JPH07129383A - Ｌｓｉテスタ用テストプログラム自動発生装置 - Google Patents
Ｌｓｉテスタ用テストプログラム自動発生装置Info
- Publication number
- JPH07129383A JPH07129383A JP5273613A JP27361393A JPH07129383A JP H07129383 A JPH07129383 A JP H07129383A JP 5273613 A JP5273613 A JP 5273613A JP 27361393 A JP27361393 A JP 27361393A JP H07129383 A JPH07129383 A JP H07129383A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- conditions
- test condition
- condition
- test item
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- Withdrawn
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】テストに精通したエンジニアでなくてもテスト
プログラムが自動発生できるように被試験デバイスのテ
スト項目とテスト条件を選択方式で決める。 【構成】テスト項目選択画面1 には予めＬＳＩデバイス
に必要な標準的なテスト項目群が示され、必要なテスト
項目を選択する構成になっている。デバイス固有のテス
ト条件はライブラリファイルとシミュレーションデータ
から被試験デバイスに合致したテスト条件を自動抽出
し、デバイス非固有のテスト条件は専用のライブラリフ
ァイルより番号指定するようになっている。これらテス
ト条件は番号で参照できるようにテスト条件テーブル表
示画面2 として完成され、これに基づいてテスト項目毎
のフォーマットに沿ってテストプログラムが自動発生す
るように構成されている。
プログラムが自動発生できるように被試験デバイスのテ
スト項目とテスト条件を選択方式で決める。 【構成】テスト項目選択画面1 には予めＬＳＩデバイス
に必要な標準的なテスト項目群が示され、必要なテスト
項目を選択する構成になっている。デバイス固有のテス
ト条件はライブラリファイルとシミュレーションデータ
から被試験デバイスに合致したテスト条件を自動抽出
し、デバイス非固有のテスト条件は専用のライブラリフ
ァイルより番号指定するようになっている。これらテス
ト条件は番号で参照できるようにテスト条件テーブル表
示画面2 として完成され、これに基づいてテスト項目毎
のフォーマットに沿ってテストプログラムが自動発生す
るように構成されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は特にゲートアレイやス
タンダードセルなどに代表されるＡＳＩＣデバイスに適
用されるＬＳＩテスタ用テストプログラム自動発生装置
に関する。
タンダードセルなどに代表されるＡＳＩＣデバイスに適
用されるＬＳＩテスタ用テストプログラム自動発生装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＬＳＩテスタ用テストプログラム
の作成には技術者がテスタ言語を駆使して手書きで作成
するか、テストプログラム自動発生装置を用いていた。
従来のＬＳＩテスタ用テストプログラム発生装置は以下
のように構成されていた。
の作成には技術者がテスタ言語を駆使して手書きで作成
するか、テストプログラム自動発生装置を用いていた。
従来のＬＳＩテスタ用テストプログラム発生装置は以下
のように構成されていた。
【０００３】被試験デバイスのテストデータとして、あ
らかじめテスト項目毎にテスト条件を順に並べた所定の
データファイルがディスク等のメモリ手段に準備され、
装置が上記データファイルから必要に応じたテストデー
タを抽出し、標準的に用意されたテストプログラムフォ
ーマットにそれぞれ書き込まれる。これにより、テスト
プログラムが完成され、自動発生される。
らかじめテスト項目毎にテスト条件を順に並べた所定の
データファイルがディスク等のメモリ手段に準備され、
装置が上記データファイルから必要に応じたテストデー
タを抽出し、標準的に用意されたテストプログラムフォ
ーマットにそれぞれ書き込まれる。これにより、テスト
プログラムが完成され、自動発生される。
【０００４】上記構成では、テストプログラム自動発生
装置にて用いるデータファイルを作成する際にはテスト
