JPH07193473A - 波形変化検出回路 - Google Patents
波形変化検出回路Info
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- JPH07193473A JPH07193473A JP33023993A JP33023993A JPH07193473A JP H07193473 A JPH07193473 A JP H07193473A JP 33023993 A JP33023993 A JP 33023993A JP 33023993 A JP33023993 A JP 33023993A JP H07193473 A JPH07193473 A JP H07193473A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、入力されてくる周期的なアナログ信
号の波形変化を検出する波形変化検出回路に関し、小さ
な回路規模で波形変化を検出できるようにすることを目
的とする。 【構成】クロックに同期して、アナログ信号そのものか
ら導出される閾値を用いてアナログ信号を2値化する2
値化手段11と、2値化手段11の出力値をアナログ信
号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジスタ手段
12と、シフトレジスタ手段12の出力値と入力値とを
比較することで、アナログ信号の波形変化発生を検出す
る比較手段13とを備えるように構成する。
号の波形変化を検出する波形変化検出回路に関し、小さ
な回路規模で波形変化を検出できるようにすることを目
的とする。 【構成】クロックに同期して、アナログ信号そのものか
ら導出される閾値を用いてアナログ信号を2値化する2
値化手段11と、2値化手段11の出力値をアナログ信
号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジスタ手段
12と、シフトレジスタ手段12の出力値と入力値とを
比較することで、アナログ信号の波形変化発生を検出す
る比較手段13とを備えるように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出する波形変化検出回路
に関し、特に、小さな回路規模で波形変化を検出できる
ようにする波形変化検出回路に関する。
なアナログ信号の波形変化を検出する波形変化検出回路
に関し、特に、小さな回路規模で波形変化を検出できる
ようにする波形変化検出回路に関する。
【0002】様々な監視システムにおいて、周期性を持
つアナログ信号の波形変化を検出する要求がある。この
ような要求を実現する波形変化検出回路は、システムの
実用性を高めるためにも、小さな回路規模で波形変化を
検出できるようにする必要がある。
つアナログ信号の波形変化を検出する要求がある。この
ような要求を実現する波形変化検出回路は、システムの
実用性を高めるためにも、小さな回路規模で波形変化を
検出できるようにする必要がある。
【0003】
【従来の技術】図11に、従来の波形変化検出回路の回
路構成を図示する。この図に示すように、従来の波形変
化検出回路では、入力されてくる周期的なアナログ信号
の波形変化を検出するために、入力されてくるアナログ
信号をサンプリングしてホールドするサンプリングホー
ルド回路1と、このサンプリングホールド回路1のホー
ルドするアナログ信号をディジタル信号に変換するA/
D変換器2と、このA/D変換器2の出力する1周期分
のディジタル信号を記憶する第1のメモリ3/第2のメ
モリ4と、この2つの第1のメモリ3/第2のメモリ4
の記憶するディジタル信号を比較する比較回路5とを備
える構成を採る。
路構成を図示する。この図に示すように、従来の波形変
化検出回路では、入力されてくる周期的なアナログ信号
の波形変化を検出するために、入力されてくるアナログ
信号をサンプリングしてホールドするサンプリングホー
ルド回路1と、このサンプリングホールド回路1のホー
ルドするアナログ信号をディジタル信号に変換するA/
D変換器2と、このA/D変換器2の出力する1周期分
のディジタル信号を記憶する第1のメモリ3/第2のメ
モリ4と、この2つの第1のメモリ3/第2のメモリ4
の記憶するディジタル信号を比較する比較回路5とを備
える構成を採る。
【0004】このような構成を採る従来の波形変換検出
回路では、処理対象となるアナログ信号が入力されてく
ると、サンプリングホールド回路1は、このアナログ信
号をサンプリングしてホールドし、A/D変換器2は、
このサンプリングホールド回路1のホールドするアナロ
グ信号をディジタル信号に変換して、1周期分を単位に
して交互に第1のメモリ3/第2のメモリ4に格納して
いく。
回路では、処理対象となるアナログ信号が入力されてく
ると、サンプリングホールド回路1は、このアナログ信
号をサンプリングしてホールドし、A/D変換器2は、
このサンプリングホールド回路1のホールドするアナロ
グ信号をディジタル信号に変換して、1周期分を単位に
して交互に第1のメモリ3/第2のメモリ4に格納して
いく。
【0005】そして、この格納処理を受けて、比較回路
5は、第1のメモリ3の格納する1周期分のディジタル
信号と、第2のメモリ4の格納する1周期分のディジタ
ル信号とを比較することで、入力されてくるアナログ信
号の波形に変化が発生したのか否かを検出して出力す
る。
5は、第1のメモリ3の格納する1周期分のディジタル
信号と、第2のメモリ4の格納する1周期分のディジタ
ル信号とを比較することで、入力されてくるアナログ信
号の波形に変化が発生したのか否かを検出して出力す
る。
【0006】このようにして、従来の波形変化検出回路
では、処理対象となるアナログ信号の波形データを順次
検出する構成を採って、この検出した現周期の波形デー
タと1周期前の波形データとを比較することで、そのア
ナログ信号に波形変化が発生したのか否かを検出すると
いう構成を採っているのである。
では、処理対象となるアナログ信号の波形データを順次
検出する構成を採って、この検出した現周期の波形デー
タと1周期前の波形データとを比較することで、そのア
ナログ信号に波形変化が発生したのか否かを検出すると
いう構成を採っているのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来技術に従っていると、大きな回路規模のA/D
変換器2が必要となるとともに、このA/D変換器2の
サンプリング数と出力ビット数とから規定される大きな
メモリ容量の第1のメモリ3/第2のメモリ4が必要と
なるという問題点があった。
うな従来技術に従っていると、大きな回路規模のA/D
変換器2が必要となるとともに、このA/D変換器2の
サンプリング数と出力ビット数とから規定される大きな
メモリ容量の第1のメモリ3/第2のメモリ4が必要と
なるという問題点があった。
【0008】すなわち、従来の波形変化検出回路に従っ
ていると、回路規模が大きくなってしまうという問題点
があったのである。本発明はかかる事情に鑑みてなされ
たものであって、小さな回路規模で、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出する新たな波形変
化検出回路の提供を目的とする。
ていると、回路規模が大きくなってしまうという問題点
があったのである。本発明はかかる事情に鑑みてなされ
たものであって、小さな回路規模で、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出する新たな波形変
