JPH0718696B2 - ひび割れ自動計測装置 - Google Patents
ひび割れ自動計測装置Info
- Publication number
- JPH0718696B2 JPH0718696B2 JP61146612A JP14661286A JPH0718696B2 JP H0718696 B2 JPH0718696 B2 JP H0718696B2 JP 61146612 A JP61146612 A JP 61146612A JP 14661286 A JP14661286 A JP 14661286A JP H0718696 B2 JPH0718696 B2 JP H0718696B2
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- Japan
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Lining And Supports For Tunnels (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、土木・建設分野において、コンクリート構造
物の劣化診断に利用して好適なひび割れ自動計測装置に
関する。
物の劣化診断に利用して好適なひび割れ自動計測装置に
関する。
コンクリート構造物の劣化診断においてひび割れ調査は
基本的な調査項目となっている。
基本的な調査項目となっている。
従来、このひび割れ調査は、人間が調査位置まで充分近
づいて目視観察し、ひび割れのマーキング及びスケッチ
或いは写真撮影をすることにより実施されている。
づいて目視観察し、ひび割れのマーキング及びスケッチ
或いは写真撮影をすることにより実施されている。
しかし、上記の如き従来のひび割れ調査では、調査計画
から報告に至るまでにかなりの期間を要すると共に、特
に、調査対象が高所になると、作業足場等の資材が必要
になり、多大な調査労力が必要になる。さらに、ひび割
れの分布・幅の測定精度及び測定箇所やその数が調査者
の熟練度や個人差によって異なるため、ひび割れ調査結
果のデータ保存方法が統一できず、データ保存が不完全
であり、以前に実施したひび割れ調査結果との比較等、
時系列的な検討が困難である。また、現状の画像入力・
処理・収録装置ではデータ収録に必要な記憶容量が莫大
な量となり、実用に供し得ない、等の問題点を有してい
る。
から報告に至るまでにかなりの期間を要すると共に、特
に、調査対象が高所になると、作業足場等の資材が必要
になり、多大な調査労力が必要になる。さらに、ひび割
れの分布・幅の測定精度及び測定箇所やその数が調査者
の熟練度や個人差によって異なるため、ひび割れ調査結
果のデータ保存方法が統一できず、データ保存が不完全
であり、以前に実施したひび割れ調査結果との比較等、
時系列的な検討が困難である。また、現状の画像入力・
処理・収録装置ではデータ収録に必要な記憶容量が莫大
な量となり、実用に供し得ない、等の問題点を有してい
る。
本発明は、上記の問題点を解決するものであって、簡単
な操作でひび割れ調査ができ、個人差がなく一定した精
度の調査データを得ることができるひび割れ自動計測装
置の提供を目的とする。
な操作でひび割れ調査ができ、個人差がなく一定した精
度の調査データを得ることができるひび割れ自動計測装
置の提供を目的とする。
そのために本発明は、構造物を撮影して得られる画像デ
ータを処理することによってひび割れを計測するひび割
れ自動計測装置であって、閾値を設定して画像データを
２値化する２値化手段、２値化されたデータの連結した
画像群の中心線を求める細線化処理手段、前記中心線を
ベクトル化するベクトル化手段、及びベクトル化した中
心線と垂直な方向に対して画像データの微分をとり閾値
との比較により構造物のひび割れ情報を検出するひび割
れ検出手段を備えたことを特徴とするものである。
ータを処理することによってひび割れを計測するひび割
れ自動計測装置であって、閾値を設定して画像データを
２値化する２値化手段、２値化されたデータの連結した
画像群の中心線を求める細線化処理手段、前記中心線を
ベクトル化するベクトル化手段、及びベクトル化した中
心線と垂直な方向に対して画像データの微分をとり閾値
との比較により構造物のひび割れ情報を検出するひび割
れ検出手段を備えたことを特徴とするものである。
本発明のひび割れ自動計測装置では、構造物を撮像して
得られる明暗の画像データを２値化し、連結した画素群
に対して細線化処理手段で中心を求めることによってひ
