JPH09319604A - 試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、情報処理装置の試験システムに関
し、試験データ生成装置により生成され被試験装置に入
力されるテストモジュールの量を削減し、テストモジュ
ールの入出力に要する時間の低減を目的とする。 【解決手段】 入力された初期値から、特定の規則に基
づき複数の命令列とデータとが生成され、前記複数の命
令列とデータとを入力として被試験回路の回路動作がシ
ミュレートされて期待値が生成され、前記初期値と前記
期待値とがテストモジュールとして出力される試験デー
タ生成装置と、被試験回路を内蔵し、前記初期値と前記
期待値とがテストモジュールとして入力され、前記入力
された初期値を基に前記特定の規則に基づき複数の命令
列とデータとが生成され、前記命令列とデータとが前記
被試験回路に入力されて出力された結果と前記期待値と
が比較され、比較結果が表示・出力される被試験装置
と、から構成される試験システム。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理装置の試
験システムに関する。情報処理装置は、メモリ、レジス
タ、入出力装置等への情報転送や命令単体の動作試験と
いった基本的な動作が確認されると、装置を構成する回
路の全ての動作が確認出来るよう生成された試験用ソフ
トウェア（以下、「テストモジュール」と言う。）によ
り試験される。

【０００２】また、運用中の情報処理装置が不良となっ
た場合にも、不良原因の解析情報を収集するために、テ
ストモジュールにより試験される。ところが、情報処理
装置は内蔵されるソフトウェアにより異なる回路動作を
行う装置であって、特に、近年の高速化された情報処理
装置にあっては、高速化のために複数の演算器を内蔵
し、或いは複数のキャッシュ回路を内蔵する等高速化回
路が多数内蔵されているため、人手により異なる命令
列，データ，データ格納位置等の組合せを網羅したテス
トモジュールを生成することが困難となった。

【０００３】この問題を解決するため、試験データ生成
装置により自動的にテストモジュールを生成することが
必要となった。

【０００４】

【従来の技術】従来の技術について、図５〜図７を参照
しながら、（ａ）従来例の試験システムの構成、（ｂ）
従来例の試験システムの処理の流れ、の順に説明する。

【０００５】尚、以下の説明において同一部分または相
当部分については同一符号を付す。 （ａ）従来例の試験システムの構成 従来例の試験システムの構成について、図５を参照しな
がら説明する。

【０００６】図５において、１０’は試験データ生成装
置であり、２０’は被試験装置であり、２９は被試験回
路であり、３０は第１の記憶回路であり、３１は第１の
初期値保持部であり、３２は第１のテストデータ生成部
であり、３３は第１のテストデータ保持部であり、３４
は第１の期待値保持部であり、３７は期待値生成部であ
り、４０は第２の記憶回路であり、４３は第２のテスト
データ保持部であり、４４は第２の期待値保持部であ
り、４８は結果保持部であり、５０は入力回路であり、
６０はプロセッサ回路であり、７５’はモジュール出力
回路であり、７６はモジュール入力回路であり、８０は
ファイル回路であり、９０は表示回路である。

【０００７】試験データ生成装置１０’は、第１の記憶
回路３０と入力回路５０とプロセッサ回路６０とモジュ
ール出力回路７５’とから構成され、ファイル回路８０
に接続された装置であって、入力回路５０から入力され
た初期値を基に、特定の規則に従って複数の命令列とデ
ータとからなる複数のテストデータを生成し、前記複数
のテストデータが被試験回路２９に入力された場合の被
試験回路２９の動作をシミュレートして被試験回路２９
から出力される複数のデータを複数の期待値として生成
し、前記複数のテストデータと前記複数の期待値とをテ
ストモジュールとしてファイル回路８０に出力する装置
である。

【０００８】被試験装置２０’は、被試験回路２９と第
２の記憶回路４０とモジュール入力回路７６と表示回路
９０とから構成され、ファイル回路８０に接続された装
置であって、モジュール入力回路７６から入力されたテ
ストモジュールの中の、複数のテストデータを第２のテ
ストデータ保持部４３に出力し、複数の期待値を第２の
期待値保持部４４に出力し、第２のテストデータ保持部
４３から読み出された前記複数のテストデータを被試験
回路２９に入力して被試験回路２９から出力された処理
結果を結果保持部４８に出力し、結果保持部４８から読
み出された前記処理結果と、第２の期待値保持部４４か
ら読み出された前記複数の期待値とを被試験回路２９に
より比較し、比較結果を表示回路９０により表示・出力
する装置である。

