JPH07151764A - 多数の試験管に温度サイクルを自動式に実施する装置 - Google Patents
多数の試験管に温度サイクルを自動式に実施する装置Info
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- JPH07151764A JPH07151764A JP6216272A JP21627294A JPH07151764A JP H07151764 A JPH07151764 A JP H07151764A JP 6216272 A JP6216272 A JP 6216272A JP 21627294 A JP21627294 A JP 21627294A JP H07151764 A JPH07151764 A JP H07151764A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 自動分析装置の構成要素として使用可能な、
小型で、操作に要する電力が少なくて済むサーマルサイ
クラーを提供する。 【構成】 試験管21のホールダないしユニット・ヒー
タ33のチャンバないし穴27を環状に配設し、各試験
管21のふた87にはピペット針32を突刺し可能にし
た。また、ヒータ33の温度を周期的に変化させる手段
が少なくとも1個のペルチエ素子36の形式での冷却・
加熱素子を有するようにし、ペルチエ素子がヒータ33
の底面と熱接触するようにした。
小型で、操作に要する電力が少なくて済むサーマルサイ
クラーを提供する。 【構成】 試験管21のホールダないしユニット・ヒー
タ33のチャンバないし穴27を環状に配設し、各試験
管21のふた87にはピペット針32を突刺し可能にし
た。また、ヒータ33の温度を周期的に変化させる手段
が少なくとも1個のペルチエ素子36の形式での冷却・
加熱素子を有するようにし、ペルチエ素子がヒータ33
の底面と熱接触するようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多数の試験管に自動式
に温度サイクルを実施する装置、それも各試験管が、ふ
たによって閉じられ、かつ所定量の液状反応混合物を有
しており、更に前記装置には、(a) 試験管を保持す
る複数のチャンバが配設されるように構成されたホール
ダが備えられており、これら各チャンバが試験管の下部
を受容するようにされ、更に前記ホールダが高い熱伝導
率を有する材料製であり、かつ頂面と、底面と、円筒形
外壁とを有し、また、各チャンバが前記ホールダ頂面に
設けられた開口を有しており、更に(b) コンピュー
タ制御式の自動制御システムが備えられており、更にま
た、(c) 前記ホールダの温度の周期的変化を自動制
御するシステムにより起動される手段が備えられている
形式の装置に関するものである。
に温度サイクルを実施する装置、それも各試験管が、ふ
たによって閉じられ、かつ所定量の液状反応混合物を有
しており、更に前記装置には、(a) 試験管を保持す
る複数のチャンバが配設されるように構成されたホール
ダが備えられており、これら各チャンバが試験管の下部
を受容するようにされ、更に前記ホールダが高い熱伝導
率を有する材料製であり、かつ頂面と、底面と、円筒形
外壁とを有し、また、各チャンバが前記ホールダ頂面に
設けられた開口を有しており、更に(b) コンピュー
タ制御式の自動制御システムが備えられており、更にま
た、(c) 前記ホールダの温度の周期的変化を自動制
御するシステムにより起動される手段が備えられている
形式の装置に関するものである。
【0002】本発明は、より具体的には、前記の種類の
装置のなかで、ポリメラーゼ連鎖反応を実施する自動分
析装置の統合的な構成要素として適宜に用いられるのが
好ましい装置に関するものである。
装置のなかで、ポリメラーゼ連鎖反応を実施する自動分
析装置の統合的な構成要素として適宜に用いられるのが
好ましい装置に関するものである。
【0003】
【従来の技術】前述の種類の装置はEP−A−0236
069A2に記載されている。この公知装置の場合、試
験管はマトリックス内に配置されているが、このマトリ
ックスでは、すべての試験管を一様な温度にすることは
困難である。また、この公知装置は比較的嵩が大きく、
操作に比較的高い電力が必要である。このため、現在の
自動分析装置の統合的な一構成要素として用いるには不
適当である。
069A2に記載されている。この公知装置の場合、試
験管はマトリックス内に配置されているが、このマトリ
ックスでは、すべての試験管を一様な温度にすることは
困難である。また、この公知装置は比較的嵩が大きく、
操作に比較的高い電力が必要である。このため、現在の
自動分析装置の統合的な一構成要素として用いるには不
適当である。
【0004】冒頭に述べた種類の装置は“サーマル・サ
イクラー”と呼ばれている。以下の説明では、この用語
を使用する。
イクラー”と呼ばれている。以下の説明では、この用語
を使用する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
課題は、冒頭に述べた種類の装置であって、最小限の寸
法を有し、かつ操作に最低限の電力しか必要としない装
置を得ることにある。
課題は、冒頭に述べた種類の装置であって、最小限の寸
法を有し、かつ操作に最低限の電力しか必要としない装
置を得ることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、この課
題は、冒頭に述べた種類の装置に対し、ホールダのチャ
ンバが環状に配設され、かつ各試験管のふたにはピペッ
ト針を突刺し可能であるという特徴を与えることによっ
て解決された。
題は、冒頭に述べた種類の装置に対し、ホールダのチャ
ンバが環状に配設され、かつ各試験管のふたにはピペッ
ト針を突刺し可能であるという特徴を与えることによっ
て解決された。
【0007】本発明による装置の主な利点は、比較的寸
法が小さく、操作に比較的僅か電力を要するだけなの
で、自動分析装置の統合的な一構成要素として用いるの
に適している点である。
法が小さく、操作に比較的僅か電力を要するだけなの
で、自動分析装置の統合的な一構成要素として用いるの
に適している点である。
【0008】
【実施例】以下で本発明の一実施例を添付図面につき説
