JPH07170268A - Ａｔｍ交換機の負荷試験装置 - Google Patents
Ａｔｍ交換機の負荷試験装置Info
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- JPH07170268A JPH07170268A JP5313758A JP31375893A JPH07170268A JP H07170268 A JPH07170268 A JP H07170268A JP 5313758 A JP5313758 A JP 5313758A JP 31375893 A JP31375893 A JP 31375893A JP H07170268 A JPH07170268 A JP H07170268A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 110
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 1
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＴＭ（非同期伝送モード）交換機に対して
回線インタフェースへ試験データを任意のタイミングで
出力しＡＴＭ交換機の負荷入力時の動作検証を行えるよ
うにする。 【構成】 任意の試験データを複写装置１２で複写し指
定した回線インタフェース装置１５を介してタイミング
制御装置１４の指示によりその試験データをＡＴＭ交換
機２０へ出力する。 【効果】 試験データ発生装置を共通化できるため試験
装置を小型化することができ、また、回線インタフェー
ス装置毎に増設できるので試験系の構成費が削減される
とともに、試験データの出力タイミングの調整が可能と
なるためＡＴＭ交換機の入力タイミング試験を行うこと
ができる。
回線インタフェースへ試験データを任意のタイミングで
出力しＡＴＭ交換機の負荷入力時の動作検証を行えるよ
うにする。 【構成】 任意の試験データを複写装置１２で複写し指
定した回線インタフェース装置１５を介してタイミング
制御装置１４の指示によりその試験データをＡＴＭ交換
機２０へ出力する。 【効果】 試験データ発生装置を共通化できるため試験
装置を小型化することができ、また、回線インタフェー
ス装置毎に増設できるので試験系の構成費が削減される
とともに、試験データの出力タイミングの調整が可能と
なるためＡＴＭ交換機の入力タイミング試験を行うこと
ができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＡＴＭ（非同期伝送モー
ド）交換機の試験に利用する。本発明は、試験データの
負荷入力時の動作検証を行うことができるＡＴＭ交換機
の負荷試験装置に関する。
ド）交換機の試験に利用する。本発明は、試験データの
負荷入力時の動作検証を行うことができるＡＴＭ交換機
の負荷試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＡＴＭ交換機の負荷試験
装置は、ＡＴＭ交換機に対して負荷試験データを入力す
るために回線インタフェース毎に独立した試験データ生
成装置を接続しなければならなかった。
装置は、ＡＴＭ交換機に対して負荷試験データを入力す
るために回線インタフェース毎に独立した試験データ生
成装置を接続しなければならなかった。
【０００３】従来例のＡＴＭ交換機の試験方法について
は、特開平２−２７２９３８号公報に記載がある。
は、特開平２−２７２９３８号公報に記載がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のＡＴ
Ｍ交換機負荷試験装置では、独立した試験データ生成装
置を必要とするため、回線インタフェースの数の分だけ
試験データ生成装置が必要となるのでハードウェア量が
多くなり、また、試験データ生成装置がそれぞれ独立し
ているため回線インタフェースへの試験データ出力タイ
ミングの調整ができない欠点がある。
Ｍ交換機負荷試験装置では、独立した試験データ生成装
置を必要とするため、回線インタフェースの数の分だけ
試験データ生成装置が必要となるのでハードウェア量が
多くなり、また、試験データ生成装置がそれぞれ独立し
ているため回線インタフェースへの試験データ出力タイ
ミングの調整ができない欠点がある。
【０００５】本発明はこのような問題を解決するもの
で、試験装置を小型化して設備費を低減し、回線インタ
フェースへの試験データ出力タイミングの調整を行うこ
とができる装置を提供することを目的とする。
で、試験装置を小型化して設備費を低減し、回線インタ
フェースへの試験データ出力タイミングの調整を行うこ
とができる装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数ｎの回線
インタフェースに対して各回線インタフェース毎に試験
