JPH071310B2 - デ−タ収集回路 - Google Patents

デ−タ収集回路

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JPH071310B2
JPH071310B2 JP62137216A JP13721687A JPH071310B2 JP H071310 B2 JPH071310 B2 JP H071310B2 JP 62137216 A JP62137216 A JP 62137216A JP 13721687 A JP13721687 A JP 13721687A JP H071310 B2 JPH071310 B2 JP H071310B2
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Shimadzu Corp
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/037—Emission tomography

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Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、医用診断画像撮像器及びデジタルデータの収
集の分野で利用される。
本発明は、データ収集回路に関し、とくにポジトロンEC
Tにおけるデータ収集回路に関する。
（ロ）従来技術 陽電子放出核種は放出陽電子が電子と結合して消滅し、
ほぼ180度の方向に0.511MeVのγ線２本を放出するの
で、対向検出器に接続された同時計測回路の出力データ
を単にメモリマトリクスに書き込むことによりデータ収
集が行なわれている。
このように、ポジトロンECTのデータ収集は、検出器を
結ぶ同時計数ラインに対応するアドレスに事象が生じる
毎にカウント１を加算することにより行なつている。
このために、第３図（１）に示されるように、通常では
検出器の配列数×検出器の配列数のメモリマトリクスを
構成し、計数データを配列しなおして（並びかえ）、サ
イノグラムの原型（第３図（２））を作り、等間隔化等
の補間及び検出器の感度補正、デツドタイム補正、減衰
補正などの各処理が行なわれ、画像再構成手法により画
像（第３図（３））が作られている。
（ハ）発明が解決しようとする問題点 ところで、装置による高分解能化が進むにつれて、検出
器の配列数が多くなり、メモリマトリクスも64×64、12
8×128、256×256、512×512へと順次多くなつてきて、
前記したような後処理にも時間的な面で、つまりリアル
タイム性が損なわれている。
また、時間的に早く変化する対象については、計数のデ
ツドタイム補正が平均値処理となるため誤差が多く、減
衰補正も同様である。
本発明の目的は、高分解能化によるデータメモリのマト
リクスサイズの増大に対応して後処理を簡単にし、時間
の利用効率を上げ、とくにデツドタイム補正及び減衰補
正が実時間に近い速さで行なわれるポジトロンECT用の
データ収集回路を提供することである。
（ニ）問題点を解決するための手段 前記した目的は、ポジトロンECTのデータ収、集部にお
いて同時計測回路の出力データを保管する一時保管メモ
リと、複数のフレームデータを格納できるバツフアメモ
リとからなり、両メモリ間のアドレスバスにはアドレス
変換メモリ及びバツフアメモリ内に設定された各フレー
ム領域毎に与えられるベースアドレスの加算器を介挿さ
せ、他方両メモリ間のデータバスにはデツドタイム補正
及び減衰補正などの各種補正や定数演算に必要な演算器
を介挿させることにより、達成できる。
（ホ）作用 データメモリのマトリクスサイズが大きくなるに従つ
て、従来よりCPUを利用したソフトウエア手段では時間
がかかり、リアルタイム性が損なわれる。そこで、デー
タのフローの中でデツドタイム補正及び減衰補正などに
必要な専用的な演算器を介挿させ、同時に計測生データ
からサイノグラムへの変換もアドレス変換メモリを介挿
させて行ない、これらの処理を実時間ないしリアルタイ
ムにより行なう。
（ヘ）実施例 本発明の好適な実施例は、図面に基づいて説明される。
第１図はその１実施例を示した要部概略ブロツク図であ
る。
ここで、10は図示しない同時計測回路に接続された一時
保管メモリ、12はアドレス変換メモリ、14は各フレーム
領域のベースアドレス加算器、16は時系列に変わる係数
を持つた乗算器、18は１つ手前のデータとの加算器、20
は複数のフレーム領域を持つたバツフアメモリである。
メモリ10は動作の速いSRAMが、またメモリ20は大容量の
DRAMが、それぞれ好ましい。
まず、データは一時保管メモリ10Aに貯えられて、0.5秒
から２秒毎にバツフアメモリ20へ転送し、転送中にはデ
ータは一時保管メモリ10Bへ切換え貯えられる。
転送は１ワード/1μsec程度で行なわれ、一時保管メモ
リ10のアドレスはメモリ12によりアドレス変換されて並
べ換えられ、データは定数（係数）と演算をしてバツフ
アメモリ20に送られ、バツフアメモリ20は旧データとの
加算をして新しいデータとする。
バツフアメモリ20は1MW以上の容量を有し、各フレーム
領域のベースアドレスを任意に切り換えてバツフアメモ
リ20中に任意の場所にデータを記録できる。
演算定数は転送毎に切り換えることにより秒単位での減
衰、デツドタイム補正などが可能となる。
一時保管メモリ10A、10bは、前述したように、切り換え
られ、データ収集と転送を順次繰り返す。
アドレス変換メモリ12は生データが必要な部分のみを取
り出す働きもし、データの圧縮効果も得られる。
ベースアドレスは転送毎に切り換えると、ダイナミツク
なフレーミングが可能となる。
また、バツフアメモリ20は、第２図に示すように補間演
算器22を外付けで有しており、バツフアメモリ20のデー
タ間の加減算、乗算ができる演算器22aを有して、（第
１ベースアドレスデータ）＋、−又は×（第２ベースア
ドレスデータ）＝第３ベースアドレスデータの演算を組
合わせることができ、例えば多数フレームを加算する、
定数を引き算する、定数を掛けげノーマライズする、マ
スクをかけるなどの演算をCPUを介さずに行なえ、デー
タの処理時間効率を上げる。なお、22bはアドレス設定
部であり、22cはゲートであり、CPUにより制御される。
また、心ゲート測定時には、第１図における余備入力に
図示しない同時計測回路からのアドレスを入力し、定数
を１としておけば、アドレス変換されたバツフアデータ
上に事象毎にカウント１を加算する通常のデータ収集が
行なわれ、Ｒ−Ｒ波の1/n（ｎ＝２〜32）毎にベースア
ドレスを切り換えると、バツフアメモリ20上にｎ枚の分
割データが収集できる。
本発明によれば、前記したようなデツドタイム補正及び
減衰補正などはCPUによる演算機能を借りずに行なわれ
るが、アドレスバス及びデータバスに介挿された演算器
のタイミング動作はCPUを利用してもよい。
また、演算器16の定数ないし係数の設定は、一時保管メ
モリ10をモニタしてその都度行なわれるようにしたモニ
タ手段をCPUの機能により構成してもよい。
（ト）効果 本発明によれば、高分解能化によるデータの増加に対応
でき、実時間に近い速さでデツドタイム補正、減衰補正
などの補正ができ、ポジトロンECT測定の定量性が増
し、また心ゲートデータ収集にも利用でき効率よく行な
える。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の１実施例を示した要部概略ブロツク
図、第２図は本発明によるバツフアメモリの例示図、第
３図は従来例によるECT行程説明図である。 10は一時保管メモリ、12はアドレス変換メモリ、14と18
は加算器、16は乗算器、20はバツフアメモリ、22は補間
演算器である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】ポジトロンECTのデータ収集部において、
    同時計測回路の出力データを保管する一時保管メモリ
    と、複数のフレームデータを格納できるバツフアメモリ
    とからなり、両メモリ間のアドレスバスにはアドレス変
    換メモリ及びバツフアメモリ内に設定された各フレーム
    領域毎に与えられるベースアドレスの加算器を介挿さ
    せ、他方両メモリ間のデータバスにはデツドタイム補正
    及び減衰補正などの各種補正や定数演算に必要な演算器
    を介挿させていることを特徴とする、データ収集回路。
  2. 【請求項２】バツフアメモリに画像再構成処理用CPU及
    び専用ハードウエアが接続され、一時保管メモリからバ
    ツフアメモリへのデータ転送と共に、バツフアメモリか
    ら該CPU及び専用ハードウエアへのデータ転送が行なわ
    れることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の
    データ収集回路。
  3. 【請求項３】ECGゲート法測定時には、検出器からのア
    ドレスがアドレス変換メモリへ入力され、他方データバ
    スには初期値１の積分器が介挿されていることを特徴と
    する、特許請求の範囲第１項に記載のデータ収集回路。
  4. 【請求項４】データバスに介挿されている演算器の入力
    は、あらかじめ計算された定数であるか、またはリアル
    タイムに参照できるノモグラフ（計算早見表）用メモリ
    のデータであることを特徴とする、特許請求の範囲第１
    項に記載のデータ収集回路。
JP62137216A 1987-05-30 1987-05-30 デ−タ収集回路 Expired - Lifetime JPH071310B2 (ja)

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JP62137216A JPH071310B2 (ja) 1987-05-30 1987-05-30 デ−タ収集回路
DE88304728T DE3880554T2 (de) 1987-05-30 1988-05-25 Datenerfassungsschaltung.
EP88304728A EP0294089B1 (en) 1987-05-30 1988-05-25 Data acquisition circuit
US07/199,839 US4931968A (en) 1987-05-30 1988-05-27 Data correction circuit for position emission computed tomograph

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JPS63300984A JPS63300984A (ja) 1988-12-08
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US4931968A (en) 1990-06-05
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