【０００９】被試験回路２９は、第２の記憶回路４０と
モジュール入力回路７６と表示回路９０とに接続され、
第２の記憶回路４０に保持されるプログラムにより動作
し、試験される回路である。

【００１０】第１の記憶回路３０は、入力回路５０とプ
ロセッサ回路６０とモジュール出力回路７５’とに接続
され、プロセッサ６０を動作させるプログラムとデータ
とが格納される記憶回路である。

【００１１】第２の記憶回路４０は、被試験回路２９と
モジュール入力回路７６と表示回路９０とに接続され、
被試験回路２９を動作させるプログラムとデータとが格
納される記憶回路である。

【００１２】入力回路５０は、第１の記憶回路３０とプ
ロセッサ回路６０とモジュール出力回路７５’とに接続
され、初期値が入力される回路である。プロセッサ回路
６０は、第１の記憶回路３０と入力回路５０とモジュー
ル出力回路７５’とに接続され、第１の記憶回路３０に
保持されるプログラムにより動作し、テストモジュール
を出力する回路である。

【００１３】モジュール出力回路７５’は、第１の記憶
回路３０と入力回路５０とプロセッサ回路６０とファイ
ル回路８０とに接続され、複数のテストデータと複数の
期待値とをテストモジュールとしてファイル回路８０に
出力する回路である。

【００１４】モジュール入力回路７６は、被試験回路２
９と第２の記憶回路４０とファイル回路８０と表示回路
９０とに接続され、ファイル回路８０から読み出された
テストモジュールを第２の記憶回路４０に転送する回路
である。

【００１５】ファイル回路８０は、試験データ生成装置
１０’と被試験装置２０’とに接続され、試験データ生
成装置１０’により生成されたテストモジュールが格納
され、前記テストモジュールが被試験装置２０’に転送
される回路である。

【００１６】表示回路９０は、被試験回路２９と第２の
記憶回路４０とモジュール入力回路７６とに接続され、
被試験回路２９を試験した結果が表示・出力される回路
である。

【００１７】第１の初期値保持部３１は、第１の記憶回
路３０に設けられた、入力回路５０により入力された初
期値が保持される領域である。第１のテストデータ生成
部３２は、第１の記憶回路３０に保持されてプロセッサ
回路６０を動作させ、前記初期値から特定の規則に基づ
いて命令列とデータとからなる複数のテストデータを生
成し、前記複数のテストデータを第１のテストデータ保
持部３３に格納するプログラムである。

【００１８】第１のテストデータ保持部３３は、第１の
記憶回路３０に設けられた、複数のテストデータが保持
される領域である。第１の期待値保持部３４は、第１の
記憶回路３０に設けられた、複数の期待値が保持される
領域である。

【００１９】第１の期待値生成部３７は、第１の記憶回
路３０に保持されてプロセッサ回路６０を動作させ、前
記複数のテストデータを被試験回路２９に入力した場合
の被試験回路２９の動作をシミュレートして結果として
出力される複数の期待値を生成し、第１の期待値保持部
３４に格納するプログラムである。

【００２０】第２のテストデータ保持部４３は、第２の
記憶回路４０に設けられた、複数のテストデータが保持
される領域である。第２の期待値保持部４４は、第２の
記憶回路４０に設けられた、複数の期待値が保持される
領域である。

【００２１】結果保持部４８は、第２の記憶回路４０に
設けられた、前記複数のテストデータが被試験回路２９
に入力された場合に前記被試験回路２９から出力される
処理結果が保持される領域である。 （ｂ）従来例の試験システムの処理の流れ 従来例の試験システムの処理の流れについて、図６〜図
７を参照しながら説明する。

