JPH07128676A - 液晶表示基板 - Google Patents
液晶表示基板Info
- Publication number
- JPH07128676A JPH07128676A JP27530793A JP27530793A JPH07128676A JP H07128676 A JPH07128676 A JP H07128676A JP 27530793 A JP27530793 A JP 27530793A JP 27530793 A JP27530793 A JP 27530793A JP H07128676 A JPH07128676 A JP H07128676A
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- Japan
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- aluminum
- liquid crystal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 アルミニュウムを主成分とする配線層がその
ヒロックあるいはホィスカ等によって上層に積層されて
いる層とで電気的短絡を生じるのを防止する。 【構成】 液晶を介して互いに対向配置される透明基板
のうち一方の透明基板の液晶側に少なくともアルミニウ
ムを主成分とする配線層が形成され、このアルミニウム
層の表面に絶縁膜を介して導電層あるいは半導体層が積
層されてる液晶表示基板において、少なくとも前記導電
層あるいは半導体層が積層されている配線層の上面にア
ルミニウムよりも高融点の金属層が形成されている。
ヒロックあるいはホィスカ等によって上層に積層されて
いる層とで電気的短絡を生じるのを防止する。 【構成】 液晶を介して互いに対向配置される透明基板
のうち一方の透明基板の液晶側に少なくともアルミニウ
ムを主成分とする配線層が形成され、このアルミニウム
層の表面に絶縁膜を介して導電層あるいは半導体層が積
層されてる液晶表示基板において、少なくとも前記導電
層あるいは半導体層が積層されている配線層の上面にア
ルミニウムよりも高融点の金属層が形成されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示基板に係り、
特に、その液晶側の面に形成されているアルミニウムを
主成分とする配線層の改良に関する。
特に、その液晶側の面に形成されているアルミニウムを
主成分とする配線層の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】アクティブ・マトリクス方式の液晶表示
装置は、マトリクス状に配列された複数の画素電極のそ
れぞれに対応して非線形素子(スイッチング素子)を設
けたものである。各画素における液晶は理論的には常時
駆動(デューティ比 1.0)されているので、時分割駆動
方式を採用している、いわゆる単純マトリクス方式と比
べてアクティブ方式はコントラストが良く、特にカラー
液晶表示装置では欠かせない技術となりつつある。スイ
ッチング素子として代表的なものとしては薄膜トランジ
スタ(TFT)がある。
装置は、マトリクス状に配列された複数の画素電極のそ
れぞれに対応して非線形素子(スイッチング素子)を設
けたものである。各画素における液晶は理論的には常時
駆動(デューティ比 1.0)されているので、時分割駆動
方式を採用している、いわゆる単純マトリクス方式と比
べてアクティブ方式はコントラストが良く、特にカラー
液晶表示装置では欠かせない技術となりつつある。スイ
ッチング素子として代表的なものとしては薄膜トランジ
スタ(TFT)がある。
【0003】そして、画素電極あるいは非線形素子に信
号を供給するための配線層としては、その高精細に加工
のし易いアルミニュウム(Al)、あるいはその合金で
形成することが通常となっている。
号を供給するための配線層としては、その高精細に加工
のし易いアルミニュウム(Al)、あるいはその合金で
形成することが通常となっている。
【0004】なお、薄膜トランジスタを使用したアクテ
ィブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、例えば特開昭
63−309921号公報や、「冗長構成を採用した1
2.5型アクティブ・マトリクス方式カラー液晶ディスプ
レイ」、日経エレクトロニクス、頁193〜210、1986年12
月15日、日経マグロウヒル社発行、で知られている。
ィブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、例えば特開昭
