JPH07168768A - 初期自己診断方法 - Google Patents
初期自己診断方法Info
- Publication number
- JPH07168768A JPH07168768A JP5312426A JP31242693A JPH07168768A JP H07168768 A JPH07168768 A JP H07168768A JP 5312426 A JP5312426 A JP 5312426A JP 31242693 A JP31242693 A JP 31242693A JP H07168768 A JPH07168768 A JP H07168768A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cache memory
- self
- diagnosis
- failure
- instruction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】初期自己診断に要する時間の短縮と障害検出の
精度向上を目的とする。 【構成】命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモ
リ６の自己診断プログラム取り込み機能のみを簡易的に
診断し、命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモ
リ６の自己診断プログラム取り込み機能を使用して自己
診断プログラム８を実行し、自己診断プログラム８実行
中に命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６
において障害が発生した場合でも命令キャッシュメモリ
４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止する事によ
り、自己診断プログラム８の実行を継続した後、改めて
命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６の全
機能を自己診断する。
精度向上を目的とする。 【構成】命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモ
リ６の自己診断プログラム取り込み機能のみを簡易的に
診断し、命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモ
リ６の自己診断プログラム取り込み機能を使用して自己
診断プログラム８を実行し、自己診断プログラム８実行
中に命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６
において障害が発生した場合でも命令キャッシュメモリ
４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止する事によ
り、自己診断プログラム８の実行を継続した後、改めて
命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６の全
機能を自己診断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は初期自己診断方法、特に
キャッシュメモリを接続したマイクロプロセッサを持つ
データ処理装置における初期自己診断方法に関する。
キャッシュメモリを接続したマイクロプロセッサを持つ
データ処理装置における初期自己診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の初期自己診断機能は、図
３のフローチャートに示すように、自己診断プログラム
がキャッシュメモリの全機能を自己診断する以前にキャ
ッシュメモリを初期化するのみでキャッシュメモリを使
用し、自己診断プログラムを実行している為、自己診断
プログラム実行中にキャッシュメモリにおいて障害が発
生した場合、自己診断プログラムの実行の継続は不可能
と判断し停止するか、もしくは、図４のフローチャート
に示すように自己診断プログラムはキャッシュメモリの
全機能を自己診断した後、キャッシュメモリを使用して
いた。
３のフローチャートに示すように、自己診断プログラム
がキャッシュメモリの全機能を自己診断する以前にキャ
ッシュメモリを初期化するのみでキャッシュメモリを使
用し、自己診断プログラムを実行している為、自己診断
プログラム実行中にキャッシュメモリにおいて障害が発
生した場合、自己診断プログラムの実行の継続は不可能
と判断し停止するか、もしくは、図４のフローチャート
に示すように自己診断プログラムはキャッシュメモリの
全機能を自己診断した後、キャッシュメモリを使用して
いた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の初期自