【００２２】入力された初期値は、入力回路５０により
第１の初期値保持部３１に格納される。（ステップＳ
１） プロセッサ回路６０を動作させる第１のテストデータ生
成部３２により、第１の初期値保持部３１から初期値が
読み出され、特定の規則に基づいて命令列とデータとか
らなる複数のテストデータが生成され、第１のテストデ
ータ保持部３３に格納される。（ステップＳ２） プロセッサ６０を動作させる期待値生成部３７により、
第１のテストデータ保持部３３から複数のテストデータ
が読み出され、前記複数のテストデータが被試験回路２
９に入力された場合の被試験回路２９の動作がシミュレ
ートされ、結果が複数の期待値として出力され、第１の
期待値保持部３４に格納される。（ステップＳ３） 第１のテストデータ保持部３３から読み出された複数の
テストデータと、第１の期待値保持部３４から読み出さ
れた複数の期待値とが、テストモジュールとしてモジュ
ール出力回路７５’によりファイル回路８０に出力され
る。（ステップＳ４） ファイル回路８０からテストモジュールが読み出され、
モジュール入力回路７６を介して複数のテストデータが
第２のテストデータ保持回路４３に転送され、複数の期
待値が第２の期待値保持回路４４に転送される。（ステ
ップＳ５） 第２のテストデータ保持部４３から読み出された複数の
テストデータが被試験回路２９に入力され、被試験回路
２９から出力された処理結果が結果保持部４８に格納さ
れる。（ステップＳ６） 結果保持部４８から読み出された前記処理結果と、第２
の期待値保持部４４から読み出された複数の期待値とが
被試験回路２９により比較され、比較結果が一致した場
合には被試験回路２９が正常に動作している旨表示回路
９０に表示・出力され、比較結果が異なる場合には被試
験回路２９が正常には動作していない旨表示回路９０に
表示・出力され、処理を終了する。（ステップＳ７）

【００２３】

【発明が解決しようとする課題】上述した様に、試験デ
ータ生成装置から複数の命令列とデータと期待値とがテ
ストモジュールとしてファイル回路に出力され、被試験
装置は複数の命令列とデータと期待値とからなるテスト
モジュールをファイル回路から入力する必要があった。

【００２４】ところが、情報処理装置の内部回路が複雑
になればなるほどテストモジュールのパターンが増加す
るため、大量のテストモジュールを格納する大容量のフ
ァイル回路が必要になり、また、ファイル回路への入出
力に要する時間が増大するという問題があった。

【００２５】本発明は、テストモジュールの量を低減
し、小容量のファイル回路で、テストモジュールの入出
力に要する時間を短時間に低減した試験システムを提供
することを目的とする。

【００２６】

【課題を解決するための手段】本発明は、テストデータ
が一定量の初期値から特定の規則に基づいて自動的に生
成される点に着目し、試験データ生成装置が有するテス
トデータ生成手段と同一のテストデータ生成手段をあら
かじめ被試験装置に設け、テストモジュールとしてテス
トデータをテストデータ生成装置から被試験装置に転送
する代わりに初期値をテストデータ生成装置から被試験
装置に転送して被試験装置の内部でテストデータを生成
せしめることにより、テストモジュールの量を低減し、
テストモジュールの入出力時間を低減した試験システム
を構成するものである。

【００２７】本発明の原理について、図１を参照しなが
ら説明する。尚、従来例の説明において説明されたと同
一部分または相当部分については同一符号を付し、本説
明において新たに説明される部分については新しい符号
を付して説明する。

【００２８】図１において、１０は試験データ生成装置
であり、１１は第１の初期値保持手段であり、１２は第
１のテストデータ生成手段であり、１３は第１のテスト
データ保持手段であり、１４は第１の期待値保持手段で
あり、１５はモジュール出力手段であり、１６は入力手
段であり、１７は期待値生成手段であり、２０は被試験
装置であり、２１は第２の初期値保持手段であり、２２
は第２のテストデータ生成手段であり、２３は第２のテ
ストデータ保持手段であり、２４は第２の期待値保持手
段であり、２５はモジュール入力手段であり、２６は表
示手段であり、２８は結果保持手段であり、２９は被試
験回路であり、８０はファイル回路である。