63−309921号公報や、「冗長構成を採用した1
2.5型アクティブ・マトリクス方式カラー液晶ディスプ
レイ」、日経エレクトロニクス、頁193〜210、1986年12
月15日、日経マグロウヒル社発行、で知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、配線層として
アルミニュウム(Al)あるいはその合金を用いた場
合、その材料の特性から、その表面にヒロックあるいは
ホィスカ等と称される微細突状体が形成されることによ
る問題点が指摘されるに到った。
アルミニュウム(Al)あるいはその合金を用いた場
合、その材料の特性から、その表面にヒロックあるいは
ホィスカ等と称される微細突状体が形成されることによ
る問題点が指摘されるに到った。
【0006】すなわち、配線層の該微細突状体が、たと
え絶縁層を介しても、その上層に形成される導電層ある
いは半導体層にまで到って突出するように形成され、該
導電層あるいは半導体層との間に電気的短絡を生じせし
めてしまうからである。
え絶縁層を介しても、その上層に形成される導電層ある
いは半導体層にまで到って突出するように形成され、該
導電層あるいは半導体層との間に電気的短絡を生じせし
めてしまうからである。
【0007】それ故、本発明は、このような事情に基づ
いてなされたものであり、その目的とするところのもの
は、アルミニュウムを主成分とする配線層がそのヒロッ
クあるいはホィスカ等によって上層に積層されている層
との電気的短絡を生じるのを防止できる液晶表示基板を
提供することにある。
いてなされたものであり、その目的とするところのもの
は、アルミニュウムを主成分とする配線層がそのヒロッ
クあるいはホィスカ等によって上層に積層されている層
との電気的短絡を生じるのを防止できる液晶表示基板を
提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、基本的には、液晶を介して互いに
対向配置される透明基板のうち一方の透明基板の液晶側
に少なくともアルミニウムを主成分とする配線層が形成
され、このアルミニウム層の表面に絶縁膜を介して導電
層あるいは半導体層が積層されてる液晶表示基板におい
て、少なくとも前記導電層あるいは半導体層が積層され
ている配線層の上面にアルミニウムよりも高融点の金属
層が形成されていることを特徴とするものである。
るために、本発明は、基本的には、液晶を介して互いに
対向配置される透明基板のうち一方の透明基板の液晶側
に少なくともアルミニウムを主成分とする配線層が形成
され、このアルミニウム層の表面に絶縁膜を介して導電
層あるいは半導体層が積層されてる液晶表示基板におい
て、少なくとも前記導電層あるいは半導体層が積層され
ている配線層の上面にアルミニウムよりも高融点の金属
層が形成されていることを特徴とするものである。
【0009】
【作用】このように構成された液晶表示基板は、アルミ
ニウムを主成分とする配線層の上面に、特に該アルミニ
ウムよりも高融点の金属層が形成されているものとなっ
ている。
ニウムを主成分とする配線層の上面に、特に該アルミニ
ウムよりも高融点の金属層が形成されているものとなっ
ている。
【0010】それ故、前記配線層を形成した段階でその
表面にヒロックあるいはホィスカ等と称される微細突状
体が形成されていても、その上面に形成される金属層に
よって該金属層表面に突出するようなことはなく、ま
た、該金属層自体においても上述したような微細突状体
が発生するようなことはなくなる。
表面にヒロックあるいはホィスカ等と称される微細突状
体が形成されていても、その上面に形成される金属層に
よって該金属層表面に突出するようなことはなく、ま
た、該金属層自体においても上述したような微細突状体
が発生するようなことはなくなる。
【0011】それ故、絶縁層を介して導電層あるいは半
導体層を積層させても、前記配線層とそれら積層体との
間で電気的短絡を発生させるようなことはなくなる。
導体層を積層させても、前記配線層とそれら積層体との
間で電気的短絡を発生させるようなことはなくなる。
【0012】したがって、アルミニュウムを主成分とす
る配線層がそのヒロックあるいはホィスカ等によって上
層に積層される層との間で電気的短絡を生ぜしめるよう
なことはなくなる。
る配線層がそのヒロックあるいはホィスカ等によって上
層に積層される層との間で電気的短絡を生ぜしめるよう
なことはなくなる。
【0013】
【実施例】実施例1. 図2は、本発明による液晶表示基板の構成図
で、液晶を介して対向配置されるものうちの一方の透明
ガラス基板の液晶側の面を示す平面図である。同図はマ
トリックス状に配置された各画素電極のうちの一の画素