に必要なテスト項目とデバイス毎に異なるテスト条件を
常に作成しなければならず、テスタ言語を使用しないま
でも、テストに通じたエンジニアでなければ作成できな
い。この時間的拘束は長時間におよび、短時間でテスト
プログラムを完成させることは困難であった。
装置にて用いるデータファイルを作成する際にはテスト
に必要なテスト項目とデバイス毎に異なるテスト条件を
常に作成しなければならず、テスタ言語を使用しないま
でも、テストに通じたエンジニアでなければ作成できな
い。この時間的拘束は長時間におよび、短時間でテスト
プログラムを完成させることは困難であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来では
データファイルとしてテスト項目毎にテスト条件を常に
作成しなければならず、テスト技術のノウハウを持った
エンジニアの時間的拘束がテストプログラム完成に必要
であり、時間を浪費するという欠点がある。
データファイルとしてテスト項目毎にテスト条件を常に
作成しなければならず、テスト技術のノウハウを持った
エンジニアの時間的拘束がテストプログラム完成に必要
であり、時間を浪費するという欠点がある。
【０００６】この発明は上記のような事情を考慮してな
されたものであり、その目的は、テストに精通したエン
ジニアでなくても簡単にテスト項目とテスト条件を選択
方式で決めることができ、テストプログラムを自動発生
できるようにするＬＳＩテスタ用テストプログラム自動
発生装置を提供することにある。
されたものであり、その目的は、テストに精通したエン
ジニアでなくても簡単にテスト項目とテスト条件を選択
方式で決めることができ、テストプログラムを自動発生
できるようにするＬＳＩテスタ用テストプログラム自動
発生装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明のＬＳＩテスタ
用テストプログラム自動発生装置は、ＬＳＩデバイスに
必要な標準的なテスト項目群が予め示され、被試験デバ
イスに応じて削除あるいは新たなテスト項目を追加でき
るテスト項目選択表示手段と、前記ＬＳＩデバイスに配
備され得るＩ／Ｏバッファにおいてその種別毎に入出力
レベル、ＤＣ測定条件等のテスト条件がライブラリとし
て格納されているデバイス固有テスト条件記憶手段と、
前記被試験デバイスの各入出力端子に使用されているＩ
／Ｏバッファの識別名から、前記デバイス固有テスト条
件記憶手段のライブラリ中よりそのデバイスの各入出力
端子に合致したテスト条件を自動抽出する第１抽出手段
と、前記被試験デバイスのシミュレーションに使用され
たシミュレーションデータからそのデバイスの試験時の
タイミングと信号パターン情報を自動抽出する第２抽出
手段と、前記第１および第２の抽出手段以外の標準的な
テストデータが予めテスト条件毎にライブラリ化されて
いるデバイス非固有テスト条件記憶手段と、前記第１、
第２の抽出手段及びデバイス非固有テスト条件記憶手段
からの必要条件とが読み込まれ前記テスト項目選択表示
手段における各テスト項目に対応して必要なテスト条件
がテーブルとして納められたテスト条件テーブル表示手
段と、前記テスト条件テーブル表示手段において設定さ
れたテスト条件に基づきテスト項目毎のフォーマットに
沿ってテストプログラムを自動発生するプログラム発生
手段とを具備したことを特徴とする。
用テストプログラム自動発生装置は、ＬＳＩデバイスに
必要な標準的なテスト項目群が予め示され、被試験デバ
イスに応じて削除あるいは新たなテスト項目を追加でき
るテスト項目選択表示手段と、前記ＬＳＩデバイスに配
備され得るＩ／Ｏバッファにおいてその種別毎に入出力
レベル、ＤＣ測定条件等のテスト条件がライブラリとし
て格納されているデバイス固有テスト条件記憶手段と、
前記被試験デバイスの各入出力端子に使用されているＩ
／Ｏバッファの識別名から、前記デバイス固有テスト条
件記憶手段のライブラリ中よりそのデバイスの各入出力
端子に合致したテスト条件を自動抽出する第１抽出手段
と、前記被試験デバイスのシミュレーションに使用され
たシミュレーションデータからそのデバイスの試験時の
タイミングと信号パターン情報を自動抽出する第２抽出
手段と、前記第１および第２の抽出手段以外の標準的な
テストデータが予めテスト条件毎にライブラリ化されて
いるデバイス非固有テスト条件記憶手段と、前記第１、
第２の抽出手段及びデバイス非固有テスト条件記憶手段
からの必要条件とが読み込まれ前記テスト項目選択表示
手段における各テスト項目に対応して必要なテスト条件
