JPH0714932Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH0714932Y2 JPH0714932Y2 JP13318788U JP13318788U JPH0714932Y2 JP H0714932 Y2 JPH0714932 Y2 JP H0714932Y2 JP 13318788 U JP13318788 U JP 13318788U JP 13318788 U JP13318788 U JP 13318788U JP H0714932 Y2 JPH0714932 Y2 JP H0714932Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arbitrary function
- data
- digitizer
- function generator
- trigger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は、任意関数発生器からの任意関数波形データ
をアナログ信号に変換して被測定IC素子へ供給し、その
被測定IC素子の出力アナログデータをデジタルデータに
変換してメモリに取り込みトリガ信号の受けると設定さ
れたデータ数だけデータを取り込んで停止するデジタイ
ザを含むIC試験装置に関する。
をアナログ信号に変換して被測定IC素子へ供給し、その
被測定IC素子の出力アナログデータをデジタルデータに
変換してメモリに取り込みトリガ信号の受けると設定さ
れたデータ数だけデータを取り込んで停止するデジタイ
ザを含むIC試験装置に関する。
「従来の技術」 この種のIC試験装置の従来技術を第３図に示す。任意関
数発生器11からの任意関数波形データはDA変換器12でア
ナログ信号に変換され、そのアナログ信号は被測定IC素
子13へ試験信号として供給される。被測定IC素子13から
の出力アナログデータはデジタイザ14でデジタルデータ
に変換されてメモリに取り込まれる。デジタイザ14はト
リガ信号を受けると設定されたデータ数だけデータを取
り込んでデータの取り込みを停止する。
数発生器11からの任意関数波形データはDA変換器12でア
ナログ信号に変換され、そのアナログ信号は被測定IC素
子13へ試験信号として供給される。被測定IC素子13から
の出力アナログデータはデジタイザ14でデジタルデータ
に変換されてメモリに取り込まれる。デジタイザ14はト
リガ信号を受けると設定されたデータ数だけデータを取
り込んでデータの取り込みを停止する。
従来においてはデジタルパターン発生器15からのスター
ト信号により波形発生を開始し、デジタイザ14は制御装
置16によりスタートされ、被測定IC素子13からの出力デ
ータを取り込み、デジタルパターン発生器15からのトリ
ガ信号により停止する。なおデジタルパターン発生器15
はデジタルパターンを発生して被測定IC素子13へ供給し
て試験を行うためのものである。
ト信号により波形発生を開始し、デジタイザ14は制御装
置16によりスタートされ、被測定IC素子13からの出力デ
ータを取り込み、デジタルパターン発生器15からのトリ
ガ信号により停止する。なおデジタルパターン発生器15
はデジタルパターンを発生して被測定IC素子13へ供給し
て試験を行うためのものである。
「考案が解決しようとする課題」 被測定IC素子13に印加するアナログ信号に対してデジタ
イザ14のトリガのタイミングをある点に設定したい場合
に、デジタルパターン発生器15にスタートとトリガとの
タイミングを記述する必要があった。つまりそのように
デジタルパターン発生器15の制御パターンプログラムを
作る必要があった。
イザ14のトリガのタイミングをある点に設定したい場合
に、デジタルパターン発生器15にスタートとトリガとの
タイミングを記述する必要があった。つまりそのように
デジタルパターン発生器15の制御パターンプログラムを
作る必要があった。
「課題を解決するための手段」 この考案においては任意関数発生器に対し、任意関数波
形データを出力する他にその任意の点でデータ“1"を設
定してトリガ信号を出力するようにされる。
形データを出力する他にその任意の点でデータ“1"を設
定してトリガ信号を出力するようにされる。
このように任意関数発生器にトリガ信号を出力するデー
タ“1"が設定されるため、被測定IC素子に印加するアナ
ログ信号に対してトリガタイミングを設定したい場合
に、容易に設定することができる。
タ“1"が設定されるため、被測定IC素子に印加するアナ
ログ信号に対してトリガタイミングを設定したい場合
に、容易に設定することができる。
「実施例」 第１図はこの考案の実施例を示し、第３図と対応する部
分には同一符号を付けてある。任意関数発生器21は従来
と同様に任意関数波形データを発生する他に、この考案
においてはトリガ信号を発生するようにされている。例
えば第２図に示すように任意関数発生器21の波形メモリ
には任意関数波形データが記憶されると共にその各番地
に１ビット付加して、そこをトリガビット領域とする。
そのトリガビット領域には、トリガを発生したい任意関
数波形のタイミングと対応する番地に“1"が設定され
る。この任意関数発生器21から読出されたトリガ信号は
デジタイザ14へ供給される。任意関数発生器21は制御装
置16によりスタートされる。
分には同一符号を付けてある。任意関数発生器21は従来
と同様に任意関数波形データを発生する他に、この考案
においてはトリガ信号を発生するようにされている。例
えば第２図に示すように任意関数発生器21の波形メモリ
には任意関数波形データが記憶されると共にその各番地
に１ビット付加して、そこをトリガビット領域とする。
そのトリガビット領域には、トリガを発生したい任意関
数波形のタイミングと対応する番地に“1"が設定され
る。この任意関数発生器21から読出されたトリガ信号は
デジタイザ14へ供給される。任意関数発生器21は制御装
置16によりスタートされる。
なお、被測定IC素子13がアナログ入力、デジタル出力の
場合は、デジタイザの代りに被測定IC素子13のデジタル
出力信号を取り込むメモリを使用し、任意関数発生器21
からのトリガ信号により取り込みを停止させることもで
きる。
場合は、デジタイザの代りに被測定IC素子13のデジタル
出力信号を取り込むメモリを使用し、任意関数発生器21
からのトリガ信号により取り込みを停止させることもで
きる。
「考案の効果」 以上述べたように、この考案によれば任意関数発生器21
中の波形メモリのトリガを設定したいポイントのトリガ
ビットに“1"を立てればよく、トリガの設定が簡単であ
り、従来必要としていたデジタルパターン発生器の制御
パターンプログラムを作る必要がない。
中の波形メモリのトリガを設定したいポイントのトリガ
ビットに“1"を立てればよく、トリガの設定が簡単であ
り、従来必要としていたデジタルパターン発生器の制御
パターンプログラムを作る必要がない。
第１図はこの考案によるIC試験装置の一例を示すブロッ
ク図、第２図はその任意関数発生器中の波形メモリの例
を示す図、第３図は従来のIC試験装置の一例を示すブロ
ック図である。
ク図、第２図はその任意関数発生器中の波形メモリの例
を示す図、第３図は従来のIC試験装置の一例を示すブロ
ック図である。
Claims (1)
- 【請求項１】任意関数波形データ及びその任意の点でデ
ータ“1"を設定してトリガ信号を出力する任意関数発生
器と、 その任意関数発生器からの任意関数波形データをアナロ
グ信号に変換して被測定IC素子へ供給するDA変換器と、 上記被測定IC素子の出力アナログデータをデジタルデー
タに変換してメモリに取り込み上記トリガ信号を受ける
と設定されたデータ数だけデータを取り込んで停止する
デジタイザと、 上記任意関数発生器及び上記デジタイザにスタートをか
ける制御装置とを具備するIC試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13318788U JPH0714932Y2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13318788U JPH0714932Y2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0252171U JPH0252171U (ja) | 1990-04-13 |
| JPH0714932Y2 true JPH0714932Y2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=31390826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13318788U Expired - Lifetime JPH0714932Y2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714932Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-10-11 JP JP13318788U patent/JPH0714932Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252171U (ja) | 1990-04-13 |
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