電極とその近傍の構成を示した平面図である。
で、液晶を介して対向配置されるものうちの一方の透明
ガラス基板の液晶側の面を示す平面図である。同図はマ
トリックス状に配置された各画素電極のうちの一の画素
電極とその近傍の構成を示した平面図である。
【0014】同図において、透明ガラス基板1の主表面
に、図中x方向に延在するゲート信号線2があり、この
ゲート信号線2は図中y方向に複数個互いに平行になっ
て並設されている。
に、図中x方向に延在するゲート信号線2があり、この
ゲート信号線2は図中y方向に複数個互いに平行になっ
て並設されている。
【0015】一方、図中y方向に延在するドレイン信号
線3があり、このドレイン信号線3は図中x方向に複数
個互いに平行になって並設されている。これらドレイン
信号線3は少なくともゲート信号線2との間に形成され
た層間絶縁膜(図示せず)によって互いに絶縁されて交
差するようになっている。
線3があり、このドレイン信号線3は図中x方向に複数
個互いに平行になって並設されている。これらドレイン
信号線3は少なくともゲート信号線2との間に形成され
た層間絶縁膜(図示せず)によって互いに絶縁されて交
差するようになっている。
【0016】ゲート信号線2とドレイン信号線3とで囲
まれる矩形の領域内には画素電極4が形成されている。
この画素電極4は透明導電層(たとえばITO)から構
成されているもので、その一部は他の導電層を介してゲ
ート信号線2上に形成されている薄膜トランジスタ(T
FT)の部分にまで延在されてソース電極4Aを構成し
ている。
まれる矩形の領域内には画素電極4が形成されている。
この画素電極4は透明導電層(たとえばITO)から構
成されているもので、その一部は他の導電層を介してゲ
ート信号線2上に形成されている薄膜トランジスタ(T
FT)の部分にまで延在されてソース電極4Aを構成し
ている。
【0017】該薄膜トランジスタ(TFT)は、ゲート
信号線2の表面に前記層間絶縁膜と同工程で形成したゲ
ート絶縁膜およびたとえばa(アモルファス)−Siか
らなる半導体層5が順次形成されて構成されているもの
であり、該半導体層5上の前記ソース電極4Aと対向配
置されて形成されているドレイン電極4Bはドレイン信
号線3と一体に形成されている。
信号線2の表面に前記層間絶縁膜と同工程で形成したゲ
ート絶縁膜およびたとえばa(アモルファス)−Siか
らなる半導体層5が順次形成されて構成されているもの
であり、該半導体層5上の前記ソース電極4Aと対向配
置されて形成されているドレイン電極4Bはドレイン信
号線3と一体に形成されている。
【0018】また、画素電極4の他の部分は隣接する他
方のゲート信号線2の一部に到るまで延在し前記層間絶
縁膜と同工程で形成される誘電体膜を介して重畳され
て、この重畳領域においてコンデンサCaddを形成し
ている。
方のゲート信号線2の一部に到るまで延在し前記層間絶
縁膜と同工程で形成される誘電体膜を介して重畳され
て、この重畳領域においてコンデンサCaddを形成し
ている。
【0019】なお、このように構成されたガラス基板1
の表面には画素電極4の周辺部を残した中央部に孔開け
がなされた保護膜(図示せず)がたとえばシリコン窒化
膜等で形成されている。
の表面には画素電極4の周辺部を残した中央部に孔開け
がなされた保護膜(図示せず)がたとえばシリコン窒化
膜等で形成されている。
【0020】図3は、前記図2の薄膜トランジスタ(T
FT)の部分を拡大して示した図であり、そのI−I線
における断面図を図1に示している。
FT)の部分を拡大して示した図であり、そのI−I線
における断面図を図1に示している。
【0021】図1において、透明ガラス基板1があり、
その主表面にはゲート信号線2が形成され、このゲート
信号線2は、アルミニュウム(Al)層2Aからなり、
その表面にはタンタル(Ta)2B層が積層されてい
る。
その主表面にはゲート信号線2が形成され、このゲート
信号線2は、アルミニュウム(Al)層2Aからなり、
その表面にはタンタル(Ta)2B層が積層されてい
る。
【0022】この場合におけるタンタル層(Ta)2B
はその幅がアルミニュウム(Al)層2Aのそれよりも
狭くなっており、この結果、平面的に観た場合、該タン
タル(Ta)層2Bの各長手方向辺部には下層のアルミ
ニュウム(Al)層2Aが露呈された状態となってい
る。
はその幅がアルミニュウム(Al)層2Aのそれよりも
狭くなっており、この結果、平面的に観た場合、該タン
タル(Ta)層2Bの各長手方向辺部には下層のアルミ
ニュウム(Al)層2Aが露呈された状態となってい
る。
【0023】このように形成する理由は、積層構造から