データを送出する手段を備えたＡＴＭ交換機の負荷試験
装置において、試験データ発生装置１１を前記複数ｎの
回線インタフェースについて共通に１個設け、この試験
データ発生装置１１の出力試験データを前記複数ｎの回
線インタフェース毎に複写して保持する複写装置１２
と、この複写装置１２の保持する試験データを各回線イ
ンタフェース毎に指定されたタイミングで与えるタイミ
ング制御装置１４とを備えたことを特徴とする。
インタフェースに対して各回線インタフェース毎に試験
データを送出する手段を備えたＡＴＭ交換機の負荷試験
装置において、試験データ発生装置１１を前記複数ｎの
回線インタフェースについて共通に１個設け、この試験
データ発生装置１１の出力試験データを前記複数ｎの回
線インタフェース毎に複写して保持する複写装置１２
と、この複写装置１２の保持する試験データを各回線イ
ンタフェース毎に指定されたタイミングで与えるタイミ
ング制御装置１４とを備えたことを特徴とする。
【０００７】前記試験データ発生装置１１および前記複
写装置１２を制御し、試験データの送出タイミングに先
立ってその試験データ発生装置の出力試験データをその
複写装置に複写させる試験パタン制御装置１３と、複数
の異なるパタンの試験データを発生する手段とを備え、
前記試験パタン制御装置１３は、その試験データ発生装
置の発生するパタンを制御する手段と、設定されたプロ
グラムにしたがって複数ｎの回線インタフェースに対応
してそれぞれ一部または全部が異なるパタンを与える手
段とを備えることが望ましい。
写装置１２を制御し、試験データの送出タイミングに先
立ってその試験データ発生装置の出力試験データをその
複写装置に複写させる試験パタン制御装置１３と、複数
の異なるパタンの試験データを発生する手段とを備え、
前記試験パタン制御装置１３は、その試験データ発生装
置の発生するパタンを制御する手段と、設定されたプロ
グラムにしたがって複数ｎの回線インタフェースに対応
してそれぞれ一部または全部が異なるパタンを与える手
段とを備えることが望ましい。
【０００８】
【作用】試験データ発生装置が試験パタン制御装置から
のパタン制御指示を受けて試験データを生成し複写装置
に送出する。複写装置は試験パタン制御装置からの複写
制御指示にしたがって回線インタフェース装置への試験
データを複写するとともに、その試験データを通知す
る。回線インタフェース装置はタイミング制御装置から
の試験データ出力パタンに従って回線インタフェース装
置毎に通知される出力指示により試験データをＡＴＭ交
換機に出力する。
のパタン制御指示を受けて試験データを生成し複写装置
に送出する。複写装置は試験パタン制御装置からの複写
制御指示にしたがって回線インタフェース装置への試験
データを複写するとともに、その試験データを通知す
る。回線インタフェース装置はタイミング制御装置から
の試験データ出力パタンに従って回線インタフェース装
置毎に通知される出力指示により試験データをＡＴＭ交
換機に出力する。
【０００９】このように試験データを複写することで独
立した試験データ生成装置が不要となることから装置の
小型化をはかることができ、ＡＴＭ交換機への試験デー
タ出力タイミングの調整が可能となり、そのタイミング
試験も行うことができる。
立した試験データ生成装置が不要となることから装置の
小型化をはかることができ、ＡＴＭ交換機への試験デー
タ出力タイミングの調整が可能となり、そのタイミング
試験も行うことができる。
【００１０】
【実施例】次に、本発明実施例を図面に基づいて説明す
る。図１は本発明実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。図１は本発明実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【００１１】本発明実施例は、複数ｎの回線インタフェ
ース装置１５に対して各回線インタフェース装置１５毎
に試験データを送出する手段を備え、試験データ発生装
置１１を複数ｎの回線インタフェース装置１５について
共通に１個設け、この試験データ発生装置１１の出力試
験データを複数ｎの回線インタフェース装置１５毎に複
写して保持する複写装置１２と、この複写装置１２の保
持する試験データを各回線インタフェース装置１５毎に
指定されたタイミングで与えるタイミング制御装置１４
と、試験データ発生装置１１および複写装置１２を制御
し、試験データの送出タイミングに先立ってその試験デ
ータ発生装置１１の出力試験データを複写装置１２に複
写させる試験パタン制御装置１３とを備え、試験データ
発生装置１１は複数の異なるパタンの試験データを発生
する手段を備え、試験パタン制御装置１３は、試験デー
タ発生装置１１の発生するパタンを制御する手段と、設
定されたプログラムにしたがって複数ｎの回線インタフ
ェース装置１５に対応してそれぞれ一部または全部が異
