【0012】この際、請求項2記載の発明では、発熱体
基板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成され
る流路の一端を直接インク吐出ノズルとした。
基板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成され
る流路の一端を直接インク吐出ノズルとした。
【0013】また、請求項3記載の発明では、発熱体基
板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される
流路の一端に、各流路に連通するインク吐出ノズルを形
成した薄膜基板を接合させた。
板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される
流路の一端に、各流路に連通するインク吐出ノズルを形
成した薄膜基板を接合させた。
【0014】
【作用】請求項1記載の発明においては、単結晶精度で
滑らかに形成される断面台形状の複数の流路用溝に関し
て、その底部溝幅aを発熱体基板に接する面における各
溝間幅bに対して2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設
定したので、十分速いインク飛翔速度が確保され、極め
て安定した噴射が得られるものとなり、かつ、多数の流
路を高密度配列させても、隣接ジェットが影響し合って
合体してしまう、といった悪影響がなく、画像乱れのな
い安定した高密度・高画質の記録が可能となる。
滑らかに形成される断面台形状の複数の流路用溝に関し
て、その底部溝幅aを発熱体基板に接する面における各
溝間幅bに対して2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設
定したので、十分速いインク飛翔速度が確保され、極め
て安定した噴射が得られるものとなり、かつ、多数の流
路を高密度配列させても、隣接ジェットが影響し合って
合体してしまう、といった悪影響がなく、画像乱れのな
い安定した高密度・高画質の記録が可能となる。
【0015】請求項2記載の発明においては、発熱体基
板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される
流路の一端を直接インク吐出ノズルとしたので、ヘッド
作製が容易となる。
板と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される
流路の一端を直接インク吐出ノズルとしたので、ヘッド
作製が容易となる。
【0016】一方、請求項3記載の発明においては、イ
ンク吐出ノズルを有する薄膜基板を別体で用意して接合
させるようにしたので、インク吐出ノズル部分に基板間
の接合代がなくなってインク吐出ノズルの滑らかさが増
すため、隣接ジェット間の影響を確実に防ぐことがで
き、よって、連続駆動周波数をより高周波化させること
が可能となる。
ンク吐出ノズルを有する薄膜基板を別体で用意して接合
させるようにしたので、インク吐出ノズル部分に基板間
の接合代がなくなってインク吐出ノズルの滑らかさが増
すため、隣接ジェット間の影響を確実に防ぐことがで
き、よって、連続駆動周波数をより高周波化させること
が可能となる。
【0017】
【実施例】本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。本実施例のサーマルインクジェットヘッドの構成及
び動作原理を図1ないし図3を参照して説明する。この
ヘッドチップ1は図1(a)に示すように発熱体基板2
上に流路基板3を積層させたものである。ここに、流路
基板3には表裏に貫通したインク流入口4が形成されて
いるとともに、流路及びインク吐出ノズル5を形成する
ための流路用溝6が複数本形成されている。前記インク
流入口4はこれらの流路用溝6に連なったインク供給室
領域に連通している。また、発熱体基板2上には図2に
示すように各インク吐出ノズル5(流路用溝6)に対応
してエネルギー作用部を構成する発熱体(ヒータ)8が
複数個形成され、各々個別に制御電極9に接続されてい
るとともに共通電極10に共通接続されている。これら
の電極9,10の一端は発熱体基板2の端部まで引出さ
れ、駆動信号導入部となるボンディングパッド部11と
されている。ここに、発熱体基板2の発熱面上に流路基
板3の溝面側を相対させて積層接合することにより、流
路用溝6及びインク供給室領域は閉じられた状態とな
り、先端にインク吐出ノズル5を有する流路とインク供
給室7とが形成される。
る。本実施例のサーマルインクジェットヘッドの構成及
び動作原理を図1ないし図3を参照して説明する。この
ヘッドチップ1は図1(a)に示すように発熱体基板2
上に流路基板3を積層させたものである。ここに、流路
基板3には表裏に貫通したインク流入口4が形成されて
いるとともに、流路及びインク吐出ノズル5を形成する
ための流路用溝6が複数本形成されている。前記インク
流入口4はこれらの流路用溝6に連なったインク供給室
領域に連通している。また、発熱体基板2上には図2に
示すように各インク吐出ノズル5(流路用溝6)に対応
してエネルギー作用部を構成する発熱体(ヒータ)8が
複数個形成され、各々個別に制御電極9に接続されてい
るとともに共通電極10に共通接続されている。これら
の電極9,10の一端は発熱体基板2の端部まで引出さ
れ、駆動信号導入部となるボンディングパッド部11と
されている。ここに、発熱体基板2の発熱面上に流路基