なるゲート信号線2の側面に上述したような段差を設け
ることによって傾斜面に近い形状とし、その後、このゲ
ート信号線2を跨って形成する他の層における該段差の
個所で段切れを起こすことを防止するためである。
なるゲート信号線2の側面に上述したような段差を設け
ることによって傾斜面に近い形状とし、その後、このゲ
ート信号線2を跨って形成する他の層における該段差の
個所で段切れを起こすことを防止するためである。
【0024】なお、このような配慮を必要とすることが
ないならば、図4に示すように、アルミニュウム(A
l)層2Aとタンタル(Ta)層2Bとをそれぞれ同一
幅とするようにしてもよいことはいうまでもない。この
場合、各層を順次透明ガラス基板1の全域に形成した
後、同一のマスクで形成できるという効果を奏する。
ないならば、図4に示すように、アルミニュウム(A
l)層2Aとタンタル(Ta)層2Bとをそれぞれ同一
幅とするようにしてもよいことはいうまでもない。この
場合、各層を順次透明ガラス基板1の全域に形成した
後、同一のマスクで形成できるという効果を奏する。
【0025】そして、このように形成されたゲート信号
線2を被って該透明ガラス基板1面には、たとえばシリ
コン窒化膜からなる層間絶縁膜7が形成されている。こ
の層間絶縁膜7は、後に形成する図2に示すドレイン信
号線3との層間絶縁を図るものであるが、特に薄膜トラ
ンジスタ(TFT)の形成領域においては、ゲート絶縁
膜7Aとして機能するようになっている。
線2を被って該透明ガラス基板1面には、たとえばシリ
コン窒化膜からなる層間絶縁膜7が形成されている。こ
の層間絶縁膜7は、後に形成する図2に示すドレイン信
号線3との層間絶縁を図るものであるが、特に薄膜トラ
ンジスタ(TFT)の形成領域においては、ゲート絶縁
膜7Aとして機能するようになっている。
【0026】さらに、このゲート絶縁膜7Aの上面に
は、たとえばアモルファス(α)−Siからなる半導体
層5が形成されている。
は、たとえばアモルファス(α)−Siからなる半導体
層5が形成されている。
【0027】この場合において、前記アルミニュウム層
(Al)2Aを形成した段階でその表面にヒロックある
いはホィスカ等と称される微細突状体が形成されていて
も、その上面に形成されるタンタル層(Ta)2Bによ
って該タンタル層(Ta)2B表面に突出するようなこ
とはなく、また、該タンタル層(Ta)2B自体におい
ても上述したような微細突状体が発生するようなことは
なくなる。
(Al)2Aを形成した段階でその表面にヒロックある
いはホィスカ等と称される微細突状体が形成されていて
も、その上面に形成されるタンタル層(Ta)2Bによ
って該タンタル層(Ta)2B表面に突出するようなこ
とはなく、また、該タンタル層(Ta)2B自体におい
ても上述したような微細突状体が発生するようなことは
なくなる。
【0028】それ故、ゲート絶縁膜7Aを介して半導体
層5を積層させても、前記ゲート信号線2と半導体層5
との間で電気的短絡を発生させるようなことはなくな
る。
層5を積層させても、前記ゲート信号線2と半導体層5
との間で電気的短絡を発生させるようなことはなくな
る。
【0029】そして、この半導体層5の表面には、互い
に対向配置されるソース電極4Aおよびドレイン電極4
Bが形成されている。
に対向配置されるソース電極4Aおよびドレイン電極4
Bが形成されている。
【0030】このように構成された薄膜トランジスタ
(TFT)は、ゲート信号線2に電圧が印加された場合
に、ゲート絶縁膜7Aを介した半導体層5にチャネル層
が形成され、このチャネル層を介してドレイン信号線3
(ドレイン電極4B)からの信号が、画素電極4に接続
されたソース電極4Aに印加されるようになっている。
(TFT)は、ゲート信号線2に電圧が印加された場合
に、ゲート絶縁膜7Aを介した半導体層5にチャネル層
が形成され、このチャネル層を介してドレイン信号線3
(ドレイン電極4B)からの信号が、画素電極4に接続
されたソース電極4Aに印加されるようになっている。
【0031】実施例2.図5、および図6に示すよう
に、アルミニュウム層(Al)2Aとタンタル層(T
a)2Bからなるゲート信号線2を形成した後、その表
面を陽極化成させ、側面を含む表面の全域に酸化膜を形
成するようにしてもよいことはいうまでもない。
に、アルミニュウム層(Al)2Aとタンタル層(T
a)2Bからなるゲート信号線2を形成した後、その表
面を陽極化成させ、側面を含む表面の全域に酸化膜を形
成するようにしてもよいことはいうまでもない。
【0032】すなわち、図5は、図4のようにしてゲー
ト信号線2を形成した後、陽極化成を行うことにより、