明する。 サーマル・サイクラー:以下の説明において、“サーマ
ル・サイクラー”とは次のような装置を指す。すなわ
ち、ふたによって閉じられ、所定量の液状反応混合物を
有している少なくとも1個の試験管に温度サイクルを自
動的に実現する装置である。
明する。 サーマル・サイクラー:以下の説明において、“サーマ
ル・サイクラー”とは次のような装置を指す。すなわ
ち、ふたによって閉じられ、所定量の液状反応混合物を
有している少なくとも1個の試験管に温度サイクルを自
動的に実現する装置である。
【0009】以下では、本発明によるサーマル・サイク
ラーについて説明するが、この装置は、ポリメラーゼ連
鎖反応を生じさせる自動分析装置の構成要素として好適
のものである。また、この分析装置は、たとえば免疫定
量法の実施に用いるように設計されたものである。
ラーについて説明するが、この装置は、ポリメラーゼ連
鎖反応を生じさせる自動分析装置の構成要素として好適
のものである。また、この分析装置は、たとえば免疫定
量法の実施に用いるように設計されたものである。
【0010】図1に示されているのは、図13に示され
ている分析装置1から取外したサーマル・サイクラー部
分2である。このサーマル・サイクラー部分2は、たと
えば2台の等しいサーマル・サイクラー18,19と、
待機ステーション22とを有している。以下で行なうサ
ーマル・サイクラー18についての説明は、サーマル・
サイクラー19にも妥当する。
ている分析装置1から取外したサーマル・サイクラー部
分2である。このサーマル・サイクラー部分2は、たと
えば2台の等しいサーマル・サイクラー18,19と、
待機ステーション22とを有している。以下で行なうサ
ーマル・サイクラー18についての説明は、サーマル・
サイクラー19にも妥当する。
【0011】サーマル・サイクラー18は次の構成要素
を有している: a) ユニット・ヒータ33ないしホールダ。このヒー
タ33は試験管を保持し、環状に配設された複数の穴2
7を有している。各穴は、試験管21の下部を保持する
チャンバとして役立っている。 b) 図6に示されているコンピュータ制御の自動制御
システム。 c) 加熱又は冷却素子。自動制御システムにより制御
され、ユニット・ヒータ33の温度を周期的に変化させ
る。
を有している: a) ユニット・ヒータ33ないしホールダ。このヒー
タ33は試験管を保持し、環状に配設された複数の穴2
7を有している。各穴は、試験管21の下部を保持する
チャンバとして役立っている。 b) 図6に示されているコンピュータ制御の自動制御
システム。 c) 加熱又は冷却素子。自動制御システムにより制御
され、ユニット・ヒータ33の温度を周期的に変化させ
る。
【0012】ユニット・ヒータ33は、高い熱伝導率を
有する材料製である。また、ユニット・ヒータは、アル
ミニウム又は銀のボディを有するのが好ましい。
有する材料製である。また、ユニット・ヒータは、アル
ミニウム又は銀のボディを有するのが好ましい。
【0013】ユニット・ヒータ33は、頂面と、底面
と、円筒形外壁を有しており、かつまたユニット・ヒー
タの穴27のそれぞれは、ヒータ頂面に設けられた開口
を有している。図1及び図3に示されているように、た
とえば12個の試験管21はリング23の形式に組合わ
されている。
と、円筒形外壁を有しており、かつまたユニット・ヒー
タの穴27のそれぞれは、ヒータ頂面に設けられた開口
を有している。図1及び図3に示されているように、た
とえば12個の試験管21はリング23の形式に組合わ
されている。
【0014】試験管21は、下部が円錐形、上部が円筒
形であり、ふた87により密封閉鎖される。図1及び図
3にはっきり示されているように、このリング状の配列
23の試験管は、サーマル・サイクラー18のユニット
・ヒータ33に設けられた対応穴27内へそう入でき
る。
形であり、ふた87により密封閉鎖される。図1及び図
3にはっきり示されているように、このリング状の配列
23の試験管は、サーマル・サイクラー18のユニット
・ヒータ33に設けられた対応穴27内へそう入でき
る。
【0015】試験管の内容物へのアクセス:サーマル・
サイクラー18はヒンジ付きふた28を有している。こ
のふた28は、ユニット・ヒータ33の各穴27に対応
する開口29を有している。この開口を介して、ピペッ
ト針を、穴内にそう入された試験管21のふた87に突
通することができる。図2に示されているように、ヒン
ジ付きふた28が閉じ位置に在る場合、各開口29は対
応試験管21の縦軸線31と同軸線的に位置することに
なる。
サイクラー18はヒンジ付きふた28を有している。こ
のふた28は、ユニット・ヒータ33の各穴27に対応
する開口29を有している。この開口を介して、ピペッ
ト針を、穴内にそう入された試験管21のふた87に突
通することができる。図2に示されているように、ヒン
ジ付きふた28が閉じ位置に在る場合、各開口29は対
応試験管21の縦軸線31と同軸線的に位置することに
なる。
【0016】ヒンジ付きふた28の開口29により、こ
のふた28が閉じられている場合、各試験管の内容物へ
の接近が可能になる。この目的のためには、ピペット器
具(図3には示されていない)のピペット針32を開口
29の1つにそう入し、試験管21のふた87に針32
を突刺し、試験管内の液体の所定量を吸出する。
のふた28が閉じられている場合、各試験管の内容物へ
の接近が可能になる。この目的のためには、ピペット器
具(図3には示されていない)のピペット針32を開口
29の1つにそう入し、試験管21のふた87に針32
を突刺し、試験管内の液体の所定量を吸出する。
【0017】ユニット・ヒータ/試験管間の熱伝達:図
2に示されているように、ヒータ33内の穴27は試験
管21の円錐形部分に適合するようにされている結果、
試験管21の周壁は穴27の内壁に確実に接触し、最適
の熱伝達が行なわれる。熱反応速度、精度、均質性を増
すために、ユニット・ヒータ33は、事実上熱絶縁さ
れ、ケーシング34内に固定され、小さな質量と良好な
熱伝導率を有している。
2に示されているように、ヒータ33内の穴27は試験
管21の円錐形部分に適合するようにされている結果、
試験管21の周壁は穴27の内壁に確実に接触し、最適