なるパタンを与える手段とを備える。
ース装置１５に対して各回線インタフェース装置１５毎
に試験データを送出する手段を備え、試験データ発生装
置１１を複数ｎの回線インタフェース装置１５について
共通に１個設け、この試験データ発生装置１１の出力試
験データを複数ｎの回線インタフェース装置１５毎に複
写して保持する複写装置１２と、この複写装置１２の保
持する試験データを各回線インタフェース装置１５毎に
指定されたタイミングで与えるタイミング制御装置１４
と、試験データ発生装置１１および複写装置１２を制御
し、試験データの送出タイミングに先立ってその試験デ
ータ発生装置１１の出力試験データを複写装置１２に複
写させる試験パタン制御装置１３とを備え、試験データ
発生装置１１は複数の異なるパタンの試験データを発生
する手段を備え、試験パタン制御装置１３は、試験デー
タ発生装置１１の発生するパタンを制御する手段と、設
定されたプログラムにしたがって複数ｎの回線インタフ
ェース装置１５に対応してそれぞれ一部または全部が異
なるパタンを与える手段とを備える。
【００１２】次に、このように構成された本発明実施例
の動作について説明する。図２は本発明実施例における
負荷試験を行う場合の全体構成を示す図、図３は本発明
実施例における試験パタン制御装置の制御動作の流れを
示す流れ図である。
の動作について説明する。図２は本発明実施例における
負荷試験を行う場合の全体構成を示す図、図３は本発明
実施例における試験パタン制御装置の制御動作の流れを
示す流れ図である。
【００１３】試験パタン制御装置１３から発生試験デー
タパタンおよび発生タイミングに関するパタン制御指示
１７を送出する。この試験パタン制御装置１３では、図
３に示す動作が行われる。すなわち、ｎ個の回線インタ
フェース装置１５に対応する試験パタン（１…ｎ）を設
定する。まず、試験パタンＮｏ．１を発生設定し、複写
装置１２の対応するエリアを書込状態に設定して複写を
行う。以降、順次試験パタンを設定して、ｎ個すべてに
対し複写を実行する。
タパタンおよび発生タイミングに関するパタン制御指示
１７を送出する。この試験パタン制御装置１３では、図
３に示す動作が行われる。すなわち、ｎ個の回線インタ
フェース装置１５に対応する試験パタン（１…ｎ）を設
定する。まず、試験パタンＮｏ．１を発生設定し、複写
装置１２の対応するエリアを書込状態に設定して複写を
行う。以降、順次試験パタンを設定して、ｎ個すべてに
対し複写を実行する。
【００１４】このパタン制御指示１７を受けた試験デー
タ発生装置１１は試験データ１６（ＡＴＭセル）を生成
して複写装置１２に送出する。複写装置１２では試験パ
タン制御装置１３からの複写制御指示１８により、複写
先の回線インタフェース装置１５への試験データ１６を
複写するとともに、その試験データを通知する。このと
き複写制御指示１８により試験データが通知されない回
線インタフェース装置１５もある。
タ発生装置１１は試験データ１６（ＡＴＭセル）を生成
して複写装置１２に送出する。複写装置１２では試験パ
タン制御装置１３からの複写制御指示１８により、複写
先の回線インタフェース装置１５への試験データ１６を
複写するとともに、その試験データを通知する。このと
き複写制御指示１８により試験データが通知されない回
線インタフェース装置１５もある。
【００１５】複写制御指示１８により試験データが通知
された回線インタフェース装置１５ではタイミング制御
装置１４からの予め登録されている試験データ出力パタ
ンに従って回線インタフェース装置１５毎に通知される
出力指示１９により試験データをＡＴＭ交換機２０へ出
力する。なお、複写装置としては同報機能を有するスイ
ッチにより構成することができる。
された回線インタフェース装置１５ではタイミング制御
装置１４からの予め登録されている試験データ出力パタ
ンに従って回線インタフェース装置１５毎に通知される
出力指示１９により試験データをＡＴＭ交換機２０へ出
力する。なお、複写装置としては同報機能を有するスイ
ッチにより構成することができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、試
験データを複写することで独立した試験データ生成装置
が不要となり試験データ生成装置を小型化することがで
きる。これにより、ハードウェア量の削減およびＡＴＭ
交換機への試験データ出力タイミングの調整が可能とな
り、ＡＴＭ交換機への試験データ入力タイミングの試験
も行うことができる。さらに、試験装置を複写装置の規
模の範囲で回線インタフェース装置毎に増設することが
可能となるため試験装置の増設性を高めることができ、
また、必要回線数のみ増設することが可能となるので試
験装置の設置コストを安くすることができる効果があ
る。
験データを複写することで独立した試験データ生成装置
が不要となり試験データ生成装置を小型化することがで
