JPH07230391A - 情報処理装置の検証装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 動作テストプログラムの作成および入力作業
時間を短縮し、人手による入力ミスを排除し、かつ情報
処理装置の検証装置の操作性を向上する。 【構成】 外部記憶装置内に、複数の入出力装置ごとの
動作テスト基本手順を記述したテスト基本手順テーブル
と動作テストプログラムとを予め格納しておき、前記複
数の入出力装置のハードウェア構成を認識してハードウ
ェア構成テーブルを作成するハードウェア構成テーブル
作成手段と、ハードウェア構成に一致した前記動作テス
ト基本手順を、前記テスト基本手順テーブルと前記ハー
ドウェア構成テーブルとから選択してテスト実行手順テ
ーブルを作成するテスト実行手順テーブル作成手段と、
前記テスト実行手順テーブルに基づいて前記動作テスト
プログラムを実行するテスト実行手段とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の検証装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、情報処理装置および該情報処理装
置に接続される入出力装置（以下、Ｉ／Ｏ装置という）
の検証方法として、例えば、特開平４−１７２５３８号
公報に開示されているように、同一のハードウェア構成
のＩ／Ｏ装置をテストする場合、１回目のテストデータ
を記憶しておき、再テスト時に同じテストデータを用い
て自動的に行う技術が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術では、前記Ｉ／Ｏ装置のハードウェア構成に変更
があった場合には、そのハードウェアの構成に対応した
動作テストプログラムを作成して入力しなければならな
いという問題があった。

【０００４】また、同一のハードウェア構成のＩ／Ｏ装
置であっても、テスト内容が異なる場合には、そのテス
ト内容に応じた動作テストプログラムを作成して入力し
なければならないという問題があった。

【０００５】また、前記動作テストプログラムの作成お
よび入力作業は、人手による作業のために多大な時間が
かかり、また、入力ミスが発生するという問題があっ
た。

【０００６】本発明の目的は、動作テストプログラムの
作成および入力作業時間を短縮し、人手による入力ミス
を排除し、かつ操作性の向上を可能とする情報処理装置
の検証装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。

【０００８】すなわち、中央処理装置と、複数の入出力
装置と、該複数の入出力装置ごとの動作テスト基本手順
を記述したテスト基本手順テーブルと動作テストプログ
ラムとを予め格納した外部記憶装置とから構成される情
報処理装置の検証装置であって、前記外部記憶装置内
に、前記複数の入出力装置のハードウェア構成を認識し
てハードウェア構成テーブルを作成するハードウェア構
成テーブル作成手段と、ハードウェア構成に一致した前
記動作テスト基本手順を、前記テスト基本手順テーブル
と前記ハードウェア構成テーブルとから選択してテスト
実行手順テーブルを作成するテスト実行手順テーブル作
成手段と、前記テスト実行手順テーブルに基づいて前記
動作テストプログラムを実行するテスト実行手段とを有
するものである。

【０００９】

【作用】前記手段によれば、予め外部記憶装置に格納さ
れている複数の入出力装置ごとの動作テスト基本手順を
記述したテスト基本手順テーブルから、情報処理装置に
接続される前記複数の入出力装置のハードウェア構成テ
ーブルを作成し、この作成されたハードウェア構成テー
ブルに一致するハードウェア構成の動作テスト基本手順
を、前記複数の入出力装置ごとの動作テスト基本手順を
記述したテスト基本手順テーブルから選択してテスト実
行手順テーブルを作成し、このテスト実行手順テーブル
に基づいて、前記動作テストプログラムを実行するの
で、Ｉ／Ｏ装置のハードウェア構成を変更した場合や、
同一ハードウェア構成のＩ／Ｏ装置で内容の異なるテス
トを行う場合であっても、改めて動作テストプログラム
あるいはテスト手順を作成して入力することなく、動作
テストを実行することができる。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細
に説明する。