がテーブルとして納められたテスト条件テーブル表示手
段と、前記テスト条件テーブル表示手段において設定さ
れたテスト条件に基づきテスト項目毎のフォーマットに
沿ってテストプログラムを自動発生するプログラム発生
手段とを具備したことを特徴とする。
【０００８】
【作用】この発明では、テストデータをデバイス電源な
どそのデバイス固有とならない複数のテスト条件をあら
かじめデバイス非固有テスト条件記憶手段に準備してお
き、テスト項目選択表示手段にて選択したテスト項目に
対しデバイス固有とならない条件をデバイス非固有テス
ト条件記憶手段からそれぞれ選択する。さらに、デバイ
ス固有のテスト条件、即ちＩ／Ｏバッファによる入出力
レベル／ＤＣテスト条件、シミュレーションデータから
得られるタイミング情報等を自動的に抽出格納し、テス
ト条件テーブル表示手段にてテスト項目及びテスト項目
毎に必要な条件が一覧できるテスト条件テーブルが作成
され、これを基にテストプログラムを自動発生する。
どそのデバイス固有とならない複数のテスト条件をあら
かじめデバイス非固有テスト条件記憶手段に準備してお
き、テスト項目選択表示手段にて選択したテスト項目に
対しデバイス固有とならない条件をデバイス非固有テス
ト条件記憶手段からそれぞれ選択する。さらに、デバイ
ス固有のテスト条件、即ちＩ／Ｏバッファによる入出力
レベル／ＤＣテスト条件、シミュレーションデータから
得られるタイミング情報等を自動的に抽出格納し、テス
ト条件テーブル表示手段にてテスト項目及びテスト項目
毎に必要な条件が一覧できるテスト条件テーブルが作成
され、これを基にテストプログラムを自動発生する。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例によ
り説明する。図１はテスト項目選択画面1 及びこの画面
1 における各テスト項目に対応して必要なテスト条件が
テーブルとして納められたテスト条件テーブル表示画面
2 の要部を示している。画面1 ，2 はシステムの制御部
で所定の形態でまとめられ、ウインドウ指定で１画面に
ディスプレイされる。
り説明する。図１はテスト項目選択画面1 及びこの画面
1 における各テスト項目に対応して必要なテスト条件が
テーブルとして納められたテスト条件テーブル表示画面
2 の要部を示している。画面1 ，2 はシステムの制御部
で所定の形態でまとめられ、ウインドウ指定で１画面に
ディスプレイされる。
【００１０】テスト項目選択画面1 には予めＬＳＩデバ
イスに必要な標準的なテスト項目群が示されており、被
試験デバイスに応じて削除あるいは新たなテスト項目を
追加できるようになっている。
イスに必要な標準的なテスト項目群が示されており、被
試験デバイスに応じて削除あるいは新たなテスト項目を
追加できるようになっている。
【００１１】上記示されたテスト項目選択画面1 中から
ユーザは必要なテスト項目を選択し制御部を介して被試
験デバイスの一通りのテスト命令5 が完成する。これに
より、自動的に各テストに対応したテスト条件テーブル
が画面2 に表示される。
ユーザは必要なテスト項目を選択し制御部を介して被試
験デバイスの一通りのテスト命令5 が完成する。これに
より、自動的に各テストに対応したテスト条件テーブル
が画面2 に表示される。
【００１２】このテスト条件テーブル表示画面2 には選
択されたテスト項目に対して、電源値、入出力レベル、
タイミング値等の必要なテスト条件Ａ1 〜Ａn が例えば
番号で指定されるようになっている。すなわち、すべて
の各テスト項目についてどんな種類のテスト条件が必要
でかつそれぞれのテスト条件がどのような基準値で行わ
れなければならないかが一覧表示される。表示画面2 に
はテスト項目IOL の最初のテスト項目までが見えるが、
それ以降（次のIOL2もしくはIIH から先、IDLまで）は
スクロールダウンで順次確認できるようになっている。
択されたテスト項目に対して、電源値、入出力レベル、
タイミング値等の必要なテスト条件Ａ1 〜Ａn が例えば
番号で指定されるようになっている。すなわち、すべて
の各テスト項目についてどんな種類のテスト条件が必要
でかつそれぞれのテスト条件がどのような基準値で行わ
れなければならないかが一覧表示される。表示画面2 に
はテスト項目IOL の最初のテスト項目までが見えるが、
それ以降（次のIOL2もしくはIIH から先、IDLまで）は
スクロールダウンで順次確認できるようになっている。
【００１３】図２は図１のテスト項目選択画面1 に代え
てデバイス非固有のテスト条件のライブラリファイル表
示画面3 をディスプレイした要部の画面表示図である。
上記テスト項目選択画面1 に示される番号において、デ
バイス固有でないテスト条件、例えばデバイス電源につ
いては、このように条件毎にライブラリファイルが準備
されており、そのライブラリファイル中のブロック番号
を記述することになる。このライブラリファイルは光デ
ィスク、磁気ディスク等のメモリ手段からシステムの制
御部によりシステム内のメモリ部に導入され、内部イン
タフェースを介して表示手段により画面表示される。
てデバイス非固有のテスト条件のライブラリファイル表
示画面3 をディスプレイした要部の画面表示図である。
上記テスト項目選択画面1 に示される番号において、デ
バイス固有でないテスト条件、例えばデバイス電源につ
いては、このように条件毎にライブラリファイルが準備
されており、そのライブラリファイル中のブロック番号
を記述することになる。このライブラリファイルは光デ
ィスク、磁気ディスク等のメモリ手段からシステムの制
御部によりシステム内のメモリ部に導入され、内部イン
タフェースを介して表示手段により画面表示される。
【００１４】例えば、テスト条件テーブルが画面2 中矢
印8 で示すTEST NO 6001 のＦＣテストの条件Ａ2 、こ
こでは電源電圧の条件とする“６”はライブラリファイ
ル表示画面3 中のブロック６の“５．８Ｖ”を示すこと
になる（破線矢印）。このようにデバイス固有でないテ
スト条件はライブラリの中を参照して必要なブロック番
号で示されるテスト条件を選択し、記述すればよい。
印8 で示すTEST NO 6001 のＦＣテストの条件Ａ2 、こ
こでは電源電圧の条件とする“６”はライブラリファイ
ル表示画面3 中のブロック６の“５．８Ｖ”を示すこと
になる（破線矢印）。このようにデバイス固有でないテ
スト条件はライブラリの中を参照して必要なブロック番
号で示されるテスト条件を選択し、記述すればよい。
【００１５】一方、デバイス固有のテスト条件、タイミ
ング（入力、出力のサイクルパターン期待値）やＩ／Ｏ
バッファ毎の入出力レベルなどは、被試験デバイスで使
用されているＩ／Ｏバッファのバッファ種別（ＮＥＴフ
ァイルに定義されている）を判断し、スペックライブラ
リ（ＳＰＥＣＬＩＢ）からバッファ名に対応するテスト
条件を自動的に抜き出される。図３に示す要部の表示画
面4 のようにスペックライブラリも表示画面で一覧でき
るようになっている。表示画面4 中の星印はバッファ名
の任意の記号が入る印である。スペックライブラリファ
イル、ＮＥＴファイル及び後述のシミュレーションデー
タは光ディスク、磁気ディスク等のメモリ手段からシス
テムの制御部によりシステム内のメモリ部に導入され、
内部インタフェースを介して表示手段によって画面表示
できる。
ング（入力、出力のサイクルパターン期待値）やＩ／Ｏ
バッファ毎の入出力レベルなどは、被試験デバイスで使
用されているＩ／Ｏバッファのバッファ種別（ＮＥＴフ
ァイルに定義されている）を判断し、スペックライブラ
リ（ＳＰＥＣＬＩＢ）からバッファ名に対応するテスト
条件を自動的に抜き出される。図３に示す要部の表示画
面4 のようにスペックライブラリも表示画面で一覧でき
るようになっている。表示画面4 中の星印はバッファ名
の任意の記号が入る印である。スペックライブラリファ
イル、ＮＥＴファイル及び後述のシミュレーションデー
タは光ディスク、磁気ディスク等のメモリ手段からシス
テムの制御部によりシステム内のメモリ部に導入され、
内部インタフェースを介して表示手段によって画面表示
できる。
【００１６】すなわち、上記スペックライブラリにはＩ
／Ｏバッファ種別毎に入出力レベルやＤＣテスト条件が
記述されているので、それらの条件が被試験デバイスの
各端子毎のテスト条件に変換され、図２のライブラリフ
ァイル表示画面3 と同一フォーマットのテスト条件ファ
イルをシミュレーションデータ及びＮＥＴファイル等か
ら制御部を介して自動作成し、システムがテスト条件テ
ーブル中にブロック番号を自動書き込みすることで、テ
スト条件テーブル（表示画面2 ）を完成させる。
／Ｏバッファ種別毎に入出力レベルやＤＣテスト条件が
記述されているので、それらの条件が被試験デバイスの
各端子毎のテスト条件に変換され、図２のライブラリフ
ァイル表示画面3 と同一フォーマットのテスト条件ファ
イルをシミュレーションデータ及びＮＥＴファイル等か
ら制御部を介して自動作成し、システムがテスト条件テ
ーブル中にブロック番号を自動書き込みすることで、テ
スト条件テーブル（表示画面2 ）を完成させる。
【００１７】同時にデバイス固有のデータ数によって、
選択されたテスト項目を細分化する必要があれば、その
必要に応じてテスト条件テーブルのテスト項目を自動的
に増やし、その細分化されたテスト項目に対し、デバイ
ス固有のテスト条件を入れていく。
選択されたテスト項目を細分化する必要があれば、その
必要に応じてテスト条件テーブルのテスト項目を自動的
に増やし、その細分化されたテスト項目に対し、デバイ
ス固有のテスト条件を入れていく。
【００１８】以上のように作成されたテスト条件テーブ
ル（表示画面2 ）をもとに、システムの制御部が、１つ
のテスト項目に記述されたテスト条件、即ちテスト条件
テーブルのそれぞれ１行に記述されたテスト条件ブロッ
ク番号から、デバイス固有でないテスト条件とデバイス
固有のテスト条件を抽出し、テスト項目毎に準備された
フォーマットが定義されているテストステートメントモ
ジュールと組み合わせて、テストプログラムを自動作
成、発生する。このテストステートメントモジュールも
システム内のメモリ部に格納される。また、その内容も
内部インタフェースを介して表示手段によって画面表示
もできるようになっている。
ル（表示画面2 ）をもとに、システムの制御部が、１つ
のテスト項目に記述されたテスト条件、即ちテスト条件
テーブルのそれぞれ１行に記述されたテスト条件ブロッ
ク番号から、デバイス固有でないテスト条件とデバイス
固有のテスト条件を抽出し、テスト項目毎に準備された
フォーマットが定義されているテストステートメントモ
ジュールと組み合わせて、テストプログラムを自動作
成、発生する。このテストステートメントモジュールも
システム内のメモリ部に格納される。また、その内容も
内部インタフェースを介して表示手段によって画面表示
もできるようになっている。
【００１９】図４はこの発明を用いたテストプログラム
自動発生のフローチャートであり、システムの制御部を
介して行われる。図５は図１におけるより具体的なテス
ト項目選択画面1 及びテスト条件テーブル表示画面2 の
要部の表示画面例を示している。テスト条件テーブル表
示画面2 中のテスト条件の種類TCP 以降の欄に各テスト
条件が明示されている。RELAY はリレースイッチング速
度、DPS は電源電圧値、CLAMP は過電流制限値、PLEVは
ピンレベル、TGはタイミング発生時刻、PAT は入出力サ
イクルパターン（テストパターン期待値）、DCU はＤＣ
的標準特性、ACはＡＣ的標準特性（速度的な特性）、RS
T は抵抗値、ACD はＡ／Ｄコンバータ特性である。
自動発生のフローチャートであり、システムの制御部を
介して行われる。図５は図１におけるより具体的なテス
ト項目選択画面1 及びテスト条件テーブル表示画面2 の
要部の表示画面例を示している。テスト条件テーブル表
示画面2 中のテスト条件の種類TCP 以降の欄に各テスト
条件が明示されている。RELAY はリレースイッチング速
度、DPS は電源電圧値、CLAMP は過電流制限値、PLEVは
ピンレベル、TGはタイミング発生時刻、PAT は入出力サ
イクルパターン（テストパターン期待値）、DCU はＤＣ
的標準特性、ACはＡＣ的標準特性（速度的な特性）、RS
T は抵抗値、ACD はＡ／Ｄコンバータ特性である。
【００２０】ブロック番号の指定においてRELAY 、DPS
、CLAMP 、RST 以外はデバイス固有のテスト条件であ
る。図４を参照すると、使用されるＩ／Ｏバッファはデ
ィスク等に納められたＮＥＴファイル21からその種別が
検索ルーチン22で判断され、ディスク等に納められたス
ペックライブラリ23からバッファ名に対応するテスト条
件が自動的に抜き出される。
、CLAMP 、RST 以外はデバイス固有のテスト条件であ
る。図４を参照すると、使用されるＩ／Ｏバッファはデ
ィスク等に納められたＮＥＴファイル21からその種別が
検索ルーチン22で判断され、ディスク等に納められたス
ペックライブラリ23からバッファ名に対応するテスト条
件が自動的に抜き出される。
【００２１】上記テスト条件とディスク等に納められた
シミュレーションデータ23からタイミング抽出ルーチン
25を経てきた条件とを合わせてデバイス固有テストデー
タ26としてライブラリファイルにまとめられ、被試験デ
バイスの各端子毎のテスト条件に変換され、テスト条件
テーブル27にブロック番号が自動書き込みされる。
シミュレーションデータ23からタイミング抽出ルーチン
25を経てきた条件とを合わせてデバイス固有テストデー
タ26としてライブラリファイルにまとめられ、被試験デ
バイスの各端子毎のテスト条件に変換され、テスト条件
テーブル27にブロック番号が自動書き込みされる。
【００２２】さらに、RELAY 、DPS 、CLAMP 、RST のデ
バイス固有とならないテスト条件はデバイス非固有テス
トデータ28としてライブラリファイルにまとめられた条
件をそれぞれ選択し、テスト条件テーブル27にブロック
番号を記述する。
バイス固有とならないテスト条件はデバイス非固有テス
トデータ28としてライブラリファイルにまとめられた条
件をそれぞれ選択し、テスト条件テーブル27にブロック
番号を記述する。
【００２３】このように作成されたテスト条件テーブル
27をもとに、各テスト項目に記述されたテスト条件を、
テスト項目毎に準備されたフォーマットが定義されてい
るテストステートメントモジュール29と組み合わせて、
テストプログラム発生ルーチン30を経てテストプログラ
ムが自動的に作成され発生する。
27をもとに、各テスト項目に記述されたテスト条件を、
テスト項目毎に準備されたフォーマットが定義されてい
るテストステートメントモジュール29と組み合わせて、
テストプログラム発生ルーチン30を経てテストプログラ
ムが自動的に作成され発生する。
【００２４】この発明を用いれば、ユーザがテストプロ
グラム作成のノウハウを持っていなくても、テスト項目
を選択すれば、テスト条件テーブルに各テスト項目毎に
必要なテスト条件を入れられるように自動的に表示さ
れ、ユーザはテスト条件ライブラリの中から必要なテス
ト条件をブロック番号で選択するだけでよいことにな
る。
グラム作成のノウハウを持っていなくても、テスト項目
を選択すれば、テスト条件テーブルに各テスト項目毎に
必要なテスト条件を入れられるように自動的に表示さ
れ、ユーザはテスト条件ライブラリの中から必要なテス
ト条件をブロック番号で選択するだけでよいことにな
る。
【００２５】また、デバイス固有のテスト条件について
は自動的に各テスト条件ブロックを作成しテスト条件テ
ーブルにブロック番号を書き込むため、ユーザがテスト
条件をあれこれ考慮する必要がなくなる。さらに、必要
なテスト項目、条件があれば、ライブラリファイルに増
やしたり、変更したりすることができる。
は自動的に各テスト条件ブロックを作成しテスト条件テ
ーブルにブロック番号を書き込むため、ユーザがテスト
条件をあれこれ考慮する必要がなくなる。さらに、必要
なテスト項目、条件があれば、ライブラリファイルに増
やしたり、変更したりすることができる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
テスト項目とテスト条件を簡単に選択方式で決めること
ができるのでテストに精通したエンジニアでなくてもテ
ストプログラムが自動発生可能なＬＳＩテスタ用テスト
プログラム自動発生装置を提供することができる。
テスト項目とテスト条件を簡単に選択方式で決めること
ができるのでテストに精通したエンジニアでなくてもテ
ストプログラムが自動発生可能なＬＳＩテスタ用テスト
プログラム自動発生装置を提供することができる。
【図１】この発明を用いたテスト項目選択画面及びテス
ト条件テーブル表示画面を示す画面表示図。
ト条件テーブル表示画面を示す画面表示図。
【図２】この発明を用いたテスト項目選択画面及びデバ
イス非固有のテスト条件ライブラリファイル表示画面を
示す画面表示図。
イス非固有のテスト条件ライブラリファイル表示画面を
示す画面表示図。
【図３】各種Ｉ／Ｏバッファ種別にＤＣテスト条件が格
納されているスペックライブラリのファイルを表示する
画面表示図。
納されているスペックライブラリのファイルを表示する
画面表示図。
【図４】この発明の全体構成を示すテストプログラム自
動発生のフローチャート。
動発生のフローチャート。
【図５】図１におけるより具体的なテスト項目選択画面
及びテスト条件テーブル表示画面を示す画面表示図。
及びテスト条件テーブル表示画面を示す画面表示図。
1…テスト項目選択画面、 2…テスト条件テーブル表示
画面、 3…ライブラリファイル表示画面、4 …スペック
ライブラリ表示画面。
画面、 3…ライブラリファイル表示画面、4 …スペック
ライブラリ表示画面。
Claims (1)
- 【請求項１】 ＬＳＩデバイスに必要な標準的なテスト
項目群が予め示され、被試験デバイスに応じて削除ある
いは新たなテスト項目を追加できるテスト項目選択表示
手段と、 前記ＬＳＩデバイスに配備され得るＩ／Ｏバッファにお
いてその種別毎に入出力レベル、ＤＣ測定条件等のテス
ト条件がライブラリとして格納されているデバイス固有
テスト条件記憶手段と、 前記被試験デバイスの各入出力端子に使用されているＩ
／Ｏバッファの識別名から、前記デバイス固有テスト条
件記憶手段のライブラリ中よりそのデバイスの各入出力
端子に合致したテスト条件を自動抽出する第１抽出手段
と、 前記被試験デバイスのシミュレーションに使用されたシ
ミュレーションデータからそのデバイスの試験時のタイ
ミングと信号パターン情報を自動抽出する第２抽出手段
と、 前記第１および第２の抽出手段以外の標準的なテストデ
ータが予めテスト条件毎にライブラリ化されているデバ
イス非固有テスト条件記憶手段と、 前記第１、第２の抽出手段及びデバイス非固有テスト条
件記憶手段からの必要条件とが読み込まれ前記テスト項
目選択表示手段における各テスト項目に対応して必要な
テスト条件がテーブルとして納められたテスト条件テー
ブル表示手段と、 前記テスト条件テーブル表示手段において設定されたテ
スト条件に基づきテスト項目毎のフォーマットに沿って
テストプログラムを自動発生するプログラム発生手段と
を具備したことを特徴とするＬＳＩテスタ用テストプロ
グラム自動発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5273613A JPH07129383A (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | Ｌｓｉテスタ用テストプログラム自動発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5273613A JPH07129383A (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | Ｌｓｉテスタ用テストプログラム自動発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07129383A true JPH07129383A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17530187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5273613A Withdrawn JPH07129383A (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | Ｌｓｉテスタ用テストプログラム自動発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07129383A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001057668A1 (fr) * | 2000-02-04 | 2001-08-09 | Advantest Corporation | Affichage de paquets, dispositif et procede de creation de donnees de paquets et support d'enregistrement |
| CN119720897A (zh) * | 2025-02-26 | 2025-03-28 | 中科芯磁科技(珠海)有限责任公司 | 基于fpga架构文件的芯片电路自动生成器及方法 |
-
1993
- 1993-11-01 JP JP5273613A patent/JPH07129383A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001057668A1 (fr) * | 2000-02-04 | 2001-08-09 | Advantest Corporation | Affichage de paquets, dispositif et procede de creation de donnees de paquets et support d'enregistrement |
| CN119720897A (zh) * | 2025-02-26 | 2025-03-28 | 中科芯磁科技(珠海)有限责任公司 | 基于fpga架构文件的芯片电路自动生成器及方法 |
| CN119720897B (zh) * | 2025-02-26 | 2025-05-27 | 中科芯磁科技(珠海)有限责任公司 | 基于fpga架构文件的芯片电路自动生成器及方法 |
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