【００２９】試験データ生成装置１０は、第１の初期値
保持手段１１と第１のテストデータ生成手段１２と第１
のテストデータ保持手段１３と第１の期待値保持手段１
４とモジュール出力手段１５と入力手段１６と期待値生
成手段１７とから構成され、ファイル回路８０と接続さ
れて、入力された初期値を基に複数のテストデータを生
成し、前記複数のテストデータが被試験回路２９に入力
された場合の被試験回路２９の動作をシミュレートして
複数の期待値を生成して出力し、、前記初期値と前記複
数の期待値とをテストモジュールとしてファイル回路８
０に出力する装置である。

【００３０】被試験装置２０は、第２の初期値保持手段
２１と第２のテストデータ生成手段２２と第２のテスト
データ保持手段２３と第２の期待値保持手段２４とモジ
ュール入力手段２５と表示手段２６と結果保持手段２８
と被試験回路２９とから構成され、ファイル回路８０と
接続されて、モジュール入力手段２５を介してファイル
回路８０から初期値を第２の初期値保持手段２１に転送
し、複数の期待値を第２の期待値保持手段２４に転送
し、前記初期値から複数のテストデータを生成して第２
のテストデータ保持手段に格納し、第２のテストデータ
保持手段から読み出された前記複数のテストデータを被
試験回路２９に入力して被試験回路２９から出力される
処理結果を結果保持手段２８に格納し、結果保持手段２
８から読み出された前記処理結果と第２の期待値保持手
段２４から読み出された前記複数の期待値とを比較して
比較結果を表示手段２６に表示・出力する装置である。

【００３１】第１の初期値保持手段１１は、入力手段１
６を介して入力された初期値が保持される手段である。
第１のテストデータ生成手段１２は、第１の初期値保持
手段１１に保持される初期値を読み出して複数のテスト
データを生成し、第１のテストデータ保持手段１３に格
納する手段である。

【００３２】第１のテストデータ保持手段１３は、第１
のテストデータ生成手段１２により生成されたテストデ
ータが保持される手段である。第１の期待値保持手段１
４は、期待値生成手段１７により生成された複数の期待
値を保持する手段である。モジュール出力手段１５は、
第１の初期値保持手段１１に保持される初期値と、第１
の期待値保持手段１４に保持される複数の期待値とをテ
ストモジュールとしてファイル回路８０に出力する手段
である。

【００３３】入力手段１６は、初期値が入力され、第１
の初期値保持手段１１に格納される手段である。期待値
生成手段１７は、第１のテストデータ保持手段１３から
読み出された複数のテストデータが被試験回路２９に入
力された場合の被試験回路２９の動作をシミュレート
し、複数の期待値を生成して出力し、第１の期待値保持
手段１４に設定する手段である。

【００３４】第２の初期値保持手段２１は、モジュール
入力手段２５を介してファイル回路８０から転送された
初期値が保持される手段である。第２のテストデータ生
成手段２２は、第２の初期値保持手段に保持される初期
値から複数のテストデータを生成し、第２のテストデー
タ保持手段２３に格納する手段である。

【００３５】第２のテストデータ保持手段２３は、第２
のテストデータ生成手段２２により生成された複数のテ
ストデータが保持される手段である。第２の期待値保持
手段２４は、モジュール入力手段２５を介して転送され
た複数の期待値が保持される手段である。

【００３６】モジュール入力手段２５は、ファイル回路
８０から初期値を第２の初期値保持手段２１に転送し、
複数の期待値を第２の期待値保持手段２４に転送する手
段である。

【００３７】表示手段２６は、被試験回路２９から出力
された比較結果が表示・出力される手段である。結果保
持手段２８は、被試験回路２９から出力された処理結果
が保持される手段である。

【００３８】被試験回路２９は、第２のテストデータ保
持手段から読み出された複数のテストデータが入力され
て処理結果が結果保持手段２８に出力され、結果保持手
段２８から読み出された前記処理結果と第２の期待値保
持手段２４から読み出された複数の期待値とが比較され
て比較結果が表示手段２６に表示・出力される手段であ
る。

【００３９】次に処理の流れについて説明する。入力手
段１６から入力された初期値は、第１の初期値保持手段
１１に保持される。

【００４０】第１の初期値保持手段１１に保持された初
期値は、第１のテストデータ生成手段１２により読み出
され、特定の規則に従って命令列とデータとからなる複
数のテストデータが生成されて第１のテストデータ保持
手段１３に出力される。