アルミニュウム層(Al)2Aの側面に酸化アルミニュ
ウム層10Aを形成、タンタル層(Ta)2Bの側面お
よび主表面に酸化タンタル層10Bを形成するようにな
っている。この場合、図5に示すように、ゲート信号線
2の露呈される表面の全域に絶縁膜が形成させることに
なるので、図示しない層間絶縁膜7と相俟って絶縁耐圧
を向上させることができるようになる。
ト信号線2を形成した後、陽極化成を行うことにより、
アルミニュウム層(Al)2Aの側面に酸化アルミニュ
ウム層10Aを形成、タンタル層(Ta)2Bの側面お
よび主表面に酸化タンタル層10Bを形成するようにな
っている。この場合、図5に示すように、ゲート信号線
2の露呈される表面の全域に絶縁膜が形成させることに
なるので、図示しない層間絶縁膜7と相俟って絶縁耐圧
を向上させることができるようになる。
【0033】さらに、図7に示すように、アルミニュウ
ム(Al)層2Aの表面に異物20が付着していた場
合、その上面に形成されるタンタル(Ta)層2Bはそ
の異物20の個所においてピンホールが形成されてしま
うが、陽極化成を施すことにより、該ピンホールが塞が
れてしまうという効果を奏する。
ム(Al)層2Aの表面に異物20が付着していた場
合、その上面に形成されるタンタル(Ta)層2Bはそ
の異物20の個所においてピンホールが形成されてしま
うが、陽極化成を施すことにより、該ピンホールが塞が
れてしまうという効果を奏する。
【0034】また、図6は、図1のようにしてゲート信
号線2を形成した後、陽極化成を行うことにより、アル
ミニュウム層(Al)2Aの側面に酸化アルミニュウム
層10Aを形成、タンタル層(Ta)2Bの側面および
主表面に酸化タンタル層10Bを形成するようになって
いる。このようにした場合、図5と同様の効果を奏する
が、段差部においてテーパーが形成されることから、さ
らに形成される上層の層間絶縁膜7、あるいは導体層の
段切れを生じせしめるのを防止することができるように
なる。
号線2を形成した後、陽極化成を行うことにより、アル
ミニュウム層(Al)2Aの側面に酸化アルミニュウム
層10Aを形成、タンタル層(Ta)2Bの側面および
主表面に酸化タンタル層10Bを形成するようになって
いる。このようにした場合、図5と同様の効果を奏する
が、段差部においてテーパーが形成されることから、さ
らに形成される上層の層間絶縁膜7、あるいは導体層の
段切れを生じせしめるのを防止することができるように
なる。
【0035】実施例3.図8は、アルミニュウム層(A
l)2Aとタンタル層(Ta)2Bからなるゲート信号
線2は、その側面において据広がり状のテーパーが形成
され、上述した実施例のように段部を全く有しない構造
となっている。
l)2Aとタンタル層(Ta)2Bからなるゲート信号
線2は、その側面において据広がり状のテーパーが形成
され、上述した実施例のように段部を全く有しない構造
となっている。
【0036】このようなテーパを側面に有するゲート信
号線2は、それを構成するアルミニュウム層(Al)2
Aとタンタル層(Ta)2Bをエッチングする際にいわ
ゆる異方性エッチング液を用いることにより形成するこ
とができる。
号線2は、それを構成するアルミニュウム層(Al)2
Aとタンタル層(Ta)2Bをエッチングする際にいわ
ゆる異方性エッチング液を用いることにより形成するこ
とができる。
【0037】そして、図8に示す断面図は図3における
VIII−VIII線における部分であり、同図に示すように、
その後、層間絶縁膜7およびドレイン信号線3を形成した
際にそれらが段切れを起こさずに均一な層厚で形成でき
るという効果を奏するようになる。
VIII−VIII線における部分であり、同図に示すように、
その後、層間絶縁膜7およびドレイン信号線3を形成した
際にそれらが段切れを起こさずに均一な層厚で形成でき
るという効果を奏するようになる。
【0038】上述した各実施例による液晶表示基板によ
れは、アルミニュウムからなるゲート信号線2の上面
に、特に該アルミニウムよりも高融点のタンタル(T
a)層2Bが形成されているものとなっている。
れは、アルミニュウムからなるゲート信号線2の上面
に、特に該アルミニウムよりも高融点のタンタル(T
a)層2Bが形成されているものとなっている。
【0039】それ故、前記アルミニュウム層2Aを形成
した段階でその表面にヒロックあるいはホィスカ等と称
される微細突状体が形成されていても、その上面に形成
されるタンタル(Ta)層2Bによって該タンタル(T
a)層2B表面に突出するようなことはなく、また、該
タンタル(Ta)層自体においても上述したような微細
突状体が発生するようなことはなくなる。