己診断方法のうちの第一の例では、キャッシュメモリが
外付け回路としてマイクロプロセッサのＬＳＩに接続さ
れており、データ処理装置を実際に動作させてみないと
キャッシュメモリが正常に動作することが確認できない
場合には、キャッシュメモリが障害を発生する可能性が
あり、キャッシュメモリの障害が表示装置を初期化する
以前に発生した場合には自己診断プログラムが障害情報
を表示できずに停止してしまう。また、キャッシュメモ
リでの障害の有無にかかわらず実施できる自己診断機能
が、キャッシュメモリで障害が発生することで中断さ
れ、診断結果が得られないという欠点もある。
己診断方法のうちの第一の例では、キャッシュメモリが
外付け回路としてマイクロプロセッサのＬＳＩに接続さ
れており、データ処理装置を実際に動作させてみないと
キャッシュメモリが正常に動作することが確認できない
場合には、キャッシュメモリが障害を発生する可能性が
あり、キャッシュメモリの障害が表示装置を初期化する
以前に発生した場合には自己診断プログラムが障害情報
を表示できずに停止してしまう。また、キャッシュメモ
リでの障害の有無にかかわらず実施できる自己診断機能
が、キャッシュメモリで障害が発生することで中断さ
れ、診断結果が得られないという欠点もある。
【０００４】そして、上述した従来の初期自己診断方法
のうちの第二の例では、キャッシュメモリを自己診断す
るまでは使用しないので、自己診断に要する時間が多大
になる欠点がある。
のうちの第二の例では、キャッシュメモリを自己診断す
るまでは使用しないので、自己診断に要する時間が多大
になる欠点がある。
【０００５】本発明の目的は、キャッシュメモリが正常
動作する場合には自己診断に要する時間を短縮し、キャ
ッシュメモリに障害がある場合には、障害内容を表示で
きるまで自己診断プログラムの実行を継続することによ
り、上記の欠点を解消した初期自己診断方法を提供する
ことにある。
動作する場合には自己診断に要する時間を短縮し、キャ
ッシュメモリに障害がある場合には、障害内容を表示で
きるまで自己診断プログラムの実行を継続することによ
り、上記の欠点を解消した初期自己診断方法を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の方法は、キャッ
シュメモリを接続したマイクロプロセッサを持つデータ
処理装置における初期自己診断方法において、自己診断
プログラムがキャッシュメモリの全機能を自己診断する
以前にキャッシュメモリの自己診断プログラム取り込み
機能のみを簡易的に診断し、キャッシュメモリの自己プ
ログラム取り込み機能を使用して自己診断プログラムを
実行し、自己診断プログラム実行中にキャッシュメモリ
において障害が発生した場合でもキャッシュメモリの使
用を中止して診断プログラムを再実行する事により、自
己診断プログラムの実行を接続した後、改めてキャッシ
ュメモリの全機能を自己診断することを特徴とする。
シュメモリを接続したマイクロプロセッサを持つデータ
処理装置における初期自己診断方法において、自己診断
プログラムがキャッシュメモリの全機能を自己診断する
以前にキャッシュメモリの自己診断プログラム取り込み
機能のみを簡易的に診断し、キャッシュメモリの自己プ
ログラム取り込み機能を使用して自己診断プログラムを
実行し、自己診断プログラム実行中にキャッシュメモリ
において障害が発生した場合でもキャッシュメモリの使
用を中止して診断プログラムを再実行する事により、自
己診断プログラムの実行を接続した後、改めてキャッシ
ュメモリの全機能を自己診断することを特徴とする。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００８】図１は本発明の初期自己診断方法の一実施
例を示すデータ処理装置のブロック図であり、図２は本
実施例の動作を示すフローチャートである。
例を示すデータ処理装置のブロック図であり、図２は本
実施例の動作を示すフローチャートである。
【０００９】図１に示すデータ処理装置は、マイクロプ
ロセッサ１、２次キャッシュメモリ６、読み出し専用メ
モリ７（以下ＲＯＭ７と記す）、主記憶部１０、Ｉ／Ｏ
制御部１１、表示装置１２で構成される。
ロセッサ１、２次キャッシュメモリ６、読み出し専用メ
モリ７（以下ＲＯＭ７と記す）、主記憶部１０、Ｉ／Ｏ
制御部１１、表示装置１２で構成される。
【００１０】マイクロプロセッサ１は命令実行部２、転
送制御部３、命令キャッシュメモリ４およびデータキャ
ッシュメモリ５で構成される。マイクロプロセッサ１は
２次キャッシュメモリ６と直接接続され、システムバス
１５を介してＲＯＭ７、主記憶部１０、Ｉ／Ｏ制御部１
１、表示装置１２と接続される。
送制御部３、命令キャッシュメモリ４およびデータキャ