【００４１】期待値生成手段１７により複数のテストデ
ータが第１のテストデータ保持手段１３から読み出さ
れ、前記テストデータが被試験回路２９に入力された場
合の被試験回路２９の動作がシミュレートされて複数の
期待値が生成され、第１の期待値保持手段１４に出力さ
れる。

【００４２】第１の初期値保持手段１１に保持される初
期値と、第１の期待値保持手段１４に保持される複数の
期待値とがモジュール出力手段１５により読み出され、
ファイル回路８０に出力される。

【００４３】ファイル回路８０に保持される初期値と複
数の期待値とがモジュール入力手段２５により読み出さ
れ、前記初期値が第２の初期値保持手段２１に転送さ
れ、前記複数の期待値が第２の期待値保持手段２４に転
送される。

【００４４】第２の初期値保持手段２１に保持された初
期値は、第２のテストデータ生成手段２２により読み出
され、特定の規則に従って命令列とデータとからなる複
数のテストデータが生成されて第２のテストデータ保持
手段２３に出力される。

【００４５】第２のテストデータ保持手段２３に保持さ
れる複数のテストデータは、被試験回路２９により読み
出され、被試験回路２９から出力された処理結果が結果
保持手段２８に格納される。

【００４６】結果保持手段２８に保持される結果と、第
２の期待値保持手段２４に保持される複数の期待値とが
被試験回路２９により読み出され、比較結果が表示手段
２６に表示・出力される。

【００４７】

【発明の実施の形態】発明の実施の形態について、図２
〜図４を参照しながら、（ａ）本発明の実施の形態試験
システムの構成、（ｂ）本発明の実施の形態処理の流
れ、の順に説明する。

【００４８】尚、従来例の説明及び本発明の原理につい
ての説明において説明されたと同一部分または相当部分
については同一符号を付し、本説明において新たに説明
される部分については新しい符号を付して説明する。 （ａ）本発明の実施の形態試験システムの構成 本発明の試験システムの構成例について、図２を参照し
ながら説明する。

【００４９】図２において、１０は試験データ生成装置
であり、２０は被試験装置であり、２９は被試験回路で
あり、３０は第１の記憶回路であり、３１は第１の初期
値保持部であり、３２は第１のテストデータ生成部であ
り、３３は第１のテストデータ保持部であり、３４は第
１の期待値保持部であり、３７は期待値生成部であり、
４０は第２の記憶回路であり、４１は第２の初期値保持
部であり、４２は第２のテストデータ生成部であり、４
３は第２のテストデータ保持部であり、４４は第２の期
待値保持部であり、４８は結果保持部であり、５０は入
力回路であり、６０はプロセッサ回路であり、７５はモ
ジュール出力回路であり、７６はモジュール入力回路で
あり、８０はファイル回路であり、９０は表示回路であ
る。

【００５０】試験データ生成装置１０は、第１の記憶回
路３０と入力回路５０とプロセッサ回路６０とモジュー
ル出力回路７５とから構成され、ファイル回路８０に接
続された装置であって、入力回路５０から入力された初
期値を基に、特定の規則に従って命令列とデータとから
なる複数のテストデータが生成され、前記複数のテスト
データが被試験回路２９に入力された場合の被試験回路
２９の動作がシミュレートされて複数の期待値が生成さ
れ、前記初期値と前記複数の期待値とがテストモジュー
ルとしてファイル回路８０に出力される装置である。

【００５１】被試験装置２０は、被試験回路２９と第２
の記憶回路４０とモジュール入力回路７６と表示回路９
０とから構成され、ファイル回路８０に接続された装置
であって、モジュール入力回路７６から入力されたテス
トモジュールの中の、初期値が第２の初期値保持部４１
に出力され、複数の期待値が第２の期待値保持部４４に
出力され、初期値保持部４１から読み出された前記初期
値を基に、第２のテストデータ生成部４２により複数の
テストデータが生成されて第２のテストデータ保持部４
３に格納され、第２のテストデータ保持部４３から読み
出された前記複数のテストデータが被試験回路２９に入
力され、処理結果が結果保持部４８に出力され、結果保
持部４８から読み出された前記処理結果と、第２の期待
値保持部４４から読み出された前記複数の期待値とが被
試験回路２９により比較され、比較結果が表示回路９０
により表示・出力される装置である。