び割れ部分の中心線が求められる。そして、ベクトル化
手段でひび割れ部分の中心線がベクトル化され、ひび割
れ検出手段でベクトル単位のひび割れ幅その他のひび割
れ情報が検出される。
得られる明暗の画像データを２値化し、連結した画素群
に対して細線化処理手段で中心を求めることによってひ
び割れ部分の中心線が求められる。そして、ベクトル化
手段でひび割れ部分の中心線がベクトル化され、ひび割
れ検出手段でベクトル単位のひび割れ幅その他のひび割
れ情報が検出される。
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明のひび割れ自動計測装置の１実施例構成
を示す図、第２図は画像データ処理装置の具体的な機能
構成例を示す図、第３図は画像データの例を示す図、第
４図は画像データ処理装置による解析データの例を示す
図である。図中、１は撮像部、２は入力画像制御部、３
はCRT、４はデータ処理装置、５は磁気テープ、６はフ
ロッピィディスク、７はプリンタ、８は磁気ディスク、
11は２値化処理部、12は細線化処理部、13はベクトル化
処理部、14はひび割れ幅検出部、15はベクトル長・幅の
補正部、16はひび割れ画像データ出力部を示す。
を示す図、第２図は画像データ処理装置の具体的な機能
構成例を示す図、第３図は画像データの例を示す図、第
４図は画像データ処理装置による解析データの例を示す
図である。図中、１は撮像部、２は入力画像制御部、３
はCRT、４はデータ処理装置、５は磁気テープ、６はフ
ロッピィディスク、７はプリンタ、８は磁気ディスク、
11は２値化処理部、12は細線化処理部、13はベクトル化
処理部、14はひび割れ幅検出部、15はベクトル長・幅の
補正部、16はひび割れ画像データ出力部を示す。
第１図において、撮像部１は、人間の目に代わってコン
クリート構造物などのひび割れを撮像する例えばCCD（C
harged Coupled Device;電荷結合素子）カメラやテレビ
カメラなどである。入力画像制御部２は、撮像部１によ
り得られた画像のデータ処理装置４への取り込みやCRT3
への表示等のため撮像部１やモニタ用のCRT3を制御する
ものである。撮像のための位置移動は、図示しないが調
査対象の形状に応じた位置移動装置によって行い、画像
位置データ情報を位置移動装置から入力する。この位置
移動装置および撮像部１の正常運転を補佐するためには
オペレータ１名を配置すればよい。データ処理装置４
は、パソコンあるいは専用のプロセッサーなどにより構
成するものであって、入力画像制御部４を通して撮像部
１から画像データを入力すると、その画像データからひ
び割れの位置やひび割れの幅等のひび割れ情報を抽出す
るものである。そして、データ処理装置４によって抽出
されたひび割れ情報を画像位置データ情報と共に格納す
る外部記憶装置が磁気テープ５やフロッピィディスク
６、磁気ディスク８であり、印刷出力するのがプリンタ
７である。なお、これらひび割れ情報や画像位置データ
情報は、図示しないが専用回線や電話回線を用いて大型
電算機にデータ送信するようにしてもよい。
クリート構造物などのひび割れを撮像する例えばCCD（C
harged Coupled Device;電荷結合素子）カメラやテレビ
カメラなどである。入力画像制御部２は、撮像部１によ
り得られた画像のデータ処理装置４への取り込みやCRT3
への表示等のため撮像部１やモニタ用のCRT3を制御する
ものである。撮像のための位置移動は、図示しないが調
査対象の形状に応じた位置移動装置によって行い、画像
位置データ情報を位置移動装置から入力する。この位置
移動装置および撮像部１の正常運転を補佐するためには
オペレータ１名を配置すればよい。データ処理装置４
は、パソコンあるいは専用のプロセッサーなどにより構
成するものであって、入力画像制御部４を通して撮像部
１から画像データを入力すると、その画像データからひ
び割れの位置やひび割れの幅等のひび割れ情報を抽出す
るものである。そして、データ処理装置４によって抽出
されたひび割れ情報を画像位置データ情報と共に格納す
る外部記憶装置が磁気テープ５やフロッピィディスク
６、磁気ディスク８であり、印刷出力するのがプリンタ
７である。なお、これらひび割れ情報や画像位置データ
情報は、図示しないが専用回線や電話回線を用いて大型
電算機にデータ送信するようにしてもよい。
次に、第１図に示すひび割れ自動計測装置によるひび割
れ計測を説明する。まず、被写体の画像情報を撮像部１
でディジタル画像信号としてとらえ、CRT3によってその
とらえた画像の目視確認を行い、ディジタル画像信号を
データ処理装置４に入力する。撮像部１としてCCDカメ
ラを用いた場合には、２次元あるいは３次元の被写体を
光学レンズを通して感光部にあるCCDセンサーで光電変
換することにより、被写体画像情報をディジタル信号
（輝度階調）として出力することになる。
れ計測を説明する。まず、被写体の画像情報を撮像部１
でディジタル画像信号としてとらえ、CRT3によってその
とらえた画像の目視確認を行い、ディジタル画像信号を
データ処理装置４に入力する。撮像部１としてCCDカメ
ラを用いた場合には、２次元あるいは３次元の被写体を
光学レンズを通して感光部にあるCCDセンサーで光電変
換することにより、被写体画像情報をディジタル信号
（輝度階調）として出力することになる。
例えば、水平方向に2048個の電荷結合素子を並べたCCD
ラインイメージ型固体撮像センサーを垂直方向に3000ス
テップ機械的に駆動させる型式のCCDカメラを使用する
と、水平2000/垂直3000の画像分割が被写体画像をとら
えることができる。そして、各画素で、画像情報を色の
濃淡（黒白）で256階調（８ビット）の輝度階調に分解
してディジタル信号に変換し、順次、データ処理装置４
に入力する。
ラインイメージ型固体撮像センサーを垂直方向に3000ス
テップ機械的に駆動させる型式のCCDカメラを使用する
と、水平2000/垂直3000の画像分割が被写体画像をとら
えることができる。そして、各画素で、画像情報を色の
濃淡（黒白）で256階調（８ビット）の輝度階調に分解
してディジタル信号に変換し、順次、データ処理装置４
に入力する。
データ処理装置４では、ディジタル信号に変換した画像
データの各画素に対して或る閾値を設定して２値化した
後、細線化を行ってひび割れ中心線を求める。そして線
追跡によるベクトル化を行って、ひび割れの位置やひび
割れの幅等のひび割れ情報を抽出する。このような画像
処理をして得られたデータを記憶装置に収録、或いは専
用回線や電話回線を用いて大型電算機に送信する。そし
て収録或いは送信されたデータより大型電算機において
全体画像を構築して設計情報と比較し、ひび割れ解析を
行う。
データの各画素に対して或る閾値を設定して２値化した
後、細線化を行ってひび割れ中心線を求める。そして線
追跡によるベクトル化を行って、ひび割れの位置やひび
割れの幅等のひび割れ情報を抽出する。このような画像
処理をして得られたデータを記憶装置に収録、或いは専
用回線や電話回線を用いて大型電算機に送信する。そし
て収録或いは送信されたデータより大型電算機において
全体画像を構築して設計情報と比較し、ひび割れ解析を
行う。
次に、データ処理装置４による画像データの処理の例を
第２図及び第３図により説明する。データ処理装置にお
いて、第３図（ａ）に示すような画像データを入力する
と、まず、２値化処理部11では、256階調（０〜255）の
濃度にディジタイズされた画像データを或る閾値で２つ
のカテゴリー「１」（黒）「０」（白）に分類する。
第２図及び第３図により説明する。データ処理装置にお
いて、第３図（ａ）に示すような画像データを入力する
と、まず、２値化処理部11では、256階調（０〜255）の
濃度にディジタイズされた画像データを或る閾値で２つ
のカテゴリー「１」（黒）「０」（白）に分類する。
続いて、細線化処理部12では、端点保存条件、連結数を
保持しつつ除去可能点を識別し、最終点に８連結の連続
した点列に縮退させる。この過程において、線状でない
汚れ等の孤立点（ノイズ）は点状に縮退化する。次はひ
び割れ部中心線を求めて細線化を行う。なお、このよう
な細線化処理は、既に種々の方式が知られているが、本
発明では、細線化処理の具体的な内容には限定されるも
のでなく、従来の方式を適宜選択適用してよいことは勿
論のことである。
保持しつつ除去可能点を識別し、最終点に８連結の連続
した点列に縮退させる。この過程において、線状でない
汚れ等の孤立点（ノイズ）は点状に縮退化する。次はひ
び割れ部中心線を求めて細線化を行う。なお、このよう
な細線化処理は、既に種々の方式が知られているが、本
発明では、細線化処理の具体的な内容には限定されるも
のでなく、従来の方式を適宜選択適用してよいことは勿
論のことである。
しかる後、ベクトル化処理部13では、細線化されたひび
割れの中心部をライントレース（線追跡）しながら分岐
部、端点を検知し、仮想ベクトルがトレースラインから
ｎピクセル以内に納まる仮想ベクトル終点を求めてゆ
き、これを繰り返すことによってひび割れの中心部を始