ッシュメモリ５で構成される。マイクロプロセッサ１は
２次キャッシュメモリ６と直接接続され、システムバス
１５を介してＲＯＭ７、主記憶部１０、Ｉ／Ｏ制御部１
１、表示装置１２と接続される。
【００１１】マイクロプロセッサ１の内部にある命令実
行部２は、転送制御部３を介して命令を取り込み、実行
する。また、データの書き込み、読み出しを転送制御部
３を介して行う。転送制御部３は命令実行部２からの要
求に応じて、システムバス１５、命令キャッシュメモリ
４、データキャッシュメモリ５、２次キャッシュメモリ
６の命令およびデータの転送を制御する部分である。命
令キャッシュメモリ４は、命令実行部２が実行する命令
を一時的に記憶する高速の小容量メモリであり、データ
キャッシュメモリ５は命令実行部２が必要とするデータ
を一時的に記憶する高速の小容量メモリであり、共に転
送制御部３と２次キャッシュメモリ６に接続される。
行部２は、転送制御部３を介して命令を取り込み、実行
する。また、データの書き込み、読み出しを転送制御部
３を介して行う。転送制御部３は命令実行部２からの要
求に応じて、システムバス１５、命令キャッシュメモリ
４、データキャッシュメモリ５、２次キャッシュメモリ
６の命令およびデータの転送を制御する部分である。命
令キャッシュメモリ４は、命令実行部２が実行する命令
を一時的に記憶する高速の小容量メモリであり、データ
キャッシュメモリ５は命令実行部２が必要とするデータ
を一時的に記憶する高速の小容量メモリであり、共に転
送制御部３と２次キャッシュメモリ６に接続される。
【００１２】２次キャッシュメモリ６はマイクロプロセ
ッサ１に接続され、マイクロプロセッサ１内の命令実行
部２が実行する命令と必要データを一時的に記憶する中
速の中容量メモリであり、マイクロプロセッサ１内の転
送制御部３により制御され、システムバス１５との間で
命令およびデータを取り込み、データの書き出しを行
う。また、必要な命令を命令キャッシュメモリ４に供給
し、必要なデータをデータキャッシュメモリ５に供給す
る。
ッサ１に接続され、マイクロプロセッサ１内の命令実行
部２が実行する命令と必要データを一時的に記憶する中
速の中容量メモリであり、マイクロプロセッサ１内の転
送制御部３により制御され、システムバス１５との間で
命令およびデータを取り込み、データの書き出しを行
う。また、必要な命令を命令キャッシュメモリ４に供給
し、必要なデータをデータキャッシュメモリ５に供給す
る。
【００１３】ＲＯＭ７にはマイクロプロセッサ１が初期
自己診断を行うのに必要な命令の並びである自己診断プ
ログラム８と、自己診断プログラム８を含むテストデー
タ９が記憶されており、システムバス１５からの要求に
よりこれらの命令、データをシステムバス１５に出力す
る。
自己診断を行うのに必要な命令の並びである自己診断プ
ログラム８と、自己診断プログラム８を含むテストデー
タ９が記憶されており、システムバス１５からの要求に
よりこれらの命令、データをシステムバス１５に出力す
る。
【００１４】主記憶部１０は低速の大容量メモリであ
り、初期自己診断により初期化、診断される対象とな
り、Ｉ／Ｏ制御部１１は各Ｉ／Ｏ装置を制御する部分で
あり、初期自己診断により初期化、診断される対象とな
り、また表示装置１２は表示メモリ部１３とＣＲＴディ
スプレイ１４から構成される。表示装置１２はシステム
バス１５から表示メモリ部１３に書き込まれたデータを
ＣＲＴディスプレイ１４に映し出すことにより表示を行
う。
り、初期自己診断により初期化、診断される対象とな
り、Ｉ／Ｏ制御部１１は各Ｉ／Ｏ装置を制御する部分で
あり、初期自己診断により初期化、診断される対象とな
り、また表示装置１２は表示メモリ部１３とＣＲＴディ
スプレイ１４から構成される。表示装置１２はシステム
バス１５から表示メモリ部１３に書き込まれたデータを
ＣＲＴディスプレイ１４に映し出すことにより表示を行
う。
【００１５】続いて、本発明の初期診断方法について説
明する。
明する。
【００１６】図１のデータ処理装置では、図２に示すス
テップ（以下Ｓと記す）１０１で電源投入またはリセッ
トを行うと、マイクロプロセッサ１に内蔵された命令実
行部２は転送制御部３を通してＲＯＭ７より自己診断プ
ログラム８を実行すべき命令として読み出しを開始す
る。なお、このとき命令キャッシュ使用禁止状態であ
り、命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６
は使用されない。
テップ（以下Ｓと記す）１０１で電源投入またはリセッ
トを行うと、マイクロプロセッサ１に内蔵された命令実
行部２は転送制御部３を通してＲＯＭ７より自己診断プ
ログラム８を実行すべき命令として読み出しを開始す
る。なお、このとき命令キャッシュ使用禁止状態であ
り、命令キャッシュメモリ４と２次キャッシュメモリ６
は使用されない。
【００１７】次にＳ１０２において、命令実行部２は自
己診断プログラム８を実行するのに必要な設定を行う初
期化処理を行い、Ｓ１０３において、初期化処理での障
害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１２１
にて診断処理動作を停止する。障害なしと判断した場合
にはＳ１０４へ進む。
己診断プログラム８を実行するのに必要な設定を行う初
期化処理を行い、Ｓ１０３において、初期化処理での障
害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１２１
にて診断処理動作を停止する。障害なしと判断した場合
にはＳ１０４へ進む。
【００１８】Ｓ１０４においては、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６が自己診断プログラム８
の取り込みに使用する準備として、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の各キャッシュメモリの
初期化を行う。なお、データキャッシュメモリ５は自己
診断プログラム８の取り込みに必要では無いので、ここ
では初期化を行わない。
リ４と２次キャッシュメモリ６が自己診断プログラム８
の取り込みに使用する準備として、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の各キャッシュメモリの
初期化を行う。なお、データキャッシュメモリ５は自己
診断プログラム８の取り込みに必要では無いので、ここ
では初期化を行わない。
【００１９】次にＳ１０５において、自己診断プログラ
ム８の格納されているＲＯＭ７の試験を行う。このと
き、命令実行部２はＲＯＭ７に格納されている自己診断
プログラム８を含むテストデータ９を２次キャッシュメ
モリ６、命令キャッシュメモリ４、転送制御部３を介し
て読み出し試験を行う。これにより、命令キャッシュメ
モリ４と２次キャッシュメモリ６から成るキャッシュメ
モリの自己診断プログラム取り込み機能の動作を確認で
きる。
ム８の格納されているＲＯＭ７の試験を行う。このと
き、命令実行部２はＲＯＭ７に格納されている自己診断
プログラム８を含むテストデータ９を２次キャッシュメ
モリ６、命令キャッシュメモリ４、転送制御部３を介し
て読み出し試験を行う。これにより、命令キャッシュメ
モリ４と２次キャッシュメモリ６から成るキャッシュメ
モリの自己診断プログラム取り込み機能の動作を確認で
きる。
【００２０】次にＳ１０６において、上述したＳ１０５
での障害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ
１１４へ進み、障害なしと判断した場合にはＳ１０７へ
進む。まず、上述したＳ１０６へ障害なしと判断した場
合について説明する。Ｓ１０６で障害なしと判断した場
合、Ｓ１０７において命令キャッシュ使用許可状態にす
る。これにより、命令実行部２は命令キャッシュメモリ
４、２次キャッシュメモリ６を使用して、ＲＯＭ７に格
納されている自己診断プログラム８を読み出し、Ｓ１０
８以降の処理を実行する。
での障害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ
１１４へ進み、障害なしと判断した場合にはＳ１０７へ
進む。まず、上述したＳ１０６へ障害なしと判断した場
合について説明する。Ｓ１０６で障害なしと判断した場
合、Ｓ１０７において命令キャッシュ使用許可状態にす
る。これにより、命令実行部２は命令キャッシュメモリ
４、２次キャッシュメモリ６を使用して、ＲＯＭ７に格
納されている自己診断プログラム８を読み出し、Ｓ１０
８以降の処理を実行する。
【００２１】Ｓ１０６で障害ありと判断した場合、Ｓ１
１４において再度ＲＯＭ７試験を行う。このとき、命令
実行部２は命令キャッシュメモリ４、２次キャッシュメ
モリ６を介さずに、ＲＯＭ７に格納されているテストデ
ータ９を転送制御部３を通して読み出し試験を行う。次
にＳ１１５においてＳ１１４での障害の有無を判断し、
障害ありと判断した場合はＳ１２１へ進み、障害なしと
判断した場合にはＳ１０８へ進む。
１４において再度ＲＯＭ７試験を行う。このとき、命令
実行部２は命令キャッシュメモリ４、２次キャッシュメ
モリ６を介さずに、ＲＯＭ７に格納されているテストデ
ータ９を転送制御部３を通して読み出し試験を行う。次
にＳ１１５においてＳ１１４での障害の有無を判断し、
障害ありと判断した場合はＳ１２１へ進み、障害なしと
判断した場合にはＳ１０８へ進む。
【００２２】これにより、Ｓ１０６で検出された障害に
より命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモ
リ６に発生した障害なのか、ＲＯＭ７に発生した障害な
のかを判断する。つまり、Ｓ１１５にて障害ありと判断
した場合はＲＯＭ７に障害があるとしてＳ１２１にて診
断処理動作を停止する。またＳ１１５にて障害なしと判
断した場合にはＳ１０８へ進むことによりＳ１０７は実
行されない。よって、命令キャッシュ使用禁止状態でＳ
１０８以降の処理を継続し、実行する事になる。
より命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモ
リ６に発生した障害なのか、ＲＯＭ７に発生した障害な
のかを判断する。つまり、Ｓ１１５にて障害ありと判断
した場合はＲＯＭ７に障害があるとしてＳ１２１にて診
断処理動作を停止する。またＳ１１５にて障害なしと判
断した場合にはＳ１０８へ進むことによりＳ１０７は実
行されない。よって、命令キャッシュ使用禁止状態でＳ
１０８以降の処理を継続し、実行する事になる。
【００２３】次にＳ１０８より、表示装置１２の試験を
行う。表示装置１２は表示メモリ部１３とＣＲＴディス
プレイ１４から成り、表示メモリ部１２を初期化しない
とＣＲＴディスプレイ１４に障害内容などを表示する事
が出来ない。従って、表示メモリ部１３の初期化を行
い、試験を行う。Ｓ１０９においては、上述したＳ１０
８での障害の有無を判断し、障害ありと判断した場合は
Ｓ１１６へ進み。障害なしと判断した場合にはＳ１１０
へ進む。
行う。表示装置１２は表示メモリ部１３とＣＲＴディス
プレイ１４から成り、表示メモリ部１２を初期化しない
とＣＲＴディスプレイ１４に障害内容などを表示する事
が出来ない。従って、表示メモリ部１３の初期化を行
い、試験を行う。Ｓ１０９においては、上述したＳ１０
８での障害の有無を判断し、障害ありと判断した場合は
Ｓ１１６へ進み。障害なしと判断した場合にはＳ１１０
へ進む。
【００２４】Ｓ１０９で障害ありと判断した場合、Ｓ１
１６において発生した障害が命令キャッシュメモリ４ま
たは２次キャッシュメモリ６で発生したのかを判断し、
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
の障害なしと判断した場合はＳ１２１へ進み。障害あり
と判断した場合にはＳ１１７へ進む。
１６において発生した障害が命令キャッシュメモリ４ま
たは２次キャッシュメモリ６で発生したのかを判断し、
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
の障害なしと判断した場合はＳ１２１へ進み。障害あり
と判断した場合にはＳ１１７へ進む。
【００２５】これにより、Ｓ１０９で検出された障害が
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
に発生した障害の場合にはＳ１１７により命令キャッシ
ュ使用禁止状態にすることにより、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止し、Ｓ１０
８を再実行する。これにより、命令キャッシュメモリ４
または２次キャッシュメモリ６の障害に依存する事なく
表示装置１２の診断を行う事ができる。また、Ｓ１０９
で検出された障害が命令キャッシュメモリ４または２次
キャッシュメモリ６以外で発生した障害の場合には表示
装置１２に障害があるとしてＳ１２１にて診断処理動作
を停止する。
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
に発生した障害の場合にはＳ１１７により命令キャッシ
ュ使用禁止状態にすることにより、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止し、Ｓ１０
８を再実行する。これにより、命令キャッシュメモリ４
または２次キャッシュメモリ６の障害に依存する事なく
表示装置１２の診断を行う事ができる。また、Ｓ１０９
で検出された障害が命令キャッシュメモリ４または２次
キャッシュメモリ６以外で発生した障害の場合には表示
装置１２に障害があるとしてＳ１２１にて診断処理動作
を停止する。
【００２６】次にＳ１１０より、主記憶部１０の試験を
行い、Ｓ１１１において、上述したＳ１１０での障害の
有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１１８へ進
み、障害なしと判断した場合にはＳ１１２へ進む。Ｓ１
１１で障害ありと判断した場合、Ｓ１１８において発生
した障害が命令キャッシュメモリ４または２次キャッシ
ュメモリ６で発生したのかを判断し、命令キャッシュメ
モリ４または２次キャッシュメモリ６の障害なしと判断
した場合はＳ１２０へ進み、障害ありと判断した場合に
はＳ１１９へ進む。
行い、Ｓ１１１において、上述したＳ１１０での障害の
