JPH0722941A - クロック再生装置 - Google Patents

クロック再生装置

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JPH0722941A
JPH0722941A JP5068001A JP6800193A JPH0722941A JP H0722941 A JPH0722941 A JP H0722941A JP 5068001 A JP5068001 A JP 5068001A JP 6800193 A JP6800193 A JP 6800193A JP H0722941 A JPH0722941 A JP H0722941A
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clock
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circuit
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JP5068001A
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Masatoshi Kunishi
昌利 國司
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Asahi Kasei Microsystems Co Ltd
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Asahi Kasei Microsystems Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L2207/00Indexing scheme relating to automatic control of frequency or phase and to synchronisation
    • H03L2207/14Preventing false-lock or pseudo-lock of the PLL

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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Measuring Phase Differences (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 RDATAIの“1”と“0”のフレーム幅
が異なったとしてもFALSE LOCKしないクロッ
ク再生回路を提供すること。 【構成】 再生クロックRCLKの前半周期の中心およ
び後半周期の中心において、RCLKの2分周クロック
CK600と遅延検波回路からのRDATAIとの排他
的論理和出力Q3/Q4が1/1または0/0のときに
FALSE LOCK状態であると判断し、このときR
CLKを前記1/1または0/0が解消するまで継続的
にFAST制御またはSLOW制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はクロック再生装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】クロック再生回路は、例えばMSKデモ
ジュレータにおいて使用される。従来のクロック再生回
路を図6に示す。MSKデモジュレータの遅延検波回路
から出力された検波結果としての、例えば1.2kHz
または1.8kHzの周波数情報をフレームごとにHi
gh(“1”)またはLow(“0”)で示す(1.2
kHzが“1”、1.8kHzが“0”)RDATA
は、エッジ検出回路1に入力され、その立上りと立下り
とが検出される。FAST/SLOWコントロール回路
2は、カウンタ3の出力RCLKのエッジがRDATA
のエッジに同期するようにカウンタ3のカウント数を制
御する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述のクロック再生回
路においては、入力データ、すなわち遅延検波回路から
のRDATAにおける“1”のフレーム幅と“0”のフ
レーム幅とが同等である限りは、RCLKはRDATA
に対してロック状態になり、全く問題は生じない。
【0004】しかしながら、遅延検波回路中で用いられ
ているアナログ回路の持つオフセット等の影響でRDA
TAにおける“1”のフレーム幅と“0”のフレーム幅
とが異なることがある。このようなときは、FAST/
SLOWコントロール回路2が例えばカウンタ3のカウ
ント数をFAST→同期→SLOW→同期→FAST…
というように制御するので、いわゆるフォールスロック
(FALSE LOCK)状態に陥ってしまい、RCL
KはRDATAのエッジに追いつことができない(すな
わち、RCLKのエッジはRDATAのエッジにロック
しない)。
【0005】そこで本発明は以上のような問題を解消
し、入力データの“1”と“0”のフレーム幅が異なっ
たとしてもFALSE LOCKしないクロック再生装
置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、再生クロック
を発生する再生クロック発生手段と、該再生クロック発
生手段からの再生クロックのエッジが入力データのエッ
ジにロックするように前記再生クロック発生手段を制御
する制御手段とを有するクロック再生装置において、前
記再生クロックの2分周クロックを作成する2分周手段
と、前記再生クロックの前半周期の中心において前記2
分周クロックと前記入力データとの排他的論理和を出力
する第1手段と、前記再生クロックの後半周期の中心に
おいて前記2分周クロックと前記入力データとの排他的
論理和を出力する第2手段と、前記第1手段の出力およ
び第2手段の出力が所定の関係になるまで前記入力デー
タのエッジに対して前記再生クロック発生手段における
再生クロックのエッジ位置を一方的に進ませるかまたは
遅らせるように前記制御手段を制御する手段とを具えた
ことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明によれば、入力データの“1”と“0”
のフレーム幅が異なっても強制引込みによってFALS
E LOCKせずに入力データに追随した再生クロック
が得られるようになる。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。
【0009】図1は本発明の実施例にかかるクロック再
生回路のブロック図である。1はエッジ検出回路、21
はFAST/SLOWコントロール回路、31はカウン
タ、41はFALSE LOCK防止回路である。図2
は本クロック再生回路の詳細を示す。図3はFALSE
LOCK防止回路の動作を示す。
【0010】図2に示すように、カウンタ31の出力I
NITNは、RCLKの1周期ごとに発生し、FALS
E LOCK防止回路41中のフリップフロップ(以下
“FF”ともいう)F1〜F4を初期化する。これによ
って、RCLKの1周期ごとに初期化されて、F1の反
転Q出力(反転Q1),F2の反転Q出力(反転Q
2),F3のQ出力(Q3)は“1”(High)に、
F4のQ出力(Q4)は“0”(Low)になる。FA
LSE LOCK防止回路41中のフリップフロップF
5のQ出力としてのCK600は、反転RCLKを2分
周したクロック(本例ではRCLKの立下りで変化す
る)であり、EX−OR1で示すEXCLUSIVE−
ORゲートの出力XOR1はCK600と遅延検波回路
からのRDATAIとの排他的論理和出力である。EX
−OR2の出力としてのCLK1はRCLKの前半周期
の中心と後半周期の中心におけるXOR1の値をF1,
F2にサンプルするためのクロックであり、NANDゲ
ートNAND1の出力としてのクロックCLK2は、C
LK1によりF1,F2にサンプルされた2ビットデー
タ(XOR1の値)をF3,F4にパラレルロードす
る。すなわち、CLK2の立上りによって、F3のQ出
力(Q3)にはROCKの後半周期の中心におけるXO
R1の値が、F4のQ出力(Q4)にはRCLKの前半
周期の中心におけるXOR1の値が各々得られ、これら
の2つのXOR1の値が入力されたEX−OR3の出力
FLOCKNが“1”のときは本クロック再生回路が正
常ロック状態であることを示し、“0”のときは本クロ
ック再生回路がFAIL LOCK状態であることを示
す。
【0011】図3の(a)は、以上の各タイミングを示
しており、同(b)はRCLKとその2分周クロックで
あるCK600と、このCK600との間でCLK2の
立上りのタイミングで排他的論理和出力(XOR1)を
得るためのRDATAIのエッジの各位置〜との関
係を示しており、同(c)はRDATAIのエッジが各
位置〜にある場合におけるQ3およびQ4の値の排
他的論理和の真理値表を示す。すなわち、この排他的論
理和(EX−OR3の出力)が“0”のときはFALS
E LOCK状態(図3(a)のCLK2Aのタイミン
グがこの状態を示しており、RCLKの立上りエッジが
RDATAIの立上りエッジに一致していない。同様に
図4の(b)もFALSE LOCK状態を示す)であ
り、このとき、本クロック再生回路は強制引込み状態に
遷移する。また、“1”のときは正常クロック状態(図
4の(a))である。
【0012】FALSE LOCK防止回路41はF6
からRDATAとRCLKとの位相差を検出した信号S
L2,FA2を出力し、これらをFAST/SLOWコ
ントロール回路21に与える。
【0013】以上の構成によれば、FALSE LOC
K防止回路41は、RCLKの立上りでF1〜F4が初
期化され、Q3が“1”、Q4が“0”になって、必ず
通常引込み状態に遷移し、CLK2の立上りでQ3/Q
4が1/0または0/1ならば、FLOCKNは1のま
まなので、強制引込み状態には遷移しない。CLK2の
立上りでQ3/Q4が1/1または0/0ならば、FL
OCKNは0となるので、強制引込み状態に遷移し、F
AST/SLOWコントロール回路21はFALSE
LOCK防止回路41からのSL2,FA2の値に基づ
いて、次のRCLKの立上りまで、カウンタ31を強制
的にSLOW制御またはFAST制御し、Q3/Q4が
1/0または0/1になるまでこの強制引込み状態を継
続する。
【0014】なお、以上の説明は、CK600がRCL
Kの立下りで変化するように回路構成した場合における
ものであるが、CK600がRCLKの立上りで変化す
るように回路構成することもできる。この場合は、図5
に示すように、CK600とRDATAIとの排他的論
理和であるQ3とQ4の値、すなわちQ3/Q4が1/
0または0/1のときにFALSE LOCK状態であ
るので、FLOCKN=1に基づいて強制引込みに遷移
させればよく、Q3/Q4が0/0または1/1のとき
は通常引込み状態に遷移させればよい。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば入力
データの“1”と“0”のフレーム幅が異なってもFA
LSE LOCKしないクロック再生装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかるクロック再生回路のブ
ロック図である。
【図2】同クロック再生回路の詳細を示すブロック図で
ある。
【図3】(a)はFALSE LOCK防止回路の動作
タイミングを示す図であり、(b)はRCLK,CK6
00と各RDATAIとの関係を示す図であり、(c)
はQ3,Q4の排他的論理和の真理値を示す図である。
【図4】(a)は通常クロック状態を示す図であり、
(b)はFALSE LOCK状態を示す図である。
【図5】RCLKとCK600との他の関係におけるQ
3,Q4の値とその結果に基づく制御態様を示す図であ
る。
【図6】従来のクロック再生回路のブロック図である。
【符号の説明】
F1〜F5 フリップフロップ EX−OR1〜EX−OR3 EXCLUSIVE O
Rゲート 1 エッジ検出回路 21 FAST/SLOWコントロール回路 31 カウンタ 41 FALSE LOCK防止回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 再生クロックを発生する再生クロック発
    生手段と、該再生クロック発生手段からの再生クロック
    のエッジが入力データのエッジにロックするように前記
    再生クロック発生手段を制御する制御手段とを有するク
    ロック再生装置において、 前記再生クロックの2分周クロックを作成する2分周手
    段と、 前記再生クロックの前半周期の中心において前記2分周
    クロックと前記入力データとの排他的論理和を出力する
    第1手段と、 前記再生クロックの後半周期の中心において前記2分周
    クロックと前記入力データとの排他的論理和を出力する
    第2手段と、 前記第1手段の出力および第2手段の出力が所定の関係
    になるまで前記入力データのエッジに対して前記再生ク
    ロック発生手段における再生クロックのエッジ位置を一
    方的に進ませるかまたは遅らせるように前記制御手段を
    制御する手段とを具えたことを特徴とするクロック再生
    装置。
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