点の座標（X1,Y1）と終点の座標（X2,Y2）によるベクト
ル群（折線状）で表現する。このことによりパターンと
して方向情報のなかったひび割れ像に機械（コンピュー
タ）や人間に理解し得る方向情報を得ることができる。
なお、ここで連結点を持たないショートベクトルを除去
することにより、さらに針状ノイズを除去することもで
きる。
割れの中心部をライントレース（線追跡）しながら分岐
部、端点を検知し、仮想ベクトルがトレースラインから
ｎピクセル以内に納まる仮想ベクトル終点を求めてゆ
き、これを繰り返すことによってひび割れの中心部を始
点の座標（X1,Y1）と終点の座標（X2,Y2）によるベクト
ル群（折線状）で表現する。このことによりパターンと
して方向情報のなかったひび割れ像に機械（コンピュー
タ）や人間に理解し得る方向情報を得ることができる。
なお、ここで連結点を持たないショートベクトルを除去
することにより、さらに針状ノイズを除去することもで
きる。
ベクトルデータが得られると、ひび割れ幅検出部14では
ベクトルデータと第３図（ａ）に示す入力画像（生デー
タ）とを照合することによりひび割れ幅Ｗを求める。こ
のひび割れ幅は、各ベクトルに垂直な方向に対して入力
画像の微分をとり、その値を閾値と比較することにより
検出できる。
ベクトルデータと第３図（ａ）に示す入力画像（生デー
タ）とを照合することによりひび割れ幅Ｗを求める。こ
のひび割れ幅は、各ベクトルに垂直な方向に対して入力
画像の微分をとり、その値を閾値と比較することにより
検出できる。
ベクトル長・幅の補正部15ではベクトル間を比較し、生
データとの相関をとって２値化の段階で欠落した部分を
補正し、切れたベクトルを継ぎ合わす。例えば切れたベ
クトルの中間におけるベクトルの延長線上にある生デー
タの値を追跡して切れたベクトルの継ぎ合わせを行う。
データとの相関をとって２値化の段階で欠落した部分を
補正し、切れたベクトルを継ぎ合わす。例えば切れたベ
クトルの中間におけるベクトルの延長線上にある生デー
タの値を追跡して切れたベクトルの継ぎ合わせを行う。
ひび割れ画像データ出力部16は、ベクトルデータから線
を描画して第４図（ｂ）に示すようなひび割れの画像に
変換して出力するものである。
を描画して第４図（ｂ）に示すようなひび割れの画像に
変換して出力するものである。
第４図はひび割れ情報の解析データの出力例を示す図で
あり、第４図（ａ）はベクトルデータに基づくひび割れ
画像の出力例、第４図（ｂ）はひび割れ幅に対するひび
割れ長さを統計処理してグラフ化した表示例、第４図
（ｃ）は任意座標軸とひび割れのなす角に対するひび割
れ長さを統計処理してグラフ化した出力例、第４図
（ｄ）は縦断方向位置座標に対するひび割れ長さを統計
処理してグラフ化した出力例である。このような統計処
理及び表示は、調査対象構造物のデータの入力等が必要
なために大型電算機で行うのが妥当であるが、１画像ご
とに画像データ処理装置で表示することもできる。
あり、第４図（ａ）はベクトルデータに基づくひび割れ
画像の出力例、第４図（ｂ）はひび割れ幅に対するひび
割れ長さを統計処理してグラフ化した表示例、第４図
（ｃ）は任意座標軸とひび割れのなす角に対するひび割
れ長さを統計処理してグラフ化した出力例、第４図
（ｄ）は縦断方向位置座標に対するひび割れ長さを統計
処理してグラフ化した出力例である。このような統計処
理及び表示は、調査対象構造物のデータの入力等が必要
なために大型電算機で行うのが妥当であるが、１画像ご
とに画像データ処理装置で表示することもできる。
第５図は地中線におけるひび割れを測定する場合の本発
明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を示す
図、第６図は橋梁におけるひび割れを測定する場合の本
発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を示
す図である。図中、21は画像入力装置（撮像部）、22は
本体装置を示し、本体装置22は、第１図に入力画像制御
部やモニタ用のCRR3、データ処理装置（コンピュータ）
４、磁気テープ５やフロッピィディスク６、磁気ディス
ク８等の記憶装置、及びプリンタ７を組み込んだもので
あり、容易に移動できるように車輪がついた台車に載置
されている。画像入力装置22は、伸縮自在に本体装置21
と連結されて壁面等を撮像し、画像データを本体装置21
に送信する。従って、台車を移動させながら所望のコン
クリート構造物壁面を画像入力装置22により撮像でき、
その画像データが本体装置21に送られて上記の如き処理
がなされ、ひび割れ情報が抽出される。
明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を示す
図、第６図は橋梁におけるひび割れを測定する場合の本
発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を示
す図である。図中、21は画像入力装置（撮像部）、22は
本体装置を示し、本体装置22は、第１図に入力画像制御
部やモニタ用のCRR3、データ処理装置（コンピュータ）
４、磁気テープ５やフロッピィディスク６、磁気ディス
ク８等の記憶装置、及びプリンタ７を組み込んだもので
あり、容易に移動できるように車輪がついた台車に載置
されている。画像入力装置22は、伸縮自在に本体装置21
と連結されて壁面等を撮像し、画像データを本体装置21
に送信する。従って、台車を移動させながら所望のコン
クリート構造物壁面を画像入力装置22により撮像でき、
その画像データが本体装置21に送られて上記の如き処理
がなされ、ひび割れ情報が抽出される。
なお、本発明は、種々の変形が可能であり、上記実施例
に限定されるものではない。
に限定されるものではない。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、画像
入力装置を使って調査対象とする部分の画像を得て、こ
の画像から画像データ処理装置によって所定の処理を行
い必要なひび割れ情報を抽出するので、常に一定したひ
び割れ分布・幅の測定精度が確保でき、調査者による差
異がなくなる。しかも、オペレータ１名でよく、調査労
力の軽減、調査期間の短縮を図ることができる。また、
調査対象に応じた位置移動装置は必要になるが、足場等
の資材が不要になり、高所作業の危険性からも解放され
る。さらに、データ保存には、磁気テープ或いはレーザ
ーディスク等を利用することができ、統一された様式
で、記憶容量も必要なだけ確保できる。
入力装置を使って調査対象とする部分の画像を得て、こ
の画像から画像データ処理装置によって所定の処理を行
い必要なひび割れ情報を抽出するので、常に一定したひ
び割れ分布・幅の測定精度が確保でき、調査者による差
異がなくなる。しかも、オペレータ１名でよく、調査労
力の軽減、調査期間の短縮を図ることができる。また、
調査対象に応じた位置移動装置は必要になるが、足場等
の資材が不要になり、高所作業の危険性からも解放され
る。さらに、データ保存には、磁気テープ或いはレーザ
ーディスク等を利用することができ、統一された様式
で、記憶容量も必要なだけ確保できる。
第１図は本発明のひび割れ自動計測装置の１実施例構成
を示す図、第２図は画像データ処理装置の具体的な機能
構成例を示す図、第３図は画像データの例を示す図、第
４図は画像データ処理装置による解析データの例を示す
図、第５図は地中線におけるひび割れを測定する場合の
本発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を
示す図、第６図は橋梁におけるひび割れを測定する場合
の本発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子
を示す図である。 １…撮像部、２…入力画像制御部、３…CRT、４…デー
タ処理装置（コンピュータ）、５…磁気テープ、６…フ
ロッピィディスク、７…プリンタ、８…磁気ディスク、
11…２値化処理部、12…細線化処理部、13…ベクトル化
処理部、14…ひび割れ幅検出部、15…ベクトル長・幅の
補正部、16…ひび割れ画像データ出力部。
を示す図、第２図は画像データ処理装置の具体的な機能
構成例を示す図、第３図は画像データの例を示す図、第
４図は画像データ処理装置による解析データの例を示す
図、第５図は地中線におけるひび割れを測定する場合の
本発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子を
示す図、第６図は橋梁におけるひび割れを測定する場合
の本発明に係るひび割れ自動計測装置の使用状態の様子
を示す図である。 １…撮像部、２…入力画像制御部、３…CRT、４…デー
タ処理装置（コンピュータ）、５…磁気テープ、６…フ
ロッピィディスク、７…プリンタ、８…磁気ディスク、
11…２値化処理部、12…細線化処理部、13…ベクトル化
処理部、14…ひび割れ幅検出部、15…ベクトル長・幅の
補正部、16…ひび割れ画像データ出力部。
Claims (1)
- 【請求項１】構造物を撮影して得られる画像データを処
理することによってひび割れを計測するひび割れ自動計
測装置であって、閾値を設定して画像データを２値化す
る２値化手段、２値化されたデータの連結した画素群の
中心線を求める細線化処理手段、前記中心線をベクトル
化するベクトル化手段、及びベクトル化した中心線と垂
直な方向に対して画像データの微分をとり閾値との比較
により構造物のひび割れ情報を検出するひび割れ検出手
段を備えたことを特徴とするひび割れ自動計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146612A JPH0718696B2 (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | ひび割れ自動計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146612A JPH0718696B2 (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | ひび割れ自動計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS633210A JPS633210A (ja) | 1988-01-08 |
| JPH0718696B2 true JPH0718696B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=15411671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61146612A Expired - Lifetime JPH0718696B2 (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | ひび割れ自動計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0718696B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5863000B2 (ja) * | 2011-07-22 | 2016-02-16 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理装置、画像形成装置およびプログラム |
| JP5894012B2 (ja) * | 2012-05-30 | 2016-03-23 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | コンクリート表面の線状変状検出方法 |
| EP3396359B1 (en) * | 2015-12-25 | 2021-04-28 | FUJIFILM Corporation | Damage information processing device and damage information processing method |
| JP7822157B2 (ja) * | 2021-11-18 | 2026-03-02 | 株式会社インテック | ひび割れ検出方法、ひび割れ検出プログラム及びひび割れ検出システム |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS585887A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-13 | Nec Corp | パタ−ンの回転角検出装置 |
| JPS61126455A (ja) * | 1984-11-26 | 1986-06-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 画像処理方法 |
| JPS61131085A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-18 | Fujitsu Ltd | 線図形識別処理方式 |
-
1986
- 1986-06-23 JP JP61146612A patent/JPH0718696B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS633210A (ja) | 1988-01-08 |
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