化検出回路の提供を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】図1(a)(b)(c)に、
入力されてくる周期的なアナログ信号の波形変化の検出
処理を実行する本発明の波形変化検出回路10の原理構
成を図示する。
入力されてくる周期的なアナログ信号の波形変化の検出
処理を実行する本発明の波形変化検出回路10の原理構
成を図示する。
【0010】図1(a)に原理構成を図示する波形変化
検出回路10は、入力されてくるアナログ信号をアナロ
グ信号そのものから導出される閾値を用いて2値化する
2値化手段11と、2値化手段11の出力値をアナログ
信号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジスタ手
段12と、シフトレジスタ手段12の出力値と入力値と
を比較することで、アナログ信号の波形変化発生を検出
する比較手段13と、比較手段13の検出する波形変化
の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信号の波形変
化発生を外部に出力する出力手段14とを備える。
検出回路10は、入力されてくるアナログ信号をアナロ
グ信号そのものから導出される閾値を用いて2値化する
2値化手段11と、2値化手段11の出力値をアナログ
信号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジスタ手
段12と、シフトレジスタ手段12の出力値と入力値と
を比較することで、アナログ信号の波形変化発生を検出
する比較手段13と、比較手段13の検出する波形変化
の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信号の波形変
化発生を外部に出力する出力手段14とを備える。
【0011】一方、図1(b)に原理構成を図示する波
形変化検出回路10は、入力されてくるアナログ信号を
アナログ信号そのものから導出される閾値を用いて2値
化する2値化手段11と、2値化手段11の出力値をア
ナログ信号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジ
スタ手段12と、規定の計数周期に従って、シフトレジ
スタ手段12の出力値を計数する第1のカウンタ手段1
5と、この計数周期に従って、シフトレジスタ手段12
の入力値を計数する第2のカウンタ手段16と、第1の
カウンタ手段15の計数値と、第2のカウンタ手段16
の計数値とを比較することで、アナログ信号の波形変化
発生を検出する比較手段17と、比較手段17の検出す
る波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信
号の波形変化発生を外部に出力する出力手段18とを備
える。
形変化検出回路10は、入力されてくるアナログ信号を
アナログ信号そのものから導出される閾値を用いて2値
化する2値化手段11と、2値化手段11の出力値をア
ナログ信号の周期分シフトしつつラッチするシフトレジ
スタ手段12と、規定の計数周期に従って、シフトレジ
スタ手段12の出力値を計数する第1のカウンタ手段1
5と、この計数周期に従って、シフトレジスタ手段12
の入力値を計数する第2のカウンタ手段16と、第1の
カウンタ手段15の計数値と、第2のカウンタ手段16
の計数値とを比較することで、アナログ信号の波形変化
発生を検出する比較手段17と、比較手段17の検出す
る波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信
号の波形変化発生を外部に出力する出力手段18とを備
える。
【0012】一方、図1(c)に原理構成を図示する波
形変化検出回路10は、入力されてくるアナログ信号を
アナログ信号そのものから導出される閾値を用いて2値
化する2値化手段11と、規定の計数周期に従って、2
値化手段11の出力値を計数するカウンタ手段19と、
カウンタ手段19のバイナリ出力対応に備えられて、こ
の計数周期に従って、対応するバイナリ出力値をアナロ
グ信号の周期分シフトしつつラッチする複数のシフトレ
ジスタ手段20と、シフトレジスタ手段20の出力値と
入力値とを比較することで、アナログ信号の波形変化発
生を検出する比較手段21と、比較手段21の検出する
波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信号
の波形変化発生を外部に出力する出力手段22とを備え
る。
形変化検出回路10は、入力されてくるアナログ信号を
アナログ信号そのものから導出される閾値を用いて2値
化する2値化手段11と、規定の計数周期に従って、2
値化手段11の出力値を計数するカウンタ手段19と、
カウンタ手段19のバイナリ出力対応に備えられて、こ
の計数周期に従って、対応するバイナリ出力値をアナロ
グ信号の周期分シフトしつつラッチする複数のシフトレ
ジスタ手段20と、シフトレジスタ手段20の出力値と
入力値とを比較することで、アナログ信号の波形変化発
生を検出する比較手段21と、比較手段21の検出する
波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ信号
の波形変化発生を外部に出力する出力手段22とを備え
る。
【0013】これらの原理構成図に図示する2値化手段
11は、例えば図2に示すように、入力されてくるアナ
ログ信号を閾値と比較することで2値化するコンパレー
タ手段23と、コンパレータ手段23の出力値をクロッ
クに同期してラッチするラッチ手段24と、ラッチ手段
24の出力値に応じて充放電を実行することで閾値を生
成する充放電手段25と、アナログ信号の1周期毎に充
放電手段25の充放電電圧をリセットするリセット手段
26とから構成されることがある。
11は、例えば図2に示すように、入力されてくるアナ
ログ信号を閾値と比較することで2値化するコンパレー
タ手段23と、コンパレータ手段23の出力値をクロッ
クに同期してラッチするラッチ手段24と、ラッチ手段
24の出力値に応じて充放電を実行することで閾値を生
成する充放電手段25と、アナログ信号の1周期毎に充
放電手段25の充放電電圧をリセットするリセット手段
26とから構成されることがある。
【0014】
【作用】図1(a)に原理構成を図示する波形変化検出
回路10では、2値化手段11は、例えば図2に示す構
成を採ることで、入力されてくるアナログ信号そのもの
から導出される閾値を用いて、入力されてくるアナログ
信号をクロックに同期して2値化していく。
回路10では、2値化手段11は、例えば図2に示す構
成を採ることで、入力されてくるアナログ信号そのもの
から導出される閾値を用いて、入力されてくるアナログ
信号をクロックに同期して2値化していく。
【0015】この2値化処理を受けて、シフトレジスタ
手段12は、2値化手段11の出力値をアナログ信号の
周期分シフトしつつラッチする。このラッチ処理に従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、図3に示すように、シフトレジスタ手段12
の出力する出力値は、シフトレジスタ手段12に入力さ
れてくる入力値と同一の2値化値を示すことになる。
手段12は、2値化手段11の出力値をアナログ信号の
周期分シフトしつつラッチする。このラッチ処理に従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、図3に示すように、シフトレジスタ手段12
