JPH07229948A - 不良碍子検出方法及び不良碍子検出器 - Google Patents
不良碍子検出方法及び不良碍子検出器Info
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- JPH07229948A JPH07229948A JP2401994A JP2401994A JPH07229948A JP H07229948 A JPH07229948 A JP H07229948A JP 2401994 A JP2401994 A JP 2401994A JP 2401994 A JP2401994 A JP 2401994A JP H07229948 A JPH07229948 A JP H07229948A
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 操作者が高電圧部に接触せずに不良碍子を検
出することができる不良碍子検出器を提供すること。 【構成】 送電線３を保持する碍子４の不良を検出する
不良碍子検出器において、碍子４から放射される光を集
光すると共に平行光とする集光装置５と、その平行光の
中から特定波長成分を取り出すフィルタ１５と、フィル
タ１５で取出された光の成分より碍子４の良否を判定す
る判定部１８とを備えたことを特徴としている。
出することができる不良碍子検出器を提供すること。 【構成】 送電線３を保持する碍子４の不良を検出する
不良碍子検出器において、碍子４から放射される光を集
光すると共に平行光とする集光装置５と、その平行光の
中から特定波長成分を取り出すフィルタ１５と、フィル
タ１５で取出された光の成分より碍子４の良否を判定す
る判定部１８とを備えたことを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、送電線を保持する碍子
の不良を検出する不良碍子検出方法及び不良碍子検出器
に関する。
の不良を検出する不良碍子検出方法及び不良碍子検出器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】高圧送電線と鉄塔との間の絶縁に使用さ
れる碍子は、通常複数個の碍子を連結して使用される
が、そのうちの１個が絶縁不良になると、その碍子の電
気抵抗が他の連結されている碍子の電気抵抗に比べて小
さくなり、碍子両端に分担される電圧が著しく低下する
ことを利用し、碍子連の中の個々の碍子の電圧配分をみ
ることによって不良碍子を検出していた（特開平１−３
１０６２号公報）。
れる碍子は、通常複数個の碍子を連結して使用される
が、そのうちの１個が絶縁不良になると、その碍子の電
気抵抗が他の連結されている碍子の電気抵抗に比べて小
さくなり、碍子両端に分担される電圧が著しく低下する
ことを利用し、碍子連の中の個々の碍子の電圧配分をみ
ることによって不良碍子を検出していた（特開平１−３
１０６２号公報）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の方法では、以下のような問題点がある。
た従来の方法では、以下のような問題点がある。
【０００４】碍子にかかる電圧を測定することにより
不良碍子を検出するので、操作者が高電圧が印加されて
いる碍子に探針を直接接触させる必要があり、絶縁対策
が必要である。
不良碍子を検出するので、操作者が高電圧が印加されて
いる碍子に探針を直接接触させる必要があり、絶縁対策
が必要である。
【０００５】接触式であるため高電圧に対する絶縁耐
力の面で危険なので、常時監視用として使用することが
できない。
力の面で危険なので、常時監視用として使用することが
できない。
【０００６】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、操作者が高電圧部に接触せずに不良碍子を検出する
ことができる不良碍子検出器を提供することにある。
し、操作者が高電圧部に接触せずに不良碍子を検出する
ことができる不良碍子検出器を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、送電線を保持する碍子の不良を検出する方
法において、碍子から放射される光を集光すると共に平
行光とし、その平行光の中から特定波長成分を取り出
し、取出された光の成分より碍子の良否を判定するもの
である。
に本発明は、送電線を保持する碍子の不良を検出する方
法において、碍子から放射される光を集光すると共に平
行光とし、その平行光の中から特定波長成分を取り出
し、取出された光の成分より碍子の良否を判定するもの
である。
【０００８】また、本発明は、送電線を保持する碍子の
不良を検出する不良碍子検出器において、碍子から放射
される光を集光すると共に平行光とする集光装置と、そ
の平行光の中から特定波長成分を取り出すフィルタと、
フィルタで取出された光の成分より碍子の良否を判定す
る判定部とを備えたものである。
不良を検出する不良碍子検出器において、碍子から放射
される光を集光すると共に平行光とする集光装置と、そ
の平行光の中から特定波長成分を取り出すフィルタと、
フィルタで取出された光の成分より碍子の良否を判定す
る判定部とを備えたものである。
【０００９】
【作用】上記構成によれば、碍子から放射された光が集
光されると共に平行光となるので、放射光を感度よく検
出することができ、フィルタによってこの平行化された
放射光の中から特定波長成分を取り出し、その成分から
碍子の良否を判定するので、高電圧が加わった碍子のよ
うな高電圧部に操作者が検査用の探針を接触させること
なく、不良碍子を常時安全に検出することができる。
光されると共に平行光となるので、放射光を感度よく検
出することができ、フィルタによってこの平行化された
放射光の中から特定波長成分を取り出し、その成分から
碍子の良否を判定するので、高電圧が加わった碍子のよ
うな高電圧部に操作者が検査用の探針を接触させること
なく、不良碍子を常時安全に検出することができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
て詳述する。
【００１１】図２は本発明の不良碍子検出方法を適用し
た不良碍子検出器を鉄塔に取付けた状態を示す図であ
る。
た不良碍子検出器を鉄塔に取付けた状態を示す図であ
る。
【００１２】鉄塔１の腕金２には高電圧が印加された高
圧送電線３を保持する複数の碍子４が吊り下げられてい
る。鉄塔１の本体には碍子４を監視するような配置で集
光装置５及び検出装置６からなる不良碍子検出器７が取
付けられている。
圧送電線３を保持する複数の碍子４が吊り下げられてい
る。鉄塔１の本体には碍子４を監視するような配置で集
光装置５及び検出装置６からなる不良碍子検出器７が取
付けられている。
【００１３】ここで、高電圧が印加されている碍子４
は、正常時には紫外線を放射せず、絶縁不良等の異常時
には紫外線を放射する性質がある。本実施例の不良碍子
検出器７は、碍子４から放射される光を集光すると共に
平行光とし、その平行光の中から特定波長成分を取り出
し、取出された光の成分、すなわち紫外線の有無を検出
することにより碍子４の良否を判定するものである。
は、正常時には紫外線を放射せず、絶縁不良等の異常時
には紫外線を放射する性質がある。本実施例の不良碍子
検出器７は、碍子４から放射される光を集光すると共に
平行光とし、その平行光の中から特定波長成分を取り出
し、取出された光の成分、すなわち紫外線の有無を検出
することにより碍子４の良否を判定するものである。
【００１４】図３は不良碍子から放射される紫外線を含
む光を昼間測定したときのスペクトルを示す図である。
図３において、横軸は波長を示し、縦軸はペンレコーダ
（ペンレコ）の出力を示している。また、図４及び図５
は不良碍子から放射される紫外線を含む光を夜間測定し
たときのスペクトルを示す図である。図４及び図５にお
いて、横軸は波長を示し、縦軸は光強度を示している。
む光を昼間測定したときのスペクトルを示す図である。
図３において、横軸は波長を示し、縦軸はペンレコーダ
（ペンレコ）の出力を示している。また、図４及び図５
は不良碍子から放射される紫外線を含む光を夜間測定し
たときのスペクトルを示す図である。図４及び図５にお
いて、横軸は波長を示し、縦軸は光強度を示している。
【００１５】図３より放射紫外線（Ｌ1 〜Ｌ3 ）に太陽
光（自然光）Ｌ4 が重畳しているのが分かる。図５は図
３から自然光を除去したときのスペクトルにほぼ等しい
図である。すなわち、図３に示したスペクトルに対し後
述する図６に示すノイズ除去部２０で自然光を除去した
図に対応すると考えることができる。図５より波長３１
６ｎｍ、３３７ｎｍ及び３５８ｎｍで不良碍子から放射
される光の強度が特に強くなっているのがわかる。ま
た、波長２１５ｎｍ、２２６ｎｍ、２３６ｎｍ、２４５
ｎｍ及び２５５ｎｍ付近の波長成分は、自然光が少ない
波長領域に含まれるため検出が容易である。
光（自然光）Ｌ4 が重畳しているのが分かる。図５は図
３から自然光を除去したときのスペクトルにほぼ等しい
図である。すなわち、図３に示したスペクトルに対し後
述する図６に示すノイズ除去部２０で自然光を除去した
図に対応すると考えることができる。図５より波長３１
６ｎｍ、３３７ｎｍ及び３５８ｎｍで不良碍子から放射
される光の強度が特に強くなっているのがわかる。ま
た、波長２１５ｎｍ、２２６ｎｍ、２３６ｎｍ、２４５
ｎｍ及び２５５ｎｍ付近の波長成分は、自然光が少ない
波長領域に含まれるため検出が容易である。
【００１６】検出装置６の出力信号線８は鉄塔１の本体
に取付けられた光伝送装置９に接続され、この光伝送装
置９の出力線（光ファイバ）１０は鉄塔頂部に配線され
たＯＰＧＷ（光ファイバ複合架空地線、図示せず）内の
光ファイバに接続されている。
に取付けられた光伝送装置９に接続され、この光伝送装
置９の出力線（光ファイバ）１０は鉄塔頂部に配線され
たＯＰＧＷ（光ファイバ複合架空地線、図示せず）内の
光ファイバに接続されている。
【００１７】図１は図２に示した不良碍子検出器の概略
図である。
図である。
【００１８】図に示すように集光装置５は、ほぼテーパ
状に形成されたフード１１の入射側（図では左側）に設
けられ不良碍子から放射される放射紫外線を含む入射光
を集光する合成石英レンズ１２と、フード１１内の合成
石英レンズ１２の出射側に設けられ、集光された放射紫
外線を平行にする合成石英レンズ１３とで構成されてい
る。尚、フード１１は碍子からの入射光を外乱光から遮
るようになっている。
状に形成されたフード１１の入射側（図では左側）に設
けられ不良碍子から放射される放射紫外線を含む入射光
を集光する合成石英レンズ１２と、フード１１内の合成
石英レンズ１２の出射側に設けられ、集光された放射紫
外線を平行にする合成石英レンズ１３とで構成されてい
る。尚、フード１１は碍子からの入射光を外乱光から遮
るようになっている。
【００１９】集光装置５の出射側（図では右側）には筒
状のフード１４が取付けられており、このフード１４内
には、集光装置５で平行化された平行光の中から特定波
長成分を取り出すフィルタ１５が設けられている。この
フィルタ１５は２１０ｎｍから２６０ｎｍまでの範囲
内、３１６ｎｍ、３３７ｎｍ又は３５８ｎｍの紫外線を
透過するようになっている。
状のフード１４が取付けられており、このフード１４内
には、集光装置５で平行化された平行光の中から特定波
長成分を取り出すフィルタ１５が設けられている。この
フィルタ１５は２１０ｎｍから２６０ｎｍまでの範囲
内、３１６ｎｍ、３３７ｎｍ又は３５８ｎｍの紫外線を
透過するようになっている。
【００２０】フード１４の出射側には検出装置６が取付
けられており、検出装置６は、特定波長成分の紫外線に
よって発生した光電子を増倍する光電子増倍管１６と、
増倍した光電子による電流を増幅する電流増幅器１７
と、電流増幅器１７で増幅された電流より碍子４の良否
を判定する判定部１８とで構成されている。
けられており、検出装置６は、特定波長成分の紫外線に
よって発生した光電子を増倍する光電子増倍管１６と、
増倍した光電子による電流を増幅する電流増幅器１７
と、電流増幅器１７で増幅された電流より碍子４の良否
を判定する判定部１８とで構成されている。
【００２１】検出装置６の判定結果は、光伝送装置９
（図２）によって光信号に変換されてＯＰＧＷを介して
図示しない集中監視所に伝送されるようになっている。
（図２）によって光信号に変換されてＯＰＧＷを介して
図示しない集中監視所に伝送されるようになっている。
【００２２】次に実施例の作用を述べる。
【００２３】図１及び図２において、各碍子４には高圧
送電線３に印加された高電圧を分圧した電圧が印加され
ている。
送電線３に印加された高電圧を分圧した電圧が印加され
ている。
【００２４】碍子４が正常な時には碍子４から紫外線は
放射されないので、集光装置５には自然光のみ入射され
る（但し昼間の場合）。集光装置５に入射した自然光
は、合成石英レンズ１２で集光されると共に平行化され
るが、フィルタ１５で遮断されるので、光電子増倍管１
６には自然光は到達できず、光電子増倍管１６からは電
流は出力されない。このため判定部１８ではその碍子４
は正常であると判定することになる。
放射されないので、集光装置５には自然光のみ入射され
る（但し昼間の場合）。集光装置５に入射した自然光
は、合成石英レンズ１２で集光されると共に平行化され
るが、フィルタ１５で遮断されるので、光電子増倍管１
６には自然光は到達できず、光電子増倍管１６からは電
流は出力されない。このため判定部１８ではその碍子４
は正常であると判定することになる。
【００２５】これに対して、碍子４が不良の時には、碍
子４から紫外線が放射される。
子４から紫外線が放射される。
【００２６】これらの放射紫外線が集光装置５で集光さ
れると共に平行光となるので、放射紫外線が感度よく検
出され、フィルタ１５によってこの平行化された放射光
の中から特定波長成分を取り出し、その成分から碍子４
の良否を判定されるので、操作者が碍子４のような高電
圧部に検査用の探針を接触させることなく安全に不良碍
子を検出することができる。
れると共に平行光となるので、放射紫外線が感度よく検
出され、フィルタ１５によってこの平行化された放射光
の中から特定波長成分を取り出し、その成分から碍子４
の良否を判定されるので、操作者が碍子４のような高電
圧部に検査用の探針を接触させることなく安全に不良碍
子を検出することができる。
【００２７】図６は本発明の不良碍子検出器の他の実施
例の概略図である。尚、図１に示した部材と同様の部材
には共通の符号を用いた。
例の概略図である。尚、図１に示した部材と同様の部材
には共通の符号を用いた。
【００２８】図１に示した不良碍子検出器との相違点
は、検出装置１９内で電流増幅器１７と判定部１８との
間にノイズ除去部２０が接続されている点である。
は、検出装置１９内で電流増幅器１７と判定部１８との
間にノイズ除去部２０が接続されている点である。
【００２９】ノイズ除去部２０は図７に示すように、デ
ジタルレコーダ２１と、平均化処理装置２２とで構成さ
れている。
ジタルレコーダ２１と、平均化処理装置２２とで構成さ
れている。
【００３０】ノイズ除去方法を図８及び図９を参照して
説明する。
説明する。
【００３１】尚、図８（ａ）は送電線の電源電圧の波
形、図８（ｂ）は信号成分、図８（ｃ）はノイズ成分、
図８（ｄ）は電流増幅器の出力をそれぞれ示す図であ
り、共通の時間軸で示されている。図９はノイズ除去結
果を示す図であり、横軸が位相を示し、縦軸がノイズ除
去結果を示している。
形、図８（ｂ）は信号成分、図８（ｃ）はノイズ成分、
図８（ｄ）は電流増幅器の出力をそれぞれ示す図であ
り、共通の時間軸で示されている。図９はノイズ除去結
果を示す図であり、横軸が位相を示し、縦軸がノイズ除
去結果を示している。
【００３２】電流増幅器１７（図６）の出力は、不良碍
子から放射される信号成分と自然光等のノイズ成分の両
方を含んでいる（図８（ａ）、図８（ｂ）、図８
（ｄ））。このうち信号成分は、不良碍子からの紫外線
が電源電圧の特定の位相で放射されるので、電源電圧と
同じ周期性を有する。一方、ノイズ成分は電源電圧の位
相とは無関係である（図８（ｃ））。そこで、信号成分
及びノイズ成分の両方を含む電流増幅器１７の出力をｎ
周期分平均することにより、電源電圧の位相に無関係な
ノイズが減衰し、電源電圧と同じ周期性を有する信号成
分が残り、ノイズが除去される（図９）。
子から放射される信号成分と自然光等のノイズ成分の両
方を含んでいる（図８（ａ）、図８（ｂ）、図８
（ｄ））。このうち信号成分は、不良碍子からの紫外線
が電源電圧の特定の位相で放射されるので、電源電圧と
同じ周期性を有する。一方、ノイズ成分は電源電圧の位
相とは無関係である（図８（ｃ））。そこで、信号成分
及びノイズ成分の両方を含む電流増幅器１７の出力をｎ
周期分平均することにより、電源電圧の位相に無関係な
ノイズが減衰し、電源電圧と同じ周期性を有する信号成
分が残り、ノイズが除去される（図９）。
【００３３】ノイズ除去方法について詳しく説明する
と、ノイズ除去部２０は、高圧送電線３を流れる交流電
流の商用周波数の１周期をｍ等分した時間ごとに（図１
０（ａ）参照）、デジタルレコーダ２１で電流増幅器１
７の出力を商用周波数のｎ周期分（図１０（ｂ）参照）
記録し、これを平均化処理装置で同じ位相ごとにｎ周期
分平均する（数１参照）ことにより、電源電圧の特定位
相で現れる信号成分を残し、電源電圧の位相とは無関係
なノイズ成分を低減するようになっている。尚、図１０
（ａ）及び図１０（ｂ）は高圧送電線に接続された電源
の電圧波形を表しており、横軸が時間を示し、縦軸が電
圧を示している。
と、ノイズ除去部２０は、高圧送電線３を流れる交流電
流の商用周波数の１周期をｍ等分した時間ごとに（図１
０（ａ）参照）、デジタルレコーダ２１で電流増幅器１
７の出力を商用周波数のｎ周期分（図１０（ｂ）参照）
記録し、これを平均化処理装置で同じ位相ごとにｎ周期
分平均する（数１参照）ことにより、電源電圧の特定位
相で現れる信号成分を残し、電源電圧の位相とは無関係
なノイズ成分を低減するようになっている。尚、図１０
（ａ）及び図１０（ｂ）は高圧送電線に接続された電源
の電圧波形を表しており、横軸が時間を示し、縦軸が電
圧を示している。
【００３４】
【数１】
【００３５】但し、ｉ：周期（１〜ｎ、１００≦ｎ≦１
００，０００） ｊ：位相（１〜ｍ） ｘij：デジタルレコーダに記録したデータ ｙj ：平均化処理装置で光強度を同じ位相ごとにｎ周期
分平均した結果 をそれぞれ示す。
００，０００） ｊ：位相（１〜ｍ） ｘij：デジタルレコーダに記録したデータ ｙj ：平均化処理装置で光強度を同じ位相ごとにｎ周期
分平均した結果 をそれぞれ示す。
【００３６】ノイズ除去部２０の出力は、判定部１８ａ
に入力されるようになっており、判定部１８ａは図１１
に示すように、ピーク値計算装置２３と、判定器２４と
で構成されている。判定部１８ａは、ピーク値計算装置
２３でノイズ除去部２０からの出力信号のピーク値を計
算し、判定器２４でピーク値が設定値より大きいか否か
を調べ、設定値より大きければ碍子４が異常であると判
定し、小さければ碍子４が正常であると判定するように
なっている。
に入力されるようになっており、判定部１８ａは図１１
に示すように、ピーク値計算装置２３と、判定器２４と
で構成されている。判定部１８ａは、ピーク値計算装置
２３でノイズ除去部２０からの出力信号のピーク値を計
算し、判定器２４でピーク値が設定値より大きいか否か
を調べ、設定値より大きければ碍子４が異常であると判
定し、小さければ碍子４が正常であると判定するように
なっている。
【００３７】以上において本実施例によれば、碍子から
放射される光を集光すると共に平行光とする集光装置
と、その平行光の中から特定波長成分を取り出すフィル
タと、フィルタで取出された光の成分より碍子の良否を
判定する判定部とを備えたので、操作者が高電圧部に接
触せずに不良碍子を検出することができる不良碍子検出
器を実現することができる。
放射される光を集光すると共に平行光とする集光装置
と、その平行光の中から特定波長成分を取り出すフィル
タと、フィルタで取出された光の成分より碍子の良否を
判定する判定部とを備えたので、操作者が高電圧部に接
触せずに不良碍子を検出することができる不良碍子検出
器を実現することができる。
【００３８】尚、本実施例では集光装置に合成石英レン
ズを用いたが、これに限定されるものではなく、紫外線
を透過することができれば他の材質からなるレンズを用
いてもよいのはいうまでもない。
ズを用いたが、これに限定されるものではなく、紫外線
を透過することができれば他の材質からなるレンズを用
いてもよいのはいうまでもない。
【００３９】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【００４０】(1) 碍子から放射される紫外線を検出する
ことにより碍子の良否を判定するので、操作者が直接高
圧部に接触する危険がない。
ことにより碍子の良否を判定するので、操作者が直接高
圧部に接触する危険がない。
【００４１】(2) 操作者が直接高圧部に接触することが
ないので、高電圧に対する絶縁の問題がなく、常時監視
用として使用できる。
ないので、高電圧に対する絶縁の問題がなく、常時監視
用として使用できる。
【図１】本発明の不良碍子検出方法を適用した不良碍子
検出器の一実施例の概略図である。
検出器の一実施例の概略図である。
【図２】本発明の不良碍子検出方法を適用した不良碍子
検出器を鉄塔に取付けた状態を示す図である。
検出器を鉄塔に取付けた状態を示す図である。
【図３】不良碍子から放射される紫外線を含む光を昼間
測定したときのスペクトルを示す図である。
測定したときのスペクトルを示す図である。
【図４】不良碍子から放射される紫外線を含む光を夜間
測定したときのスペクトルを示す図である。
測定したときのスペクトルを示す図である。
【図５】不良碍子から放射される紫外線を含む光を夜間
測定したときのスペクトルを示す図である。
測定したときのスペクトルを示す図である。
【図６】本発明の不良碍子検出器の他の実施例の概略図
である。
である。
【図７】図６に示した不良碍子検出器に用いられるノイ
ズ除去部の概略図である。
ズ除去部の概略図である。
【図８】図６に示した不良碍子検出器におけるノイズ除
去方法を説明するための説明図である。
去方法を説明するための説明図である。
【図９】図６に示した不良碍子検出器におけるノイズ除
去方法を説明するための説明図である。
去方法を説明するための説明図である。
【図１０】図６に示した不良碍子検出器におけるノイズ
除去方法を詳しく説明するための説明図である。
除去方法を詳しく説明するための説明図である。
【図１１】図６に示した不良碍子検出器に用いられる判
定部の概略図である。
定部の概略図である。
３ 高圧送電線 ４ 碍 子 ５ 集光装置 １８ 判定部
Claims (4)
- 【請求項１】 送電線を保持する碍子の不良を検出する
方法において、碍子から放射される光を集光すると共に
平行光とし、その平行光の中から特定波長成分を取り出
し、取出された光の成分より前記碍子の良否を判定する
ことを特徴とする不良碍子検出方法。 - 【請求項２】 送電線を保持する碍子の不良を検出する
不良碍子検出器において、碍子から放射される光を集光
すると共に平行光とする集光装置と、その平行光の中か
ら特定波長成分を取り出すフィルタと、該フィルタで取
出された光の成分より前記碍子の良否を判定する判定部
とを備えたことを特徴とする不良碍子検出器。 - 【請求項３】 前記特定波長成分は、２１０ｎｍから２
６０ｎｍまでの範囲内、３１６ｎｍ、３３７ｎｍ又は３
５８ｎｍであることを特徴とする請求項２記載の不良碍
子検出器。 - 【請求項４】 前記不良碍子検出器は、前記碍子から放
射される光の信号成分と自然光のノイズ成分とを含む入
射光を、前記送電線の電源電圧のｎ周期分平均すること
により、前記送電線の電源電圧の特定の位相で前記碍子
から放射される光の信号成分を残し、前記送電線の電源
電圧の位相とは無関係なノイズ成分を除去するノイズ除
去部を有することを特徴とする請求項２又は請求項３記
載の不良碍子検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401994A JPH07229948A (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 不良碍子検出方法及び不良碍子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401994A JPH07229948A (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 不良碍子検出方法及び不良碍子検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07229948A true JPH07229948A (ja) | 1995-08-29 |
Family
ID=12126834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2401994A Pending JPH07229948A (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 不良碍子検出方法及び不良碍子検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07229948A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000054038A1 (fr) * | 1999-03-10 | 2000-09-14 | Joven Denki Kabushiki Kaisha | Procede d'examen d'emballages etanches |
| JP2005241623A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-09-08 | Jfe Steel Kk | 放電検出装置 |
| CN106646028A (zh) * | 2016-11-17 | 2017-05-10 | 西安交通大学 | 一种复合绝缘子老化测试装置及其测试方法 |
-
1994
- 1994-02-22 JP JP2401994A patent/JPH07229948A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000054038A1 (fr) * | 1999-03-10 | 2000-09-14 | Joven Denki Kabushiki Kaisha | Procede d'examen d'emballages etanches |
| US6593752B1 (en) | 1999-03-10 | 2003-07-15 | Joven Denki Kabushiki Kaisha | Method for inspecting hermetically sealed packages |
| JP2005241623A (ja) * | 2004-01-27 | 2005-09-08 | Jfe Steel Kk | 放電検出装置 |
| CN106646028A (zh) * | 2016-11-17 | 2017-05-10 | 西安交通大学 | 一种复合绝缘子老化测试装置及其测试方法 |
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