【００５２】モジュール出力回路７５は、第１の記憶回
路３０と入力回路５０とプロセッサ回路６０とファイル
回路８０とに接続され、初期値と複数の期待値とをテス
トモジュールとしてファイル回路８０に出力する回路で
ある。

【００５３】モジュール入力回路７６は、被試験回路２
９と第２の記憶回路４０とファイル回路８０と表示回路
９０とに接続され、ファイル回路８０から読み出された
テストモジュールを第２の記憶回路４０に転送する回路
である。

【００５４】ファイル回路８０は、試験データ生成装置
１０と被試験装置２０とに接続され、試験データ生成装
置１０により生成されたテストモジュールが格納され、
前記テストモジュールが被試験装置２０に転送される回
路である。

【００５５】第２の初期値保持部４１は、第２の記憶回
路４０に設けられた、モジュール入力回路７６により入
力された初期値が保持される領域である。第２のテスト
データ生成部４２は、第２の記憶回路４０に保持されて
被試験回路２９を動作させて前記初期値から特定の規則
に基づいて命令列とデータとからなる複数のテストデー
タを生成し、前記複数のテストデータを第２のテストデ
ータ保持部４３に格納するプログラムである。 （ｂ）本発明の実施の形態処理の流れ 本発明の試験システムの処理の流れについて、図３〜図
４を参照しながら説明する。

【００５６】入力された初期値は、入力回路５０により
第１の初期値保持部３１に格納される。（ステップＳ
１） プロセッサ回路６０を動作させるテストデータ生成部３
２により、第１の初期値保持部３１から初期値が読み出
され、特定の規則に基づいて命令列とデータとからなる
複数のテストデータが生成され、第１のテストデータ保
持部３３に格納される。（ステップＳ２） プロセッサ６０を動作させる期待値生成部３７により、
第１のテストデータ保持部３３から複数のテストデータ
が読み出され、前記複数のテストデータが被試験回路２
９に入力された場合の被試験回路２９の動作がシミュレ
ートされ、期待値が生成されて第１の期待値保持部３４
に格納される。（ステップＳ３） 第１の初期値保持部３１から読み出された初期値と、第
１の期待値保持部３４から読み出された複数の期待値と
がテストモジュールとしてモジュール出力回路７５によ
りファイル回路８０に出力される。（ステップＳ４） ファイル回路８０からテストモジュールが読み出され、
モジュール入力回路７６を介して初期値が第２の初期値
保持部４１に転送され、複数の期待値が第２の期待値保
持回路４４に転送される。（ステップＳ５） 第２のテストデータ生成部４２により被試験回路２９が
動作して第２の初期値保持部４１から初期値が読み出さ
れ、特定の規則に基づき生成された命令列とデータとか
らなる複数のテストデータが生成され、第２のテストデ
ータ保持部４３に出力される。（ステップＳ６） 第２のテストデータ保持部４３から読み出された複数の
テストデータが被試験回路２９に入力され、被試験回路
２９から出力された処理結果が結果保持部４８に格納さ
れる。（ステップＳ７） 結果保持部４８から読み出された前記処理結果と、第２
の期待値保持部４４から読み出された複数の期待値とが
被試験回路２９により比較され、比較結果が一致した場
合には被試験回路２９が正常に動作している旨表示回路
９０に表示・出力され、比較結果が異なる場合には被試
験回路２９が正常には動作していない旨表示回路９０に
表示・出力され、処理を終了する。（ステップＳ８） 本説明においては、試験データ生成装置１０と被試験装
置２０の間でテストモジュールを一旦ファイル回路８０
に格納しているが、テストモジュールの量が少なく、試
験データ生成装置１０と被試験装置２０が接近している
場合には、ファイル回路８０を介さずにテストモジュー
ルを転送することも可能である。

【００５７】

【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば試験
データ生成装置から出力され被試験装置に入力されるテ
ストモジュールが初期値と複数の期待値とに低減出来る
ため、試験データ生成装置と被試験装置の間で受け渡し
されるデータを保持するファイル回路が小容量で済み、
テストモジュールの入出力に要する時間を低減すること
が出来るという工業的効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の原理図