した段階でその表面にヒロックあるいはホィスカ等と称
される微細突状体が形成されていても、その上面に形成
されるタンタル(Ta)層2Bによって該タンタル(T
a)層2B表面に突出するようなことはなく、また、該
タンタル(Ta)層自体においても上述したような微細
突状体が発生するようなことはなくなる。
【0040】それ故、層間絶縁膜7を介して半導体層5
を積層させても、前記ゲート信号線2と半導体層5との
間で電気的短絡を発生させるようなことはなくなる。
を積層させても、前記ゲート信号線2と半導体層5との
間で電気的短絡を発生させるようなことはなくなる。
【0041】したがって、アルミニュウムからなるゲー
ト信号線2がそのヒロックあるいはホィスカ等によって
上層に積層される半導体層5との間で電気的短絡を生ぜ
しめるようなことはなくなる。
ト信号線2がそのヒロックあるいはホィスカ等によって
上層に積層される半導体層5との間で電気的短絡を生ぜ
しめるようなことはなくなる。
【0042】上述した実施例では、ゲート信号線2はア
ルミニュウムから構成されてるものとして説明したが、
これに限定されることはなく、アルミニュウムを主成分
とする合金であってもよいことはいうまでもない。
ルミニュウムから構成されてるものとして説明したが、
これに限定されることはなく、アルミニュウムを主成分
とする合金であってもよいことはいうまでもない。
【0043】上述した実施例では、半導体層5との電気
的短絡について説明したものであるが、ドレイン信号線
との間の電気的短絡を防止できることはいうまでもな
い。
的短絡について説明したものであるが、ドレイン信号線
との間の電気的短絡を防止できることはいうまでもな
い。
【0044】上述した実施例では、高融点金属としてタ
ンタル(Ta)を用いたものであるが、これに限定され
ることはなく、要はアルミニュウム(Al)よりも融点
が高い金属ならば適用することができる。
ンタル(Ta)を用いたものであるが、これに限定され
ることはなく、要はアルミニュウム(Al)よりも融点
が高い金属ならば適用することができる。
【0045】上述した実施例では、ゲート信号線2をド
レイン信号線3に対して下層とした場合を説明したもの
である。しかしドレイン信号線3をゲート信号線2に対
して下層としかつアルミニュウムを主成分とした材料で
構成した場合に、このドレイン信号線3においても本発
明を適用できることはいうまでもない。
レイン信号線3に対して下層とした場合を説明したもの
である。しかしドレイン信号線3をゲート信号線2に対
して下層としかつアルミニュウムを主成分とした材料で
構成した場合に、このドレイン信号線3においても本発
明を適用できることはいうまでもない。
【0046】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による液晶表示基板によれば、アルミニュウムを
主成分とする配線層がそのヒロックあるいはホィスカ等
によって上層に積層されている層とで電気的短絡を生じ
るのを防止できるようになる。
本発明による液晶表示基板によれば、アルミニュウムを
主成分とする配線層がそのヒロックあるいはホィスカ等
によって上層に積層されている層とで電気的短絡を生じ
るのを防止できるようになる。
【図1】本発明による液晶表示基板の一実施例を示す断
面図である。
面図である。
【図2】本発明による液晶表示藻基板の一実施例を示す
平面図である。
平面図である。
【図3】図2の要部を拡大した平面図である。
【図4】本発明による液晶表示基板の他の実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図5】本発明による液晶表示基板の他の実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図6】本発明による液晶表示基板の他の実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図7】本発明による液晶表示基板の他の実施例を示す
断面図である。
断面図である。
【図8】本発明による液晶表示基板の他の実施例を示す
断面図である。
断面図である。
1 透明ガラス基板 2 ゲート信号線 2A アルミニュウム層 2B タンタル層 3 ドレイン信号線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 折付 良二 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 (72)発明者 香西 甲矢夫 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 (72)発明者 堀井 寿一 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 (72)発明者 松田 正昭 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 (72)発明者 芦沢 啓一郎 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内
