JPH0721446B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
- Publication number
- JPH0721446B2 JPH0721446B2 JP62247002A JP24700287A JPH0721446B2 JP H0721446 B2 JPH0721446 B2 JP H0721446B2 JP 62247002 A JP62247002 A JP 62247002A JP 24700287 A JP24700287 A JP 24700287A JP H0721446 B2 JPH0721446 B2 JP H0721446B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- memory
- time
- test
- testing machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、材料試験機に関し、特に荷重と伸びのデータ
記憶を支障なく行なえるようにしたものに関する。
記憶を支障なく行なえるようにしたものに関する。
［従来の技術］ 材料試験機においては、荷重検出器および伸び検出器か
らの荷重・伸びデータを一定時間間隔でサンプリングし
てメモリに記憶し、演算処理するタイムインターバルデ
ータ処理が行われている。
らの荷重・伸びデータを一定時間間隔でサンプリングし
てメモリに記憶し、演算処理するタイムインターバルデ
ータ処理が行われている。
［発明が解決しようとする問題点］ 上記のように試験中の荷重・伸びデータをメモリに一定
間隔で格納してデータ処理する場合、通常使用されるメ
モリではメモリの容量制限によって試験開始後からある
時間を越えると、それ以後のデータがメモリに保存でき
なくなってデータ解析が不可能になるという問題点があ
った。特に長時間の試験を行う場合にこれが問題とな
る。そこで、ハードディスクやフロッピー等の容量の大
きなメモリを使用してデータの保存を図るが、この種の
メモリはデータの格納時間が長く変化量の大きい試験開
始直後や破断直前の時期に細かいサンプリングでデータ
収集を行うことができないとい問題点があった。
間隔で格納してデータ処理する場合、通常使用されるメ
モリではメモリの容量制限によって試験開始後からある
時間を越えると、それ以後のデータがメモリに保存でき
なくなってデータ解析が不可能になるという問題点があ
った。特に長時間の試験を行う場合にこれが問題とな
る。そこで、ハードディスクやフロッピー等の容量の大
きなメモリを使用してデータの保存を図るが、この種の
メモリはデータの格納時間が長く変化量の大きい試験開
始直後や破断直前の時期に細かいサンプリングでデータ
収集を行うことができないとい問題点があった。
そこで本発明は、長時間試験にあっても試験全体のデー
タをメモリに記憶できるとともに、試験開始直後および
破断直前時期には必要とされるこまかいサンプリングで
データを格納することができる材料試験機を提供するこ
とを目的とする。
タをメモリに記憶できるとともに、試験開始直後および
破断直前時期には必要とされるこまかいサンプリングで
データを格納することができる材料試験機を提供するこ
とを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 本発明にかかる材料試験機は、材料試験中における荷重
検出器および伸び検出器からの荷重および伸びのサンプ
リングデータをメモリに書き込み記憶し演算処理するこ
とによって荷重−伸び特性等を測定する材料試験機にお
いて、小容量で格納速度の速いメモリと、大容量で格納
速度の遅いメモリとを設けるとともに、これら格納速度
の異なるメモリに試験片の変位変化量に応じてサンプリ
ングデータを振り分けて格納させるメモリ格納タイミン
グ制御手段を設けたことを特徴としている。
検出器および伸び検出器からの荷重および伸びのサンプ
リングデータをメモリに書き込み記憶し演算処理するこ
とによって荷重−伸び特性等を測定する材料試験機にお
いて、小容量で格納速度の速いメモリと、大容量で格納
速度の遅いメモリとを設けるとともに、これら格納速度
の異なるメモリに試験片の変位変化量に応じてサンプリ
ングデータを振り分けて格納させるメモリ格納タイミン
グ制御手段を設けたことを特徴としている。
［作用］ メモリ格納タイミング制御手段により、試験開始後等の
試験片の変位変化量が大きい時期には、小容量で格納速
度の速いメモリにこまかいサンプリングで収集されたデ
ータが格納され、変化がゆるやかな時期には、大容量で
格納速度の遅いメモリに大まかなサンプリングで収集さ
れたデータが格納されるので、データ解析に必要な全試
験のデータおよび変化量の大きい時期に必要とされるこ
まかいサンプリングデータが得られる。
試験片の変位変化量が大きい時期には、小容量で格納速
度の速いメモリにこまかいサンプリングで収集されたデ
ータが格納され、変化がゆるやかな時期には、大容量で
格納速度の遅いメモリに大まかなサンプリングで収集さ
れたデータが格納されるので、データ解析に必要な全試
験のデータおよび変化量の大きい時期に必要とされるこ
まかいサンプリングデータが得られる。
［実施例］ 第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。材料試験機１のクロスヘッド２およびテーブル４に
は上方つかみ具３と下方つかみ具５とが取り付けられ、
試験片７が把持される。クロスヘッド２の移動によって
試験片７に加えられる荷重はロードセル８によって検出
され、試験片７の伸びは検出器９によって検出される。
る。材料試験機１のクロスヘッド２およびテーブル４に
は上方つかみ具３と下方つかみ具５とが取り付けられ、
試験片７が把持される。クロスヘッド２の移動によって
試験片７に加えられる荷重はロードセル８によって検出
され、試験片７の伸びは検出器９によって検出される。
ロードセル８からの荷重検出信号は荷重増幅器11で増幅
されA/D変換器13に入力される。伸び検出器９からの伸
び検出信号は伸び増幅器12で増幅されA/D変換器14に入
力される。A/D変換器13,14でA/D変換された荷重および
伸びのサンプリングデータは、CPU16へ入力されるとと
もにRAM18又はRAM19へ書き込まれる。CPU16はROM17に書
き込まれた処理手順に従ってRAM18,19へのデータの書き
込み、読み出しを行い、これらのデータに基づいて演算
処理をし、演算結果をI/O装置20を介して表示装置へ出
力する。
されA/D変換器13に入力される。伸び検出器９からの伸
び検出信号は伸び増幅器12で増幅されA/D変換器14に入
力される。A/D変換器13,14でA/D変換された荷重および
伸びのサンプリングデータは、CPU16へ入力されるとと
もにRAM18又はRAM19へ書き込まれる。CPU16はROM17に書
き込まれた処理手順に従ってRAM18,19へのデータの書き
込み、読み出しを行い、これらのデータに基づいて演算
処理をし、演算結果をI/O装置20を介して表示装置へ出
力する。
RAM18には格納容量は小さいがデータ格納速度が速いも
のが使用され、RAM19はハードディスクやフロッピー等
のように格納容量は大きいが格納速度か遅いものが使用
されている。
のが使用され、RAM19はハードディスクやフロッピー等
のように格納容量は大きいが格納速度か遅いものが使用
されている。
CPU16には、試験時間設定手段21によって設定された時
間設定信号がI/O装置20を介して入力される。試験時間
の設定としては第２図に示すように、最小サンプリング
時間tsで試験開始後の変化域（Ａ→Ｂ）をカバーする時
間T1、この変化域後のゆるやかな変化域（Ｂ→Ｃ）を後
述するサンプリング時間txでカバーする時間T2、更に破
断直前の変化域（Ｃ→Ｄ）を再度最小サンプリング時間
tsでカバーする時間T1として設定される。
間設定信号がI/O装置20を介して入力される。試験時間
の設定としては第２図に示すように、最小サンプリング
時間tsで試験開始後の変化域（Ａ→Ｂ）をカバーする時
間T1、この変化域後のゆるやかな変化域（Ｂ→Ｃ）を後
述するサンプリング時間txでカバーする時間T2、更に破
断直前の変化域（Ｃ→Ｄ）を再度最小サンプリング時間
tsでカバーする時間T1として設定される。
上記RAM18は第３図に示すように、最小サンプリング速
度tsでサンプリングされる上記T1時間分のデータ数、ｎ
個分を格納するエリアを有し、そのデータ格納所要時間
S1最小サンプリング時間tsよりはるかに短かい。RAM19
は第４図に示すように、試験開始後T1時間および中間試
験域のT2時間および破断直前のT1時間の間に収集される
全データ数ｍ（＝ｎ＋ｎ′＋ｎ）を格納しうるＮ個分の
エリアを有し、そのデータ格納所要時間S2は最小サンプ
リング時間tsより長い。
度tsでサンプリングされる上記T1時間分のデータ数、ｎ
個分を格納するエリアを有し、そのデータ格納所要時間
S1最小サンプリング時間tsよりはるかに短かい。RAM19
は第４図に示すように、試験開始後T1時間および中間試
験域のT2時間および破断直前のT1時間の間に収集される
全データ数ｍ（＝ｎ＋ｎ′＋ｎ）を格納しうるＮ個分の
エリアを有し、そのデータ格納所要時間S2は最小サンプ
リング時間tsより長い。
上記のように構成された材料試験機において、試験開始
後はCPU16がメモリ格納タイミング制御手段として機能
し、第５図に示すフローチャートに従ってサンプリング
データを格納していく。すなわち、試験開始後の第２図
に示すＡ点からＢ点までのT1時間の間は、RAM18に初期
データがサンプリング時間ts毎に格納される。T1時間経
過後のＢ点に達すると、RAM18に格納されたｎ個分のデ
ータがRAM19のメモリエリアａからｂまでに試験時間経
過中のバックグラウンドにてコピーされる。Ｂ点からＣ
点に至るT2時間の間は、指定されたサンプリング時間tx
毎にデータがRAM19のメモリエリアｃからｄまでに順次
格納される。ｃ点からｄ点に至るT1時間の間は、再度サ
ンプリング時間ts毎に破断直前にデータがＡ点からＢ点
までのデータに対して上書きされながら格納される。破
断検出時点のＤ点に達すると、RAM18へのデータ格納が
停止され、RAM18に格納されたｎ個分のデータがRAM19の
メモリエリアｅからｆまでにコピーされる。
後はCPU16がメモリ格納タイミング制御手段として機能
し、第５図に示すフローチャートに従ってサンプリング
データを格納していく。すなわち、試験開始後の第２図
に示すＡ点からＢ点までのT1時間の間は、RAM18に初期
データがサンプリング時間ts毎に格納される。T1時間経
過後のＢ点に達すると、RAM18に格納されたｎ個分のデ
ータがRAM19のメモリエリアａからｂまでに試験時間経
過中のバックグラウンドにてコピーされる。Ｂ点からＣ
点に至るT2時間の間は、指定されたサンプリング時間tx
毎にデータがRAM19のメモリエリアｃからｄまでに順次
格納される。ｃ点からｄ点に至るT1時間の間は、再度サ
ンプリング時間ts毎に破断直前にデータがＡ点からＢ点
までのデータに対して上書きされながら格納される。破
断検出時点のＤ点に達すると、RAM18へのデータ格納が
停止され、RAM18に格納されたｎ個分のデータがRAM19の
メモリエリアｅからｆまでにコピーされる。
上記したＢ点からＣ点に至る間のサンプリング時間t
xは、 を満足するようにして求められる。ただし、txはtsの倍
数であって、かつRAM19への書き込み所要時間より大き
い値となるように設定される。
xは、 を満足するようにして求められる。ただし、txはtsの倍
数であって、かつRAM19への書き込み所要時間より大き
い値となるように設定される。
全試験データがRAM19に格納されると、CPU16はこれらの
データを読み出し演算処理してデータ解析を行う。
データを読み出し演算処理してデータ解析を行う。
このように本発明の材料試験機によれば、データ解析が
全試験域のデータに基づいて行われ、しかも試験開始後
の初期データおよび破断直前のデータは最小サンプリン
グ時間で収集されているので、無駄のない正確な試験デ
ータの解析を行うことができる。特に長時間の試験の場
合、変化のゆるやかな変化域のデータ収集を適当なサン
プリングで行えるので能率的で有利なデータの格納を行
うことができる。
全試験域のデータに基づいて行われ、しかも試験開始後
の初期データおよび破断直前のデータは最小サンプリン
グ時間で収集されているので、無駄のない正確な試験デ
ータの解析を行うことができる。特に長時間の試験の場
合、変化のゆるやかな変化域のデータ収集を適当なサン
プリングで行えるので能率的で有利なデータの格納を行
うことができる。
［発明の効果］ 上記説明から明らかなように、本発明にかかる材料試験
機によれば、データ分析に必要なデータを効果的に能率
よく収集することができるようになった。
機によれば、データ分析に必要なデータを効果的に能率
よく収集することができるようになった。
第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第２
図はサンプリング域の区分を示す図、第３図、第４図は
それぞれRAM18,19のメモリエリアを示す図、第５図は実
施例におけるサンプリングデータ格納処理の手順を示す
フローチャートである。 ８……ロードセル、９……伸び検出器 16……CPU（メモリ格納タイミング制御手段） 18,19……RAM
図はサンプリング域の区分を示す図、第３図、第４図は
それぞれRAM18,19のメモリエリアを示す図、第５図は実
施例におけるサンプリングデータ格納処理の手順を示す
フローチャートである。 ８……ロードセル、９……伸び検出器 16……CPU（メモリ格納タイミング制御手段） 18,19……RAM
Claims (1)
- 【請求項１】材料試験中における荷重検出器および伸び
検出器からの荷重および伸びのサンプリングデータをメ
モリに書き込み記憶し演算処理することによって荷重−
伸び特性等を測定する材料試験機において、小容量で格
納速度の速いメモリと、大容量で格納速度の遅いメモリ
とを設けるとともに、これら格納速度の異なるメモリに
試験片の変位変化量に応じてサンプリングデータを振り
分けて格納させるメモリ格納タイミング制御手段を設け
たことを特徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62247002A JPH0721446B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62247002A JPH0721446B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6488330A JPS6488330A (en) | 1989-04-03 |
| JPH0721446B2 true JPH0721446B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=17156918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62247002A Expired - Lifetime JPH0721446B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721446B2 (ja) |
-
1987
- 1987-09-30 JP JP62247002A patent/JPH0721446B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6488330A (en) | 1989-04-03 |
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