きる。これにより、ハードウェア量の削減およびＡＴＭ
交換機への試験データ出力タイミングの調整が可能とな
り、ＡＴＭ交換機への試験データ入力タイミングの試験
も行うことができる。さらに、試験装置を複写装置の規
模の範囲で回線インタフェース装置毎に増設することが
可能となるため試験装置の増設性を高めることができ、
また、必要回線数のみ増設することが可能となるので試
験装置の設置コストを安くすることができる効果があ
る。
【図１】本発明実施例の構成を示すブロック図。
【図２】本発明実施例における負荷試験を行う場合の全
体構成を示す図。
体構成を示す図。
【図３】本発明実施例における試験パタン制御装置の制
御動作の流れを示す流れ図。
御動作の流れを示す流れ図。
１０ ＡＴＭ交換機負荷試験装置 １１ 試験データ発生装置 １２ 複写装置 １３ 試験パタン制御装置 １４ タイミング制御装置 １５ 回線インタフェース装置 １６ 試験データ １７ パタン制御指示 １８ 複写制御指示 １９ 出力指示 ２０ ＡＴＭ交換機
Claims (3)
- 【請求項１】 複数ｎの回線インタフェースに対して各
回線インタフェース毎に試験データを送出する手段を備
えたＡＴＭ交換機の負荷試験装置において、 試験データ発生装置を前記複数ｎの回線インタフェース
について共通に１個設け、 この試験データ発生装置の出力試験データを前記複数ｎ
の回線インタフェース毎に複写して保持する複写装置
と、 この複写装置の保持する試験データを各回線インタフェ
ース毎に指定されたタイミングで与えるタイミング制御
装置とを備えたことを特徴とするＡＴＭ交換機の負荷試
験装置。 - 【請求項２】 前記試験データ発生装置および前記複写
装置を制御し、試験データの送出タイミングに先立って
その試験データ発生装置の出力試験データをその複写装
置に複写させる試験パタン制御装置を備えた請求項１記
載のＡＴＭ交換機の負荷試験装置。 - 【請求項３】 前記試験データ発生装置は複数の異なる
パタンの試験データを発生する手段を備え、 前記試験パタン制御装置は、その試験データ発生装置の
発生するパタンを制御する手段と、設定されたプログラ
ムにしたがって複数ｎの回線インタフェースに対応して
それぞれ一部または全部が異なるパタンを与える手段と
を備えた請求項２記載のＡＴＭ交換機の負荷試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313758A JPH07170268A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | Ａｔｍ交換機の負荷試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313758A JPH07170268A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | Ａｔｍ交換機の負荷試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07170268A true JPH07170268A (ja) | 1995-07-04 |
Family
ID=18045185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5313758A Pending JPH07170268A (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | Ａｔｍ交換機の負荷試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07170268A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02185152A (ja) * | 1989-01-12 | 1990-07-19 | Nec Corp | Ｉｓｄｎ交換機の試験方式 |
| JPH0730552A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ過負荷試験装置 |
-
1993
- 1993-12-14 JP JP5313758A patent/JPH07170268A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02185152A (ja) * | 1989-01-12 | 1990-07-19 | Nec Corp | Ｉｓｄｎ交換機の試験方式 |
| JPH0730552A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Nec Corp | Ａｔｍスイッチ過負荷試験装置 |
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