JPH07218252A - イメージセンサの映像データ回路 - Google Patents
イメージセンサの映像データ回路Info
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- JPH07218252A JPH07218252A JP6014744A JP1474494A JPH07218252A JP H07218252 A JPH07218252 A JP H07218252A JP 6014744 A JP6014744 A JP 6014744A JP 1474494 A JP1474494 A JP 1474494A JP H07218252 A JPH07218252 A JP H07218252A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/672—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction between adjacent sensors or output registers for reading a single image
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/701—Line sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/745—Circuitry for generating timing or clock signals
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】自動焦点カメラ用等の集積回路装置に組み込ま
れかつ光学的手段とモジュールの形に組み合わされる左
右一対のイメージセンサ間の映像検出感度に生じやすい
レベル差をなくす。 【構成】それぞれ多数の電荷蓄積形の光センサ11を含む
左右一対のイメージセンサ10Lと10Rの映像検出の感度
差の補正データDcを記憶する永久記憶手段50と、各光セ
ンサ11の出力信号TSが表す電荷蓄積時間を刻んで映像デ
ータDLやDRに量子化するためのクロックパルスCPを発生
するクロック発生回路40と、クロックパルスCPのカウン
タ回路30Lと30Rと、出力信号TSが表す電荷蓄積時間を
それに対応するカウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCR
により映像データDLとDRにそれぞれ変換する量子化手段
20Lと20Rとを用い、光学的手段80とモジュールに組み
合わせた後の試験の結果に基づき補正データDcを設定し
て永久記憶手段50に記憶させておき、映像検出動作のつ
どカウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCRに対し補正デ
ータDcによる補正を施す。
れかつ光学的手段とモジュールの形に組み合わされる左
右一対のイメージセンサ間の映像検出感度に生じやすい
レベル差をなくす。 【構成】それぞれ多数の電荷蓄積形の光センサ11を含む
左右一対のイメージセンサ10Lと10Rの映像検出の感度
差の補正データDcを記憶する永久記憶手段50と、各光セ
ンサ11の出力信号TSが表す電荷蓄積時間を刻んで映像デ
ータDLやDRに量子化するためのクロックパルスCPを発生
するクロック発生回路40と、クロックパルスCPのカウン
タ回路30Lと30Rと、出力信号TSが表す電荷蓄積時間を
それに対応するカウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCR
により映像データDLとDRにそれぞれ変換する量子化手段
20Lと20Rとを用い、光学的手段80とモジュールに組み
合わせた後の試験の結果に基づき補正データDcを設定し
て永久記憶手段50に記憶させておき、映像検出動作のつ
どカウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCRに対し補正デ
ータDcによる補正を施す。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は自動焦点カメラにおける
被写体の検出用等に適する光学的手段と組み合わされた
一対のイメージセンサから検出対象の映像を正確に表す
映像データを取り出すための回路に関する。
被写体の検出用等に適する光学的手段と組み合わされた
一対のイメージセンサから検出対象の映像を正確に表す
映像データを取り出すための回路に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体を利用したイメージセンサは微細
構造化が容易でかつ関連回路とともに小形の半導体チッ
プ内に高集積化して種々な装置に簡単に組み込める利点
があるため用途が大幅に拡大しているが、映像の検出に
はレンズ等の光学的手段と組み合わせる必要があるため
イメージセンサと光学的手段を1個のモジュールの形に
纏めることが要求されることが多い。さらに、このモジ
ュールを例えばカメラの自動焦点化に適用するには、被
写体までの距離やそれに対する焦点ずれの状態を検出す
るために周知のようにイメージセンサを一対組み込むこ
とが必要になる。本発明はこのように光学的手段と組み
合わされる一対のイメージセンサに関し、図3はかかる
光学的手段とイメージセンサ対とを一体化したモジュー
ルの構造の概要を断面図によって示すものである。
構造化が容易でかつ関連回路とともに小形の半導体チッ
プ内に高集積化して種々な装置に簡単に組み込める利点
があるため用途が大幅に拡大しているが、映像の検出に
はレンズ等の光学的手段と組み合わせる必要があるため
イメージセンサと光学的手段を1個のモジュールの形に
纏めることが要求されることが多い。さらに、このモジ
ュールを例えばカメラの自動焦点化に適用するには、被
写体までの距離やそれに対する焦点ずれの状態を検出す
るために周知のようにイメージセンサを一対組み込むこ
とが必要になる。本発明はこのように光学的手段と組み
合わされる一対のイメージセンサに関し、図3はかかる
光学的手段とイメージセンサ対とを一体化したモジュー
ルの構造の概要を断面図によって示すものである。
【0003】図3の下側部に示す半導体装置70は、左右
一対のイメージセンサ10Lと10Rを関連する回路ととも
に組み込んだ集積回路装置のチップ71を通例のようにリ
ードフレームのダイプレート72の上に搭載し、これをリ
ード73とボンディング線74を介して接続した上で例えば
透明樹脂のパッケージ75内に収納してなる。イメージセ
ンサ10Lや10Rはもちろん複数の例えば 128個の光セン
サからなるが、例えばカメラの自動焦点化用では被写体
の映像検出の精度を極力上げるため光センサにいわゆる
電荷蓄積形のものが用いられる。
一対のイメージセンサ10Lと10Rを関連する回路ととも
に組み込んだ集積回路装置のチップ71を通例のようにリ
ードフレームのダイプレート72の上に搭載し、これをリ
ード73とボンディング線74を介して接続した上で例えば
透明樹脂のパッケージ75内に収納してなる。イメージセ
ンサ10Lや10Rはもちろん複数の例えば 128個の光セン
サからなるが、例えばカメラの自動焦点化用では被写体
の映像検出の精度を極力上げるため光センサにいわゆる
電荷蓄積形のものが用いられる。
【0004】光学的手段80はイメージセンサ10Lや10R
に被写体の映像を結像させる一対のレンズ80Lと80Rを
含む小形の透明なプラスチック成形品であり、例えば不
透明樹脂の成形品であるアダプタ81を介し接着等の手段
により半導体装置80とともに一体化したモジュールとさ
れる。被写体の映像は一対のレンズ80Lと80Rによりア
ダプタ81の内孔81aを介してその焦点距離fのところに
あるそれぞれ対応するイメージセンサ10Lと10R上に結
像される。
に被写体の映像を結像させる一対のレンズ80Lと80Rを
含む小形の透明なプラスチック成形品であり、例えば不
透明樹脂の成形品であるアダプタ81を介し接着等の手段
により半導体装置80とともに一体化したモジュールとさ
れる。被写体の映像は一対のレンズ80Lと80Rによりア
ダプタ81の内孔81aを介してその焦点距離fのところに
あるそれぞれ対応するイメージセンサ10Lと10R上に結
像される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来からイメージセン
サを構成する光センサを上述のように電荷蓄積形とする
ことにより映像検出の精度を高めて来たが、最近では精
度の要求水準がますます高まっており、とくに図3のよ
うにイメージセンサと光学的手段を組み合わせたモジュ
ール構造では要求を満たすのが非常に困難になって来
た。例えばカメラの自動焦点化用のイメージセンサでは
その各光センサが受ける光の強度をそれぞれ8ビットの
精度, 誤差にすると1%以下の高精度で映像データ化す
ることが要求されて来ているが、従来技術では5〜6ビ
ットの精度, 誤差にすると2〜3%の精度が限度なのが
現在までの実情である。
サを構成する光センサを上述のように電荷蓄積形とする
ことにより映像検出の精度を高めて来たが、最近では精
度の要求水準がますます高まっており、とくに図3のよ
うにイメージセンサと光学的手段を組み合わせたモジュ
ール構造では要求を満たすのが非常に困難になって来
た。例えばカメラの自動焦点化用のイメージセンサでは
その各光センサが受ける光の強度をそれぞれ8ビットの
精度, 誤差にすると1%以下の高精度で映像データ化す
ることが要求されて来ているが、従来技術では5〜6ビ
ットの精度, 誤差にすると2〜3%の精度が限度なのが
現在までの実情である。
【0006】これはイメージセンサの多数の光センサの
光検出感度に若干のばらつきがあることにもよるが、主
たる原因はイメージセンサに光学的手段を組み合わせる
際に両者間の相対的な位置ないし姿勢に狂いが出やすい
点にある。図4にこの様子を図3の光学的手段80に一様
な分布の光を与えた時の一対のイメージセンサ10Lと10
R内の各光センサによる映像データDLとDRの分布傾向に
より示す。図の左側がイメージセンサ10L内の番号iが
1〜mである各光センサによる映像データDLの分布, 右
側がイメージセンサ10Rの同じくm個の光センサによる
映像データDRの分布であり、見やすくするために映像デ
ータDLやDRの光センサ間の細かな変動を除いて全体的な
傾向がかなり誇張して示されている。
光検出感度に若干のばらつきがあることにもよるが、主
たる原因はイメージセンサに光学的手段を組み合わせる
際に両者間の相対的な位置ないし姿勢に狂いが出やすい
点にある。図4にこの様子を図3の光学的手段80に一様
な分布の光を与えた時の一対のイメージセンサ10Lと10
R内の各光センサによる映像データDLとDRの分布傾向に
より示す。図の左側がイメージセンサ10L内の番号iが
1〜mである各光センサによる映像データDLの分布, 右
側がイメージセンサ10Rの同じくm個の光センサによる
映像データDRの分布であり、見やすくするために映像デ
ータDLやDRの光センサ間の細かな変動を除いて全体的な
傾向がかなり誇張して示されている。
【0007】図示のように映像データDLとDRの分布はそ
れぞれ上方に向け凹な二次関数的な傾向を示すが、とく
に顕著なのは左右のイメージセンサ10Lと10Rで分布の
平均レベルに差Dcが明瞭に認められる点であり、これは
明らかに各光センサ間の検出感度の差によるものではな
く、両イメージセンサ10Lと10Rが光学的手段80から受
ける光量に最初から差があるためと考えられる。
れぞれ上方に向け凹な二次関数的な傾向を示すが、とく
に顕著なのは左右のイメージセンサ10Lと10Rで分布の
平均レベルに差Dcが明瞭に認められる点であり、これは
明らかに各光センサ間の検出感度の差によるものではな
く、両イメージセンサ10Lと10Rが光学的手段80から受
ける光量に最初から差があるためと考えられる。
【0008】以上のような問題点を解決するため、本発
明は光学的手段からそれぞれ映像を受光する一対のイメ
ージセンサから得られる映像データに生じ得る上述のよ
うな分布レベルの差をモジュールごとに補償することを
目的とする。
明は光学的手段からそれぞれ映像を受光する一対のイメ
ージセンサから得られる映像データに生じ得る上述のよ
うな分布レベルの差をモジュールごとに補償することを
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
は、電荷蓄積形の光センサからなり光学的手段による映
像を受ける一対のイメージセンサから映像データを取り
出すために、イメージセンサ間の映像検出の感度差の補
正データを記憶する永久記憶手段と、イメージセンサの
各光センサの出力信号が表す電荷蓄積時間を刻んで映像
データに量子化するためのクロックパルスを発生するク
ロック発生回路と、クロック発生回路によるクロックパ
ルスを計数するカウンタ回路と、光センサの出力信号と
カウンタ回路の計数値を受け出力信号をそれが表す電荷
蓄積時間に対応する計数値により映像データに変換する
量子化回路とを用い、両イメージセンサの光学的手段と
の組み合わせ後の試験の結果に基づいて補正データを永
久記憶手段内に記憶させておき、映像検出のつどにカウ
ンタ回路の計数値をこの補正データにより補正すること
によって達成される。なお、上記構成中にいう永久記憶
手段にはPROMを利用するのが最も簡単かつ好適であ
る。
は、電荷蓄積形の光センサからなり光学的手段による映
像を受ける一対のイメージセンサから映像データを取り
出すために、イメージセンサ間の映像検出の感度差の補
正データを記憶する永久記憶手段と、イメージセンサの
各光センサの出力信号が表す電荷蓄積時間を刻んで映像
データに量子化するためのクロックパルスを発生するク
ロック発生回路と、クロック発生回路によるクロックパ
ルスを計数するカウンタ回路と、光センサの出力信号と
カウンタ回路の計数値を受け出力信号をそれが表す電荷
蓄積時間に対応する計数値により映像データに変換する
量子化回路とを用い、両イメージセンサの光学的手段と
の組み合わせ後の試験の結果に基づいて補正データを永
久記憶手段内に記憶させておき、映像検出のつどにカウ
ンタ回路の計数値をこの補正データにより補正すること
によって達成される。なお、上記構成中にいう永久記憶
手段にはPROMを利用するのが最も簡単かつ好適であ
る。
【0010】なお、カウンタ回路にプログラマブルカウ
ンタを用いてイメージセンサごとに設け、映像検出の開
始時にその計数値,ふつうは一方のカウンタ回路の計数
値を永久記憶手段に記憶されている補正データの値に初
期化するのがよい。あるいはカウンタ回路を一対のイメ
ージセンサに対し共通に設け、一方のイメージセンサ側
に与えるその計数値に対し演算回路を利用して補正デー
タによる補正を加えるようにすることもできる。
ンタを用いてイメージセンサごとに設け、映像検出の開
始時にその計数値,ふつうは一方のカウンタ回路の計数
値を永久記憶手段に記憶されている補正データの値に初
期化するのがよい。あるいはカウンタ回路を一対のイメ
ージセンサに対し共通に設け、一方のイメージセンサ側
に与えるその計数値に対し演算回路を利用して補正デー
タによる補正を加えるようにすることもできる。
【0011】量子化回路は光センサごとに設けたラッチ
の群として構成するのが最も簡単であり、その各ラッチ
に光センサの出力信号をいわばラッチ指令として与え、
その論理状態が変化した時のカウンタ回路の計数値,つ
まり出力信号が表す電荷蓄積時間に対応するカウンタ回
路の計数値をそのラッチに読み込ませて各光センサに対
応する映像データとして記憶させるようにすればよい。
この量子化回路からの映像データの読み取りは、例えば
その各ラッチに出力指令を順次に与えてそれに同期して
映像データを一つずつ取り出すようにするのがよい。
の群として構成するのが最も簡単であり、その各ラッチ
に光センサの出力信号をいわばラッチ指令として与え、
その論理状態が変化した時のカウンタ回路の計数値,つ
まり出力信号が表す電荷蓄積時間に対応するカウンタ回
路の計数値をそのラッチに読み込ませて各光センサに対
応する映像データとして記憶させるようにすればよい。
この量子化回路からの映像データの読み取りは、例えば
その各ラッチに出力指令を順次に与えてそれに同期して
映像データを一つずつ取り出すようにするのがよい。
【0012】永久記憶手段に記憶させるべき補正データ
は、イメージセンサと光学的手段をモジュールとした後
に光学的手段に一様な光を投射した状態でイメージセン
サを試験して、その結果に基づいて設定するのが最も簡
単かつ確実である。この際、試験により得られる映像デ
ータ群の平均値を各イメージセンサごとに計算して、両
イメージセンサ間の平均値の差を補正データとするのが
最も合理的であるが、より簡単には各イメージセンサに
対する映像データ群内の極値,例えば最小値の差を補正
データとすることでもふつうは充分である。
は、イメージセンサと光学的手段をモジュールとした後
に光学的手段に一様な光を投射した状態でイメージセン
サを試験して、その結果に基づいて設定するのが最も簡
単かつ確実である。この際、試験により得られる映像デ
ータ群の平均値を各イメージセンサごとに計算して、両
イメージセンサ間の平均値の差を補正データとするのが
最も合理的であるが、より簡単には各イメージセンサに
対する映像データ群内の極値,例えば最小値の差を補正
データとすることでもふつうは充分である。
【0013】なお、本発明を実施する際の実用面ではイ
メージセンサを構成する光センサの光検出感度を切り換
え可能に構成し、これに対応して永久記憶手段に記憶さ
せる補正データを光センサの検出感度レベルごとに設定
するのが望ましい。さらに、光センサの出力信号が表す
電荷蓄積時間中の最短値を検出する手段を両イメージセ
ンサに共通にまたはイメージセンサごとに設け、最短電
荷蓄積時間に対応するタイミングでクロック発生回路に
そのクロックパルス発生動作を開始させるのが実用面で
有利である。
メージセンサを構成する光センサの光検出感度を切り換
え可能に構成し、これに対応して永久記憶手段に記憶さ
せる補正データを光センサの検出感度レベルごとに設定
するのが望ましい。さらに、光センサの出力信号が表す
電荷蓄積時間中の最短値を検出する手段を両イメージセ
ンサに共通にまたはイメージセンサごとに設け、最短電
荷蓄積時間に対応するタイミングでクロック発生回路に
そのクロックパルス発生動作を開始させるのが実用面で
有利である。
【0014】
【作用】本発明では、イメージセンサ間に生じる映像デ
ータのレベル差は光学的手段と組み合わされたモジュー
ルの状態で両イメージセンサが受ける光量の差に原因が
あり,従って各モジュールに固有な点に着目して、その
試験結果に基づいて補正データを設定して映像検出のつ
どにこれで映像データを補正するとともに、電荷蓄積形
の光センサでは映像データがその電荷蓄積時間をクロッ
クパルスで刻んで得られる点に着目して、クロックパル
スの計数値を補正データで補正することにより映像デー
タのレベルをイメージセンサごとにごく簡単に補正す
る。
ータのレベル差は光学的手段と組み合わされたモジュー
ルの状態で両イメージセンサが受ける光量の差に原因が
あり,従って各モジュールに固有な点に着目して、その
試験結果に基づいて補正データを設定して映像検出のつ
どにこれで映像データを補正するとともに、電荷蓄積形
の光センサでは映像データがその電荷蓄積時間をクロッ
クパルスで刻んで得られる点に着目して、クロックパル
スの計数値を補正データで補正することにより映像デー
タのレベルをイメージセンサごとにごく簡単に補正す
る。
【0015】このため本発明の映像データ回路では、前
項の構成にいうよう永久記憶手段を設けて各モジュール
の試験結果に基づきイメージセンサ間の映像検出の感度
差の補正データを設定してこれに記憶させておき、各映
像検出動作のつどにクロック発生回路から発生されるク
ロックパルスのカウンタ回路による計数値をこの補正デ
ータにより補正し、量子化回路によりイメージセンサの
各光センサによる出力信号をそれが表す電荷蓄積時間に
対応する補正済みの計数値により映像データに変換する
ことによって所期の目的を達する。
項の構成にいうよう永久記憶手段を設けて各モジュール
の試験結果に基づきイメージセンサ間の映像検出の感度
差の補正データを設定してこれに記憶させておき、各映
像検出動作のつどにクロック発生回路から発生されるク
ロックパルスのカウンタ回路による計数値をこの補正デ
ータにより補正し、量子化回路によりイメージセンサの
各光センサによる出力信号をそれが表す電荷蓄積時間に
対応する補正済みの計数値により映像データに変換する
ことによって所期の目的を達する。
【0016】このように、本発明では映像データに対す
る補正をマイクロコンピュータ等の別の手段に分担させ
る必要がなく、かつ永久記憶手段とその関連回路をイメ
ージセンサ用の半導体装置内に組み込んで映像データの
発生と同時に一対のイメージセンサ間の感度レベル差を
自動的に補正できるので補正のために時間を要せず、自
動焦点カメラ等に適用した場合の制御用マイクロコンピ
ュータ等の関連装置の負担を軽減することができる。
る補正をマイクロコンピュータ等の別の手段に分担させ
る必要がなく、かつ永久記憶手段とその関連回路をイメ
ージセンサ用の半導体装置内に組み込んで映像データの
発生と同時に一対のイメージセンサ間の感度レベル差を
自動的に補正できるので補正のために時間を要せず、自
動焦点カメラ等に適用した場合の制御用マイクロコンピ
ュータ等の関連装置の負担を軽減することができる。
【0017】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は本発明の映像データ回路の実施例を示すブ
ロック回路図、図2はイメージセンサの各光センサの回
路構成を例示する回路図である。なお、これら実施例で
は一対のイメージセンサは図3のような要領で光学的手
段とともにモジュール化され、本発明により補正を施す
前の映像データは図4のような分布をもつものとする。
する。図1は本発明の映像データ回路の実施例を示すブ
ロック回路図、図2はイメージセンサの各光センサの回
路構成を例示する回路図である。なお、これら実施例で
は一対のイメージセンサは図3のような要領で光学的手
段とともにモジュール化され、本発明により補正を施す
前の映像データは図4のような分布をもつものとする。
【0018】図1の上部に模式的に示す光学的手段80の
一対のレンズ80Lと80Rから対象の映像ILとIRをそれぞ
れ受ける一対のイメージセンサ10Lと10Rはそれぞれm
個,例えば 128個の電荷蓄積形の光センサ11からなる。
これらの光センサ11は共通のリセットパルスRPに応じ電
荷蓄積動作を一斉に開始し、それぞれが受ける光量に応
じた電荷蓄積時間を表す一種の時間信号である出力信号
TSを発する。さらに、この実施例ではこれらの光センサ
11に対し光検出感度の指定信号SSが共通に与えられる。
次に本発明回路の他の部分の説明に入る前に、電荷蓄積
形で検出感度が切り換え可能な光センサ11を図2を参照
してまず説明する。
一対のレンズ80Lと80Rから対象の映像ILとIRをそれぞ
れ受ける一対のイメージセンサ10Lと10Rはそれぞれm
個,例えば 128個の電荷蓄積形の光センサ11からなる。
これらの光センサ11は共通のリセットパルスRPに応じ電
荷蓄積動作を一斉に開始し、それぞれが受ける光量に応
じた電荷蓄積時間を表す一種の時間信号である出力信号
TSを発する。さらに、この実施例ではこれらの光センサ
11に対し光検出感度の指定信号SSが共通に与えられる。
次に本発明回路の他の部分の説明に入る前に、電荷蓄積
形で検出感度が切り換え可能な光センサ11を図2を参照
してまず説明する。
【0019】図2(a) に示す光センサ11の本体はこの例
ではフォトダイオード11aであり、その小さな接合容量
Cjが電荷を蓄積するキャパシタとして利用される。この
接合容量CjはリセットパルスRPによりトランジスタ11b
がオンしたとき電源電圧Vに充電され、これがフォトダ
イオード11aの光電流により放電されるにつれフォトダ
イオード11aとトランジスタ11bの相互接続点の電位vj
が上昇する。電位vjは増幅器11cによって上述の感度指
定信号SSに応じた増幅率で増幅され、出力側のキャパシ
タ11dを電位vに充電する。この増幅電位vはコンパレ
ータ11eにより所定の基準電圧Vrとの大小が比較され、
その比較出力が上述の出力信号TSとして光センサ11から
出力される。
ではフォトダイオード11aであり、その小さな接合容量
Cjが電荷を蓄積するキャパシタとして利用される。この
接合容量CjはリセットパルスRPによりトランジスタ11b
がオンしたとき電源電圧Vに充電され、これがフォトダ
イオード11aの光電流により放電されるにつれフォトダ
イオード11aとトランジスタ11bの相互接続点の電位vj
が上昇する。電位vjは増幅器11cによって上述の感度指
定信号SSに応じた増幅率で増幅され、出力側のキャパシ
タ11dを電位vに充電する。この増幅電位vはコンパレ
ータ11eにより所定の基準電圧Vrとの大小が比較され、
その比較出力が上述の出力信号TSとして光センサ11から
出力される。
【0020】この図2(a) の光センサ11の回路の動作を
図2(b) 〜(d) に示す。図2(b) のリセットパルスRPに
より図2(c) の電位vは0にリセットされた後、フォト
ダイオード11aが受ける光の強度と増幅器11cの増幅率
に応じた傾斜で立ち上がり、コンパレータ11eによって
基準電圧Vrと比較される。コンパレータ11eの出力であ
る図2(d) に示す出力信号TSはリセットパルスRPにより
この例ではローの論理状態にリセットされた後、電位v
が基準電圧Vrに達したときにハイの論理状態に切り換わ
り、この出力信号TSがローである時間が光センサ11の電
荷蓄積時間τである。この電荷蓄積時間τを後述のよう
にクロックパルスで刻むことにより出力信号TSが映像デ
ータに変換される。
図2(b) 〜(d) に示す。図2(b) のリセットパルスRPに
より図2(c) の電位vは0にリセットされた後、フォト
ダイオード11aが受ける光の強度と増幅器11cの増幅率
に応じた傾斜で立ち上がり、コンパレータ11eによって
基準電圧Vrと比較される。コンパレータ11eの出力であ
る図2(d) に示す出力信号TSはリセットパルスRPにより
この例ではローの論理状態にリセットされた後、電位v
が基準電圧Vrに達したときにハイの論理状態に切り換わ
り、この出力信号TSがローである時間が光センサ11の電
荷蓄積時間τである。この電荷蓄積時間τを後述のよう
にクロックパルスで刻むことにより出力信号TSが映像デ
ータに変換される。
【0021】図1に戻って、図では左右に分けて示され
た量子化回路20Lと20Rは対応するイメージセンサ10L
と10Rの光センサ11から出力信号TSを受けるそれぞれm
個のラッチ21を含み、各ラッチ21は対応する出力信号TS
が表す電荷蓄積時間τをこの実施例では各8ビット構成
の映像データDLやDRに変換して記憶する。その下側に示
すこの実施例では左右のイメージセンサ10Lと10Rに対
応して一対設けられたカウンタ回路30Lと30Rはこの変
換用の計数値CLとCRを量子化回路20Lと20Rの各ラッチ
21に与えるものであり、クロック発生回路40から電荷蓄
積時間τを刻むクロックパルスCPをそれぞれ受ける。こ
の実施例ではカウンタ回路30Lと30Rにプログラマブル
カウンタを用い、前述のリセットパルスRPに応じてその
計数値を補正データに初期化するようになっている。
た量子化回路20Lと20Rは対応するイメージセンサ10L
と10Rの光センサ11から出力信号TSを受けるそれぞれm
個のラッチ21を含み、各ラッチ21は対応する出力信号TS
が表す電荷蓄積時間τをこの実施例では各8ビット構成
の映像データDLやDRに変換して記憶する。その下側に示
すこの実施例では左右のイメージセンサ10Lと10Rに対
応して一対設けられたカウンタ回路30Lと30Rはこの変
換用の計数値CLとCRを量子化回路20Lと20Rの各ラッチ
21に与えるものであり、クロック発生回路40から電荷蓄
積時間τを刻むクロックパルスCPをそれぞれ受ける。こ
の実施例ではカウンタ回路30Lと30Rにプログラマブル
カウンタを用い、前述のリセットパルスRPに応じてその
計数値を補正データに初期化するようになっている。
【0022】図1の右下部に示された永久記憶手段50は
この補正データDcの記憶用であり、これには通例のよう
にPROMを利用するのが便利である。8ビット構成の
映像データに対する補正データDcはカウンタ回路30Lや
30R内の下位ビット31に対応する3〜4ビット構成でふ
つうは充分であるが、この実施例では各光センサ11の検
出感度が2段に切り換えられるので永久記憶手段50内に
はこれに対応してそれぞれ4ビット分の2個の記憶領域
D1とD2を設け、各感度レベルごとに設定される補正デー
タを記憶させる。さらに、補正はイメージセンサ10Lと
10Rの一方側の映像データに対してのみ施すことでふつ
う充分なので、この実施例ではいずれの側の映像データ
に補正を施すべきかを記憶させておく1ビット分の記憶
領域D0が永久記憶手段50内に設定される。
この補正データDcの記憶用であり、これには通例のよう
にPROMを利用するのが便利である。8ビット構成の
映像データに対する補正データDcはカウンタ回路30Lや
30R内の下位ビット31に対応する3〜4ビット構成でふ
つうは充分であるが、この実施例では各光センサ11の検
出感度が2段に切り換えられるので永久記憶手段50内に
はこれに対応してそれぞれ4ビット分の2個の記憶領域
D1とD2を設け、各感度レベルごとに設定される補正デー
タを記憶させる。さらに、補正はイメージセンサ10Lと
10Rの一方側の映像データに対してのみ施すことでふつ
う充分なので、この実施例ではいずれの側の映像データ
に補正を施すべきかを記憶させておく1ビット分の記憶
領域D0が永久記憶手段50内に設定される。
【0023】これに応じて図1の回路では、永久記憶手
段50に付随して選択手段51を設けて前述の感度指定信号
SSに応じて永久記憶手段50から補正データDcを取り出す
べき記憶領域D1とD2を選択させ、かつ選択手段52を設け
て記憶領域D0の内容に応じてこの補正データDcを与える
べきカウンタ回路DLとDRを選択させる。以上のほか、図
1の回路にはその全体制御のため例えばごく簡単なマイ
クロプロセッサであるシーケンス制御手段60が組み込ま
れている。
段50に付随して選択手段51を設けて前述の感度指定信号
SSに応じて永久記憶手段50から補正データDcを取り出す
べき記憶領域D1とD2を選択させ、かつ選択手段52を設け
て記憶領域D0の内容に応じてこの補正データDcを与える
べきカウンタ回路DLとDRを選択させる。以上のほか、図
1の回路にはその全体制御のため例えばごく簡単なマイ
クロプロセッサであるシーケンス制御手段60が組み込ま
れている。
【0024】このように構成された映像データ回路はシ
ーケンス制御手段60に対し外部から感度指定信号SSと検
出指令STを与えて動作させる。まず、映像データ回路を
含む図3の半導体装置70と光学的手段80がモジュール化
されたが、永久記憶手段50に補正データがまだ記憶され
ていない試験時の動作を説明する。この試験は光学的手
段80に対し分布が一様な光を投射した状態で行なうのが
よい。
ーケンス制御手段60に対し外部から感度指定信号SSと検
出指令STを与えて動作させる。まず、映像データ回路を
含む図3の半導体装置70と光学的手段80がモジュール化
されたが、永久記憶手段50に補正データがまだ記憶され
ていない試験時の動作を説明する。この試験は光学的手
段80に対し分布が一様な光を投射した状態で行なうのが
よい。
【0025】シーケンス制御手段60は検出指令STに応じ
て感度指定信号SSをイメージセンサ10Lと10R, および
選択手段51に発しかつイネーブル信号ENを永久記憶手段
50に与えた後、リセットパルスRPをイメージセンサ10L
と10R, およびカウンタ回路30Lと30Rに与える。いま
は補正データDcがないから、リセットパルスRPによりカ
ウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCRは0に初期化され
る。また、原理的にはこれと同時にシーケンス制御手段
60からクロック指令Scがクロック発生回路40に与えられ
る。これにより、イメージセンサ10Lと10Rの各光セン
サ11が電荷蓄積動作を一斉に開始し、カウンタ回路30L
と30Rはクロック発生回路40から受けるクロックパルス
CPに応じて計数値CLとCRを順次歩進させる。
て感度指定信号SSをイメージセンサ10Lと10R, および
選択手段51に発しかつイネーブル信号ENを永久記憶手段
50に与えた後、リセットパルスRPをイメージセンサ10L
と10R, およびカウンタ回路30Lと30Rに与える。いま
は補正データDcがないから、リセットパルスRPによりカ
ウンタ回路30Lと30Rの計数値CLとCRは0に初期化され
る。また、原理的にはこれと同時にシーケンス制御手段
60からクロック指令Scがクロック発生回路40に与えられ
る。これにより、イメージセンサ10Lと10Rの各光セン
サ11が電荷蓄積動作を一斉に開始し、カウンタ回路30L
と30Rはクロック発生回路40から受けるクロックパルス
CPに応じて計数値CLとCRを順次歩進させる。
【0026】イメージセンサ10Lと10Rの各光センサ11
は受光量に応じた電荷蓄積時間後に前述のようにその出
力信号TSの論理状態を変化させるので、これを受ける量
子化回路20Lと20R内の対応するラッチ21はその時の計
数値CLまたはCRを読み込んで映像データDLまたはDRとし
て記憶する。これにより、各光センサ11の出力信号TSが
表す電荷蓄積時間, つまり受光量が映像データDLやDRに
順次変換されるので、両イメージセンサ10Lと10R内の
すべての光センサ11の電荷蓄積動作が終了した後に、例
えばシーケンス制御手段60から量子化回路20Lと20R内
の各ラッチ21に対し出力指令を順次与えることにより映
像データDLとDRを外部の例えば試験用のマイクロコンピ
ュータに順次取り出すことができる。
は受光量に応じた電荷蓄積時間後に前述のようにその出
力信号TSの論理状態を変化させるので、これを受ける量
子化回路20Lと20R内の対応するラッチ21はその時の計
数値CLまたはCRを読み込んで映像データDLまたはDRとし
て記憶する。これにより、各光センサ11の出力信号TSが
表す電荷蓄積時間, つまり受光量が映像データDLやDRに
順次変換されるので、両イメージセンサ10Lと10R内の
すべての光センサ11の電荷蓄積動作が終了した後に、例
えばシーケンス制御手段60から量子化回路20Lと20R内
の各ラッチ21に対し出力指令を順次与えることにより映
像データDLとDRを外部の例えば試験用のマイクロコンピ
ュータに順次取り出すことができる。
【0027】かかる試験により得られる左右の映像デー
タDLとDRは図4に示すような分布をもっており、補正デ
ータDcは例えばこれら両分布のそれぞれの平均値の差に
設定するのがよい。また、分布が図のように上方に向け
凹な二次関数的な場合は補正データを映像データDLとDR
の分布中の最小値の差Dc1に設定することでもよい。か
かる補正データDcは感度指定信号SSにより指定した感度
レベルごとに設定するのがよく、これら設定値を永久記
憶記憶手段50の記憶領域D1やD2に通例の手段で記憶さ
せ、かつこの実施例では図4の映像データDLとDRの分布
レベルの低い方に補正を施すように1ビットの指定デー
タを記憶領域DOに記憶させる。
タDLとDRは図4に示すような分布をもっており、補正デ
ータDcは例えばこれら両分布のそれぞれの平均値の差に
設定するのがよい。また、分布が図のように上方に向け
凹な二次関数的な場合は補正データを映像データDLとDR
の分布中の最小値の差Dc1に設定することでもよい。か
かる補正データDcは感度指定信号SSにより指定した感度
レベルごとに設定するのがよく、これら設定値を永久記
憶記憶手段50の記憶領域D1やD2に通例の手段で記憶さ
せ、かつこの実施例では図4の映像データDLとDRの分布
レベルの低い方に補正を施すように1ビットの指定デー
タを記憶領域DOに記憶させる。
【0028】実際の映像を検出する際の動作はこの補正
データDcを用いる点を除いて上述と同じである。カウン
タ回路30Lと30Rはイメージセンサ10Lと10Rの動作開
始と同時にリセットパルスRPを受けるが、この実施例で
はプログラマブルカウンタであるからこれに応じて補正
データDcをその下位ビット部30に読み取る。この際、感
度指定信号SSに応じ選択手段51により選択された補正デ
ータDcが選択手段52により切り換えられるから、永久記
憶手段50の記憶領域D0の記憶内容で指定されたカウンタ
回路30Lと30Rの計数値CLとCRの一方が補正データDcに
初期化される。従って、両イメージセンサ10Lと10Rの
光センサ11の電荷蓄積時間がすべて終了したとき、量子
化回路20Lと20Rに補正データDcによってすでに補正済
みの映像データDLとDRが記憶されているので、そのまま
前述の要領で外部回路に取り出しあるいは同じチップ内
の関連回路に与えることでよい。これからわかるよう
に、本発明は実際の映像の検出に際して映像データDLと
DRの補正のために全く時間を要しない利点を有する。
データDcを用いる点を除いて上述と同じである。カウン
タ回路30Lと30Rはイメージセンサ10Lと10Rの動作開
始と同時にリセットパルスRPを受けるが、この実施例で
はプログラマブルカウンタであるからこれに応じて補正
データDcをその下位ビット部30に読み取る。この際、感
度指定信号SSに応じ選択手段51により選択された補正デ
ータDcが選択手段52により切り換えられるから、永久記
憶手段50の記憶領域D0の記憶内容で指定されたカウンタ
回路30Lと30Rの計数値CLとCRの一方が補正データDcに
初期化される。従って、両イメージセンサ10Lと10Rの
光センサ11の電荷蓄積時間がすべて終了したとき、量子
化回路20Lと20Rに補正データDcによってすでに補正済
みの映像データDLとDRが記憶されているので、そのまま
前述の要領で外部回路に取り出しあるいは同じチップ内
の関連回路に与えることでよい。これからわかるよう
に、本発明は実際の映像の検出に際して映像データDLと
DRの補正のために全く時間を要しない利点を有する。
【0029】以上説明した実施例のほか、本発明は種々
の態様で実施をすることができる。例えば、実施例では
カウンタ回路をイメージセンサごとに設けたプログラマ
ブルカウンタとしたが、単一のカウンタ回路を両イメー
ジセンサに対し共通に設けて加算回路等の演算回路を利
用して量子化回路に与えるその計数値に補正データによ
る補正を施すようにしてもよい。もちろん、かかる態様
でも永久記憶手段50に付随して同様に選択手段51や52を
設け、イメージセンサの感度レベルごとに設定された補
正データにより一対のイメージセンサ中の一方に対応す
る量子化回路に与える計数値に補正を施すことができ
る。
の態様で実施をすることができる。例えば、実施例では
カウンタ回路をイメージセンサごとに設けたプログラマ
ブルカウンタとしたが、単一のカウンタ回路を両イメー
ジセンサに対し共通に設けて加算回路等の演算回路を利
用して量子化回路に与えるその計数値に補正データによ
る補正を施すようにしてもよい。もちろん、かかる態様
でも永久記憶手段50に付随して同様に選択手段51や52を
設け、イメージセンサの感度レベルごとに設定された補
正データにより一対のイメージセンサ中の一方に対応す
る量子化回路に与える計数値に補正を施すことができ
る。
【0030】また、実施例ではイメージセンサの動作開
始と同時にクロック発生回路を始動させるようにした
が、カメラを自動焦点化するための実際の映像検出動作
では、光センサ11の出力信号TSが表す電荷蓄積時間中の
最短値を検出するオアゲートやナンドゲート等の手段を
両イメージセンサに共通にまたはイメージセンサごとに
設け、最短電荷蓄積時間に対応するタイミングでクロッ
ク発生回路40にクロックパルスCPの発生動作を開始させ
るのが明るさが広範囲に変動する被写体の映像を正確に
検出する上で有利である。最短電荷蓄積時間の検出手段
をイメージセンサごとに設ける場合は、補正データDcを
最短電荷蓄積時間の差からごく簡単に設定することもで
きる。
始と同時にクロック発生回路を始動させるようにした
が、カメラを自動焦点化するための実際の映像検出動作
では、光センサ11の出力信号TSが表す電荷蓄積時間中の
最短値を検出するオアゲートやナンドゲート等の手段を
両イメージセンサに共通にまたはイメージセンサごとに
設け、最短電荷蓄積時間に対応するタイミングでクロッ
ク発生回路40にクロックパルスCPの発生動作を開始させ
るのが明るさが広範囲に変動する被写体の映像を正確に
検出する上で有利である。最短電荷蓄積時間の検出手段
をイメージセンサごとに設ける場合は、補正データDcを
最短電荷蓄積時間の差からごく簡単に設定することもで
きる。
【0031】
【発明の効果】以上のとおり本発明の映像データ回路で
は、映像データのイメージセンサ間のレベル差が光学的
手段から受ける光量の差に原因があり,従って各モジュ
ールに固有な点に着目して、永久記憶手段に試験結果に
基づいて設定した補正データを記憶させておき、映像検
出のつどにイメージセンサ内の各光センサの出力信号が
表す電荷蓄積時間を刻むクロックパルスのカウンタ回路
による計数値にこの補正データによる補正をイメージセ
ンサごとに施し、量子化回路により各光センサの出力信
号が表す電荷蓄積時間を対応する補正済み計数値により
映像データに変換することによって次の効果を上げるこ
とができる。
は、映像データのイメージセンサ間のレベル差が光学的
手段から受ける光量の差に原因があり,従って各モジュ
ールに固有な点に着目して、永久記憶手段に試験結果に
基づいて設定した補正データを記憶させておき、映像検
出のつどにイメージセンサ内の各光センサの出力信号が
表す電荷蓄積時間を刻むクロックパルスのカウンタ回路
による計数値にこの補正データによる補正をイメージセ
ンサごとに施し、量子化回路により各光センサの出力信
号が表す電荷蓄積時間を対応する補正済み計数値により
映像データに変換することによって次の効果を上げるこ
とができる。
【0032】(a) 一対のイメージセンサ間の感度レベル
差を永久記憶手段内の補正データによって正確に補正す
ることにより、映像データの従来の5〜6ビット程度な
いし誤差にして2〜3%の精度を8ビット以上の精度,
誤差にして1%以下の精度に高めることができる。とく
にカメラの自動焦点化用のイメージセンサに適用してカ
メラの合焦精度を格段に向上できる。
差を永久記憶手段内の補正データによって正確に補正す
ることにより、映像データの従来の5〜6ビット程度な
いし誤差にして2〜3%の精度を8ビット以上の精度,
誤差にして1%以下の精度に高めることができる。とく
にカメラの自動焦点化用のイメージセンサに適用してカ
メラの合焦精度を格段に向上できる。
【0033】(b) 光センサの出力信号が表す電荷蓄積時
間を刻んで映像データに量子化するためのクロックパル
スのクロック発生回路による計数値に対し補正データに
よる補正を施すようにしたので、イメージセンサ間の感
度レベル差をごく簡単な回路構成で, かつ各光センサの
電荷蓄積時間を映像データに変換すると同時に時間を費
やすことなく高速で補正することができ、とくにビデオ
カメラの自動焦点化に適用してその合焦速度を短縮する
ことができる。
間を刻んで映像データに量子化するためのクロックパル
スのクロック発生回路による計数値に対し補正データに
よる補正を施すようにしたので、イメージセンサ間の感
度レベル差をごく簡単な回路構成で, かつ各光センサの
電荷蓄積時間を映像データに変換すると同時に時間を費
やすことなく高速で補正することができ、とくにビデオ
カメラの自動焦点化に適用してその合焦速度を短縮する
ことができる。
【0034】カウンタ回路用にプログラマブルカウンタ
をイメージセンサごとに設け、映像検出の開始時にその
計数値を永久記憶手段内の補正データに初期化する本発
明の態様, ないしこの初期化を一方のカウンタ回路にの
み行なう態様は、回路の全体構成を簡単化する効果を有
する。また、量子化回路内にラッチを光センサごとに設
け、ラッチ内に各光センサの出力信号が表す電荷蓄積時
間に対応するカウンタ回路の計数値を読み込んで映像デ
ータとする態様は、多数の光センサの電荷蓄積時間を同
時並行的に映像データに変換して映像の検出に要する時
間を短縮できる効果を有する。
をイメージセンサごとに設け、映像検出の開始時にその
計数値を永久記憶手段内の補正データに初期化する本発
明の態様, ないしこの初期化を一方のカウンタ回路にの
み行なう態様は、回路の全体構成を簡単化する効果を有
する。また、量子化回路内にラッチを光センサごとに設
け、ラッチ内に各光センサの出力信号が表す電荷蓄積時
間に対応するカウンタ回路の計数値を読み込んで映像デ
ータとする態様は、多数の光センサの電荷蓄積時間を同
時並行的に映像データに変換して映像の検出に要する時
間を短縮できる効果を有する。
【0035】イメージセンサ内の光センサの検出感度を
切り換える場合に補正データを感度レベルごとに設定し
て永久記憶手段に記憶させる本発明の態様は、補正を正
確にして映像データの精度を高める効果を有する。ま
た、補正データを光学的手段に一様な光を投射した状態
での試験結果に基づいて設定する態様, さらにこの補正
データをイメージセンサごとの映像データの平均値の差
として設定する態様は、補正データの設定を簡単化しか
つ正確にする効果を有する。
切り換える場合に補正データを感度レベルごとに設定し
て永久記憶手段に記憶させる本発明の態様は、補正を正
確にして映像データの精度を高める効果を有する。ま
た、補正データを光学的手段に一様な光を投射した状態
での試験結果に基づいて設定する態様, さらにこの補正
データをイメージセンサごとの映像データの平均値の差
として設定する態様は、補正データの設定を簡単化しか
つ正確にする効果を有する。
【0036】このような特長をもつ本発明回路はとくに
自動焦点カメラ用の集積回路装置に適用してその合焦精
度と合焦速度の向上に貢献し、さらにはその左右のイメ
ージセンサ間の感度レベル差および映像データの分布の
ばらつきを格段に減少させて製造歩留まりを向上させる
効果を発揮し得るものである。
自動焦点カメラ用の集積回路装置に適用してその合焦精
度と合焦速度の向上に貢献し、さらにはその左右のイメ
ージセンサ間の感度レベル差および映像データの分布の
ばらつきを格段に減少させて製造歩留まりを向上させる
効果を発揮し得るものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の映像データ回路の実施例を示すブロッ
ク回路図である。
ク回路図である。
【図2】イメージセンサの電荷蓄積形の各光センサの構
成と動作例を示し、同図(a) はその回路図、同図(b) は
これを始動させるリセットパルスの波形図、同図(c) は
光センサの電荷蓄積動作に伴う電位の変化を示す波形
図、同図(d) は光センサの出力信号の波形図である。
成と動作例を示し、同図(a) はその回路図、同図(b) は
これを始動させるリセットパルスの波形図、同図(c) は
光センサの電荷蓄積動作に伴う電位の変化を示す波形
図、同図(d) は光センサの出力信号の波形図である。
【図3】本発明回路の自動焦点カメラへの適用例を示す
イメージセンサを含む集積回路装置を光学的手段と組み
合わせたモジュールの構造を示す断面図である。
イメージセンサを含む集積回路装置を光学的手段と組み
合わせたモジュールの構造を示す断面図である。
【図4】多数の光センサによる映像データの分布例を図
3の集積回路装置の左右一対のイメージセンサについて
示す線図である。
3の集積回路装置の左右一対のイメージセンサについて
示す線図である。
10L 左側のイメージセンサ 10R 右側のイメージセンサ 11 各イメージセンサを構成する光センサ 20L 左側の量子化回路 20R 右側の量子化回路 30L 左側のカウンタ回路 30R 右側のカウンタ回路 40 クロック発生回路 50 永久記憶手段ないしはPROM 70 一対のイメージセンサを含む半導体装置 80 光学的手段 80L 光学的手段の左側のレンズ 80R 光学的手段の右側のレンズ CL 左側のカウンタ回路の計数値 CR 右側のカウンタ回路の計数値 CP クロックパルス Dc 補正データ DL 左側のイメージセンサによる映像データ DR 右側のイメージセンサによる映像データ RP イメージセンサを動作開始させるリセットパル
ス SS 感度指定信号 TS 各光センサの出力信号 τ 光センサの電荷蓄積時間
ス SS 感度指定信号 TS 各光センサの出力信号 τ 光センサの電荷蓄積時間
Claims (7)
- 【請求項1】電荷蓄積形の光センサからなり光学的手段
による映像を受ける一対のイメージセンサから映像デー
タを取り出すための回路であって、イメージセンサ間の
映像検出の感度差の補正データを記憶する永久記憶手段
と、イメージセンサの各光センサの出力信号が表す電荷
蓄積時間を刻んで映像データに量子化するためのクロッ
クパルスを発生するクロック発生回路と、クロック発生
回路によるクロックパルスを計数するカウンタ回路と、
光センサの出力信号とカウンタ回路の計数値を受け出力
信号をそれが表す電荷蓄積時間に対応する計数値により
映像データに変換する量子化回路とを備え、両イメージ
センサの光学的手段との組み合わせ後の試験の結果に基
づいて補正データを永久記憶手段内に記憶させておき、
映像検出のつどにカウンタ回路の計数値をこの補正デー
タにより補正するようにしたことを特徴とするイメージ
センサの映像データ回路。 - 【請求項2】請求項1に記載の回路において、カウンタ
回路としてイメージセンサごとに設けられたプログラマ
ブルカウンタを用い、映像検出の開始に際しその計数値
を永久記憶手段内の補正データに初期化するようにした
ことを特徴とするイメージセンサの映像データ回路。 - 【請求項3】請求項2に記載の回路において、映像検出
の開始に際し一方のカウンタ回路のみに対しその計数値
を永久記憶手段内の補正データに初期化するようにした
ことを特徴とするイメージセンサの映像データ回路。 - 【請求項4】請求項1に記載の回路において、量子化回
路を光センサごとに設けられたラッチから構成し、ラッ
チ内に各光センサの出力信号が表す電荷蓄積時間に対応
するカウンタ回路の計数値を読み込んで映像データとし
て記憶させるようにしたことを特徴とするイメージセン
サの映像データ回路。 - 【請求項5】請求項1に記載の回路において、イメージ
センサを構成する各光センサの検出感度を切り換え可能
に構成し、永久記憶手段内に記憶させる補正データを光
センサの検出感度レベルごとに設定するようにしたこと
を特徴とするイメージセンサの映像データ回路。 - 【請求項6】請求項1に記載の回路において、光学的手
段に対し一様な光を投射した状態での試験の結果に基づ
いて補正データを設定するようにしたことを特徴とする
イメージセンサの映像データ回路。 - 【請求項7】請求項6に記載の回路において、補正デー
タを試験結果によるイメージセンサごとの映像データ群
の平均値のイメージセンサ間の差に基づいて設定するよ
うにしたことを特徴とするイメージセンサの映像データ
回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6014744A JPH07218252A (ja) | 1994-02-09 | 1994-02-09 | イメージセンサの映像データ回路 |
| US08/385,957 US5659360A (en) | 1994-02-09 | 1995-02-09 | Image data circuit for correcting sensitivity differences between image sensors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6014744A JPH07218252A (ja) | 1994-02-09 | 1994-02-09 | イメージセンサの映像データ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218252A true JPH07218252A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11869630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6014744A Pending JPH07218252A (ja) | 1994-02-09 | 1994-02-09 | イメージセンサの映像データ回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5659360A (ja) |
| JP (1) | JPH07218252A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (4)
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| FR2822327B1 (fr) * | 2001-03-16 | 2003-08-01 | Thales Electron Devices Sa | Procede et dispositif de prise d'image electronique en plusieurs zones |
| US9698182B2 (en) | 2015-03-30 | 2017-07-04 | Hamilton Sundstrand Corporation | Digital imaging and pulse detection array |
| US10222258B2 (en) | 2015-03-30 | 2019-03-05 | Sensors Unlimited, Inc. | Digital imaging and pulse detection pixel |
| US11245845B2 (en) | 2020-06-04 | 2022-02-08 | Hand Held Products, Inc. | Systems and methods for operating an imaging device |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US5047861A (en) * | 1990-07-31 | 1991-09-10 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for pixel non-uniformity correction |
| JP2864408B2 (ja) * | 1990-10-29 | 1999-03-03 | 株式会社ニコン | 画素信号補正装置 |
-
1994
- 1994-02-09 JP JP6014744A patent/JPH07218252A/ja active Pending
-
1995
- 1995-02-09 US US08/385,957 patent/US5659360A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5659360A (en) | 1997-08-19 |
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