の熱伝達が行なわれる。熱反応速度、精度、均質性を増
すために、ユニット・ヒータ33は、事実上熱絶縁さ
れ、ケーシング34内に固定され、小さな質量と良好な
熱伝導率を有している。
【0018】サーマル・サイクラーのヒンジ付きふたの
加熱装置:ヒンジ付きのふた28は、ユニット・ヒータ
33内に配置された密封試験管を加熱する加熱器、たと
えば電気抵抗加熱器52を有している。
加熱装置:ヒンジ付きのふた28は、ユニット・ヒータ
33内に配置された密封試験管を加熱する加熱器、たと
えば電気抵抗加熱器52を有している。
【0019】サーマル・サイクラーの第1実施例の場
合、電気抵抗加熱器52は、後述するペルチエ素子36
と組合されて使用され、それによってユニット・ヒータ
33内で所望の温度プロフィル(所定の時間間隔の間の
温度曲線)が得られる。この実施例では、ペルチエ素子
は、求める温度に応じて、温度プロフィル内部で冷却素
子又は加熱素子として使用される。
合、電気抵抗加熱器52は、後述するペルチエ素子36
と組合されて使用され、それによってユニット・ヒータ
33内で所望の温度プロフィル(所定の時間間隔の間の
温度曲線)が得られる。この実施例では、ペルチエ素子
は、求める温度に応じて、温度プロフィル内部で冷却素
子又は加熱素子として使用される。
【0020】電気抵抗加熱器52とペルチエ素子56
は、組合せて用いることにより、ユニット・ヒータ33
内の温度変化の所要速度と、温度分布の所要精度及び均
等度とを達成できる。抵抗加熱器52のその他の効果
は、試験管21のふた28の区域に発生する復水を防止
することにある。
は、組合せて用いることにより、ユニット・ヒータ33
内の温度変化の所要速度と、温度分布の所要精度及び均
等度とを達成できる。抵抗加熱器52のその他の効果
は、試験管21のふた28の区域に発生する復水を防止
することにある。
【0021】サーマル・サイクラーのヒンジ付きふたを
閉鎖し押圧する機構:ヒンジ付きふた28は、ユニット
・ヒータ33内に配置された密封試験管21を固定する
ための閉鎖・押圧機構を有するのが好ましい。この目的
のために、ヒンジ付きふた28は、ばねに保持された加
圧板46を有している。この加圧板46により、各試験
管21は所定の力でユニット・ヒータ33内の穴27に
押込まれる。試験管21のカップ形のふた87を保持す
る凹所47と、ピペット針32を突通すさいの開口48
とが、加圧板46に試験管21と同軸的に設けられてい
る。ばね部材は波形ワッシャ49である。ヒンジ付きふ
た28が開かれた場合、加圧板46が脱落するのを防ぐ
ため、安全リング51が配置されている。前述の抵抗加
熱器52は、弾性的な加圧板46内に配置しておくのが
好ましい。
閉鎖し押圧する機構:ヒンジ付きふた28は、ユニット
・ヒータ33内に配置された密封試験管21を固定する
ための閉鎖・押圧機構を有するのが好ましい。この目的
のために、ヒンジ付きふた28は、ばねに保持された加
圧板46を有している。この加圧板46により、各試験
管21は所定の力でユニット・ヒータ33内の穴27に
押込まれる。試験管21のカップ形のふた87を保持す
る凹所47と、ピペット針32を突通すさいの開口48
とが、加圧板46に試験管21と同軸的に設けられてい
る。ばね部材は波形ワッシャ49である。ヒンジ付きふ
た28が開かれた場合、加圧板46が脱落するのを防ぐ
ため、安全リング51が配置されている。前述の抵抗加
熱器52は、弾性的な加圧板46内に配置しておくのが
好ましい。
【0022】ペルチエ素子形式の冷却・加熱素子:図2
に示されているように、サーマル・サイクラー18は少
なくとも1つのペルチエ素子を有するようにするのが好
ましい。ペルチエ素子は、サーマル・サイクラー18内
でユニット・ヒータ33の温度を周期的に変化させるた
めに備えられている装置の一部をなすものである。ペル
チエ素子36の一方の熱伝達面37はユニット・ヒータ
33の底面と広い面積にわたって接触しており、他方の
熱伝達面38は、冷却部材39と広い面積にわたって接
触し、放熱している。冷却部材39は、好ましくはアル
ミニウム又は銅である。放熱のため、切換え可能のファ
ン45が備えられている。
に示されているように、サーマル・サイクラー18は少
なくとも1つのペルチエ素子を有するようにするのが好
ましい。ペルチエ素子は、サーマル・サイクラー18内
でユニット・ヒータ33の温度を周期的に変化させるた
めに備えられている装置の一部をなすものである。ペル
チエ素子36の一方の熱伝達面37はユニット・ヒータ
33の底面と広い面積にわたって接触しており、他方の
熱伝達面38は、冷却部材39と広い面積にわたって接
触し、放熱している。冷却部材39は、好ましくはアル
ミニウム又は銅である。放熱のため、切換え可能のファ
ン45が備えられている。
【0023】図2に略示したペルチエ素子36は複数の
これらの素子で構成するのが好ましい。サーマル・サイ
クラーの前述の第1実施例では、ペルチエ素子36は冷
却又は加熱用の素子として用いられている。ペルチエ素
子36をこのように使用し、かつまた、ペルチエ素子と
電気抵抗加熱器52とを協働させることにより、ユニッ
ト・ヒータの所要温度が温度プロフィルの範囲内で達せ
られる。
これらの素子で構成するのが好ましい。サーマル・サイ
クラーの前述の第1実施例では、ペルチエ素子36は冷
却又は加熱用の素子として用いられている。ペルチエ素
子36をこのように使用し、かつまた、ペルチエ素子と
電気抵抗加熱器52とを協働させることにより、ユニッ
ト・ヒータの所要温度が温度プロフィルの範囲内で達せ
られる。
【0024】ペルチエ素子36は、その寿命を長くする
ためには、熱力学的な機械応力ピークから、ばねにより
予圧を与えられた中央固定部材により護られるようにす
るのが好ましい。この中央固定部材によってペルチエ素
子を押圧し、ユニット・ヒータ33に対して保持するよ
うにする。この目的のために、ペルチエ素子を、ヒータ
33の熱伝達面と冷却部材39との間に弾性的に挟み付
けておく。冷却部材39の接触面は、たとえば圧縮ばね
41によりペルチエ素子36に対し押圧される。ばね圧
力は、ねじ42、ばねワッシャ43、玉継手44を介し
て調節できる。玉継手は、更に冷却部材39の自由度を
増大させる。