板3の溝面側を相対させて積層接合することにより、流
路用溝6及びインク供給室領域は閉じられた状態とな
り、先端にインク吐出ノズル5を有する流路とインク供
給室7とが形成される。
【0018】このようなヘッドチップ1において、サー
マルインクジェットによるインク噴射は図3に示すよう
なプロセスにより行われる。まず、定常状態では同図
(a)に示すような状態にあり、インク吐出ノズル5先
端のオリフィス面でインク14の表面張力と外圧とが平
衡状態にある。ついで、ヒータ8が加熱され、その表面
温度が急上昇し隣接インク層に沸騰現象が起きるまで加
熱されると同図(b)に示すように、微小な気泡15が
点在する状態となる。さらに、ヒータ8全面で急激に加
熱された隣接インク層が瞬時に気化し、沸騰膜を作り、
同図(c)に示すように気泡15が成長する。この時、
流路内の圧力は、気泡15の成長した分だけ上昇し、オ
リフィス面での外圧とのバランスが崩れ、オリフィスよ
りインク柱16が成長し始める。同図(d)は気泡15
が最大に成長した状態を示し、オリフィス面より気泡1
5の体積に相当する分のインク14が押出される。この
時、ヒータ8には既に電流が流れていない状態にあり、
ヒータ8の表面温度は降下しつつある。気泡15の体積
の最大値は電気パルス印加のタイミングよりやや遅れた
ものとなる。やがて、気泡15はインク14などにより
冷却されて同図(e)に示すように収縮し始める。イン
ク柱16の先端部では押出された速度を保ちつつ前進
し、後端部では気泡15の収縮に伴うインク流路の内圧
の減少によってオリフィス面からインク流路内にインク
14が逆流し、インク柱16基部にくびれが生ずる。そ
の後、同図(f)に示すように気泡15がさらに収縮
し、ヒータ8面にインク14が接し、ヒータ8面がさら
に冷却される。オリフィス面では外圧がインク流路内圧
より高い状態になるため、メニスカスが大きくインク流
路内に入り込んでくる。インク柱16の先端部は液滴1
7となって記録紙(図示せず)の方向へ5〜10m/sec
の速度で飛翔する。その後、同図(g)に示すように毛
細管現象によりオリフィスにインク14が再び供給(リ
フィル)されて同図(a)の定常状態に戻る過程で、気
泡15は完全に消滅する。
マルインクジェットによるインク噴射は図3に示すよう
なプロセスにより行われる。まず、定常状態では同図
(a)に示すような状態にあり、インク吐出ノズル5先
端のオリフィス面でインク14の表面張力と外圧とが平
衡状態にある。ついで、ヒータ8が加熱され、その表面
温度が急上昇し隣接インク層に沸騰現象が起きるまで加
熱されると同図(b)に示すように、微小な気泡15が
点在する状態となる。さらに、ヒータ8全面で急激に加
熱された隣接インク層が瞬時に気化し、沸騰膜を作り、
同図(c)に示すように気泡15が成長する。この時、
流路内の圧力は、気泡15の成長した分だけ上昇し、オ
リフィス面での外圧とのバランスが崩れ、オリフィスよ
りインク柱16が成長し始める。同図(d)は気泡15
が最大に成長した状態を示し、オリフィス面より気泡1
5の体積に相当する分のインク14が押出される。この
時、ヒータ8には既に電流が流れていない状態にあり、
ヒータ8の表面温度は降下しつつある。気泡15の体積
の最大値は電気パルス印加のタイミングよりやや遅れた
ものとなる。やがて、気泡15はインク14などにより
冷却されて同図(e)に示すように収縮し始める。イン
ク柱16の先端部では押出された速度を保ちつつ前進
し、後端部では気泡15の収縮に伴うインク流路の内圧
の減少によってオリフィス面からインク流路内にインク
14が逆流し、インク柱16基部にくびれが生ずる。そ
の後、同図(f)に示すように気泡15がさらに収縮
し、ヒータ8面にインク14が接し、ヒータ8面がさら
に冷却される。オリフィス面では外圧がインク流路内圧
より高い状態になるため、メニスカスが大きくインク流
路内に入り込んでくる。インク柱16の先端部は液滴1
7となって記録紙(図示せず)の方向へ5〜10m/sec
の速度で飛翔する。その後、同図(g)に示すように毛
細管現象によりオリフィスにインク14が再び供給(リ
フィル)されて同図(a)の定常状態に戻る過程で、気
泡15は完全に消滅する。
【0019】ついで、このようなヘッドチップ1を構成
する発熱体基板2、流路基板3等について詳細に説明す
る。まず、発熱体基板2について説明する。この発熱体
基板2用の基板としては、アルミナセラミックス、ガラ
ス、Siウエハなどが用いられる。アルミナセラミック
スの場合には、蓄熱層としてグレーズ層を設けたものが
用いられる。或いは、スパッタリング等の技術によって
SiO2 を数μmの厚さで形成したアルミナセラミック
ス板としてもよい。ガラスの場合、熱伝導率が低いため
ガラスそれ自体が蓄熱作用を持つので、蓄熱層を別個に
設ける必要はない。Siウエハの場合、材料の入手が容
易であり(半導体プロセス分野で大量に出回ってい
る)、各種の半導体プロセス装置を利用でき、量産性が
高く都合がよい。
する発熱体基板2、流路基板3等について詳細に説明す
る。まず、発熱体基板2について説明する。この発熱体
基板2用の基板としては、アルミナセラミックス、ガラ
ス、Siウエハなどが用いられる。アルミナセラミック
スの場合には、蓄熱層としてグレーズ層を設けたものが
用いられる。或いは、スパッタリング等の技術によって
SiO2 を数μmの厚さで形成したアルミナセラミック
ス板としてもよい。ガラスの場合、熱伝導率が低いため
ガラスそれ自体が蓄熱作用を持つので、蓄熱層を別個に