有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１１８へ進
み、障害なしと判断した場合にはＳ１１２へ進む。Ｓ１
１１で障害ありと判断した場合、Ｓ１１８において発生
した障害が命令キャッシュメモリ４または２次キャッシ
ュメモリ６で発生したのかを判断し、命令キャッシュメ
モリ４または２次キャッシュメモリ６の障害なしと判断
した場合はＳ１２０へ進み、障害ありと判断した場合に
はＳ１１９へ進む。
【００２７】これにより、Ｓ１１１で検出された障害が
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
に発生した障害の場合にはＳ１１９により命令キャッシ
ュ使用禁止状態にすることにより、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止しＳ１１０
を再実行する。これにより、命令キャッシュメモリ４ま
たは２次キャッシュメモリ６の障害に依存する事なく主
記憶部１０の診断を行う事ができる。また、Ｓ１１１で
検出された障害が命令キャッシュメモリ４または２次キ
ャッシュメモリ６以外で発生した障害の場合には主記憶
部１０に障害があるとしてＳ１２０にて障害内容を表示
装置１２に表示した後、Ｓ１２１にて診断処理動作を停
止する。
命令キャッシュメモリ４または２次キャッシュメモリ６
に発生した障害の場合にはＳ１１９により命令キャッシ
ュ使用禁止状態にすることにより、命令キャッシュメモ
リ４と２次キャッシュメモリ６の使用を中止しＳ１１０
を再実行する。これにより、命令キャッシュメモリ４ま
たは２次キャッシュメモリ６の障害に依存する事なく主
記憶部１０の診断を行う事ができる。また、Ｓ１１１で
検出された障害が命令キャッシュメモリ４または２次キ
ャッシュメモリ６以外で発生した障害の場合には主記憶
部１０に障害があるとしてＳ１２０にて障害内容を表示
装置１２に表示した後、Ｓ１２１にて診断処理動作を停
止する。
【００２８】次にＳ１１２により、命令キャッシュメモ
リ４、データキャッシュメモリ５、２次キャッシュメモ
リ６の診断を行い、キャッシュメモリの全機能の試験を
行う。次にＳ１１３において、上述したＳ１１２での障
害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１２０
へ進み。障害なしと判断した場合には自己診断プログラ
ム８を継続実行し、Ｉ／Ｏ制御部１１等の自己診断を行
う。
リ４、データキャッシュメモリ５、２次キャッシュメモ
リ６の診断を行い、キャッシュメモリの全機能の試験を
行う。次にＳ１１３において、上述したＳ１１２での障
害の有無を判断し、障害ありと判断した場合はＳ１２０
へ進み。障害なしと判断した場合には自己診断プログラ
ム８を継続実行し、Ｉ／Ｏ制御部１１等の自己診断を行
う。
【００２９】Ｓ１１３で障害ありと判断した場合、Ｓ１
２０にて障害内容を表示装置１２に表示した後、Ｓ１２
１にて診断処理動作を停止する。
２０にて障害内容を表示装置１２に表示した後、Ｓ１２
１にて診断処理動作を停止する。
【００３０】本実施例と図３の第一の従来の初期自己診
断方法と比較した場合、図３におけるＳ３０６，Ｓ３０
８でキャッシュメモリの障害が発生すると、従来の方法
では障害内容を表示出来ずに診断プログラムが停止して
しまうが、本発明の初期自己診断方法では該当するＳ１
０５，Ｓ１０８でキャッシュメモリの障害が発生しても
診断を継続できる。また、Ｓ３１０でキャッシュメモリ
の障害が発生した場合、主記憶部の障害と区別できない
が、本発明の初期自己診断方法ではキャッシュメモリを
使用せずに再実行するため、障害発生箇所の区別が行え
る。また、正常動作時の自己診断の実行時間はキャッシ
ュメモリを使用しているので、図３における従来の方式
と同等である。
断方法と比較した場合、図３におけるＳ３０６，Ｓ３０
８でキャッシュメモリの障害が発生すると、従来の方法
では障害内容を表示出来ずに診断プログラムが停止して
しまうが、本発明の初期自己診断方法では該当するＳ１
０５，Ｓ１０８でキャッシュメモリの障害が発生しても
診断を継続できる。また、Ｓ３１０でキャッシュメモリ
の障害が発生した場合、主記憶部の障害と区別できない
が、本発明の初期自己診断方法ではキャッシュメモリを
使用せずに再実行するため、障害発生箇所の区別が行え
る。また、正常動作時の自己診断の実行時間はキャッシ
ュメモリを使用しているので、図３における従来の方式
と同等である。
【００３１】次に、本実施例と図４の第二の従来の初期
自己診断方法と比較した場合、図４におけるＳ４０６，
Ｓ４０８でキャッシュメモリを使用していないのでキャ
ッシュメモリの障害は発生しない。しかし、従来の方法
では正常動作時にもＳ４０６，Ｓ４０８でキャッシュメ
モリを使用しないので、命令を実行する度にＲＯＭ７か