【図２】 本発明の実施の形態構成図

【図３】 本発明の実施の形態フローチャート図（その
１）

【図４】 本発明の実施の形態フローチャート図（その
２）

【図５】 従来例の構成図

【図６】 従来例のフローチャート図（その１）

【図７】 従来例のフローチャート図（その２）

【符号の説明】

１０，１０’ 試験データ生成装置 １１ 第１の初期値保持手段 １２ 第１のテストデータ生成手段 １３ 第１のテストデータ保持手段 １４ 第１の期待値保持手段 １５ モジュール出力手段 １６ 入力手段 １７ 期待値生成手段 ２０，２０’ 被試験装置 ２１ 第２の初期値保持手段 ２２ 第２のテストデータ生成手段 ２３ 第２のテストデータ保持手段 ２４ 第２の期待値保持手段 ２５ モジュール入力手段 ２６ 表示手段 ２８ 結果保持手段 ２９ 被試験回路 ３０ 第１の記憶回路 ３１ 第１の初期値保持部 ３２ 第１のテストデータ生成部 ３３ 第１のテストデータ保持部 ３４ 第１の期待値保持部 ３７ 期待値生成部 ４０ 第２の記憶回路 ４１ 第２の初期値保持部 ４２ 第２のテストデータ生成部 ４３ 第２のテストデータ保持部 ４４ 第２の期待値保持部 ４８ 結果保持部 ５０ 入力回路 ６０ プロセッサ回路 ７５，７５’モジュール出力回路 ７６ モジュール入力回路 ８０ ファイル回路 ９０ 表示回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力された初期値から、特定の規則に基
   づき複数の命令列とデータとが生成され、前記複数の命
   令列とデータとを入力として被試験回路の回路動作がシ
   ミュレートされて期待値が生成され、前記初期値と前記
   期待値とがテストモジュールとして出力される試験デー
   タ生成装置と、 被試験回路を内蔵し、前記初期値と前記期待値とがテス
   トモジュールとして入力され、前記入力された初期値を
   基に前記特定の規則に基づき複数の命令列とデータとが
   生成され、前記命令列とデータとが前記被試験回路に入
   力されて出力された結果と前記期待値とが比較され、比
   較結果が表示・出力される被試験装置と、から構成され
   る試験システム。
2. 【請求項２】 初期値が入力される入力手段と、前記初
   期値が保持される第１の初期値保持手段と、前記第１の
   初期値保持手段から前記初期値を読み出して特定の規則
   に基づき複数の命令列とデータとを生成する第１のテス
   トデータ生成手段と、前記複数の命令列とデータとを保
   持する第１のテストデータ保持手段と、前記第１のテス
   トデータ保持手段から前記複数の命令列とデータとを読
   み出して被試験回路の回路動作をシミュレートして複数
   の期待値を生成する期待値生成手段と、前記複数の期待
   値を保持する第１の期待値保持手段と、前記初期値と前
   記複数の期待値とをモジュールとして出力するモジュー
   ル出力手段とから構成される、 試験データ生成装置を有する事を特徴とする請求項１に
   記載の試験システム。
3. 【請求項３】 初期値と複数の期待値とがモジュールと
   して入力されるモジュール入力手段と、初期値が保持さ
   れる第２の初期値保持手段と、複数の期待値が保持され
   る第２の期待値保持手段と、前記第２の初期値保持手段
   から前記初期値を読み出して特定の規則に基づき複数の
   命令列とデータとを生成する第２のテストデータ生成手
   段と、前記複数の命令列とデータとを保持する第２のテ
   ストデータ保持手段と、前記第２のテストデータ保持手
   段から前記複数の命令列とデータとを読出して処理結果
   を結果保持手段に出力し、前記結果保持手段から前記処
   理結果を読出し、また前記第２の期待値保持手段から前
   記複数の期待値を読出して前記処理結果と比較し、比較
   結果を出力する被試験回路と、前記比較結果を表示・出
   力する表示手段とから構成される、 被試験装置を有する事を特徴とする請求項１に記載の試
   験システム。