設ける必要はない。Siウエハの場合、材料の入手が容
易であり(半導体プロセス分野で大量に出回ってい
る)、各種の半導体プロセス装置を利用でき、量産性が
高く都合がよい。
【0020】本実施例の発熱体基板2には、例えば、S
iウエハが用いられ、Siウエハ上にヒータ8等が形成
されることになる。このSiウエハは例えば拡散炉中で
O2,H2O のガスを流しながら、800〜1000℃
の高温にさらされ、表面に熱酸化膜SiO2 を1〜2μ
m成長させる。この熱酸化膜SiO2 は図4に示すよう
に蓄熱層21として働き、後述するように発熱体で発生
した熱が発熱体基板2側に逃げないようにすることで、
インク方向に効率よく熱が伝わるようにするためのもの
である。この蓄熱層21上にはヒータ8となる発熱層2
2が形成される。この発熱層22を構成する材料として
は、タンタル‐SiO2 の混合物、窒化タンタル、ニク
ロム、銀‐パラジウム合金、シリコン半導体、或いは、
ハフニウム、ランタン、ジルコニウム、チタン、タンタ
ル、タングステン、モリブデン、ニオブ、クロム、バナ
ジウム等の金属の硼化物が有用である。金属の硼化物
中、特に優れているものは、硼化ハフニウムであり、以
下、硼化ジルコニウム、硼化ランタン、硼化タンタル、
硼化バナジウム、硼化ニオブの順となる。発熱層22は
このような材料を用いて、電子ビーム蒸着法やスパッタ
リング法などの手法により形成される。発熱層22の膜
厚としては、単位時間当りの発熱量が所望通りとなるよ
うに、その面積、材料及び熱作用部分の形状及び大き
さ、さらには、実際面での消費電力等によって決定され
るが、通常、0.001〜0.5μm、より好ましくは
0.01〜1μmとされる。本実施例では、その一例と
してHfB2 (硼化ハフニム)を材料として2000Å
の膜厚にスパッタリング形成されている。
iウエハが用いられ、Siウエハ上にヒータ8等が形成
されることになる。このSiウエハは例えば拡散炉中で
O2,H2O のガスを流しながら、800〜1000℃
の高温にさらされ、表面に熱酸化膜SiO2 を1〜2μ
m成長させる。この熱酸化膜SiO2 は図4に示すよう
に蓄熱層21として働き、後述するように発熱体で発生
した熱が発熱体基板2側に逃げないようにすることで、
インク方向に効率よく熱が伝わるようにするためのもの
である。この蓄熱層21上にはヒータ8となる発熱層2
2が形成される。この発熱層22を構成する材料として
は、タンタル‐SiO2 の混合物、窒化タンタル、ニク
ロム、銀‐パラジウム合金、シリコン半導体、或いは、
ハフニウム、ランタン、ジルコニウム、チタン、タンタ
ル、タングステン、モリブデン、ニオブ、クロム、バナ
ジウム等の金属の硼化物が有用である。金属の硼化物
中、特に優れているものは、硼化ハフニウムであり、以
下、硼化ジルコニウム、硼化ランタン、硼化タンタル、
硼化バナジウム、硼化ニオブの順となる。発熱層22は
このような材料を用いて、電子ビーム蒸着法やスパッタ
リング法などの手法により形成される。発熱層22の膜
厚としては、単位時間当りの発熱量が所望通りとなるよ
うに、その面積、材料及び熱作用部分の形状及び大き
さ、さらには、実際面での消費電力等によって決定され
るが、通常、0.001〜0.5μm、より好ましくは
0.01〜1μmとされる。本実施例では、その一例と
してHfB2 (硼化ハフニム)を材料として2000Å
の膜厚にスパッタリング形成されている。
【0021】電極9,10を構成する材料としては、通
常使用されている電極材料の多くのものを使用し得る。
具体的には、例えばAl,Ag,Au,Pt,Cu等が
挙げられ、これらを使用して蒸着等の手法により発熱層
22上の所定位置に所定の大きさ、形状、膜厚で形成さ
れる。本実施例では、例えばAlを用い、スパッタリン
グ法により膜厚1.4μmの電極9,10を形成した。
常使用されている電極材料の多くのものを使用し得る。
具体的には、例えばAl,Ag,Au,Pt,Cu等が
挙げられ、これらを使用して蒸着等の手法により発熱層
22上の所定位置に所定の大きさ、形状、膜厚で形成さ
れる。本実施例では、例えばAlを用い、スパッタリン
グ法により膜厚1.4μmの電極9,10を形成した。
【0022】ついで、これらの発熱層22や電極9,1
0上には保護層23が形成される。この保護層23に要
求される特性は、ヒータ8部分で発生した熱をインクに
効率よく伝達することを妨げず、かつ、ヒータ8をイン
クから保護し得ることである。よって、この保護層23
を構成する材料としては、例えば酸化シリコン、窒化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタル、酸化ジルコニウム等がよい。これらを材料とし
て、電子ビーム蒸着法やスパッタリング法により保護層
23が形成される。また、炭化珪素、酸化アルミニウム
等のセラミックス材料を用いてもよい。保護層23の膜
厚としては、通常、0.01〜10μmとされるが、好
ましくは、0.1〜5μm、最適には0.1〜3μm程
度とするのがよい。本実施例では、SiO2 膜としてス
パッタリング法により1.2μmの膜厚に形成した。
0上には保護層23が形成される。この保護層23に要
求される特性は、ヒータ8部分で発生した熱をインクに
効率よく伝達することを妨げず、かつ、ヒータ8をイン
クから保護し得ることである。よって、この保護層23
を構成する材料としては、例えば酸化シリコン、窒化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタル、酸化ジルコニウム等がよい。これらを材料とし
て、電子ビーム蒸着法やスパッタリング法により保護層
23が形成される。また、炭化珪素、酸化アルミニウム
等のセラミックス材料を用いてもよい。保護層23の膜
厚としては、通常、0.01〜10μmとされるが、好
ましくは、0.1〜5μm、最適には0.1〜3μm程
度とするのがよい。本実施例では、SiO2 膜としてス
パッタリング法により1.2μmの膜厚に形成した。
【0023】さらに、保護層23上に耐キャビテーショ
ン保護層24が形成されている。この保護層24は発熱
体領域を気泡発生によるキャビテーション破壊から保護
するためのものであり、例えば、Taをスパッタリング
法により4000Åの膜厚に形成される。さらに、その
上部には、電極9,10対応位置に位置させて膜厚2μ
mのResin層が電極保護層25として形成されている。
ン保護層24が形成されている。この保護層24は発熱
体領域を気泡発生によるキャビテーション破壊から保護
するためのものであり、例えば、Taをスパッタリング
法により4000Åの膜厚に形成される。さらに、その
上部には、電極9,10対応位置に位置させて膜厚2μ
mのResin層が電極保護層25として形成されている。
【0024】次に、流路基板3について説明する。この
流路基板3は発熱体基板2と同じく単結晶Siウエハ、
より具体的には、図5に示すように(100)面の結晶
方位に切出されたSiウエハが用いられる。この単結晶
Siウエハは図におけるX軸とY軸とが互いに直交する
<110>軸となるように選定され、かつ、X‐Y軸面
(上下面)が単結晶の(100)面となるように選定さ
れている。このようにすると、単結晶の(111)面は
Y軸に平行で、かつ、X‐Y軸面に対して約54.7°
の角度で交わることになる。
流路基板3は発熱体基板2と同じく単結晶Siウエハ、
より具体的には、図5に示すように(100)面の結晶
方位に切出されたSiウエハが用いられる。この単結晶
Siウエハは図におけるX軸とY軸とが互いに直交する
<110>軸となるように選定され、かつ、X‐Y軸面
(上下面)が単結晶の(100)面となるように選定さ
れている。このようにすると、単結晶の(111)面は
Y軸に平行で、かつ、X‐Y軸面に対して約54.7°
の角度で交わることになる。
【0025】このような流路基板3に形成される流路用
溝6は発熱体基板2と積層した状態で流路が断面台形状
となるような形状とされるが、その断面台形状をなす2
つの側面は各々等価な(111)面により傾斜面として
形成され、天井面は(100)面により形成されてい
る。ここに、(111)面は他の結晶面に比べ水酸化ナ
トリウム、水酸化カリウム、ヒトラジンのようなアルカ
リ系溶液によるエッチング速度が極めて遅く、(10
0)面をアルカリ系溶液でエッチングすると、(10
0)面に対して約54.7°をなす(111)面が現
れ、図5に示すように断面台形状をなすように拡開した
流路用溝6が形成される。このような断面台形状溝の開
口部(底部)の溝幅aはフォトエッチングの際のフォト
レジストの間隔で定まり、極めて精度の高いものとな
る。また、断面台形状溝の深さdは、異方性エッチング
時間をコントロールすることにより容易に管理できる。
さらには、このようなエッチングによって現れた(11
1)面は鏡面状態となっており極めて平滑で直線性のよ
いものとなる。
溝6は発熱体基板2と積層した状態で流路が断面台形状
となるような形状とされるが、その断面台形状をなす2
つの側面は各々等価な(111)面により傾斜面として
形成され、天井面は(100)面により形成されてい
る。ここに、(111)面は他の結晶面に比べ水酸化ナ
トリウム、水酸化カリウム、ヒトラジンのようなアルカ
リ系溶液によるエッチング速度が極めて遅く、(10
0)面をアルカリ系溶液でエッチングすると、(10
0)面に対して約54.7°をなす(111)面が現
れ、図5に示すように断面台形状をなすように拡開した
流路用溝6が形成される。このような断面台形状溝の開
口部(底部)の溝幅aはフォトエッチングの際のフォト
レジストの間隔で定まり、極めて精度の高いものとな
る。また、断面台形状溝の深さdは、異方性エッチング
時間をコントロールすることにより容易に管理できる。
さらには、このようなエッチングによって現れた(11
1)面は鏡面状態となっており極めて平滑で直線性のよ
いものとなる。
【0026】ここに、このような単結晶Siウエハを用
いて、異方性フォトエッチング法により断面台形状の流
路用溝6を形成する方法について、図6を参照して説明
する。
いて、異方性フォトエッチング法により断面台形状の流
路用溝6を形成する方法について、図6を参照して説明
する。
【0027】まず、図5で説明したような結晶方位のS
i単結晶からなる流路基板3を用意する。図6(a)に
示す状態では、紙面に対して垂直方向が<110>軸、
この基板3の上下面が(100)面となる。このような
基板3を、例えば800〜1200℃程度の水蒸気雰囲
気中に置き、表面全面に熱酸化膜26を形成する。熱酸
化膜26の膜厚はエッチング深さの0.3%程度あれば
十分である。
i単結晶からなる流路基板3を用意する。図6(a)に
示す状態では、紙面に対して垂直方向が<110>軸、
この基板3の上下面が(100)面となる。このような
基板3を、例えば800〜1200℃程度の水蒸気雰囲
気中に置き、表面全面に熱酸化膜26を形成する。熱酸
化膜26の膜厚はエッチング深さの0.3%程度あれば
十分である。
【0028】ついで、同図(b)に示すように、熱酸化
膜26の上面全面に周知の方法でフォトレジストを塗布
し、これを写真乾板を用いて露光し、現像を行い、フォ
トレジストパターン27を得る。
膜26の上面全面に周知の方法でフォトレジストを塗布
し、これを写真乾板を用いて露光し、現像を行い、フォ
トレジストパターン27を得る。
【0029】ついで、同図(c)に示すように、このフ
ォトレジストパターン27により露出している部分の熱
酸化膜26をフッ酸水溶液等により除去し、シリコンの
露出部3aを得て、その後、フォトレジストパターン2
7を取り去る。
ォトレジストパターン27により露出している部分の熱
酸化膜26をフッ酸水溶液等により除去し、シリコンの
露出部3aを得て、その後、フォトレジストパターン2
7を取り去る。
【0030】このような状態にある基板3を、22%,
90℃の水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液中にお
いてエッチングする。ここに、エッチング液に水酸化テ
トラメチルアンモニウム水溶液を用いるのは、この他の
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のエッチング液を
利用した場合に比べ、天井面(溝では、底面となる)と
して露出してくる(100)面が、両側の(111)面
と同様に、非常に滑らかな鏡面状態となるからである。
これにより露出部3aのエッチングが進行するが、(1
11)面のエッチング進行速度は(100)面における
エッチング進行速度の0.3〜0.4%程度であるた
め、異方性エッチングとなり、露出部3aの各溝部から
は基板3の上面(前述したように、(100)面であ
る)に対し、tan~1√2(約54.7°)の角度をなす
(111)面が現れる。結局、エッチングにより形成さ
れる流路用溝6の溝形状は同図(d)に示すように断面
台形状となる。
90℃の水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液中にお
いてエッチングする。ここに、エッチング液に水酸化テ
トラメチルアンモニウム水溶液を用いるのは、この他の
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のエッチング液を
利用した場合に比べ、天井面(溝では、底面となる)と
して露出してくる(100)面が、両側の(111)面
と同様に、非常に滑らかな鏡面状態となるからである。
これにより露出部3aのエッチングが進行するが、(1
11)面のエッチング進行速度は(100)面における
エッチング進行速度の0.3〜0.4%程度であるた
め、異方性エッチングとなり、露出部3aの各溝部から
は基板3の上面(前述したように、(100)面であ
る)に対し、tan~1√2(約54.7°)の角度をなす
(111)面が現れる。結局、エッチングにより形成さ
れる流路用溝6の溝形状は同図(d)に示すように断面
台形状となる。
【0031】このような断面台形状溝の精度について考
察すると、まず、熱酸化膜26端部の下溝における、い
わゆるアンダカットは極めて小さく、(100)面のエ
ッチング深さの0.2%程度でしかない。従って、断面
台形状溝の底部溝幅aは、フォトマスクの誤差を考慮に
入れても±1μm程度の精度とすることができる。
察すると、まず、熱酸化膜26端部の下溝における、い
わゆるアンダカットは極めて小さく、(100)面のエ
ッチング深さの0.2%程度でしかない。従って、断面
台形状溝の底部溝幅aは、フォトマスクの誤差を考慮に
入れても±1μm程度の精度とすることができる。
【0032】最後に、同図(e)に示すように、エッチ
ングマスクに使用した熱酸化膜26をフッ酸水溶液等に
より除去することにより断面台形状なる流路用溝6が形
成された単結晶Siのみによる流路基板3となる。な
お、このような流路基板3を実際にヘッドチップ1に適
用するには、Siウエハをインクから保護するため、S
iO2 ,Si3N4等の保護膜で保護するようにするのが
よい。
ングマスクに使用した熱酸化膜26をフッ酸水溶液等に
より除去することにより断面台形状なる流路用溝6が形
成された単結晶Siのみによる流路基板3となる。な
お、このような流路基板3を実際にヘッドチップ1に適
用するには、Siウエハをインクから保護するため、S
iO2 ,Si3N4等の保護膜で保護するようにするのが
よい。
【0033】このように異方性エッチングにより断面台
形状で形成された流路用溝6を有する流路基板3は、前
述したようにヒータ8等が形成された発熱体基板2上
に、接合又は圧接されて積層状態とされる。ここに、積
層されたこれらの基板2,3について、ヒータ8部分か
ら少し下流(100〜200μm程度)の領域におい
て、流路(流路用溝6)に対してほぼ垂直方向にダイシ
ングソーによって切断することにより、流路一端が直接
インク吐出ノズル5となるヘッドチップ1が完成する。
図1(a)はこのようにして完成したヘッドチップ1を
示し、同図(b)はそのインク吐出ノズル5から見た一
部を拡大して示す正面図である。
形状で形成された流路用溝6を有する流路基板3は、前
述したようにヒータ8等が形成された発熱体基板2上
に、接合又は圧接されて積層状態とされる。ここに、積
層されたこれらの基板2,3について、ヒータ8部分か
ら少し下流(100〜200μm程度)の領域におい
て、流路(流路用溝6)に対してほぼ垂直方向にダイシ
ングソーによって切断することにより、流路一端が直接
インク吐出ノズル5となるヘッドチップ1が完成する。
図1(a)はこのようにして完成したヘッドチップ1を
示し、同図(b)はそのインク吐出ノズル5から見た一
部を拡大して示す正面図である。
【0034】なお、インク吐出用のインク吐出ノズル5
の形成方法としては、上記のように、ダイシングソーに
よって切断した面をそのまま直接インク吐出ノズル5と
する他、例えば、図7に示すように、流路対応の台形状
のインク吐出ノズル28aを形成したノズル板(薄膜基
板)28を別個に用意し、これをヘッドチップ1の端面
に接合させるようにしてもよい。このようなノズル板2
8は、例えばポリサルフォン、ポリエーテルサルフォ
ン、ポリフェニレンオキサイド、ポリプロピレンなどの
樹脂板(厚さは、10〜50μm程度)に、エキシマレ
ーザを照射して樹脂を除去・蒸発させることによりイン
ク吐出ノズル28aを形成したものとすればよい。この
ような製法によると、インク吐出ノズル28a用の台形
状のマスクパターンに沿った精密な加工を簡単に行うこ
とができ、高精度なノズル板28が得られる。このノズ
ル板28はヘッドチップ1の切断面に接着剤により接合
される。或いは、上記のような樹脂板をヘッドチップ1
の切断面に接合させた後に、エキシマレーザを照射して
吐出ノズル28aを形成するようにしてもよい。このよ
うにすれば、流路(流路用溝6)と吐出ノズル28aと
を整合させる点に関する煩雑さから解放されるものとな
る。また、このような製法で得られるインク吐出ノズル
28aの大きさは、ヘッドチップ1の切断面におけるイ
ンク流路の断面の大きさと同等か、やや小さめとするの
がよい。何れにしても、このようにノズル板28を別体
で設けたヘッド構造によれば、図1等に示したものに比
べ、インク噴射の安定性が高いものとなる。
の形成方法としては、上記のように、ダイシングソーに
よって切断した面をそのまま直接インク吐出ノズル5と
する他、例えば、図7に示すように、流路対応の台形状
のインク吐出ノズル28aを形成したノズル板(薄膜基
板)28を別個に用意し、これをヘッドチップ1の端面
に接合させるようにしてもよい。このようなノズル板2
8は、例えばポリサルフォン、ポリエーテルサルフォ
ン、ポリフェニレンオキサイド、ポリプロピレンなどの
樹脂板(厚さは、10〜50μm程度)に、エキシマレ
ーザを照射して樹脂を除去・蒸発させることによりイン
ク吐出ノズル28aを形成したものとすればよい。この
ような製法によると、インク吐出ノズル28a用の台形
状のマスクパターンに沿った精密な加工を簡単に行うこ
とができ、高精度なノズル板28が得られる。このノズ
ル板28はヘッドチップ1の切断面に接着剤により接合
される。或いは、上記のような樹脂板をヘッドチップ1
の切断面に接合させた後に、エキシマレーザを照射して
吐出ノズル28aを形成するようにしてもよい。このよ
うにすれば、流路(流路用溝6)と吐出ノズル28aと
を整合させる点に関する煩雑さから解放されるものとな
る。また、このような製法で得られるインク吐出ノズル
28aの大きさは、ヘッドチップ1の切断面におけるイ
ンク流路の断面の大きさと同等か、やや小さめとするの
がよい。何れにしても、このようにノズル板28を別体
で設けたヘッド構造によれば、図1等に示したものに比
べ、インク噴射の安定性が高いものとなる。
【0035】このような本実施例の基本構成によれば、
インク流路が非常に滑らかなため、インク噴射性能に優
れたものであろうことは、容易に推察し得る。しかし、
前述したように、現実には、流路用溝6ないしは流路を
どのような大きさにしたら最も安定してインク噴射を行
えるかは不明である。また、その形状が断面台形状であ
るという点において、従来よりある円形、正方形といっ
た流路断面を持つものと異なっているため、インク吐出
ノズル部の最適なディメンジョンも明らかではない。そ
こで、インク吐出ノズル部(流路)のディメンジョンを
種々変えたヘッドチップを試作して以下のようなインク
噴射実験を実験1,2として行い、その最適値を見出し
たものである。
インク流路が非常に滑らかなため、インク噴射性能に優
れたものであろうことは、容易に推察し得る。しかし、
前述したように、現実には、流路用溝6ないしは流路を
どのような大きさにしたら最も安定してインク噴射を行
えるかは不明である。また、その形状が断面台形状であ
るという点において、従来よりある円形、正方形といっ
た流路断面を持つものと異なっているため、インク吐出
ノズル部の最適なディメンジョンも明らかではない。そ
こで、インク吐出ノズル部(流路)のディメンジョンを
種々変えたヘッドチップを試作して以下のようなインク
噴射実験を実験1,2として行い、その最適値を見出し
たものである。
【0036】(実験1)300dpi の配列密度で64ノ
ズルを1列に配列したヘッドチップを試作した。ここ
に、発熱体基板2は全て同じ大きさのものを使用し、流
路基板3は底部溝幅a、両基板2,3の接触面における
各溝間隔b(図1(b)参照)及び溝深さdを表1のよ
うに変えた複数個のサンプルを用意した。なお、ヒータ
8のサイズは35μm×160μm(抵抗値121Ω)
なる矩形形状とし、インク吐出ノズル5〜ヒータ8間距
離は200μmとした。また、ヘッド構造は図1(a)
に示したような、インク吐出ノズル5を直接ダイシング
ソーで切出したものとした。ヘッド駆動条件に関して
は、駆動電圧VO を29V、駆動パルス幅PW を6μ
s、連続駆動周波数FO を6.6kHzとし、使用液体
は水75%、グリセリン18%、エチルアルコール4.
7%、C.I.ダイレクトブラック154(染料)2.
3%の組成のものとした。表1に噴射評価の結果を示
す。
ズルを1列に配列したヘッドチップを試作した。ここ
に、発熱体基板2は全て同じ大きさのものを使用し、流
路基板3は底部溝幅a、両基板2,3の接触面における
各溝間隔b(図1(b)参照)及び溝深さdを表1のよ
うに変えた複数個のサンプルを用意した。なお、ヒータ
8のサイズは35μm×160μm(抵抗値121Ω)
なる矩形形状とし、インク吐出ノズル5〜ヒータ8間距
離は200μmとした。また、ヘッド構造は図1(a)
に示したような、インク吐出ノズル5を直接ダイシング
ソーで切出したものとした。ヘッド駆動条件に関して
は、駆動電圧VO を29V、駆動パルス幅PW を6μ
s、連続駆動周波数FO を6.6kHzとし、使用液体
は水75%、グリセリン18%、エチルアルコール4.
7%、C.I.ダイレクトブラック154(染料)2.
3%の組成のものとした。表1に噴射評価の結果を示
す。
【0037】
【表1】
【0038】実験1の結果を示す表1によれば、流路基
板3において流路用溝6の大きさ、隣接溝間の位置関係
等を規制する寸法a,bに関して、a/bの値が例えば
1.854のようにある値よりも小さいと流路中のイン
クの流れが停止し、噴射も停止してしまうという不良が
起こり得ることが分かる。また、a/bの値が4.77
3のようにある値よりも大きいと隣接ジェットが互いに
接触干渉してまっすぐに飛ばないという不良が起こり得
ることも分かる。つまり、表1の結果をまとめると、2
≦a/b≦3.8となるような関係を満たすような流路
用溝6を形成すればよいといえる。
板3において流路用溝6の大きさ、隣接溝間の位置関係
等を規制する寸法a,bに関して、a/bの値が例えば
1.854のようにある値よりも小さいと流路中のイン
クの流れが停止し、噴射も停止してしまうという不良が
起こり得ることが分かる。また、a/bの値が4.77
3のようにある値よりも大きいと隣接ジェットが互いに
接触干渉してまっすぐに飛ばないという不良が起こり得
ることも分かる。つまり、表1の結果をまとめると、2
≦a/b≦3.8となるような関係を満たすような流路
用溝6を形成すればよいといえる。
【0039】(実験2)実験1と同一のディメンジョン
のヘッドチップを試作した。ただし、実験1と異なり、
この実験2では図7に示したように別体のノズル板28
を接合させたヘッド構造のものとした。なお、ノズル板
28に関しては、厚さ30μmのポリサルルフォン樹脂
をエキシマレーザでノズル加工したものとした。また、
このようなノズル板28を接合させると、ノズル最表面
からヒータ8までの距離が変わるので、この点を考慮
し、実験2ではダイシングソーによる流路端面の切出し
を行い、このノズル板28を接合させた時点でのノズル
最表面からヒータ8までの距離が実験1の場合と同じ
(200μm)になるようにした。
のヘッドチップを試作した。ただし、実験1と異なり、
この実験2では図7に示したように別体のノズル板28
を接合させたヘッド構造のものとした。なお、ノズル板
28に関しては、厚さ30μmのポリサルルフォン樹脂
をエキシマレーザでノズル加工したものとした。また、
このようなノズル板28を接合させると、ノズル最表面
からヒータ8までの距離が変わるので、この点を考慮
し、実験2ではダイシングソーによる流路端面の切出し
を行い、このノズル板28を接合させた時点でのノズル
最表面からヒータ8までの距離が実験1の場合と同じ
(200μm)になるようにした。
【0040】この実験2による噴射評価の結果も、実験
1の場合と同様に、2≦a/b≦3.8となるような関
係を満たすような流路用溝6とした場合に安定した液滴
飛翔が得られたものである。もっとも、実験2の場合に
は実験1以上の良好なる結果が得られたものである。即
ち、実験1の場合の評価結果はほぼ安定した条件内で最
高の駆動周波数でインク噴射を行った結果であるが、実
験2の場合は、連続駆動周波数FO を9.2kHzまで
高めても安定したインク噴射が行われたものである。こ
の理由を考えると、ダイシングソーによる流路端面の切
出し口を直接インク吐出ノズル5とする構造の場合、図
1に示すように両基板2,3が接触する領域(寸法bを
構成する領域=接合代A)がノズル最表面に現れること
になるが、別体のノズル板28を用いる場合、図7に示
すように両基板2,3の接合代がノズル最表面には現れ
ずノズル板28によって滑らかな最表面となるため、隣
接ジェットが互いに影響を及ぼしにくくなるためである
と考えられる。この結果、図7に示すような構造のヘッ
ドによれば、連続駆動周波数をより高めた高速噴射を安
定して行わせることができる。
1の場合と同様に、2≦a/b≦3.8となるような関
係を満たすような流路用溝6とした場合に安定した液滴
飛翔が得られたものである。もっとも、実験2の場合に
は実験1以上の良好なる結果が得られたものである。即
ち、実験1の場合の評価結果はほぼ安定した条件内で最
高の駆動周波数でインク噴射を行った結果であるが、実
験2の場合は、連続駆動周波数FO を9.2kHzまで
高めても安定したインク噴射が行われたものである。こ
の理由を考えると、ダイシングソーによる流路端面の切
出し口を直接インク吐出ノズル5とする構造の場合、図
1に示すように両基板2,3が接触する領域(寸法bを
構成する領域=接合代A)がノズル最表面に現れること
になるが、別体のノズル板28を用いる場合、図7に示
すように両基板2,3の接合代がノズル最表面には現れ
ずノズル板28によって滑らかな最表面となるため、隣
接ジェットが互いに影響を及ぼしにくくなるためである
と考えられる。この結果、図7に示すような構造のヘッ
ドによれば、連続駆動周波数をより高めた高速噴射を安
定して行わせることができる。
【0041】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、単結晶精
度で滑らかに形成される断面台形状の複数の流路用溝に
関して、その底部溝幅aを発熱体基板に接する面におけ
る各溝間幅bに対して2b≦a≦3.8bなる長さ関係
に設定したので、十分速いインク飛翔速度を確保し、極
めて安定した噴射が得られるとともに、多数の流路を高
密度配列させても、隣接ジェットが影響し合って合体し
てしまう、といった悪影響がなく、画像乱れのない安定
した高密度・高画質の記録を行わせることができる。
度で滑らかに形成される断面台形状の複数の流路用溝に
関して、その底部溝幅aを発熱体基板に接する面におけ
る各溝間幅bに対して2b≦a≦3.8bなる長さ関係
に設定したので、十分速いインク飛翔速度を確保し、極
めて安定した噴射が得られるとともに、多数の流路を高
密度配列させても、隣接ジェットが影響し合って合体し
てしまう、といった悪影響がなく、画像乱れのない安定
した高密度・高画質の記録を行わせることができる。
【0042】請求項2記載の発明によれば、発熱体基板
と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される流
路の一端を直接インク吐出ノズルとしたので、ヘッド作
製が容易となる。
と流路基板との積層により流路用溝部分に形成される流
路の一端を直接インク吐出ノズルとしたので、ヘッド作
製が容易となる。
【0043】一方、請求項3記載の発明によれば、イン
ク吐出ノズルを有する薄膜基板を別体で用意して接合さ
せるようにしたので、インク吐出ノズル部分に基板間の
接合代がなくなってインク吐出ノズルの滑らかさが増す
ため、隣接ジェット間の影響を確実に防ぐことができ、
よって、連続駆動周波数をより高周波化させることが可
能となる。
ク吐出ノズルを有する薄膜基板を別体で用意して接合さ
せるようにしたので、インク吐出ノズル部分に基板間の
接合代がなくなってインク吐出ノズルの滑らかさが増す
ため、隣接ジェット間の影響を確実に防ぐことができ、
よって、連続駆動周波数をより高周波化させることが可
能となる。
【図1】本発明の一実施例を示し、(a)はヘッドチッ
プの斜視図、(b)はその一部を拡大して示す正面図で
ある。
プの斜視図、(b)はその一部を拡大して示す正面図で
ある。
【図2】発熱体基板を示す斜視図である。
【図3】サーマルインクジェットの記録原理を順に示す
縦断側面図である。
縦断側面図である。
【図4】ヒータ付近を拡大して示す縦断側面図である。
【図5】流路基板の結晶面及び結晶軸方向を示す斜視図
である。
である。
【図6】流路基板に関する異方性エッチング工程を順に
示す縦断正面図である。
示す縦断正面図である。
【図7】変形例を示す分解斜視図である。
2 発熱体基板 3 流路基板 6 流路用溝 5 インク吐出ノズル 9,10 電極 21 蓄熱層 22 発熱層 23 保護層 28 薄膜基板 28a インク吐出ノズル
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に蓄熱層と発熱層とこの発熱層に
通電するための電極と保護層とを形成した発熱体基板
と、(100)面の結晶方位面に切出されたシリコンウ
エハ基板上に異方性エッチングにより2つの等価な(1
11)面による側面と1つの(100)面による天井面
とで断面台形状となる複数の流路用溝を形成した流路基
板とよりなり、前記発熱体基板とこの流路基板とを発熱
面と溝面とが相対するように積層し、前記流路用溝の底
部溝幅aを前記発熱体基板に接する面における各溝間幅
bに対して2b≦a≦3.8bなる長さ関係に設定した
ことを特徴とするサーマルインクジェットヘッド。 - 【請求項2】 発熱体基板と流路基板との積層により流
路用溝部分に形成される流路の一端を直接インク吐出ノ
ズルとしたことを特徴とする請求項1記載のサーマルイ
ンクジェットヘッド。 - 【請求項3】 発熱体基板と流路基板との積層により流
路用溝部分に形成される流路の一端に、各流路に連通す
るインク吐出ノズルを形成した薄膜基板を接合させたこ
とを特徴とする請求項1記載のサーマルインクジェット
ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14166293A JPH07125205A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | サーマルインクジェットヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14166293A JPH07125205A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | サーマルインクジェットヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07125205A true JPH07125205A (ja) | 1995-05-16 |
Family
ID=15297263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14166293A Pending JPH07125205A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | サーマルインクジェットヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07125205A (ja) |
-
1993
- 1993-06-14 JP JP14166293A patent/JPH07125205A/ja active Pending
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