の出力する出力値は、シフトレジスタ手段12に入力さ
れてくる入力値と同一の2値化値を示すことになる。
【0016】これから、比較手段13は、シフトレジス
タ手段12の出力値と入力値とを比較することで、入力
されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生した
のか否かを検出し、この検出結果を受けて、出力手段1
4は、比較手段13の検出する波形変化の発生頻度が規
定以上のときに、アナログ信号の波形変化発生を外部に
出力する。
タ手段12の出力値と入力値とを比較することで、入力
されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生した
のか否かを検出し、この検出結果を受けて、出力手段1
4は、比較手段13の検出する波形変化の発生頻度が規
定以上のときに、アナログ信号の波形変化発生を外部に
出力する。
【0017】このようにして、図1(a)に原理構成を
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
【0018】一方、図1(b)に原理構成を図示する波
形変化検出回路10では、2値化手段11は、例えば図
2に示す構成を採ることで、入力されてくるアナログ信
号そのものから導出される閾値を用いて、入力されてく
るアナログ信号をクロックに同期して2値化していく。
形変化検出回路10では、2値化手段11は、例えば図
2に示す構成を採ることで、入力されてくるアナログ信
号そのものから導出される閾値を用いて、入力されてく
るアナログ信号をクロックに同期して2値化していく。
【0019】この2値化処理を受けて、シフトレジスタ
手段12は、2値化手段11の出力値をアナログ信号の
周期分シフトしつつラッチし、このラッチ処理を受け
て、第1のカウンタ手段15は、規定の計数周期に従っ
て、シフトレジスタ手段12の出力値を計数し、一方、
第2のカウンタ手段16は、この計数周期に従って、シ
フトレジスタ手段12の入力値を計数する。
手段12は、2値化手段11の出力値をアナログ信号の
周期分シフトしつつラッチし、このラッチ処理を受け
て、第1のカウンタ手段15は、規定の計数周期に従っ
て、シフトレジスタ手段12の出力値を計数し、一方、
第2のカウンタ手段16は、この計数周期に従って、シ
フトレジスタ手段12の入力値を計数する。
【0020】上述したように、入力されてくるアナログ
信号の周期性に変化がない場合には、シフトレジスタ手
段12の出力する出力値は、シフトレジスタ手段12に
入力されてくる入力値と同一の2値化値を示す。従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、第1のカウンタ手段15の計数値と、第2の
カウンタ手段16の計数値とは同一値を示すことにな
る。
信号の周期性に変化がない場合には、シフトレジスタ手
段12の出力する出力値は、シフトレジスタ手段12に
入力されてくる入力値と同一の2値化値を示す。従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、第1のカウンタ手段15の計数値と、第2の
カウンタ手段16の計数値とは同一値を示すことにな
る。
【0021】これから、比較手段17は、第1のカウン
タ手段15の計数値と、第2のカウンタ手段16の計数
値とを比較することで、入力されてくるアナログ信号の
波形データに変化が発生したのか否かを検出し、この検
出結果を受けて、出力手段18は、比較手段17の検出
する波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ
信号の波形変化発生を外部に出力する。
タ手段15の計数値と、第2のカウンタ手段16の計数
値とを比較することで、入力されてくるアナログ信号の
波形データに変化が発生したのか否かを検出し、この検
出結果を受けて、出力手段18は、比較手段17の検出
する波形変化の発生頻度が規定以上のときに、アナログ
信号の波形変化発生を外部に出力する。
【0022】このようにして、図1(b)に原理構成を
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
【0023】一方、図1(c)に原理構成を図示する波
形変化検出回路10では、2値化手段11は、例えば図
2に示す構成を採ることで、入力されてくるアナログ信
号そのものから導出される閾値を用いて、入力されてく
るアナログ信号をクロックに同期して2値化していく。
形変化検出回路10では、2値化手段11は、例えば図
2に示す構成を採ることで、入力されてくるアナログ信
号そのものから導出される閾値を用いて、入力されてく
るアナログ信号をクロックに同期して2値化していく。
【0024】この2値化処理を受けて、カウンタ手段1
9は、規定の計数周期に従って、2値化手段11の出力
値を計数し、この計数処理を受けて、各シフトレジスタ
手段20は、カウンタ手段19の対応するバイナリ出力
値をアナログ信号の周期分シフトしつつラッチする。こ
のラッチ処理に従って、入力されてくるアナログ信号の
周期性に変化がない場合には、各シフトレジスタ手段2
0の出力する出力値は、各シフトレジスタ手段20に入
力されてくる入力値と同一の2値化値を示すことにな
る。
9は、規定の計数周期に従って、2値化手段11の出力
値を計数し、この計数処理を受けて、各シフトレジスタ
手段20は、カウンタ手段19の対応するバイナリ出力
値をアナログ信号の周期分シフトしつつラッチする。こ
のラッチ処理に従って、入力されてくるアナログ信号の
周期性に変化がない場合には、各シフトレジスタ手段2
0の出力する出力値は、各シフトレジスタ手段20に入
力されてくる入力値と同一の2値化値を示すことにな
る。
【0025】これから、比較手段21は、各シフトレジ
スタ手段20の出力値と入力値とを比較することで、入
力されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生し
たのか否かを検出し、この検出結果を受けて、出力手段
22は、比較手段21の検出する波形変化の発生頻度が
規定以上のときに、アナログ信号の波形変化発生を外部
に出力する。
スタ手段20の出力値と入力値とを比較することで、入
力されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生し
たのか否かを検出し、この検出結果を受けて、出力手段
22は、比較手段21の検出する波形変化の発生頻度が
規定以上のときに、アナログ信号の波形変化発生を外部
に出力する。
【0026】このようにして、図1(c)に原理構成を
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
図示する波形変化検出回路10を用いることで、回路規
模の小さな簡単な回路構成に従って、入力されてくる周
期的なアナログ信号の波形変化を検出できるようにな
る。
【0027】
【実施例】以下、実施例に従って本発明を詳細に説明す
る。図4に、図1(a)に原理構成を図示した本発明の
波形変化検出回路10の一実施例を図示する。ここで、
この波形変化検出回路10には、周期Tを持つアナログ
信号が入力されてくることを想定している。
る。図4に、図1(a)に原理構成を図示した本発明の
波形変化検出回路10の一実施例を図示する。ここで、
この波形変化検出回路10には、周期Tを持つアナログ
信号が入力されてくることを想定している。
【0028】図中、30はクロック源であって、周期T
c を持つクロックを発生するもの、31はN分周器であ
って、クロック源30の発生するクロックを分周するこ
とで、入力されてくるアナログ信号の周期Tと同一周期
を持つクロックを発生するもの、32は2値化回路であ
って、入力されてくるアナログ信号を2値化するもの、
33はNビットで構成されるシフトレジスタであって、
クロック源30の発生するクロックに同期して、2値化
回路32の出力する2値化値をアナログ信号の周期分シ
フトしつつラッチするもの、34はEOR回路であっ
て、シフトレジスタ33の出力する出力値と、シフトレ
ジスタ33に入力される入力値との排他的論理和値を算
出して出力するものである。
c を持つクロックを発生するもの、31はN分周器であ
って、クロック源30の発生するクロックを分周するこ
とで、入力されてくるアナログ信号の周期Tと同一周期
を持つクロックを発生するもの、32は2値化回路であ
って、入力されてくるアナログ信号を2値化するもの、
33はNビットで構成されるシフトレジスタであって、
クロック源30の発生するクロックに同期して、2値化
回路32の出力する2値化値をアナログ信号の周期分シ
フトしつつラッチするもの、34はEOR回路であっ
て、シフトレジスタ33の出力する出力値と、シフトレ
ジスタ33に入力される入力値との排他的論理和値を算
出して出力するものである。
【0029】ここで、シフトレジスタ33は、2値化回
路32の出力する2値化値をアナログ信号の周期分シフ
トしつつラッチするものであることから、シフトレジス
タ33のNビット構成と、クロック源30の発生するク
ロックの周期Tc と、入力されてくるアナログ信号の周
期Tとの間には、「T=Tc ×N」という関係式が成立
することになる。
路32の出力する2値化値をアナログ信号の周期分シフ
トしつつラッチするものであることから、シフトレジス
タ33のNビット構成と、クロック源30の発生するク
ロックの周期Tc と、入力されてくるアナログ信号の周
期Tとの間には、「T=Tc ×N」という関係式が成立
することになる。
【0030】そして、この2値化回路32は、抵抗R2
とコンデンサC2 とから構成されて、入力されてくるア
ナログ信号の直流成分を除去するハイパスフィルタ35
と、ハイパスフィルタ35の出力電圧値Va と、アナロ
グ信号の波形特性から導出される比較電圧値Vb との大
小を比較してハイレベル値/ローレベル値を出力するコ
ンパレータ36と、クロック源30の発生するクロック
に同期して、コンパレータ36の出力をラッチしてシフ
トレジスタ33/EOR回路34に出力するD型フリッ
プフロップ37と、D型フリップフロップ37のラッチ
値に応じて、+Vc /−Vc の電圧値を発生して出力す
るバッファ38と、反転増幅器と抵抗R 1 とコンデンサ
C1 とから構成されて、バッファ38の出力電圧値に従
ってコンパレータ36の用いる比較電圧値Vb を生成す
る積分回路39と、N分周器31の出力するクロックを
制御信号にしてON/OFFすることで、積分回路39
の充電する電圧を放電するスイッチ40とから構成され
る。
とコンデンサC2 とから構成されて、入力されてくるア
ナログ信号の直流成分を除去するハイパスフィルタ35
と、ハイパスフィルタ35の出力電圧値Va と、アナロ
グ信号の波形特性から導出される比較電圧値Vb との大
小を比較してハイレベル値/ローレベル値を出力するコ
ンパレータ36と、クロック源30の発生するクロック
に同期して、コンパレータ36の出力をラッチしてシフ
トレジスタ33/EOR回路34に出力するD型フリッ
プフロップ37と、D型フリップフロップ37のラッチ
値に応じて、+Vc /−Vc の電圧値を発生して出力す
るバッファ38と、反転増幅器と抵抗R 1 とコンデンサ
C1 とから構成されて、バッファ38の出力電圧値に従
ってコンパレータ36の用いる比較電圧値Vb を生成す
る積分回路39と、N分周器31の出力するクロックを
制御信号にしてON/OFFすることで、積分回路39
の充電する電圧を放電するスイッチ40とから構成され
る。
【0031】次に、このように構成される図4の実施例
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
周期Tを持つアナログ信号が入力されてくると、コンパ
レータ36は、ハイパスフィルタ35の出力する出力電
圧値Va と、積分回路39の生成する比較電圧値Vb と
の大小を比較して、「Va ≧Vb 」を検出するときには
ローレベル値を出力し、「Va <Vb 」を検出するとき
にはハイレベル値を出力していく。
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
周期Tを持つアナログ信号が入力されてくると、コンパ
レータ36は、ハイパスフィルタ35の出力する出力電
圧値Va と、積分回路39の生成する比較電圧値Vb と
の大小を比較して、「Va ≧Vb 」を検出するときには
ローレベル値を出力し、「Va <Vb 」を検出するとき
にはハイレベル値を出力していく。
【0032】このコンパレータ36の出力処理を受け
て、D型フリップフロップ37は、クロック源30の発
生するクロックに同期して、コンパレータ36の出力を
ラッチしてバッファ38に出力し、このD型フリップフ
ロップ37の出力処理を受けて、バッファ38は、D型
フリップフロップ37がローレベル値をラッチするとき
には“−Vc ”の電圧値を出力し、ハイレベル値をラッ
チするときには“+Vc”の電圧値を出力していく。
て、D型フリップフロップ37は、クロック源30の発
生するクロックに同期して、コンパレータ36の出力を
ラッチしてバッファ38に出力し、このD型フリップフ
ロップ37の出力処理を受けて、バッファ38は、D型
フリップフロップ37がローレベル値をラッチするとき
には“−Vc ”の電圧値を出力し、ハイレベル値をラッ
チするときには“+Vc”の電圧値を出力していく。
【0033】このようにして、積分回路39には、クロ
ック源30の発生するクロックの周期Tc を単位にし
て、“−Vc ”か“+Vc ”の電圧が順次入力されてい
くことになる。
ック源30の発生するクロックの周期Tc を単位にし
て、“−Vc ”か“+Vc ”の電圧が順次入力されてい
くことになる。
【0034】積分回路39は、この入力を受けて、
【0035】
【数1】
【0036】という積分式に従って、コンパレータ36
の用いる比較電圧値Vb を生成する。従って、積分回路
39は、バッファ38が“−Vc ”の電圧値を出力する
ときには、前回出力した比較電圧値Vb を、
の用いる比較電圧値Vb を生成する。従って、積分回路
39は、バッファ38が“−Vc ”の電圧値を出力する
ときには、前回出力した比較電圧値Vb を、
【0037】
【数2】
【0038】に従って更新し、一方、バッファ38が
“+Vc ”の電圧値を出力するときには、前回出力した
比較電圧値Vb を、
“+Vc ”の電圧値を出力するときには、前回出力した
比較電圧値Vb を、
【0039】
【数3】
【0040】に従って更新していくよう処理するのであ
る。すなわち、積分回路39は、N分周器31に従って
スイッチ40がONすることで比較電圧値Vb が“0”
にリセットされると、その後、コンパレータ36が「V
a ≧Vb 」を検出するときには、〔数2〕式に従って比
較電圧値Vb を増加させていくとともに、「Va <
Vb 」を検出するときには、〔数3〕式に従って比較電
圧値Vb を減少させていく。
る。すなわち、積分回路39は、N分周器31に従って
スイッチ40がONすることで比較電圧値Vb が“0”
にリセットされると、その後、コンパレータ36が「V
a ≧Vb 」を検出するときには、〔数2〕式に従って比
較電圧値Vb を増加させていくとともに、「Va <
Vb 」を検出するときには、〔数3〕式に従って比較電
圧値Vb を減少させていく。
【0041】このようにして、2値化回路32は、図5
に示すように、入力されてくるアナログ信号から比較電
圧値Vb を生成して、その生成した比較電圧値Vb を用
いて、入力されてくるアナログ信号を2値化してシフト
レジスタ33/EOR回路34に出力していくよう処理
するのである。
に示すように、入力されてくるアナログ信号から比較電
圧値Vb を生成して、その生成した比較電圧値Vb を用
いて、入力されてくるアナログ信号を2値化してシフト
レジスタ33/EOR回路34に出力していくよう処理
するのである。
【0042】そして、シフトレジスタ33は、この2値
化回路32の出力処理を受けて、出力されるアナログ信
号の2値化値をアナログ信号の周期分シフトしつつラッ
チする。このラッチ処理に従って、入力されてくるアナ
ログ信号の周期性に変化がない場合には、シフトレジス
タ33の出力する2値化値は、シフトレジスタ33に入
力されてくる2値化値と同一の値を示すことになる。
化回路32の出力処理を受けて、出力されるアナログ信
号の2値化値をアナログ信号の周期分シフトしつつラッ
チする。このラッチ処理に従って、入力されてくるアナ
ログ信号の周期性に変化がない場合には、シフトレジス
タ33の出力する2値化値は、シフトレジスタ33に入
力されてくる2値化値と同一の値を示すことになる。
【0043】これから、このシフトレジスタ33の出力
する2値化値と、シフトレジスタ33に入力されてくる
2値化値とを受けて、EOR回路34は、両者の2値化
値が一致するときには、入力されてくるアナログ信号の
波形データに変化が発生しないことを表示すべくローレ
ベル値を出力し、両者の2値化値がしないときには、入
力されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生し
たことを表示すべくハイレベル値を出力する。
する2値化値と、シフトレジスタ33に入力されてくる
2値化値とを受けて、EOR回路34は、両者の2値化
値が一致するときには、入力されてくるアナログ信号の
波形データに変化が発生しないことを表示すべくローレ
ベル値を出力し、両者の2値化値がしないときには、入
力されてくるアナログ信号の波形データに変化が発生し
たことを表示すべくハイレベル値を出力する。
【0044】このようにして、図4に示す波形変化検出
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
【0045】この図4に示す実施例では、積分回路39
として反転増幅器を用いるものを開示したが、図6
(a)に示すような抵抗R1 とコンデンサC1 とからな
る積分構成を用いることも可能である。この構成を採る
ときには、「Va ≧Vb 」のときに、バッファ38が
“+Vc ”の電圧値を出力することで比較電圧値Vb を
増加させていくようにするために、D型フリップフロッ
プ37の反転Q端子の出力値がバッファ38に入力され
る構成が採られることになる。また、積分回路39とし
て、図6(b)に示すように、コンデンサC1 と、2つ
の電流源と、D型フリップフロップ37の出力値に応じ
ていずれかの電流源を選択するスイッチとからなる積分
構成を用いることも可能である。
として反転増幅器を用いるものを開示したが、図6
(a)に示すような抵抗R1 とコンデンサC1 とからな
る積分構成を用いることも可能である。この構成を採る
ときには、「Va ≧Vb 」のときに、バッファ38が
“+Vc ”の電圧値を出力することで比較電圧値Vb を
増加させていくようにするために、D型フリップフロッ
プ37の反転Q端子の出力値がバッファ38に入力され
る構成が採られることになる。また、積分回路39とし
て、図6(b)に示すように、コンデンサC1 と、2つ
の電流源と、D型フリップフロップ37の出力値に応じ
ていずれかの電流源を選択するスイッチとからなる積分
構成を用いることも可能である。
【0046】次に、図1(b)に原理構成を図示した波
形変化検出回路10の実施例について説明する。図7
に、図1(b)に原理構成を図示した波形変化検出回路
10の一実施例を図示する。ここで、この波形変化検出
回路10には、周期Tを持つアナログ信号が入力されて
くることを想定しており、図4に図示したものと同じも
のについては同一の記号で示してある。
形変化検出回路10の実施例について説明する。図7
に、図1(b)に原理構成を図示した波形変化検出回路
10の一実施例を図示する。ここで、この波形変化検出
回路10には、周期Tを持つアナログ信号が入力されて
くることを想定しており、図4に図示したものと同じも
のについては同一の記号で示してある。
【0047】図中、41は分周器であって、クロック源
30の発生するクロックを分周することで、周期Tx を
持つクロックを発生するもの、42はAND回路であっ
て、シフトレジスタ33の出力する2値化値と、クロッ
ク源30の発生するクロックとの論理積値を算出して出
力するもの、43はAND回路であって、シフトレジス
タ33に入力される2値化値と、クロック源30の発生
するクロックとの論理積値を算出して出力するもの、4
4はカウンタであって、AND回路42の出力するハイ
レベル値を計数するとともに、分周器41の発生するク
ロックに従ってその計数値をリセットするもの、45は
カウンタであって、AND回路43の出力するハイレベ
ル値を計数するとともに、分周器41の発生するクロッ
クに従ってその計数値をリセットするもの、46は比較
回路であって、分周器41がクロックを発生するとき
に、2つのカウンタ44,45の計数値が一致するか否
かを検出するものである。
30の発生するクロックを分周することで、周期Tx を
持つクロックを発生するもの、42はAND回路であっ
て、シフトレジスタ33の出力する2値化値と、クロッ
ク源30の発生するクロックとの論理積値を算出して出
力するもの、43はAND回路であって、シフトレジス
タ33に入力される2値化値と、クロック源30の発生
するクロックとの論理積値を算出して出力するもの、4
4はカウンタであって、AND回路42の出力するハイ
レベル値を計数するとともに、分周器41の発生するク
ロックに従ってその計数値をリセットするもの、45は
カウンタであって、AND回路43の出力するハイレベ
ル値を計数するとともに、分周器41の発生するクロッ
クに従ってその計数値をリセットするもの、46は比較
回路であって、分周器41がクロックを発生するとき
に、2つのカウンタ44,45の計数値が一致するか否
かを検出するものである。
【0048】この比較回路46は、この検出処理を実行
するために、カウンタ44/カウンタ45のバイナリ出
力対応に備えられて、カウンタ44のバイナリ出力値
と、カウンタ45のバイナリ出力値との排他的論理和値
を算出して出力する複数のEOR回路47と、これらの
EOR回路47の出力値の論理和値を算出して出力する
OR回路48と、このOR回路48の出力値と分周器4
1の発生するクロックとの論理積値を算出して出力する
AND回路49とを備える。
するために、カウンタ44/カウンタ45のバイナリ出
力対応に備えられて、カウンタ44のバイナリ出力値
と、カウンタ45のバイナリ出力値との排他的論理和値
を算出して出力する複数のEOR回路47と、これらの
EOR回路47の出力値の論理和値を算出して出力する
OR回路48と、このOR回路48の出力値と分周器4
1の発生するクロックとの論理積値を算出して出力する
AND回路49とを備える。
【0049】次に、このように構成される図7の実施例
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
図4の実施例で説明した動作に従って、2値化回路32
は、入力されてくるアナログ信号から比較電圧値Vb を
生成して、その比較電圧値Vb を用いて、入力されてく
るアナログ信号を2値化してシフトレジスタ33に出力
していく。
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
図4の実施例で説明した動作に従って、2値化回路32
は、入力されてくるアナログ信号から比較電圧値Vb を
生成して、その比較電圧値Vb を用いて、入力されてく
るアナログ信号を2値化してシフトレジスタ33に出力
していく。
【0050】この出力処理を受けて、AND回路42
は、シフトレジスタ33の出力するハイレベル値を通過
させ、カウンタ44は、分周器41の発生するクロック
に従って計数値をリセットしてから、次のクロックが発
生するまでの間、そのハイレベル値を計数していく。一
方、AND回路43は、シフトレジスタ33に入力され
るハイレベル値を通過させ、カウンタ45は、分周器4
1の発生するクロックに従って計数値をリセットしてか
ら、次のクロックが発生するまでの間、そのハイレベル
値を計数していく。
は、シフトレジスタ33の出力するハイレベル値を通過
させ、カウンタ44は、分周器41の発生するクロック
に従って計数値をリセットしてから、次のクロックが発
生するまでの間、そのハイレベル値を計数していく。一
方、AND回路43は、シフトレジスタ33に入力され
るハイレベル値を通過させ、カウンタ45は、分周器4
1の発生するクロックに従って計数値をリセットしてか
ら、次のクロックが発生するまでの間、そのハイレベル
値を計数していく。
【0051】上述したように、シフトレジスタ33は、
2値化回路32の出力するアナログ信号の2値化値をア
ナログ信号の周期分シフトしつつラッチするので、入力
されてくるアナログ信号の周期性に変化がない場合に
は、カウンタ44の計数する計数値と、カウンタ45の
計数する計数値とは同一の値を示すことになる。
2値化回路32の出力するアナログ信号の2値化値をア
ナログ信号の周期分シフトしつつラッチするので、入力
されてくるアナログ信号の周期性に変化がない場合に
は、カウンタ44の計数する計数値と、カウンタ45の
計数する計数値とは同一の値を示すことになる。
【0052】これから、カウンタ44の出力する計数値
と、カウンタ45の出力する計数値とを受けて、比較回
路46は、分周器41がクロックを発生するときにあっ
て、両者の計数値が一致するときには、入力されてくる
アナログ信号の波形データに変化が発生しないことを表
示すべくローレベル値を出力し、両者の計数値が一致し
ないときには、入力されてくるアナログ信号の波形デー
タに変化が発生したことを表示すべくハイレベル値を出
力する。
と、カウンタ45の出力する計数値とを受けて、比較回
路46は、分周器41がクロックを発生するときにあっ
て、両者の計数値が一致するときには、入力されてくる
アナログ信号の波形データに変化が発生しないことを表
示すべくローレベル値を出力し、両者の計数値が一致し
ないときには、入力されてくるアナログ信号の波形デー
タに変化が発生したことを表示すべくハイレベル値を出
力する。
【0053】このようにして、図7に示す波形変化検出
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
【0054】図8に、この図7の実施例のタイムチャー
トを図示する。このタイムチャートにも図示してあるよ
うに、この図7の実施例に従うと、入力されてくるアナ
ログ信号の波形データに揺らぎが生ずることで、2値化
回路32の出力値に変動が生じたり、あるいは、入力さ
れてくるアナログ信号の波形データが急激な変化を示す
ことで、2値化回路32の出力する2値化値が正確な反
復性を示さないようなことが起きても、周期Tx の間で
のカウンタ44の計数値とカウンタ45の計数値とが一
致すれば、入力されてくるアナログ信号の波形データに
変化が発生しない旨を出力することから、図4の実施例
に比べてノイズに強いという特徴を持つことになる。
トを図示する。このタイムチャートにも図示してあるよ
うに、この図7の実施例に従うと、入力されてくるアナ
ログ信号の波形データに揺らぎが生ずることで、2値化
回路32の出力値に変動が生じたり、あるいは、入力さ
れてくるアナログ信号の波形データが急激な変化を示す
ことで、2値化回路32の出力する2値化値が正確な反
復性を示さないようなことが起きても、周期Tx の間で
のカウンタ44の計数値とカウンタ45の計数値とが一
致すれば、入力されてくるアナログ信号の波形データに
変化が発生しない旨を出力することから、図4の実施例
に比べてノイズに強いという特徴を持つことになる。
【0055】次に、図1(c)に原理構成を図示した波
形変化検出回路10の実施例について説明する。図9
に、図1(c)に原理構成を図示した波形変化検出回路
10の一実施例を図示する。ここで、この波形変化検出
回路10には、周期Tを持つアナログ信号が入力されて
くることを想定しており、図4/図7に図示したものと
同じものについては同一の記号で示してある。
形変化検出回路10の実施例について説明する。図9
に、図1(c)に原理構成を図示した波形変化検出回路
10の一実施例を図示する。ここで、この波形変化検出
回路10には、周期Tを持つアナログ信号が入力されて
くることを想定しており、図4/図7に図示したものと
同じものについては同一の記号で示してある。
【0056】図中、50はAND回路であって、2値化
回路32の出力する2値化値と、クロック源30の発生
するクロックとの論理積値を算出して出力するもの、5
1はカウンタであって、AND回路50の出力するハイ
レベル値を計数するとともに、分周器41の発生するク
ロックに従ってその計数値をリセットするもの、52は
カウンタ51のバイナリ出力対応に備えられる複数のシ
フトレジスタであって、分周器41の発生するクロック
に同期して、カウンタ51の出力する出力値をアナログ
信号の周期分シフトしつつラッチするもの、53は比較
回路であって、分周器41がクロックを発生するとき
に、シフトレジスタ52の出力する出力値と、シフトレ
ジスタ52に入力される入力値とが一致するか否かを検
出するものである。
回路32の出力する2値化値と、クロック源30の発生
するクロックとの論理積値を算出して出力するもの、5
1はカウンタであって、AND回路50の出力するハイ
レベル値を計数するとともに、分周器41の発生するク
ロックに従ってその計数値をリセットするもの、52は
カウンタ51のバイナリ出力対応に備えられる複数のシ
フトレジスタであって、分周器41の発生するクロック
に同期して、カウンタ51の出力する出力値をアナログ
信号の周期分シフトしつつラッチするもの、53は比較
回路であって、分周器41がクロックを発生するとき
に、シフトレジスタ52の出力する出力値と、シフトレ
ジスタ52に入力される入力値とが一致するか否かを検
出するものである。
【0057】この比較回路53は、この検出処理を実行
するために、シフトレジスタ52の出力値と入力値との
排他的論理和値を算出して出力するシフトレジスタ52
対応に備えられる複数のEOR回路54と、これらのE
OR回路54の出力値の論理和値を算出して出力するO
R回路55と、このOR回路55の出力値と分周器41
の発生するクロックとの論理積値を算出して出力するA
ND回路56とを備える。
するために、シフトレジスタ52の出力値と入力値との
排他的論理和値を算出して出力するシフトレジスタ52
対応に備えられる複数のEOR回路54と、これらのE
OR回路54の出力値の論理和値を算出して出力するO
R回路55と、このOR回路55の出力値と分周器41
の発生するクロックとの論理積値を算出して出力するA
ND回路56とを備える。
【0058】次に、このように構成される図9の実施例
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
図4の実施例で説明した動作に従って、2値化回路32
は、入力されてくるアナログ信号から比較電圧値Vb を
生成して、その比較電圧値Vb を用いて、入力されてく
るアナログ信号を2値化してAND回路50に出力して
いく。
の波形変化検出回路10の動作処理について説明する。
図4の実施例で説明した動作に従って、2値化回路32
は、入力されてくるアナログ信号から比較電圧値Vb を
生成して、その比較電圧値Vb を用いて、入力されてく
るアナログ信号を2値化してAND回路50に出力して
いく。
【0059】この出力処理を受けて、AND回路50
は、2値化回路32の出力するハイレベル値を通過さ
せ、カウンタ51は、分周器41の発生するクロックに
従って計数値をリセットしてから、次のクロックが発生
するまでの間、そのハイレベル値を計数していく。
は、2値化回路32の出力するハイレベル値を通過さ
せ、カウンタ51は、分周器41の発生するクロックに
従って計数値をリセットしてから、次のクロックが発生
するまでの間、そのハイレベル値を計数していく。
【0060】この計数処理を受けて、各シフトレジスタ
52は、分周器41がクロックを発生するときに、カウ
ンタ51の出力するバイナリ出力値をアナログ信号の周
期分シフトしつつラッチする。このラッチ処理に従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、各シフトレジスタ52の出力する2値化値
は、各シフトレジスタ52に入力されてくる2値化値と
同一の値を示すことになる。
52は、分周器41がクロックを発生するときに、カウ
ンタ51の出力するバイナリ出力値をアナログ信号の周
期分シフトしつつラッチする。このラッチ処理に従っ
て、入力されてくるアナログ信号の周期性に変化がない
場合には、各シフトレジスタ52の出力する2値化値
は、各シフトレジスタ52に入力されてくる2値化値と
同一の値を示すことになる。
【0061】これから、各シフトレジスタ52の出力す
る2値化値と、各シフトレジスタ52に入力される2値
化値とを受けて、比較回路53は、分周器41がクロッ
クを発生するときにあって、両者の2値化値が一致する
ときには、入力されてくるアナログ信号の波形データに
変化が発生しないことを表示すべくローレベル値を出力
し、両者の2値化値が一致しないときには、入力されて
くるアナログ信号の波形データに変化が発生したことを
表示すべくハイレベル値を出力する。
る2値化値と、各シフトレジスタ52に入力される2値
化値とを受けて、比較回路53は、分周器41がクロッ
クを発生するときにあって、両者の2値化値が一致する
ときには、入力されてくるアナログ信号の波形データに
変化が発生しないことを表示すべくローレベル値を出力
し、両者の2値化値が一致しないときには、入力されて
くるアナログ信号の波形データに変化が発生したことを
表示すべくハイレベル値を出力する。
【0062】このようにして、図9に示す波形変化検出
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
回路10では、A/D変換器や大容量のメモリを用いる
ことなく、簡略な構成に従って、入力されてくる周期的
なアナログ信号の波形変化を検出できるようになる。
【0063】図10に、この図9の実施例のタイムチャ
ートを図示する。図中、カウンタ出力Aは、カウンタ5
1のバイナリ出力A(最下位ビット)、カウンタ出力B
は、カウンタ51のバイナリ出力B(中位ビット)、カ
ウンタ出力Cは、カウンタ51のバイナリ出力C(最上
位ビット)、52ーAは、バイナリ出力Aに接続される
シフトレジスタ52、52ーBは、バイナリ出力Bに接
続されるシフトレジスタ52、52ーCは、バイナリ出
力Cに接続されるシフトレジスタ52を表している。ま
た、「2×Tx =T」、従って、2ビット構成のシフト
レジスタ52を想定している。
ートを図示する。図中、カウンタ出力Aは、カウンタ5
1のバイナリ出力A(最下位ビット)、カウンタ出力B
は、カウンタ51のバイナリ出力B(中位ビット)、カ
ウンタ出力Cは、カウンタ51のバイナリ出力C(最上
位ビット)、52ーAは、バイナリ出力Aに接続される
シフトレジスタ52、52ーBは、バイナリ出力Bに接
続されるシフトレジスタ52、52ーCは、バイナリ出
力Cに接続されるシフトレジスタ52を表している。ま
た、「2×Tx =T」、従って、2ビット構成のシフト
レジスタ52を想定している。
【0064】この実施例も、入力されてくるアナログ信
号の波形データに揺らぎが生ずることで、2値化回路3
2の出力値に変動が生じたり、あるいは、入力されてく
るアナログ信号の波形データが急激な変化を示すこと
で、2値化回路32の出力する2値化値が正確な反復性
を示さないようなことが起きても、周期Tx の間でのカ
ウンタ51の計数値に反復性があれば、入力されてくる
アナログ信号の波形データに変化が発生しない旨を出力
することから、図4の実施例に比べてノイズに強いとい
う特徴を持つことになる。
号の波形データに揺らぎが生ずることで、2値化回路3
2の出力値に変動が生じたり、あるいは、入力されてく
るアナログ信号の波形データが急激な変化を示すこと
で、2値化回路32の出力する2値化値が正確な反復性
を示さないようなことが起きても、周期Tx の間でのカ
ウンタ51の計数値に反復性があれば、入力されてくる
アナログ信号の波形データに変化が発生しない旨を出力
することから、図4の実施例に比べてノイズに強いとい
う特徴を持つことになる。
【0065】図4/図7/図9に開示した実施例では、
入力されてくるアナログ信号の波形データが1回でも変
化すると、直ちにその旨を出力していくという構成を開
示したが、ノイズに強い構成とするために、EOR回路
34/比較回路46,53の後段にカウンタを設けて、
規定の周期でリセットされるこのカウンタの計数値が規
定値以上を示すことを条件にして、その旨を出力してい
くという構成を採ることも可能である。
入力されてくるアナログ信号の波形データが1回でも変
化すると、直ちにその旨を出力していくという構成を開
示したが、ノイズに強い構成とするために、EOR回路
34/比較回路46,53の後段にカウンタを設けて、
規定の周期でリセットされるこのカウンタの計数値が規
定値以上を示すことを条件にして、その旨を出力してい
くという構成を採ることも可能である。
【0066】図示実施例に従って本発明を開示したが、
本発明は、これに限定されるものではない。例えば、入
力されてくるアナログ信号の2値化方法は、実施例に開
示したものに限られるものではないのであって、例え
ば、今回のサンプリング電圧が前回のサンプリング電圧
よりも大きいときにはハイレベル値、小さいときにはロ
ーレベル値を出力するというような2値化方法を用いる
ことも可能である。
本発明は、これに限定されるものではない。例えば、入
力されてくるアナログ信号の2値化方法は、実施例に開
示したものに限られるものではないのであって、例え
ば、今回のサンプリング電圧が前回のサンプリング電圧
よりも大きいときにはハイレベル値、小さいときにはロ
ーレベル値を出力するというような2値化方法を用いる
ことも可能である。
【0067】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来技術で必要としたA/D変換器や大容量のメモリを
必要とせずに、入力されてくる周期的なアナログ信号を
波形変化を検出できるようになることから、小さな回路
規模でもって、入力されてくる周期的なアナログ信号の
波形変化を検出できるようになる。
従来技術で必要としたA/D変換器や大容量のメモリを
必要とせずに、入力されてくる周期的なアナログ信号を
波形変化を検出できるようになることから、小さな回路
規模でもって、入力されてくる周期的なアナログ信号の
波形変化を検出できるようになる。
【図1】本発明の原理構成図である。
【図2】本発明の原理構成図である。
【図3】本発明の動作説明図である。
【図4】本発明の一実施例である。
【図5】2値化回路の動作説明図である。
【図6】積分回路の他の構成例である。
【図7】本発明の他の実施例である。
【図8】図7の実施例のタイムチャートである。
【図9】本発明の他の実施例である。
【図10】図9の実施例のタイムチャートである。
【図11】従来技術の説明図である。
10 波形変化検出回路 11 2値化手段 12 シフトレジスタ手段 13 比較手段 14 出力手段 15 第1のカウンタ手段 16 第2のカウンタ手段 17 比較手段 18 出力手段 19 カウンタ手段 20 シフトレジスタ手段 21 比較手段 22 出力手段
Claims (6)
- 【請求項1】 入力されてくる周期的なアナログ信号の
波形変化を検出する波形変化検出回路において、 クロックに同期して、アナログ信号そのものから導出さ
れる閾値を用いてアナログ信号を2値化する2値化手段
(11)と、 上記2値化手段(11)の出力値をアナログ信号の周期分シ
フトしつつラッチするシフトレジスタ手段(12)と、 上記シフトレジスタ手段(12)の出力値と入力値とを比較
することで、アナログ信号の波形変化発生を検出する比
較手段(13)とを備えることを、 特徴とする波形変化検出回路。 - 【請求項2】 入力されてくる周期的なアナログ信号の
波形変化を検出する波形変化検出回路において、 クロックに同期して、アナログ信号そのものから導出さ
れる閾値を用いてアナログ信号を2値化する2値化手段
(11)と、 上記2値化手段(11)の出力値をアナログ信号の周期分シ
フトしつつラッチするシフトレジスタ手段(12)と、 規定の計数周期に従って、上記シフトレジスタ手段(12)
の出力値を計数する第1のカウンタ手段(15)と、 上記計数周期に従って、上記シフトレジスタ手段(12)の
入力値を計数する第2のカウンタ手段(16)と、 上記第1のカウンタ手段(15)の計数値と、上記第2のカ
ウンタ手段(16)の計数値とを比較することで、アナログ
信号の波形変化発生を検出する比較手段(17)とを備える
ことを、 特徴とする波形変化検出回路。 - 【請求項3】 入力されてくる周期的なアナログ信号の
波形変化を検出する波形変化検出回路において、 クロックに同期して、アナログ信号そのものから導出さ
れる閾値を用いてアナログ信号を2値化する2値化手段
(11)と、 規定の計数周期に従って、上記2値化手段(11)の出力値
を計数するカウンタ手段(19)と、 上記カウンタ手段(19)のバイナリ出力対応に備えられ
て、上記計数周期に従って、該バイナリ出力値をアナロ
グ信号の周期分シフトしつつラッチする複数のシフトレ
ジスタ手段(20)と、 上記シフトレジスタ手段(20)の出力値と入力値とを比較
することで、アナログ信号の波形変化発生を検出する比
較手段(21)とを備えることを、 特徴とする波形変化検出回路。 - 【請求項4】 請求項1、2又は3記載の波形変化検出
回路において、 2値化手段(11)は、アナログ信号を閾値と比較すること
で2値化するコンパレータ手段(23)と、該コンパレータ
手段(23)の出力値をクロックに同期してラッチするラッ
チ手段(24)と、該ラッチ手段(24)の出力値に応じて充放
電を実行することで閾値を生成する充放電手段(25)とか
ら構成されることを、 特徴とする波形変化検出回路。 - 【請求項5】 請求項4記載の波形変化検出回路におい
て、 アナログ信号の1周期毎に充放電手段(25)の充放電電圧
をリセットするリセット手段(26)を備えることを、 特徴とする波形変化検出回路。 - 【請求項6】 請求項1、2、3、4又は5記載の波形
変化検出回路において、 比較手段(13,17,21)の後段に備えられて、該比較手段(1
3,17,21)の検出する波形変化の発生頻度が規定以上のと
きに、アナログ信号の波形変化発生を出力する出力手段
(14,18,22)を備えることを、 特徴とする波形変化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33023993A JPH07193473A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 波形変化検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33023993A JPH07193473A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 波形変化検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07193473A true JPH07193473A (ja) | 1995-07-28 |
Family
ID=18230421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33023993A Withdrawn JPH07193473A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 波形変化検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07193473A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012142694A (ja) * | 2010-12-28 | 2012-07-26 | New Japan Radio Co Ltd | エッジ検出回路 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP33023993A patent/JPH07193473A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012142694A (ja) * | 2010-12-28 | 2012-07-26 | New Japan Radio Co Ltd | エッジ検出回路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |