JPH0721962A - 走査電子顕微鏡 - Google Patents
走査電子顕微鏡Info
- Publication number
- JPH0721962A JPH0721962A JP5165479A JP16547993A JPH0721962A JP H0721962 A JPH0721962 A JP H0721962A JP 5165479 A JP5165479 A JP 5165479A JP 16547993 A JP16547993 A JP 16547993A JP H0721962 A JPH0721962 A JP H0721962A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- display
- sample
- image
- electron beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 表示画面の任意の位置に走査像を表示して
も、表示された走査像の中心と倍率中心とを一致させる
ことができる走査電子顕微鏡をを実現する。 【構成】 ディスプレイ15の表示画面の左上に走査像
の表示領域を移動させる場合、コンピュータ11のポイ
ンティングデバイスを操作し、表示領域の移動を指示す
る。この場合、試料4上の電子ビームの走査領域も表示
画面上の走査像の表示領域の移動にともなって移動す
る。この移動は、コンピュータ11から走査回路6への
制御によって行われる。オペレータが表示画面を観察
し、注目部分が走査像の中に表示されたとき、ポインテ
ィングデバイスを操作し、走査像の観察領域を確定す
る。その際、コンピュータ11はステージ制御回路14
を制御し、駆動機構13により試料ステージ12を移動
させる。この結果、走査像は、電子ビームの走査領域の
中心(光軸)を中心として拡大あるいは縮小される。
も、表示された走査像の中心と倍率中心とを一致させる
ことができる走査電子顕微鏡をを実現する。 【構成】 ディスプレイ15の表示画面の左上に走査像
の表示領域を移動させる場合、コンピュータ11のポイ
ンティングデバイスを操作し、表示領域の移動を指示す
る。この場合、試料4上の電子ビームの走査領域も表示
画面上の走査像の表示領域の移動にともなって移動す
る。この移動は、コンピュータ11から走査回路6への
制御によって行われる。オペレータが表示画面を観察
し、注目部分が走査像の中に表示されたとき、ポインテ
ィングデバイスを操作し、走査像の観察領域を確定す
る。その際、コンピュータ11はステージ制御回路14
を制御し、駆動機構13により試料ステージ12を移動
させる。この結果、走査像は、電子ビームの走査領域の
中心(光軸)を中心として拡大あるいは縮小される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査電子顕微鏡に関
し、特に、走査像の表示領域をディスプレイ画面上の任
意の位置に設定することができる走査電子顕微鏡に関す
る。
し、特に、走査像の表示領域をディスプレイ画面上の任
意の位置に設定することができる走査電子顕微鏡に関す
る。
【0002】
【従来の技術】通常、走査電子顕微鏡では、電子銃から
の電子ビームを集束レンズや対物レンズによって試料上
に細く集束し、更に、電子ビームを試料上で2次元的に
走査している。そしてこの試料への電子ビームの照射に
よって発生した2次電子や反射電子を検出し、検出信号
を電子ビームの走査と同期した陰極線管上に表示するよ
うにしている。
の電子ビームを集束レンズや対物レンズによって試料上
に細く集束し、更に、電子ビームを試料上で2次元的に
走査している。そしてこの試料への電子ビームの照射に
よって発生した2次電子や反射電子を検出し、検出信号
を電子ビームの走査と同期した陰極線管上に表示するよ
うにしている。
【0003】この場合、試料上の電子ビームの走査領域
の中心と陰極線管画面の中心とは一致している。従っ
て、像倍率を変化させた場合、画面の中心部分に試料の
注目領域を表示するようにしておけば、その注目領域を
各種の倍率で容易に観察することができる。
の中心と陰極線管画面の中心とは一致している。従っ
て、像倍率を変化させた場合、画面の中心部分に試料の
注目領域を表示するようにしておけば、その注目領域を
各種の倍率で容易に観察することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記した走査電子顕微
鏡は、画像表示専門のディスプレイを有しているが、最
近、画像処理やコンピュータ技術が発達し、単一のディ
スプレイ上に走査電子顕微鏡画像のみならず走査電子顕
微鏡の操作用の表示などを混在して表示することが行わ
れるようになってきた。また、表示画面のマルチウイン
ドウ化が進むにつれ、走査像の表示領域をかならずしも
ディスプレイの画面中心に位置させず、しかも自由に走
査像の表示領域の位置やその大きさを変えることができ
るようになった。従って、倍率中心を表示画面の任意の
一点に指定したりすると、制限視野との区別もできなく
なる。また、走査像の表示領域を表示画面の中心から外
した場合、表示画面の中心と倍率中心が一致しなくな
り、倍率を変化させたときに注目部分が表示領域から消
えてしまう問題が生じる。
鏡は、画像表示専門のディスプレイを有しているが、最
近、画像処理やコンピュータ技術が発達し、単一のディ
スプレイ上に走査電子顕微鏡画像のみならず走査電子顕
微鏡の操作用の表示などを混在して表示することが行わ
れるようになってきた。また、表示画面のマルチウイン
ドウ化が進むにつれ、走査像の表示領域をかならずしも
ディスプレイの画面中心に位置させず、しかも自由に走
査像の表示領域の位置やその大きさを変えることができ
るようになった。従って、倍率中心を表示画面の任意の
一点に指定したりすると、制限視野との区別もできなく
なる。また、走査像の表示領域を表示画面の中心から外
した場合、表示画面の中心と倍率中心が一致しなくな
り、倍率を変化させたときに注目部分が表示領域から消
えてしまう問題が生じる。
【0005】この問題点を図面を参照して更に詳しく説
明する。図1(a)は表示手段の表示画面Dを示してお
り、その一部に走査像Iが表示されている。このときの
試料上の様子を図1(b)に示す。図中Oが電子ビーム
の光軸であり、走査電子顕微鏡の場合は倍率中心とな
る。また、点線で示した領域Sが電子ビームの走査範
囲、Pが観察すべき注目部分である。ここで、倍率を高
くすると、図1(c)に示すように、電子ビームの走査
範囲(点線で示す)Sが移動し、注目部分Pが電子ビー
ムの走査範囲が外れてしまい、結果として注目部分の走
査像が観察画面上で表示されなくなる。
明する。図1(a)は表示手段の表示画面Dを示してお
り、その一部に走査像Iが表示されている。このときの
試料上の様子を図1(b)に示す。図中Oが電子ビーム
の光軸であり、走査電子顕微鏡の場合は倍率中心とな
る。また、点線で示した領域Sが電子ビームの走査範
囲、Pが観察すべき注目部分である。ここで、倍率を高
くすると、図1(c)に示すように、電子ビームの走査
範囲(点線で示す)Sが移動し、注目部分Pが電子ビー
ムの走査範囲が外れてしまい、結果として注目部分の走
査像が観察画面上で表示されなくなる。
【0006】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、その目的は、表示画面の任意の位置に走査像を
表示しても、表示された走査像の中心と倍率中心とを一
致させることができる走査電子顕微鏡を実現するにあ
る。
もので、その目的は、表示画面の任意の位置に走査像を
表示しても、表示された走査像の中心と倍率中心とを一
致させることができる走査電子顕微鏡を実現するにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に基づく走査電子
顕微鏡は、試料に照射される電子ビームを集束する集束
手段と、試料上で電子ビームを走査する走査手段と、試
料への電子ビームの照射によって発生した信号を検出す
る検出手段と、検出手段からの信号が供給され試料の走
査像を表示する表示手段と、試料の位置を移動させる移
動手段とを備えた走査電子顕微鏡において、前記表示手
段は表示画面領域中の走査像の表示領域の大きさと位置
を任意に変え得るように構成されており、走査像の表示
領域の中心を表示手段の表示画面領域の中心から外した
位置に移した際、該表示領域に表示された走査像に対応
した試料上の電子ビームの走査領域の中心が電子ビーム
光軸に一致するように、前記試料移動手段を制御する制
御手段を有したことを特徴としている。
顕微鏡は、試料に照射される電子ビームを集束する集束
手段と、試料上で電子ビームを走査する走査手段と、試
料への電子ビームの照射によって発生した信号を検出す
る検出手段と、検出手段からの信号が供給され試料の走
査像を表示する表示手段と、試料の位置を移動させる移
動手段とを備えた走査電子顕微鏡において、前記表示手
段は表示画面領域中の走査像の表示領域の大きさと位置
を任意に変え得るように構成されており、走査像の表示
領域の中心を表示手段の表示画面領域の中心から外した
位置に移した際、該表示領域に表示された走査像に対応
した試料上の電子ビームの走査領域の中心が電子ビーム
光軸に一致するように、前記試料移動手段を制御する制
御手段を有したことを特徴としている。
【0008】
【作用】本発明に基づく走査電子顕微鏡は、走査像の表
示領域を表示画面の中心が外した際、表示領域に表示さ
れた走査像に対応した試料上の電子ビームの走査領域の
中心が電子ビーム光軸に一致するように、前記試料移動
手段を制御する。
示領域を表示画面の中心が外した際、表示領域に表示さ
れた走査像に対応した試料上の電子ビームの走査領域の
中心が電子ビーム光軸に一致するように、前記試料移動
手段を制御する。
【0009】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図2は本発明の一実施例である走査電子顕
微鏡を示しており、1は電子銃である。電子銃1から発
生した電子ビームは、集束レンズ2と対物レンズ3とに
よって試料4上に細く集束される。試料4上の電子ビー
ムは、偏向コイル5に走査回路6からの走査信号を倍率
制御回路7を介して供給することによって2次元的に走
査される。なお、8はイメージシフトコイルである。
に説明する。図2は本発明の一実施例である走査電子顕
微鏡を示しており、1は電子銃である。電子銃1から発
生した電子ビームは、集束レンズ2と対物レンズ3とに
よって試料4上に細く集束される。試料4上の電子ビー
ムは、偏向コイル5に走査回路6からの走査信号を倍率
制御回路7を介して供給することによって2次元的に走
査される。なお、8はイメージシフトコイルである。
【0010】試料4への電子ビームの照射によって発生
した、例えば、2次電子は、2次電子検出器9によって
検出され、その検出信号は映像増幅器10によって増幅
された後画像処理や各種の回路などの制御を行うコンピ
ュータ11に供給される。コンピュータ11は、前記走
査回路6や試料ステージ12を2次元的に移動させるモ
ータなどの駆動機構13を制御するステージ制御回路1
4などの制御を行う。コンピュータ11からの映像信号
はディスプレイ15に供給される。このディスプレイ1
5は、画像のみならず走査電子顕微鏡の操作用の表示な
どを混在して表示することができ、また、表示画面のマ
ルチウインドウ化の対応が可能で、走査像の表示領域を
かならずしもディスプレイの画面中心に位置させず、し
かも自由に走査像の表示領域の位置やその大きさを任意
に変えることができる。このような構成の動作を次に説
明する。
した、例えば、2次電子は、2次電子検出器9によって
検出され、その検出信号は映像増幅器10によって増幅
された後画像処理や各種の回路などの制御を行うコンピ
ュータ11に供給される。コンピュータ11は、前記走
査回路6や試料ステージ12を2次元的に移動させるモ
ータなどの駆動機構13を制御するステージ制御回路1
4などの制御を行う。コンピュータ11からの映像信号
はディスプレイ15に供給される。このディスプレイ1
5は、画像のみならず走査電子顕微鏡の操作用の表示な
どを混在して表示することができ、また、表示画面のマ
ルチウインドウ化の対応が可能で、走査像の表示領域を
かならずしもディスプレイの画面中心に位置させず、し
かも自由に走査像の表示領域の位置やその大きさを任意
に変えることができる。このような構成の動作を次に説
明する。
【0011】まず、通常の走査2次電子像を観察する場
合、電子銃1からの電子ビームが集束レンズ2と対物レ
ンズ3とによって細く集束され、試料4上に照射され
る。この時、走査回路6から偏向コイル5には試料上で
電子ビームを2次元的に走査するための走査信号が供給
される。試料4への電子ビームの照射によって発生した
2次電子は、2次電子検出器9によって検出され、その
検出信号は増幅器10によって増幅された後、コンピュ
ータ11に供給され、所望の画像処理が施される。コン
ピュータ11で画像処理された映像信号は、ディスプレ
イ15に供給され、試料4の2次電子像がディスプレイ
上に表示される。
合、電子銃1からの電子ビームが集束レンズ2と対物レ
ンズ3とによって細く集束され、試料4上に照射され
る。この時、走査回路6から偏向コイル5には試料上で
電子ビームを2次元的に走査するための走査信号が供給
される。試料4への電子ビームの照射によって発生した
2次電子は、2次電子検出器9によって検出され、その
検出信号は増幅器10によって増幅された後、コンピュ
ータ11に供給され、所望の画像処理が施される。コン
ピュータ11で画像処理された映像信号は、ディスプレ
イ15に供給され、試料4の2次電子像がディスプレイ
上に表示される。
【0012】図3はディスプレイ15の表示画面と試料
4上の電子ビームの走査領域との関係を説明するための
図であり、図3(a)はディスプレイ画面Dを示してお
り、表示画面の中心と走査像の表示領域Iの中心とが一
致している場合である。この場合、走査像の倍率を変化
させるには、コンピュータ11からの指示により倍率制
御回路7における走査信号の増幅率が変化させられ、試
料上の電子ビームの走査領域が大きくあるいは小さくさ
れる。この時、表示画面の中心と走査像の中心(倍率中
心)とが一致しているので、注目部分を走査像の中心に
位置させておけば、倍率を上げるに従い、注目部分が画
面から消えるようなことはない。
4上の電子ビームの走査領域との関係を説明するための
図であり、図3(a)はディスプレイ画面Dを示してお
り、表示画面の中心と走査像の表示領域Iの中心とが一
致している場合である。この場合、走査像の倍率を変化
させるには、コンピュータ11からの指示により倍率制
御回路7における走査信号の増幅率が変化させられ、試
料上の電子ビームの走査領域が大きくあるいは小さくさ
れる。この時、表示画面の中心と走査像の中心(倍率中
心)とが一致しているので、注目部分を走査像の中心に
位置させておけば、倍率を上げるに従い、注目部分が画
面から消えるようなことはない。
【0013】ここで、ディスプレイ15の表示画面Dの
左上に走査像の表示領域を移動させる場合、コンピュー
タ11のポインティングデバイスを操作し、表示領域の
移動を指示する。この場合、試料4上の電子ビームの走
査領域も表示画面上の走査像の表示領域の移動にともな
って移動する。この移動は、コンピュータ11から走査
回路6への制御によって行われる。図3(b)はこの場
合のディプレイ15の表示画面Dを示しており、図3
(c)は試料4上の電子ビームの走査領域を示してい
る。図3(c)の点線で示した領域Sが走査領域であ
る。この時、電子ビームの光軸は0である。
左上に走査像の表示領域を移動させる場合、コンピュー
タ11のポインティングデバイスを操作し、表示領域の
移動を指示する。この場合、試料4上の電子ビームの走
査領域も表示画面上の走査像の表示領域の移動にともな
って移動する。この移動は、コンピュータ11から走査
回路6への制御によって行われる。図3(b)はこの場
合のディプレイ15の表示画面Dを示しており、図3
(c)は試料4上の電子ビームの走査領域を示してい
る。図3(c)の点線で示した領域Sが走査領域であ
る。この時、電子ビームの光軸は0である。
【0014】オペレータが表示画面を観察し、注目部分
Pが走査像の中に表示されたとき、ポインティングデバ
イスを操作し、走査像の観察領域を確定する。その際、
コンピュータ11はステージ制御回路14を制御し、駆
動機構13により試料ステージ12を移動させる。この
ステージ12の移動は、電子ビームの走査領域Sの中心
に光軸Oが位置するように行われる。次に、オペレータ
が走査像の倍率を上げたい場合、コンピュータ11にそ
の旨を指示する。コンピュータ11は、指示された倍率
に基づき、倍率制御回路7を制御し、倍率に応じて走査
信号を増幅する。この結果、走査像は、電子ビームの走
査領域Sの中心(光軸O)を中心として拡大あるいは縮
小される。従って、走査像の注目部分を表示領域の中心
に位置させておく限り、倍率変化によって注目部分の像
が画面から消えることは防止される。
Pが走査像の中に表示されたとき、ポインティングデバ
イスを操作し、走査像の観察領域を確定する。その際、
コンピュータ11はステージ制御回路14を制御し、駆
動機構13により試料ステージ12を移動させる。この
ステージ12の移動は、電子ビームの走査領域Sの中心
に光軸Oが位置するように行われる。次に、オペレータ
が走査像の倍率を上げたい場合、コンピュータ11にそ
の旨を指示する。コンピュータ11は、指示された倍率
に基づき、倍率制御回路7を制御し、倍率に応じて走査
信号を増幅する。この結果、走査像は、電子ビームの走
査領域Sの中心(光軸O)を中心として拡大あるいは縮
小される。従って、走査像の注目部分を表示領域の中心
に位置させておく限り、倍率変化によって注目部分の像
が画面から消えることは防止される。
【0015】以上本発明の実施例を説明したが、本発明
はこの実施例に限定されない。例えば、2次電子を検出
するようにしたが、反射電子像,カソードルミネッセン
ス像あるいはX線像を表示する場合にも本発明を適用す
ることができる。また、図4に示すように、ディスプレ
イ画面D上に走査像の表示領域を複数(I1〜I3)設
けた場合、その内のいずれかの走査像の中心と電子ビー
ムの光軸とを一致させるようにすれば、所望の走査像に
ついて倍率変化による注目領域の逃げの問題は回避でき
る。
はこの実施例に限定されない。例えば、2次電子を検出
するようにしたが、反射電子像,カソードルミネッセン
ス像あるいはX線像を表示する場合にも本発明を適用す
ることができる。また、図4に示すように、ディスプレ
イ画面D上に走査像の表示領域を複数(I1〜I3)設
けた場合、その内のいずれかの走査像の中心と電子ビー
ムの光軸とを一致させるようにすれば、所望の走査像に
ついて倍率変化による注目領域の逃げの問題は回避でき
る。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に基づく走
査電子顕微鏡は、走査像の表示領域を表示画面の中心が
外した際、表示領域に表示された走査像に対応した試料
上の電子ビームの走査領域の中心が電子ビーム光軸に一
致するように、前記試料移動手段を制御するように構成
したので、走査像の倍率を変化させても、その像の中の
注目部分が表示領域から外れることは防止される。
査電子顕微鏡は、走査像の表示領域を表示画面の中心が
外した際、表示領域に表示された走査像に対応した試料
上の電子ビームの走査領域の中心が電子ビーム光軸に一
致するように、前記試料移動手段を制御するように構成
したので、走査像の倍率を変化させても、その像の中の
注目部分が表示領域から外れることは防止される。
【図1】従来の走査電子顕微鏡の問題点を説明するため
の図である。
の図である。
【図2】本発明に基づく走査電子顕微鏡の一実施例を示
す図である。
す図である。
【図3】図2の実施例の動作を説明するための図であ
る。
る。
【図4】本発明の他の実施例におけるディスプレイの表
示画面を示す図である。
示画面を示す図である。
1 電子銃 2 集束レンズ 3 対物レンズ 4 試料 5 偏向コイル 7 走査回路 8 イメージシフトコイル 9 2次電子検出器 10 映像増幅器 11 コンピュータ 12 試料ステージ 13 駆動機構 14 ステージ制御回路 15 ディスプレイ
Claims (1)
- 【請求項1】 試料に照射される電子ビームを集束する
集束手段と、試料上で電子ビームを走査する走査手段
と、試料への電子ビームの照射によって発生した信号を
検出する検出手段と、検出手段からの信号が供給され試
料の走査像を表示する表示手段と、試料の位置を移動さ
せる移動手段とを備えた走査電子顕微鏡において、前記
表示手段は表示画面領域中の走査像の表示領域の大きさ
と位置を任意に変え得るように構成されており、走査像
の表示領域の中心を表示手段の表示画面領域の中心から
外した位置に移した際、該表示領域に表示された走査像
に対応した試料上の電子ビームの走査領域の中心が電子
ビーム光軸に一致するように、前記試料移動手段を制御
する制御手段を有した走査電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5165479A JPH0721962A (ja) | 1993-07-05 | 1993-07-05 | 走査電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5165479A JPH0721962A (ja) | 1993-07-05 | 1993-07-05 | 走査電子顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0721962A true JPH0721962A (ja) | 1995-01-24 |
Family
ID=15813190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5165479A Pending JPH0721962A (ja) | 1993-07-05 | 1993-07-05 | 走査電子顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721962A (ja) |
-
1993
- 1993-07-05 JP JP5165479A patent/JPH0721962A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3776887B2 (ja) | 電子線装置 | |
| JP3859396B2 (ja) | 走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法及び走査型荷電粒子ビーム装置 | |
| JP3293739B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| US6225628B1 (en) | Scanning electron microscope | |
| JP2001235438A (ja) | 像観察方法および走査電子顕微鏡 | |
| JP2002343294A (ja) | 複合電子顕微鏡 | |
| JP4129088B2 (ja) | 走査透過電子顕微鏡 | |
| JP4397683B2 (ja) | 走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 | |
| JP2000036276A (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JP2001006591A (ja) | 荷電粒子ビーム装置 | |
| JP2006190567A (ja) | 電子線装置 | |
| JP2787299B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JP2002015691A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JP4050948B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JP2000156192A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JP2838799B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JP2775812B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
| JP4223734B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JP4111778B2 (ja) | 集束イオンビーム装置により一部が薄膜状に加工された試料の電子顕微鏡による観察方法 | |
| JPS59148254A (ja) | 走査電子顕微鏡等の試料移動装置 | |
| JPS5914222B2 (ja) | 走査電子顕微鏡等用倍率制御装置 | |
| JPH02253550A (ja) | 荷電粒子ビーム装置 | |
| JPH0425803Y2 (ja) | ||
| JP2001093458A (ja) | 透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 | |
| JPH0935676A (ja) | 電子顕微鏡 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010116 |