ためには、熱力学的な機械応力ピークから、ばねにより
予圧を与えられた中央固定部材により護られるようにす
るのが好ましい。この中央固定部材によってペルチエ素
子を押圧し、ユニット・ヒータ33に対して保持するよ
うにする。この目的のために、ペルチエ素子を、ヒータ
33の熱伝達面と冷却部材39との間に弾性的に挟み付
けておく。冷却部材39の接触面は、たとえば圧縮ばね
41によりペルチエ素子36に対し押圧される。ばね圧
力は、ねじ42、ばねワッシャ43、玉継手44を介し
て調節できる。玉継手は、更に冷却部材39の自由度を
増大させる。
【0025】ペルチエ素子形式での冷却・加熱素子:前
述の実施例の変更態様の場合、ペルチエ素子36は、も
っぱら冷却素子として用いられる。つまり、ユニットヒ
ータ33の冷却だけに用いられる。こうすることによっ
て、ペルチエ素子の有効寿命が長くなる。
述の実施例の変更態様の場合、ペルチエ素子36は、も
っぱら冷却素子として用いられる。つまり、ユニットヒ
ータ33の冷却だけに用いられる。こうすることによっ
て、ペルチエ素子の有効寿命が長くなる。
【0026】ユニットヒータ周囲の付加加熱装置:サー
マルサイクラーの第2実施例の場合も、電気抵抗加熱器
35をヒータユニット33の周囲に、円筒形外周に沿っ
て配置しておくのが好ましい。付加加熱装置をサーマル
サイクラー内で用いる場合は、ペルチエ素子36は冷却
にのみ用いる。この措置には、ペルチエ素子を機械応力
から解放する効果があり、サーマルサイクラー内での同
素子の寿命を延長する効果がある。
マルサイクラーの第2実施例の場合も、電気抵抗加熱器
35をヒータユニット33の周囲に、円筒形外周に沿っ
て配置しておくのが好ましい。付加加熱装置をサーマル
サイクラー内で用いる場合は、ペルチエ素子36は冷却
にのみ用いる。この措置には、ペルチエ素子を機械応力
から解放する効果があり、サーマルサイクラー内での同
素子の寿命を延長する効果がある。
【0027】試験管リングの標識部材:サーマル・サイ
クラー18は、また試験管21のリング23に対する標
識部材、たとえば垂直のラグ25の形式の標識部材を有
している。このラグ25は、サーマル・サイクラー18
内の検出器26と協働して、サイクラー18内の試験管
のリング23の有無を識別するのを助ける。検出器26
は、たとえば光電バリアである。また、ラグ25によ
り、試験管のリング23を一回でユニット・ヒータ33
内に配置できる。この一回での配置は、試験管のシール
への番号付けと組合せて、試料と患者との一対一対応の
相互関係を定めることができる。
クラー18は、また試験管21のリング23に対する標
識部材、たとえば垂直のラグ25の形式の標識部材を有
している。このラグ25は、サーマル・サイクラー18
内の検出器26と協働して、サイクラー18内の試験管
のリング23の有無を識別するのを助ける。検出器26
は、たとえば光電バリアである。また、ラグ25によ
り、試験管のリング23を一回でユニット・ヒータ33
内に配置できる。この一回での配置は、試験管のシール
への番号付けと組合せて、試料と患者との一対一対応の
相互関係を定めることができる。
【0028】試験管のリング23は、また、フラップ2
4を有している。このフラップは、たとえばリング23
内の試料の内容についてのデータを保持する面として役
立つ。このデータは、たとえばバーコードの形式にす
る。
4を有している。このフラップは、たとえばリング23
内の試料の内容についてのデータを保持する面として役
立つ。このデータは、たとえばバーコードの形式にす
る。
【0029】持上げ部材:温度変化とばね49の作用と
の結果として、試験管ないし反応容器21の円錐形部
は、ユニット・ヒータ33の穴27の壁部に固着する。
この結果として生じる非確実結合により、サーマル・サ
イクラー2からの反応容器21の取外しが難しくなる。
この理由から、図3〜図5の実施例の場合、持上げ部材
53が備えられている。これにより、ヒータ33から反
応容器リング23の取外しが著しく容易になる。
の結果として、試験管ないし反応容器21の円錐形部
は、ユニット・ヒータ33の穴27の壁部に固着する。
この結果として生じる非確実結合により、サーマル・サ
イクラー2からの反応容器21の取外しが難しくなる。
この理由から、図3〜図5の実施例の場合、持上げ部材
53が備えられている。これにより、ヒータ33から反
応容器リング23の取外しが著しく容易になる。
【0030】図3〜図5に示されているように、持上げ
部材53は取外しレバーとして働く揺れ腕を有してい
る。揺れ腕の一端はふた28のヒンジに結合されてい
る。他端は自由端である。持上げ部材53は、また、取
外しディスク58を有し、このディスクは、揺れ腕55
が配置されている。ユニット・ヒータ33の対称軸線と
同軸線的である。ディスク58には、周縁に切欠き61
が形成され、穴27から反応容器リング23を取外しが
容易にされている。
部材53は取外しレバーとして働く揺れ腕を有してい
る。揺れ腕の一端はふた28のヒンジに結合されてい
る。他端は自由端である。持上げ部材53は、また、取
外しディスク58を有し、このディスクは、揺れ腕55
が配置されている。ユニット・ヒータ33の対称軸線と
同軸線的である。ディスク58には、周縁に切欠き61
が形成され、穴27から反応容器リング23を取外しが
容易にされている。
【0031】図3に示されているように、揺れ腕55
は、ヒンジ付きふた28の旋回軸上を案内されている。
旋回軸側に揺れ腕55は穴57を有する2つのラグ56
を有している。穴57には旋回軸54が係合している。
取外しディスク58は揺れ腕55にねじ止めされてい
る。ディスク58は、その周縁59に半円形の切欠き6
1を有し、この切欠き61がヒータ33の穴27の投影
又は反応容器21の円筒形部と正確に合致する(図
5)。ディスク58の周縁59は、反応容器のリング2
3のフランジ様区域62、又は反応容器21のフランジ
の下を延びている。図4及び図5は、揺れ腕55のラグ
56に設けられた穴57の形状と機能を、旋回軸54、
及びふた28に間隔eをおいて設けられ、同じく穴57
に係合している制御ピン63と関連させて示したもので
ある。ふた28の閉鎖時には、持上げ部材53は働いて
いない。ふた28が開けられ一定角度を超えると、ピン
63は穴57の制御面64と接触し、揺れ腕55が点P
を中心として旋回し、試料の反応容器21を持上げる。
点Pを中心とする揺れ腕55の傾斜の結果、もしくはデ
ィスク58の位置が次第に傾斜する結果、個々の反応容
器21が徐々に弛み、穴27から外れる。容器材料に加
わる力や応力は低レベルに保たれ、かつ操作は容易であ
る。
は、ヒンジ付きふた28の旋回軸上を案内されている。
旋回軸側に揺れ腕55は穴57を有する2つのラグ56
を有している。穴57には旋回軸54が係合している。
取外しディスク58は揺れ腕55にねじ止めされてい
る。ディスク58は、その周縁59に半円形の切欠き6
1を有し、この切欠き61がヒータ33の穴27の投影
又は反応容器21の円筒形部と正確に合致する(図
5)。ディスク58の周縁59は、反応容器のリング2
3のフランジ様区域62、又は反応容器21のフランジ
の下を延びている。図4及び図5は、揺れ腕55のラグ
56に設けられた穴57の形状と機能を、旋回軸54、
及びふた28に間隔eをおいて設けられ、同じく穴57
に係合している制御ピン63と関連させて示したもので
ある。ふた28の閉鎖時には、持上げ部材53は働いて
いない。ふた28が開けられ一定角度を超えると、ピン
63は穴57の制御面64と接触し、揺れ腕55が点P
を中心として旋回し、試料の反応容器21を持上げる。
点Pを中心とする揺れ腕55の傾斜の結果、もしくはデ
ィスク58の位置が次第に傾斜する結果、個々の反応容
器21が徐々に弛み、穴27から外れる。容器材料に加
わる力や応力は低レベルに保たれ、かつ操作は容易であ
る。
【0032】サーマル・サイクラーの自動制御:図6に
は本発明によるサーマルサイクラー18の自動制御シス
テムの図が示されている。この制御は主従属プロセッサ
72,73を介して行なわれる。
は本発明によるサーマルサイクラー18の自動制御シス
テムの図が示されている。この制御は主従属プロセッサ
72,73を介して行なわれる。
【0033】ふた28の加圧板46の温度、ユニット・
ヒータ33の温度、及び周囲温度がセンサ65,66,
67により検出され、温度インターフェース68を介し
て従属プロセッサ73へ送られる。設定温度、設定時
間、温度サイクルの数、とりわけ加熱・冷却処置の速度
が、主プロセッサ72(利用者へのインタフェース)に
入力されている。
ヒータ33の温度、及び周囲温度がセンサ65,66,
67により検出され、温度インターフェース68を介し
て従属プロセッサ73へ送られる。設定温度、設定時
間、温度サイクルの数、とりわけ加熱・冷却処置の速度
が、主プロセッサ72(利用者へのインタフェース)に
入力されている。
【0034】予め定められた記憶温度/時間プロフィル
を選択し、実行することができる。入力は、キーボード
16(図13)、又はその他のインターフェースを介し
て行なう。これらのデータは、従属プロセッサ73へ送
られ、従属プロセッサ73は、コントローラ69を介し
て出力ステージ71を起動する。出力ステージ71は、
また、加熱素子55,52とペルチエ素子36へのエネ
ルギー供給を制御する。フィードバック(実際値)は従
属プロセッサ73を介して主プロセッサ72へ供給さ
れ、主プロセッサで処理されるか、利用者に対して表示
されるかする。このようにして、利用者には、試料の瞬
間温度、既に到達した温度と到達回数、更に到達を要す
る温度と到達を要する回数についての情報が与えられ
る。
を選択し、実行することができる。入力は、キーボード
16(図13)、又はその他のインターフェースを介し
て行なう。これらのデータは、従属プロセッサ73へ送
られ、従属プロセッサ73は、コントローラ69を介し
て出力ステージ71を起動する。出力ステージ71は、
また、加熱素子55,52とペルチエ素子36へのエネ
ルギー供給を制御する。フィードバック(実際値)は従
属プロセッサ73を介して主プロセッサ72へ供給さ
れ、主プロセッサで処理されるか、利用者に対して表示
されるかする。このようにして、利用者には、試料の瞬
間温度、既に到達した温度と到達回数、更に到達を要す
る温度と到達を要する回数についての情報が与えられ
る。
【0035】自動制御システムの作動状態は、常時、モ
ニターされ、記録される。除去不可能な故障の場合は、
自動スイッチオフが行なわれるか、故障警報が発せられ
る。
ニターされ、記録される。除去不可能な故障の場合は、
自動スイッチオフが行なわれるか、故障警報が発せられ
る。
【0036】試料の温度はユニット・ヒータ33の温度
からコンピュータにより計算される。この目的のため、
試料チャンバから反応容器21内の試料への伝達関数が
決定される。この関数は、実質的には、アイドルタイム
を有する低域フィルタである。
からコンピュータにより計算される。この目的のため、
試料チャンバから反応容器21内の試料への伝達関数が
決定される。この関数は、実質的には、アイドルタイム
を有する低域フィルタである。
【0037】適当な制御アルゴリズム(スキャンド・シ
ステムズ)を用いて、試料温度を設定温度に調節するた
めに要する各コントローラ出力を計算する。この計算は
信号プロセッサが行なう。コントローラ出力の計算値
は、パルス幅の形式で出力ステージ71へ送られる。出
力ステージ71は、たとえば、適当な保護・混信防止回
路を有するパワーFETである。
ステムズ)を用いて、試料温度を設定温度に調節するた
めに要する各コントローラ出力を計算する。この計算は
信号プロセッサが行なう。コントローラ出力の計算値
は、パルス幅の形式で出力ステージ71へ送られる。出
力ステージ71は、たとえば、適当な保護・混信防止回
路を有するパワーFETである。
【0038】前述の自動制御システムは、サーマル・サ
イクラーを使用して、反応容器内の試料を、所定温度プ
ロフィルに従って加熱、冷却するさいに用いられる。こ
れらの混度プロフィルは、限定された持続時間のプラト
ー温度と、到達せねばならないプラト−温度に達する時
間を示す勾配とにより定められる。このことは、サーマ
ル・サイクラー内の全試料が同時に等温にならねばなら
ないことを意味する。
イクラーを使用して、反応容器内の試料を、所定温度プ
ロフィルに従って加熱、冷却するさいに用いられる。こ
れらの混度プロフィルは、限定された持続時間のプラト
ー温度と、到達せねばならないプラト−温度に達する時
間を示す勾配とにより定められる。このことは、サーマ
ル・サイクラー内の全試料が同時に等温にならねばなら
ないことを意味する。
【0039】図7には、サイクル過程での温度曲線の例
が示されている。曲線Aはユニット・ヒータ33のとこ
ろでの温度を示し、曲線Bは反応容器21内の試料の温
度を示している。このサーマル・サイクラーは40〜9
8℃の設定温度に使用できる。平均温度を利用する場合
は、約72℃である。サーマル・サイクラーによる加熱
・冷却度は1℃/sである。典型的なサイクルは120
秒持続する。対応温度が10秒以上維持されねばならな
い場合には、そのサイクルは延長される。
が示されている。曲線Aはユニット・ヒータ33のとこ
ろでの温度を示し、曲線Bは反応容器21内の試料の温
度を示している。このサーマル・サイクラーは40〜9
8℃の設定温度に使用できる。平均温度を利用する場合
は、約72℃である。サーマル・サイクラーによる加熱
・冷却度は1℃/sである。典型的なサイクルは120
秒持続する。対応温度が10秒以上維持されねばならな
い場合には、そのサイクルは延長される。
【0040】試験管:特に図8〜図12に示されている
ように、試験管21は、円錐形の下部82と円筒形の上
部81とを有している。熱処理のための試料を入れる試
験管下部82は、熱伝達率を高めるため、上部81より
壁部が薄い。図3に示されている通り、下部82は、相
応に形成された穴27に正確に差込むことができる。こ
のため、穴27の円錐形内壁は先端区域82の円錐形外
壁85と完全に接触する。
ように、試験管21は、円錐形の下部82と円筒形の上
部81とを有している。熱処理のための試料を入れる試
験管下部82は、熱伝達率を高めるため、上部81より
壁部が薄い。図3に示されている通り、下部82は、相
応に形成された穴27に正確に差込むことができる。こ
のため、穴27の円錐形内壁は先端区域82の円錐形外
壁85と完全に接触する。
【0041】試験管21の開口86は、ふた87により
密閉することができる。ふた87は、試料の物質を吸出
するため、ピペット針22により穿刺することができ
る。
密閉することができる。ふた87は、試料の物質を吸出
するため、ピペット針22により穿刺することができ
る。
【0042】費用を低減し、かつ試験管21の扱いを容
易にするために、多数の試験管(たとえば12個)を組
合せて1つのユニットにする。たとえば円形に配列して
リングを形成するようにし、ふた87は、フィルム状の
ヒンジ91によって脱落不能に取付けておく。
易にするために、多数の試験管(たとえば12個)を組
合せて1つのユニットにする。たとえば円形に配列して
リングを形成するようにし、ふた87は、フィルム状の
ヒンジ91によって脱落不能に取付けておく。
【0043】特に好ましいのは、試験管の配列23を2
部分に分けることである。一方の部分92は、等しい角
間隔をおいて細いウエブ94で連結された試験管21か
ら成るようにする。ウエブ94は、試験管開放端部の、
より直径の大きいフランジ状の部分93のところを連結
している。また、ウエブ94はV字形なので、リングを
なすこの部分92は半径方向にたわみ可能である。この
ようにたわみ可能であることは、他方の部分95と結合
する場合に好都合である。部分92は、ポリプロピレン
(PP)製であるのが好ましい。
部分に分けることである。一方の部分92は、等しい角
間隔をおいて細いウエブ94で連結された試験管21か
ら成るようにする。ウエブ94は、試験管開放端部の、
より直径の大きいフランジ状の部分93のところを連結
している。また、ウエブ94はV字形なので、リングを
なすこの部分92は半径方向にたわみ可能である。この
ようにたわみ可能であることは、他方の部分95と結合
する場合に好都合である。部分92は、ポリプロピレン
(PP)製であるのが好ましい。
【0044】また、試験管配列の他方の部分95は、円
形に配置され、ウエブ96で連結された複数の環97を
有している。これらの環97の内径は、試験管21の円
筒形部81の外径と等しく、環97の中心は試験管21
の縦軸線98と合致している。ウエブ96はV字形で、
半径方向にたわみ可能である。半径方向外方へ延びるフ
ィルムヒンジ91は、環97と一体に形成され、端部に
はふた87が形成されている。部分95もポリプロピレ
ン(PP)製であるのが好ましい。
形に配置され、ウエブ96で連結された複数の環97を
有している。これらの環97の内径は、試験管21の円
筒形部81の外径と等しく、環97の中心は試験管21
の縦軸線98と合致している。ウエブ96はV字形で、
半径方向にたわみ可能である。半径方向外方へ延びるフ
ィルムヒンジ91は、環97と一体に形成され、端部に
はふた87が形成されている。部分95もポリプロピレ
ン(PP)製であるのが好ましい。
【0045】半径方向外方へ、直径方向で反対方向に延
びる延長部99,101は、他方の部分95に形成さ
れ、環97間の角間隔の半分だけずらされて設けられて
いる。一方の延長部99は水平面102を有し、水平面
102上には、たとえば、試料のデータをバーコードで
記録しておくことができる。他方の延長部101は、垂
直のラグの形式を有し、検出器26、例えば光電バリア
と協働する(図1)。これにより、試験管のリング23
は、自動的にサーマルサイクラ2の所定位置へそう入さ
れる。
びる延長部99,101は、他方の部分95に形成さ
れ、環97間の角間隔の半分だけずらされて設けられて
いる。一方の延長部99は水平面102を有し、水平面
102上には、たとえば、試料のデータをバーコードで
記録しておくことができる。他方の延長部101は、垂
直のラグの形式を有し、検出器26、例えば光電バリア
と協働する(図1)。これにより、試験管のリング23
は、自動的にサーマルサイクラ2の所定位置へそう入さ
れる。
【0046】操作者による監視を容易にするために、試
料番号を試験管のふたのフラップに記入しておく。
料番号を試験管のふたのフラップに記入しておく。
【0047】試験管リング23の2つの部分92,95
が一緒にされる場合(図9)、フランジ93が環97の
頂面104に支えられる。円筒形部81と環97とが締
りばめされる結果、試験管のリング23は、比較的剛性
に前組立てされ、適宜な試料を充填できる。ふた87
は、その場合、折返され、その円筒形延長部105が試
験管21の開口86にはめ込まれ、密封状態となる(図
10)。
が一緒にされる場合(図9)、フランジ93が環97の
頂面104に支えられる。円筒形部81と環97とが締
りばめされる結果、試験管のリング23は、比較的剛性
に前組立てされ、適宜な試料を充填できる。ふた87
は、その場合、折返され、その円筒形延長部105が試
験管21の開口86にはめ込まれ、密封状態となる(図
10)。
【0048】ウエブ94,96は、試験管21に対し十
分にたわみ可能なので、試験管21は極めて容易に穴2
7内へそう入できる。リング23が剛性の場合、そのよ
うなそう入は、ユニット・ヒータ33又は管のリング2
3の寸法から僅かに外れただけでも、難しくなる。
分にたわみ可能なので、試験管21は極めて容易に穴2
7内へそう入できる。リング23が剛性の場合、そのよ
うなそう入は、ユニット・ヒータ33又は管のリング2
3の寸法から僅かに外れただけでも、難しくなる。
【0049】試験管のリング23を2部分構成にした結
果、材料が著しく節約される。双方の部分を異なる性質
の材料(プラスチック)で造り、最適結果を得ることも
できる。これは、使い捨て品の場合、重要なことである
(試験管リングは、その場合、使用後に廃棄される)。
果、材料が著しく節約される。双方の部分を異なる性質
の材料(プラスチック)で造り、最適結果を得ることも
できる。これは、使い捨て品の場合、重要なことである
(試験管リングは、その場合、使用後に廃棄される)。
【0050】サーマルサイクラーを有する分析装置:図
13には、たとえば免疫定量法(イムノアッセイ)を実
施するために設計された分析装置1が示されている。試
料内の分析対象となる物質量を増加させて、続く分析過
程での検出限界を上回るようにするには、分析装置を、
既述の、本発明によるサーマルサイクラー18,19を
含む、サーマルサイクラー部分2と併用するようにす
る。それにより、ポリメラーゼ連鎖反応を利用してDN
Aの増幅処理を行なうことができる。
13には、たとえば免疫定量法(イムノアッセイ)を実
施するために設計された分析装置1が示されている。試
料内の分析対象となる物質量を増加させて、続く分析過
程での検出限界を上回るようにするには、分析装置を、
既述の、本発明によるサーマルサイクラー18,19を
含む、サーマルサイクラー部分2と併用するようにす
る。それにより、ポリメラーゼ連鎖反応を利用してDN
Aの増幅処理を行なうことができる。
【0051】分析装置の生産性を高めるため、言いかえ
ると、単位時間当りの処理試料数を最大にするために
は、準備される試料数を、続く処理時間に適合させ、ア
イドルタイムが生じないようにせねばならない。この措
置は、たとえば、独立的に操作され、それぞれが12個
の反応容器21を保持し得る2台のサーマル・サイクラ
ー18,19と、2つの待機ステーション22とによっ
て実施される。2つの待機ステーションも、同様にそれ
ぞれが、処理の終りにサーマルサイクラー18,19の
一方から取出された12個の反応容器21を保持するこ
とができる。
ると、単位時間当りの処理試料数を最大にするために
は、準備される試料数を、続く処理時間に適合させ、ア
イドルタイムが生じないようにせねばならない。この措
置は、たとえば、独立的に操作され、それぞれが12個
の反応容器21を保持し得る2台のサーマル・サイクラ
ー18,19と、2つの待機ステーション22とによっ
て実施される。2つの待機ステーションも、同様にそれ
ぞれが、処理の終りにサーマルサイクラー18,19の
一方から取出された12個の反応容器21を保持するこ
とができる。
【0052】分析装置1は、また、前記免疫定量法のた
めの、他のあらゆる設備、たとえば振動テーブル5上に
試薬を保持する2個のラック3,4、他の試薬を保持す
るラック6、使い捨ての反応容器8を有する3個のラッ
ク7、反応容器ないし試験管8をそう入する温度制御さ
れた培養器9、洗浄装置11、試験成績を決定する光度
計12を有している。
めの、他のあらゆる設備、たとえば振動テーブル5上に
試薬を保持する2個のラック3,4、他の試薬を保持す
るラック6、使い捨ての反応容器8を有する3個のラッ
ク7、反応容器ないし試験管8をそう入する温度制御さ
れた培養器9、洗浄装置11、試験成績を決定する光度
計12を有している。
【0053】分析装置の試験ヘッド:試料、試薬、反応
ホールダは、x−y座標系内を移動可能なヘッドにより
移動せしめられる。ヘッドは、また、ピペット装置14
と反応容器グリッパ15とを有し、これら双方はz方向
に移動可能である。
ホールダは、x−y座標系内を移動可能なヘッドにより
移動せしめられる。ヘッドは、また、ピペット装置14
と反応容器グリッパ15とを有し、これら双方はz方向
に移動可能である。
【0054】サーマル・サイクラー18,19内での反
応容器21によりDNAの増幅が行なわれたのち、ピペ
ット装置14が、反応容器から試料を取出し、それらを
ラック7内の反応容器8に入れられる。これらの試料
は、分析装置により免疫定量法により調べられる。
応容器21によりDNAの増幅が行なわれたのち、ピペ
ット装置14が、反応容器から試料を取出し、それらを
ラック7内の反応容器8に入れられる。これらの試料
は、分析装置により免疫定量法により調べられる。
【0055】分析装置の制御ユニット:必要な操作はす
べて、分析装置に属する中央制御ユニット(図示せず)
により制御され、調整される。処理パラメータを入力す
る制御パネル16又はキーボードと、処理状態を表示す
る表示部が略示されている。反応容器に、たとえばバー
コードで記録された試料データは、手動案内されるスキ
ャナ17を介して記憶装置に読込むことができる。プリ
ンタその他(図示せず)用のインターフェースが設けら
れている。
べて、分析装置に属する中央制御ユニット(図示せず)
により制御され、調整される。処理パラメータを入力す
る制御パネル16又はキーボードと、処理状態を表示す
る表示部が略示されている。反応容器に、たとえばバー
コードで記録された試料データは、手動案内されるスキ
ャナ17を介して記憶装置に読込むことができる。プリ
ンタその他(図示せず)用のインターフェースが設けら