Claims (1)
- 【請求項1】 液晶を介して互いに対向配置される透明
基板のうち一方の透明基板の液晶側に少なくともアルミ
ニウムを主成分とする配線層が形成され、このアルミニ
ウム層の表面に絶縁膜を介して導電層あるいは半導体層
が積層されてる液晶表示基板において、少なくとも前記
導電層あるいは半導体層が積層されている配線層の上面
にアルミニウムよりも高融点の金属層が形成されている
ことを特徴とする液晶表示基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27530793A JPH07128676A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 液晶表示基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27530793A JPH07128676A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 液晶表示基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128676A true JPH07128676A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17553619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27530793A Pending JPH07128676A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 液晶表示基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07128676A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19623292A1 (de) * | 1995-11-21 | 1997-05-28 | Lg Electronics Inc | Flüssigkristallanzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| KR100445286B1 (ko) * | 1999-02-23 | 2004-08-21 | 샤프 가부시키가이샤 | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 |
-
1993
- 1993-11-04 JP JP27530793A patent/JPH07128676A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19623292A1 (de) * | 1995-11-21 | 1997-05-28 | Lg Electronics Inc | Flüssigkristallanzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| US5825437A (en) * | 1995-11-21 | 1998-10-20 | Lg Electronics Inc. | Structure of a liquid crystal display device and a method of manufacturing same |
| DE19623292C2 (de) * | 1995-11-21 | 1999-06-02 | Lg Electronics Inc | Flüssigkristallanzeigevorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| KR100445286B1 (ko) * | 1999-02-23 | 2004-08-21 | 샤프 가부시키가이샤 | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 |
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