JPS648677U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS648677U JPS648677U JP10325287U JP10325287U JPS648677U JP S648677 U JPS648677 U JP S648677U JP 10325287 U JP10325287 U JP 10325287U JP 10325287 U JP10325287 U JP 10325287U JP S648677 U JPS648677 U JP S648677U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- timing
- generator
- signal
- pattern
- given
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を説明するブロツ
ク図、第２図及び第３図はこの考案の動作を説明
するための波形図、第４図は従来の技術を説明す
るためのブロツク図、第５図は従来の技術の動作
を説明するための波形図である。 １……タイミング発生器、２……パターン発生
器、３……波形発生器、４……被試験ＩＣ、５…
…判定器、８……一時記憶手段。
ク図、第２図及び第３図はこの考案の動作を説明
するための波形図、第４図は従来の技術を説明す
るためのブロツク図、第５図は従来の技術の動作
を説明するための波形図である。 １……タイミング発生器、２……パターン発生
器、３……波形発生器、４……被試験ＩＣ、５…
…判定器、８……一時記憶手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ タイミング信号を発生するタイミング信号発
生器と、 Ｂ このタイミング信号発生器が出力するシステ
ムクロツクによつて試験パターン信号を被試験Ｉ
Ｃに与えるタイミングを指定するためのタイミン
グ指定データを出力するパターン発生器と、 Ｃ このパターン発生器から出力されるタイミン
グ指定データを一時記憶し、上記タイミング発生
器から与えられる読出クロツクによつて記憶した
タイミング指定データを読出す一時記憶手段と、 Ｄ この一時記憶手段を介して取込んだタイミン
グ指定データによつて指定されたタイミングが規
定され被試験ＩＣに与える試験パターン信号を出
力する波形発生器と、 Ｅ 上記タイミング発生器から出力される波形判
定タイミングに従つて被試験ＩＣの応答信号と上
記パターン発生器が出力する期待値デ−タとの一
致、不一致を判定する判定器と、 から成るＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987103252U JP2507879Y2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987103252U JP2507879Y2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS648677U true JPS648677U (ja) | 1989-01-18 |
| JP2507879Y2 JP2507879Y2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=31333911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987103252U Expired - Lifetime JP2507879Y2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2507879Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61250571A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-07 | Hitachi Ltd | 半導体装置試験装置 |
-
1987
- 1987-07-03 JP JP1987103252U patent/JP2507879Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61250571A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-07 | Hitachi Ltd | 半導体装置試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2507879Y2 (ja) | 1996-08-21 |
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