れている。
【図1】分析装置から取出され、本発明によるサーマル
サイクラー18,19を有するサーマルサイクラー部分
2を示す斜視図。サーマルサイクラー18は開かれ、試
験管のリング23が取出されて示されている。
サイクラー18,19を有するサーマルサイクラー部分
2を示す斜視図。サーマルサイクラー18は開かれ、試
験管のリング23が取出されて示されている。
【図2】図1のII−II線に沿った断面図で、サーマルサ
イクラー18が閉じられた状態で示されている。
イクラー18が閉じられた状態で示されている。
【図3】図1のサーマルサイクラー18の斜視図で、持
上げ部材53を示した図。
上げ部材53を示した図。
【図4】図2の部分拡大図。
【図5】図4のサーマルサイクラーを、ふたを開けた状
態で示した図。
態で示した図。
【図6】本発明によるサーマルサイクラーの操作パラメ
ータを調整及びモニタする主−従属制御システムの図。
ータを調整及びモニタする主−従属制御システムの図。
【図7】主プロセッサに記憶された温度曲線と、ユニッ
トヒータ及び試料の結果温度との温度・時間図表。
トヒータ及び試料の結果温度との温度・時間図表。
【図8】本発明によるサーマルサイクラーに使用される
試験管配列23の個別部分19〜95を示した斜視分解
図。
試験管配列23の個別部分19〜95を示した斜視分解
図。
【図9】図8の個別部分92〜95を組立てて、ふた8
7を開けたままの状態で示した試験管リング23の斜視
図。
7を開けたままの状態で示した試験管リング23の斜視
図。
【図10】図9同様の斜視図で、ふた87を閉じた状態
で示した図。
で示した図。
【図11】図9の試験管21を、ふた87を開けた状態
で示した断面図。
で示した断面図。
【図12】図9の試験管21を、ふたを閉じた状態で示
した断面図。
した断面図。
【図13】分析装置の斜視全体図。そのうちの一構成要
素が本発明によるサーマルサイクラー部分2である。
素が本発明によるサーマルサイクラー部分2である。
1 分析装置 2 サーマルサイクラー部分 18,19 サーマルサイクラー 21 試験管ないし反応容器 22 待機ステーション 23 試験管のリング 27 穴 28 ヒンジ付きふた 32 ピペット針 33 ユニットヒータ 36 ペルチエ素子 39 冷却部材 43 ばねワッシャ 53 持上げ部材 65,66,67 温度センサ 68 温度インターフェース 72 主プロセッサ 73 従属プロセッサ
Claims (9)
- 【請求項1】 多数の試験管に温度サイクルを自動式に
実施する装置であって、各試験管はふたによって閉じら
れ、所定量の液状反応混合物を有しており、更に、前記
装置には、(a) 試験管を保持する複数のチャンバが
配設されるように構成されたホールダが備えられ、各チ
ャンバが試験管の下部を受容するようにされており、更
に、前記ホールダが高い熱伝導率を有する材料製であ
り、かつ頂面と、底面と、円筒形外壁とを有しており、
また、各チャンバが前記ホールダの頂面に設けられた開
口を有しており、更に(b) コンピュータ制御式自動
制御システムが備えられ、更に(c) 前記ホールダの
温度の周期的変化を自動制御するシステムにより起動さ
れる手段が備えられている形式のものにおいて、ホール
ダ(33)内のチャンバ(27)の配列が環状であり、
かつまた各試験管(21)のふた(87)にはピペット
針(32)を突刺し可能であることを特徴とする、多数
の試験管に温度サイクルを自動式に実施する装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の装置において、ホールダ
(33)の温度を周期的に変化させる手段が、少なくと
も1個のペルチエ素子(36)の形式での冷却・加熱素
子を有しており、前記ペルチエ素子が前記ホールダの底
面と熱接触していることを特徴とする装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の装置において、ホールダ
温度を周期的に変化させる手段が、少なくとも1個のペ
ルチエ素子(36)を有し、このペルチエ素子が、もっ
ぱら冷却素子として使用され、かつ前記ホールダの底面
と熱接触していることを特徴とする装置。 - 【請求項4】 請求項2又は3記載の装置において、少
なくとも1個のペルチエ素子(36)が、ばね(41)
により予圧を与えられた中央の固定手段によりホールダ
に押圧されており、この固定手段がねじ(42)により
押圧されたばねを有しており、このばねに作用する押圧
力が前記ねじにより調節可能であることを特徴とする装
置。 - 【請求項5】 請求項1記載の装置において、この装置
が、またヒンジ付きのふた(28)を有しており、この
ふたが、ホールダ内に保持されている閉じられた試験管
(21)を加熱する加熱装置(52)を有し、かつまた
チャンバ内の試験管のふたをピペット針(32)が突通
し得るように各チャンバ毎に開口を有することを特徴と
する装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の装置において、前記ヒン
ジ付きのふた(28)が、ホールダ内に配置された密封
試験管を固定する閉鎖・加圧手段を有することを特徴と
する装置。 - 【請求項7】 請求項1記載の装置において、この装置
が、また、ホールダの周囲に、ホールダの円筒形外壁周
面に沿って配置された加熱装置(33)を有することを
特徴とする装置。 - 【請求項8】 請求項1記載の装置において、前記装置
が、また、試験管のリング(23)に対する標識部材
(25)を有することを特徴とする装置。 - 【請求項9】 請求項5記載の装置において、前記装置
が、また、ホールダのチャンバからの試験管取外しを容
易にする持上げ部材(53)を有しており、この持上げ
部材が取外しレバーと取外しディスク(58)とを有
し、取外しレバーの一端はヒンジ付きふた(28)のヒ
ンジに結合され、他端は自由端であり、また取外しディ
スクはホールダの対称軸線と同心位置に配置され、取外
しレバーに取付けられ、チャンバから試験管を取外すた
めの、周方向に配設された切欠きを有することを特徴と
する装置。
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