【００１１】図１は本発明を適用した情報処理装置の検
証装置の一実施例の構成を示すブロック構成図である。

【００１２】図１において、情報処理装置の検証装置１
は、情報処理装置２と、情報処理装置２に接続される複
数の入出力装置３ｉ（ｉ＝１、２、…、ｎ）（以下、Ｉ
／Ｏ装置３という）と、必要な入力作業を行う表示装置
を備えたキーボード４とから構成される。

【００１３】なお、ここでいうＩ／Ｏ装置３とは、例え
ば、ハードディスク装置（ＨＤ）や磁気記録装置（Ｍ
Ｔ）などを指している。

【００１４】情報処理装置２は、中央処理装置５（以
下、ＣＰＵ５という）と外部記憶装置（External Memor
y)６（以下、ＥＭ６という）とから構成されている。

【００１５】図２は本発明に係る各手段および各テーブ
ルの関係を説明するための説明図である。

【００１６】図２に示すように、ＥＭ６内には、情報処
理装置２に接続されるＩ／Ｏ装置３のハードウェア構成
を認識してハードウェア構成テーブル３０を作成するハ
ードウェア構成テーブル作成手段２０と、動作テストプ
ログラム７０を実行するためのテスト実行手順テーブル
５０を作成するテスト実行手順テーブル作成手段４０
と、テスト実行手順テーブル５０に基づいてテストを実
行するテスト実行手段６０と、テストに必要な各種テー
ブルのアドレスを管理するポインタ管理テーブル８０
と、基本的なテストの手順を記述したテスト基本手順テ
ーブル９０とが格納されている。

【００１７】本実施例においては、前記各手段および前
記複数のテーブルがテスト部制御プロクラムとしてＥＭ
６に格納されており、本発明に係る検証方法は、前記テ
スト部制御プロクラムをＣＰＵ５が実行することにより
実現されるものである。

【００１８】図３は本実施例で用いる各種テーブルの構
成を示すテーブル構成図である。

【００１９】図３において、３０はハードウェアの構成
情報を格納するハードウェア構成テーブルであり、ｎ種
類のハードウェア構成情報（３１−１、３１−２、…、
３１−ｎは以下、そのうちのいずれか１つを代表してハ
ードウェア構成情報３１という）が記述され、テーブル
の最後には、ハードウェア構成テーブル３０の最後を示
すエンドサイン３２が記述されている。

【００２０】５０は前記テスト実行手順テーブルであ
り、ｎ種類のテスト実行手順（５１−１、５１−２、
…、５１−ｎは以下、そのうちのいずれか１つを代表し
てテスト実行手順５１という）が記述され、テーブルの
最後には、テスト実行手順テーブル５０の最後を示すエ
ンドサイン５２が記述されている。

【００２１】９０はテスト基本手順テーブルであり、ｎ
種類の基本的なテストの手順（９１−１、９１−２、
…、９１−ｎは以下、そのうちのいずれか１つを代表し
てテスト基本手順９１という）が記述され、テーブルの
最後には、テスト基本手順テーブル９０の最後を示すエ
ンドサイン９２が記述されている。

【００２２】図面番号が前後したが、８０はポインタ管
理テーブルであり、テストに必要な各種テーブルのアド
レスを管理するものである。

【００２３】ポインタ管理テーブル８０には、ハードウ
ェア構成テーブル３０の先頭アドレス８１と、以下に続
くハードウェア構成情報３１のアドレスを記述したハー
ドウェア構成テーブルポインタ８２が格納されている、
また、テスト実行手順テーブル５０の先頭アドレス８３
と、以下に続くテスト実行手順５１のアドレスを記述し
たテスト実行手順テーブルポインタ８４が格納されてい
る。

【００２４】さらに、テスト基本手順テーブル９０の先
頭アドレス８５と、以下に続くテスト基本手順９１のア
ドレスを記述した基本手順テーブルポインタ８６が格納
されている。

【００２５】図４〜図６は各種テーブルの詳細を説明す
るための説明図である。図４は、ハードウェア構成テー
ブル３０の詳細を示す図であり、ハードウェア構成情報
３１は、Ｉ／Ｏ装置３の種類と１対１に対応した装置種
別３１１と、Ｉ／Ｏ装置３が接続されている入出力アド
レスを示す接続位置３１２とから構成される。

【００２６】また、図５は、テスト実行手順テーブル５
０の詳細を示し図であり、テスト実行手順５１は、Ｉ／
Ｏ装置３が接続されている入出力アドレスを示す接続位
置５１１と、手順５１２とから構成されている。

【００２７】図６はテスト基本手順テーブルの詳細を示
す図である。図６（Ａ）に示すようにテスト基本手順９
１は、手順の種類、例えば、接続位置の設定の要／不要
あるいは有効／無効などを示すフラグ９１１と、装置種
別９１２と、実際のテストの手順９１３とから構成され
ている。

【００２８】ここで、手順９１３には数種類あり、ハー
ドウェア構成テーブル３０からＩ／Ｏ装置３の接続位置
３１２を求める必要があるものと、求める必要のないも
のがある。

【００２９】図６（Ｂ）はフラグ９１１によって表され
る意味を説明するための説明図である。図６（Ｂ）に示
すように、フラグ９１１は、フラグ番号９１１１とフラ
グ内容９１１２とから構成され、例えば、フラグ番号が
「００」であれば、「テスト基本手順を無効とする」を
表している。

【００３０】また、フラグ番号の「０３〜９９」は、予
備として確保しておき、新たなテスト内容に応じて設定
することもできる。

【００３１】次に、テスト実行手順テーブル作成手段の
処理について図７（テスト実行手順テーブル作成手段の
処理手順を示すフローチャート）のフローチャートを用
いて詳細に説明する。

【００３２】まず、ポインタ管理テーブル８０のハード
ウェア構成テーブルポインタ８２がハードウェア構成テ
ーブル３０のエンドサイン３２を指しているか否かを調
査する（ステップ７０１）。

【００３３】エンドサイン３２を指している場合（ステ
ップ７０１：Ｙｅｓ）、ハードウェア構成テーブル３０
を全てチェック済みと判断し、処理を終了する。

【００３４】エンドサイン３２を指していない場合（ス
テップ７０１：Ｎｏ）、ポインタ管理テーブル８０の基
本手順テーブルポインタ８６がテスト基本手順テーブル
９０のエンドサイン９２を指しているか否かを調査する
（ステップ７０２）。

【００３５】エンドサイン９２を指していれば（ステッ
プ７０２：Ｙｅｓ）、テスト基本手順テーブル９０を全
てチェック済みと判断し、ステップ７１０の処理に移
る。

【００３６】エンドサイン９２を指していなければ（ス
テップ７０２：Ｎｏ）、テスト基本手順テーブル９１内
のフラグ９１１が有効か無効かを調査する（ステップ７
０３）。

【００３７】フラグ９１１が無効の場合（ステップ７０
３：無効）、ステップ７０８の処理に移る。

【００３８】フラグ９１１が有効の場合（ステップ７０
３：有効）、ポインタ管理テーブル８０のハードウェア
構成テーブルポインタ８２が示すハードウェア構成情報
３１の装置種別３１１と、テスト基本手順９１の装置種
別９１２とが一致するか否かをチェックする（ステップ
７０４）。

【００３９】一致した場合、（ステップ７０４：一
致）、ポインタ管理テーブル８０のテスト実行手順テー
ブルポインタ８４が設定されているか否かを調査する
（ステップ７０５）。

【００４０】一致していない場合（ステップ７０４：不
一致）、ステップ７０８の処理へ移る。

【００４１】ステップ７０５において、テスト実行手順
テーブルポインタ８４が設定されている場合（ステップ
７０５：Ｙｅｓ）、ステップ７０６に進む。

【００４２】テスト実行手順テーブルポインタ８４が設
定されていない場合（ステップ７０５：Ｎｏ）、テスト
実行手順テーブル５０が未確保であると判断し、ＥＭ６
内にテスト実行手順テーブル５０の領域を確保し（ステ
ップ７１２）、その先頭アドレスをポインタ管理テーブ
ル８０内のテスト実行手順テーブル先頭アドレス８３お
よびテスト実行手順テーブルポインタ８４にセットす
る。

【００４３】次に、テスト基本手順９１の手順９１３を
ポインタ管理テーブル８０内のテスト実行手順テーブル
ポインタ８４が示すテスト実行手順５１にセットする
（ステップ７０６）。

【００４４】次に、基本手順テーブルポインタ８６が示
すテスト基本手順９１内のフラグ９１１を、フラグ番号
の「０２」にする必要があるか否かをチェックする（ス
テップ７０７）。

【００４５】必要であれば（ステップ７０７：Ｙｅ
ｓ）、ポインタ管理テーブル８０内のテスト実行手順テ
ーブルポインタ８４が示すテスト実行手順５１の接続位
置５１１に、ポインタ管理テーブル８０のハードウェア
構成テーブルポインタ８２が示すハードウェア構成情報
３１の接続位置３１２をセットする（ステップ７１
３）。

【００４６】そして、テスト実行手順５１の次のアドレ
スをテスト実行手順テーブルポインタ８４にセットする
（ステップ７０８）。

【００４７】そして、ポインタ管理テーブル８０内の基
本手順テーブルポインタ８６に、テスト基本手順９１の
次のアドレスをセットし（ステップ７０９）、ステップ
７０２に戻る。

【００４８】ここで、テスト基本手順テーブル９０が全
てチェック済みであれば（ステップ７０２：Ｙｅｓ）、
ポインタ管理テーブル８０内のハードウェア構成テーブ
ルポインタ８２に、ハードウェア構成情報３１の次のア
ドレスをセットする（ステップ７１０）。

【００４９】そして、テスト基本手順テーブル９０の先
頭アドレスをポインタ管理テーブル８０の基本手順テー
ブルポインタ８６にセットする（ステップ７１１）。

【００５０】以上の処理を、ハードウェア構成テーブル
３０内のエンドサイン３２を検出するまで繰り返す。

【００５１】次に、テスト実行手段６０の処理手順につ
いて説明する。テスト実行手段６０は、テスト実行手段
解読処理とテスト部起動処理とから構成される。

【００５２】図８はテスト実行手段の処理手順を示すフ
ローチャートである。

【００５３】図８に示すように、まず、ポインタ管理テ
ーブル８０内のテスト実行手順テーブル先頭アドレス８
３を、テスト実行手順テーブルポインタ８４にセットす
る（ステップ８０１）。

【００５４】次に、テスト実行手順テーブルポインタ８
４が示すテスト実行手順５１をテスト実行手段解読処理
によって解読する（ステップ８０２）。

【００５５】そして、このテスト実行手順５１の解読中
にテスト部起動処理を検出すると（ステップ８０３：Ｙ
ｅｓ）、テスト実行手段解読処理からテスト部起動処理
へ制御を移行し、動作テストプログラム（図示していな
い）を起動し（ステップ８０６）、テストを開始する
（ステップ８０７）。

【００５６】テストを終了した後（ステップ８０８）、
テスト実行手段６０の処理を終了する。

【００５７】ステップ８０３において、テスト実行手順
５１の解読中にテスト起動処理を検出せずに１つのテス
ト実行手順５１の解読を終了すると（ステップ８０３：
Ｎｏ）、テスト実行手順テーブルポインタ８４に、テス
ト実行手順５１の次のアドレスをセットする（ステップ
８０４）。

【００５８】そして、エンドサイン５２の検出の有無を
判定し（ステップ８０５）、エンドサイン５２を検出し
なければ（ステップ８０５：Ｎｏ）、ステップ８０２に
戻って処理を繰り返す。

【００５９】以上の処理を、テスト実行手順テーブル５
０内のエンドサイン５２を検出するまで行う（ステップ
８０４：Ｙｅｓ）。

【００６０】以上、本実施例の説明から分かるように、
複数のハードウェア構成情報３１と、複数のテスト実行
手順５１と、複数のテスト基本手順９１とを予め準備し
ておくことにより、接続されるＩ／Ｏ装置３の種別ある
いは接続位置３１２を識別し、ハードウェアの構成に対
応したテスト実行手順５１を選択して動作テストプログ
ラム（図示していない）を実行するので、ハードウェア
の構成が異なっても、人手を介して動作テストプログラ
ムあるいはテスト手順を作成して入力することなく、Ｉ
／Ｏ装置３の動作テストを行うことができる。

【００６１】また、同一ハードウェア構成のＩ／Ｏ装置
３であっても、例えば、１回目と２回目のテスト内容を
変更する場合には、キーボード４から、テスト基本手順
９０のフラグ９１１を操作するだけで、自動的にそのテ
スト実行手順５１が選択されて、動作テストプログラム
が実行されるので、テスト内容に応じた動作テストプロ
グラムあるいはテスト手順を作成して入力する必要がな
い。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
以下の効果を得ることができる。

【００６３】（１）情報処理装置に接続されるＩ／Ｏ装
置のハードウェア構成を変更した場合であっても、改め
て、そのハードウェア構成に対応した動作テストプログ
ラムあるいはテスト手順を作成して入力する必要がない
ので、動作テストプログラムあるいはテスト手順の作成
・入力時の作業時間の短縮を図ることができる。

【００６４】（２）同一のハードウェア構成のＩ／Ｏ装
置に対して、異なった内容のテストを行う場合であって
も、改めて、そのハードウェア構成に対応した動作テス
トプログラムあるいはテスト手順を作成して入力する必
要がないので、動作テストプログラムあるいはテスト手
順の作成・入力時の人為的ミスを排除することができ
る。

【００６５】（３）前記（１）と（２）により、情報処
理装置に接続されるＩ／Ｏ装置の検証時における操作性
が著しく向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した情報処理装置の検証装置の一
実施例の構成を示すブロック構成図である。

【図２】本実施例の外部記憶装置に格納されている各手
段および各種テーブルを示す図である。

【図３】本実施例のポインタ管理テーブルの詳細を説明
するための説明図である。

【図４】本実施例のハードウェア構成テーブルの詳細を
示す図である。

【図５】本実施例のテスト実行手順テーブルの詳細を示
す図である。

【図６】本実施例のテスト基本手順テーブルの詳細を示
す図である。

【図７】本実施例の全体的な処理手順を示すフローチャ
ートである。

【図８】本実施例のテスト実行手段の処理手順を示すフ
ローチャートである。

【符号の説明】

１…情報処理装置の検証装置、２…情報処理装置、３…
入出力装置３（Ｉ／Ｏ装置３）、４…キーボード、５…
中央処理装置５（ＣＰＵ５）、６…外部記憶装置（Exte
rnal Memory)６（ＥＭ６）、２０…ハードウェア構成テ
ーブル作成手段、３０…ハードウェア構成テーブル、４
０…テスト実行手順テーブル作成手段、５０…テスト実
行手順テーブル、６０…テスト実行手段、７０…動作テ
ストプログラム、８０…ポインタ管理テーブル、９０…
テスト基本手順テーブル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 中央処理装置と、複数の入出力装置と、
   該複数の入出力装置ごとの動作テスト基本手順を記述し
   たテスト基本手順テーブルと動作テストプログラムとを
   予め格納した外部記憶装置とから構成される情報処理装
   置の検証装置であって、 前記外部記憶装置内に、前記複数の入出力装置のハード
   ウェア構成を認識してハードウェア構成テーブルを作成
   するハードウェア構成テーブル作成手段と、ハードウェ
   ア構成に一致した前記動作テスト基本手順を、前記テス
   ト基本手順テーブルと前記ハードウェア構成テーブルと
   から選択してテスト実行手順テーブルを作成するテスト
   実行手順テーブル作成手段と、前記テスト実行手順テー
   ブルに基づいて前記動作テストプログラムを実行するテ
   スト実行手段とを有することを特徴とする情報処理装置
   の検証装置。