ら新しい命令を読み出す必要があるため実行時間が長
い。本発明の初期自己診断方法ではキャッシュメモリを
使用しているので、命令はほとんどが命令キャッシュメ
モリ４より取り出せるので、図４の従来方法より高速で
ある。
自己診断方法と比較した場合、図４におけるＳ４０６，
Ｓ４０８でキャッシュメモリを使用していないのでキャ
ッシュメモリの障害は発生しない。しかし、従来の方法
では正常動作時にもＳ４０６，Ｓ４０８でキャッシュメ
モリを使用しないので、命令を実行する度にＲＯＭ７か
ら新しい命令を読み出す必要があるため実行時間が長
い。本発明の初期自己診断方法ではキャッシュメモリを
使用しているので、命令はほとんどが命令キャッシュメ
モリ４より取り出せるので、図４の従来方法より高速で
ある。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の初期自己
診断方法は、キャッシュメモリが正常動作する場合には
自己診断に要する時間を短縮し、キャッシュメモリに障
害がある場合には、障害内容を表示できるまで自己診断
プログラムの実行を継続することにより、キャッシュメ
モリの障害内容を詳細に表示出来る効果を有している。
診断方法は、キャッシュメモリが正常動作する場合には
自己診断に要する時間を短縮し、キャッシュメモリに障
害がある場合には、障害内容を表示できるまで自己診断
プログラムの実行を継続することにより、キャッシュメ
モリの障害内容を詳細に表示出来る効果を有している。
【００３３】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図３】従来の第一の初期自己診断方式のフローチャー
トである。
トである。
【図４】従来の第二の初期自己診断方式のフローチャー
トである。
トである。
１ マイクロプロセッサ ２ 命令実行部 ３ 転送制御部 ４ 命令キャッシュメモリ ５ データキャッシュメモリ ６ ２次キャッシュメモリ ７ 読み出し専用メモリ（ＲＯＭ） ８ 自己診断プログラム ９ テストデータ １０ 主記憶部 １１ Ｉ／Ｏ制御部 １２ 表示装置 １３ 表示メモリ部 １４ ＣＲＴディスプレイ １５ システムバス
Claims (2)
- 【請求項１】 キャッシュメモリを接続したマイクロプ
ロセッサを持つデータ処理装置における初期自己診断方
法において、 自己診断プログラムがキャッシュメモリの全機能を自己
診断する以前にキャッシュメモリの自己診断プログラム
取り込み機能のみを簡易的に診断し、キャッシュメモリ
の自己プログラム取り込み機能を使用して自己診断プロ
グラムを実行し、自己診断プログラム実行中にキャッシ
ュメモリにおいて障害が発生した場合でもキャッシュメ
モリの使用を中止して診断プログラムを再実行する事に
より、自己診断プログラムの実行を接続した後、改めて
キャッシュメモリの全機能を自己診断することを特徴と
する初期自己診断方法。 - 【請求項２】 使用中のキャッシュメモリに障害が発生
した時点で表示装置が未初期化の場合にはキャッシュメ
モリを使用せずに診断プログラムの実行を継続し、表示
装置の初期化が終了した後にキャッシュメモリを診断
し、障害内容を表示する事を特徴とする初期自己診断方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5312426A JPH07168768A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | 初期自己診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5312426A JPH07168768A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | 初期自己診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07168768A true JPH07168768A (ja) | 1995-07-04 |
Family
ID=18029076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5312426A Withdrawn JPH07168768A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | 初期自己診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07168768A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018139344A1 (ja) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 情報処理システム、情報処理装置、周辺装置、データ転送方法、及びデータ転送プログラムが格納された非一時的な記憶媒体 |
| US10056156B2 (en) | 2016-01-06 | 2018-08-21 | Fujitsu Limited | Information processing apparatus and method of controlling arithmetic processing apparatus |
-
1993
- 1993-12-14 JP JP5312426A patent/JPH07168768A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10056156B2 (en) | 2016-01-06 | 2018-08-21 | Fujitsu Limited | Information processing apparatus and method of controlling arithmetic processing apparatus |
| WO2018139344A1 (ja) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 情報処理システム、情報処理装置、周辺装置、データ転送方法、及びデータ転送プログラムが格納された非一時的な記憶媒体 |
| JP2018120323A (ja) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 情報処理システム、情報処理装置、周辺装置、データ転送方法、及びデータ転送プログラム |
| US10936515B2 (en) | 2017-01-24 | 2021-03-02 | Nec Platforms, Ltd. | Information processing system including data classification unit for reconstructing transfer data based on defined transfer codes |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2010092127A (ja) | コンピュータ装置、プロセッサ診断方法、及びプロセッサ診断制御プログラム | |
| JPH07219809A (ja) | データ処理装置およびデータ処理方法 | |
| JPS6112297B2 (ja) | ||
| US10818374B2 (en) | Testing read-only memory using memory built-in self-test controller | |
| JP3192229B2 (ja) | 装置周辺部の診断機能を持つ情報処理装置 | |
| JPH1049401A (ja) | プログラムのデバッグ方法 | |
| JPH07152598A (ja) | インサーキット・エミュレータ | |
| JPH04362755A (ja) | 共用型拡張記憶試験方式 | |
| JPS6034132B2 (ja) | プログラマブル・コントロ−ラ | |
| JPS61204703A (ja) | エンジン制御コンピユ−タシステムの開発装置 | |
| JP2808985B2 (ja) | 情報処理装置及びデバッグ装置 | |
| JPH02244232A (ja) | 情報処理装置 | |
| JPH05165737A (ja) | メモリ試験方式 | |
| JP2000298599A (ja) | 交換ソフトウェアの自動試験システム | |
| JPH04243431A (ja) | 障害処理機能の評価方式 | |
| JPH081607B2 (ja) | 情報処理システムにおける擬似障害発生方式 | |
| JPS63282852A (ja) | ２重化処理システムにおける予備系診断方式 | |
| JPH04357534A (ja) | 自動自己診断機能システム | |
| JP2000181762A (ja) | マイクロプロセッサ | |
| JPS62107354A (ja) | マイクロプログラム制御装置 | |
| JPS59195751A (ja) | 情報処理装置の診断方式 | |
| JPH06162225A (ja) | 自己テスト機能内蔵シングルチップマイコン | |
| JPS6091458A (ja) | マイクロプロセツサのプログラムデバツグ装置 | |
| JPH0756765A (ja) | 入出力処理装置のデバッグ装置 | |
| JPH05181781A (ja) | 入出力制御装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |