JPH07218541A - 回路基板検査装置 - Google Patents

回路基板検査装置

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JPH07218541A
JPH07218541A JP992394A JP992394A JPH07218541A JP H07218541 A JPH07218541 A JP H07218541A JP 992394 A JP992394 A JP 992394A JP 992394 A JP992394 A JP 992394A JP H07218541 A JPH07218541 A JP H07218541A
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JP
Japan
Prior art keywords
probe
circuit board
tubular portion
core
conductive
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP992394A
Other languages
English (en)
Inventor
Takaaki Mitani
崇晃 三谷
Yutaka Nishii
豊 西井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 信号用プローブ及びシールド用プローブの電
気的接続の信頼性を向上させた回路基板検査装置の提供
を目的とする。 【構成】 基板3 と、基板3 に設けられるものであって
導電性の第1の筒部4aと第1の筒部4aに絶縁部4bを介し
て設けられた第1の芯部4cとを有した信号用プローブ4
と、基板3 に設けられるものであって導電性の第2の筒
部5aと第2の筒部5aに軸線方向に付勢された状態で設け
られた第2の芯部5bとを有したシールド用プローブ5
と、第1の筒部4aと第2の筒部5aとを導通する導電板6
と、第2の筒部5aと第2の芯部5bとを導通する導電性の
コイルばね5cとを備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路基板検査装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、回路基板検査装置は、例え
ば、図5及び図6に示すものが提供されている。すなわ
ち、これは、基板3 と、第1の筒部4aと第1の芯部4cと
を有した信号用プローブ4 と、第2の筒部5aと応力に応
じて軸線方向に動作する第2の芯部5bとを有したシール
ド用プローブ5 とを備えて構成されている。ここで、シ
ールド用プローブ5 は、電位を0Vに設定するものであ
る。
【0003】信号用プローブ4 は、その第1の芯部4cが
信号用銅電線12を介してオシロスコープ等の検査機器本
体に接続されており、シールド用プローブ5 は、その第
2の芯部4bが第1のシールド用銅電線11a を介して信号
用プローブ4 の第1の筒部4aに接続され、さらに第2の
シールド用銅電線11b を介して検査機器本体に接続され
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前述した従
来の回路基板検査装置は、回路基板1 の検査時におい
て、シールド用プローブ5 の第2の芯部5bが応力に応じ
て軸線方向に動作するので、第1の筒部4a及び第1のシ
ールド用銅電線11a の接続部と、第2の芯部5b及び第1
のシールド用銅電線11a の接続部とにストレスがかか
り、これらの接続部が破損しやすいものであった。
【0005】本発明は、このような点に鑑みなされたも
のであり、その目的とするところは、信号用プローブ及
びシールド用プローブの電気的接続の信頼性を向上させ
た回路基板検査装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の充電式電気機器は、所定厚みを有した基板
と、基板に設けられるものであって導電性の第1の筒部
と第1の筒部に絶縁部を介して設けられた第1の芯部と
を有した信号用プローブと、基板に設けられるものであ
って導電性の第2の筒部と第2の筒部に軸線方向に付勢
された状態で設けられた第2の芯部とを有したシールド
用プローブと、信号用プローブの第1の筒部とシールド
用プローブの第2の筒部とを導通する第1の導通部と、
シールド用プローブの第2の筒部と第2の芯部とを導通
する第2の導通部とを備えた構成としている。
【0007】
【作用】かかる構成によれば、第2の筒部と第2の芯部
との間に第2の導通部が介在するので、第2の芯部が軸
線方向に動作しても、第2の筒部と第1の導通部との接
続部と、第1の筒部と第1の導通部との接続部とに影響
を及ぼすことがなく、第2の筒部及び第1の筒部の導通
状態を保証できる。
【0008】
【実施例】本発明の一実施例を図1乃至図4に基づいて
説明する。
【0009】この回路基板検査装置は、回路基板1 を検
査するものであり、オシロスコープ等の検査機器本体
(図示せず)と、カバー2 と基板3 と、信号用プローブ
4 と、シールド用プローブ5 とを備えて構成されてい
る。
【0010】検査機器本体は、信号用プローブ4 と、シ
ールド用プローブ5 との信号を入力して対象となる検査
値を演算し表示部にて表示するものである。カバー2
は、大略矩形状をなしその上面の略中央に開口部を有し
ており、その開口部に基板3 を取り付けてある。
【0011】基板3 は、絶縁性材料で所定厚みに形成さ
れており、その上面に銅板等の導電性を有した導電板6
(請求項1記載のものの第1の導通部に相当する)が設
けられている。基板3 及び導電板6 は、厚み方向に貫通
する2個の貫通孔7,8 を有している。一方の貫通孔7 に
は、信号用プローブ4 がその外周面が接触するように半
田9 によって取り付けてある。また、他方の貫通孔8 に
は、シールド用プローブ5 がその外周面が接触するよう
に半田10によって取り付けてある。
【0012】信号用プローブ4 は、回路基板1 の信号を
入力するものであり、導電性を有した第1の筒部4aと、
第1の筒部4aに絶縁部4bを介して設けられた第1の芯部
4cとを有している。第1の筒部4aの所定箇所には、検査
機器本体に接続されたシールド用銅電線11の端部が接続
され、第1の芯部4cの所定箇所には、検査機器本体に接
続された信号用銅電線12の端部を接続してある。
【0013】シールド用プローブ5 は、電位を0Vに設
定するものであり、導電性を有した第2の筒部5aと、第
2の筒部5aに所定範囲内で動作するように軸線方向に付
勢された状態で設けられた第2の芯部5bと、第2の芯部
5bを第2の筒部5aに付勢させる導電性のコイルばね5c
(請求項1記載のものの第2の導通部に相当する)とを
有している。したがって、第2の芯部5bは、コイルばね
5cを介して第2の筒部5aに導通し、第2の筒部5aは、導
電板6 を介して第1の筒部4aに導通した状態となる。
【0014】次に、回路基板検査装置の動作について説
明する。機械的に送られてきた回路基板1 は、その接点
1aに信号用プローブ4 の第1の芯部4cが当接し、別の接
点1bにシールド用プローブ5 の第2の芯部5bが当接す
る。このとき、第2の芯部5bは、接点1bによる押し付け
力によって軸線方向に動作し、接点1bによる押し付け力
とコイルばね5cによる付勢力とが釣り合った箇所で静止
する。
【0015】ところで、本実施例では、第2の筒部5aと
第2の芯部5bとの間にコイルばね5cが介在するので、第
2の芯部5bが軸線方向に動作しても、第2の筒部5aと導
電板6 とを半田10付けした部分と、第1の筒部4aと導電
板6 とを半田9 付けした部分とに影響を及ぼすことはな
い。したがって、本実施例は、第2の筒部5a及び第1の
筒部4aの導通状態を保証できるので、信号用プローブ4
及びシールド用プローブ5 の電気的接続の信頼性が高い
ものである。
【0016】なお、本実施例では、第1の導通部を導電
板6 としてこれを基板3 に設けたが、本発明にあって
は、これに限られることななく、例えば、第1の導通部
を導電塗料としてこれを基板3 に塗布したり、第1の導
通部を半田としてこれを基板3に設けたり、導電性を有
した基板3 を用いて基板3 が第1の導通部の機能を兼ね
るようにしてもよい。
【0017】また、本実施例では、第2の導通部をコイ
ルばね5cとしたが、本発明にあっては、これに限られる
ことななく、例えば、第2の筒部5a及び第2の芯部5bに
互いに接触し得る接触部を設けるようにしてもよい。
【0018】
【発明の効果】本発明の回路基板検査装置は、第2の筒
部と第2の芯部との間に第2の導通部が介在するので、
第2の芯部が軸線方向に動作しても、第2の筒部と第1
の導通部との接続部と、第1の筒部と第1の導通部との
接続部とに影響を及ぼすことがなく、第2の筒部及び第
1の筒部の導通状態を保証でき、その結果、信号用プロ
ーブ及びシールド用プローブの電気的接続の信頼性を向
上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の部分側面図である。
【図2】その断面図である。
【図3】その要部分解斜視図である。
【図4】その斜視図である。
【図5】従来例の部分側面図である。
【図6】その信号用プローブ及びシールド用プローブの
電気的接続状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
3 基板 4 信号用プローブ 4a 第1の筒部 4b 絶縁部 4c 第1の芯部 5 シールド用プローブ 5a 第2の筒部 5b 第2の芯部 5c コイルばね 6 導電板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定厚みを有した基板と、基板に設けら
    れるものであって導電性の第1の筒部と第1の筒部に絶
    縁部を介して設けられた第1の芯部とを有した信号用プ
    ローブと、基板に設けられるものであって導電性の第2
    の筒部と第2の筒部に軸線方向に付勢された状態で設け
    られた第2の芯部とを有したシールド用プローブと、信
    号用プローブの第1の筒部とシールド用プローブの第2
    の筒部とを導通する第1の導通部と、シールド用プロー
    ブの第2の筒部と第2の芯部とを導通する第2の導通部
    とを備えた回路基板検査装置。
JP992394A 1994-01-31 1994-01-31 回路基板検査装置 Withdrawn JPH07218541A (ja)

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JP992394A JPH07218541A (ja) 1994-01-31 1994-01-31 回路基板検査装置

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JP992394A JPH07218541A (ja) 1994-01-31 1994-01-31 回路基板検査装置

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JPH07218541A true JPH07218541A (ja) 1995-08-18

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JP992394A Withdrawn JPH07218541A (ja) 1994-01-31 1994-01-31 回路基板検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004021019A1 (en) * 2002-08-29 2004-03-11 3M Innovative Properties Company High density probe device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004021019A1 (en) * 2002-08-29 2004-03-11 3M Innovative Properties Company High density probe device
US6902416B2 (en) 2002-08-29 2005-06-07 3M Innovative Properties Company High density probe device

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