JPH07237061A - ステージ装置 - Google Patents
ステージ装置Info
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- JPH07237061A JPH07237061A JP5488894A JP5488894A JPH07237061A JP H07237061 A JPH07237061 A JP H07237061A JP 5488894 A JP5488894 A JP 5488894A JP 5488894 A JP5488894 A JP 5488894A JP H07237061 A JPH07237061 A JP H07237061A
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
- Machine Tool Units (AREA)
- Braking Arrangements (AREA)
Abstract
に作用する粘性抵抗を適切な大きさに調整することがで
きるようにする。 【構成】可動ステージ2の下面に配設された突片11B
を粘性抵抗可変手段11によつて上下動させる。この突
片11Bの上下動によつて増減する突片11Bと粘性流
体12との接触量によつて可動ステージ2に生じる粘性
抵抗を調整することによりダンピング量を適切な値に調
整することができる。この結果、可動ステージ2をハン
チング動作させずに所定位置に位置決めすることができ
る。
Description
えば半導体製造装置や液晶表示板製造装置に用いられる
可動ステージ装置に適用して好適なものである。
す構成の位置決め機構を有する可動ステージ装置が用い
られている。この可動ステージ装置は保持台1上に案内
された可動ステージ2を送り機構3を用いて水平駆動す
るもので、可動ステージ2の位置をレーザ干渉計4を用
いて計測し、計測結果を基に可動ステージ2の送り位置
をコントローラ5によつてフイードバツク制御するよう
になされている。この可動ステージ装置の各部は次のよ
うに構成されている。
面1B)が形成されており、可動ステージ2はこれら案
内面上にニードルベアリング6A及び6Bを介して案内
されている。これにより可動ステージ2は案内面に沿つ
て図中矢印Aの方向又はその逆方向に可動となつている
のである。また可動ステージ2の駆動に用いられる送り
機構3は、モータ3Aとこの出力軸にカツプリング(図
示せず)を介して接続された送りねじ3Bとを主構成と
して構成されている。可動ステージ2を駆動する場合に
は、支持部材3Cを介して保持台1に固定されているモ
ータ3Aの出力軸を回転させて送りねじ3Bを回転さ
せ、可動ステージ2に固定されたナツト3Dと共に可動
ステージ2を駆動するようになされている。さらに可動
ステージ2の一端には反射鏡2Aが固定されており、レ
ーザ干渉計4から当該反射鏡2Aに向けて射出されたレ
ーザ光の戻り光を検出することにより位置を検出するよ
うになされている。可動ステージ装置はこれら各部の組
み合わせによつて構成されている。
動ステージ装置では、精密な位置決め(1〔μm〕以
下)に必要なダンピング量の発生を、図6に示すよう
に、送りねじ3Bとナツト3Dとの間に充填された油膜
3Eに依存している。このため可動ステージ2を精密に
位置決めするためには定期的に給油して所定の膜厚に保
ち、常に一定のダンピング量を得ることができる状態に
維持しなければならない。特に可動ステージ2の大型化
が進み、より高い位置決め精度が求められる現状におい
ては給油間隔がますます短くなる傾向にある。またこの
構成では将来的にダンピング量の不足が発生するおそれ
もある。
で、可動ステージの大型化や高精度化に対応した十分な
ダンピング量を得ることができ、さらにダンピング量の
大きさも容易に制御することができるステージ装置を提
案しようとするものである。
めに、一実施例を表す図1に対応付けて説明すると、請
求項1記載のステージ装置では、保持台(1)と、保持
台(1)上に、水平方向に移動可能に案内された可動ス
テージ(2)と、を備えるステージ装置において、保持
台(1)の上面に水平方向に沿つて設けられ、粘性流体
(12)が満たされた溝(13)と、粘性流体(12)
と接触可能なように、可動ステージ(2)の下面に配設
された突片(11B)と、突片(11B)を上下動さ
せ、突片(11B)と粘性流体(12)との接触量を調
節して、この接触量に応じた粘性抵抗を可動ステージ
(2)に生じさせる粘性抵抗可変手段(11)とを設け
ている。請求項2記載のステージ装置では、可動ステー
ジ(2)は駆動軸の駆動により水平方向に移動をし、溝
(13)はこの駆動軸の対向した位置に設けている。請
求項3記載のステージ装置では、粘性抵抗可変手段(1
1)は、可動ステージ(2)の減速時に突片(11B)
と粘性流体(12)との接触量を大きくして粘性抵抗を
大きくし、可動ステージ(2)の減速時以外に突片(1
1B)と粘性流体(12)との接触量を小さくして粘性
抵抗を小さくする制御手段(29)を更に設けている。
請求項4記載のステージ装置では、粘性流体(12)は
電気粘性流体である。請求項5記載のステージ装置で
は、突片(11B)の先端は断面楔型に形成されてお
り、かつ溝(13)の断面は前記楔型形状に対して雌型
に形成されている。
変手段(11)は、突片(11B)を上下動させ、突片
(11B)と粘性流体(12)との接触量を調整するこ
とにより、可動ステージ(2)に作用する粘性抵抗の大
きさを調整するので、可動ステージ(2)の位置決め時
に必要なダンピング量を調整することができる。請求項
2記載のステージ装置では、溝(13)は駆動軸(3
B)に対向する位置に設けられているので、精度よく可
動ステージ(2)を水平方向に移動できる。請求項3記
載のステージ装置では、制御手段(29)は、可動ステ
ージ(2)の減速時に突片(11B)と粘性流体(1
2)との接触量を大きくして粘性抵抗を大きくし、可動
ステージ(2)の減速時以外に突片(11B)と粘性流
体(12)との接触量を小さくして粘性抵抗を小さくし
ているので、可動ステージ(2)を高速で移動し、か
つ、高精度で位置決めすることができる。請求項4記載
のステージ装置では、粘性流体(12)として電気粘性
流体を用いているので、突片(11B)と溝(13)と
に印加する電圧に応じて電気粘性流体の粘性を可変でき
る。このため、ダンピング量の調整幅を広くすることが
できる。請求項5記載のステージ装置では、突片(11
B)の先端は断面楔型であり、かつ、溝(13)はこの
断面楔型に対して雌型に形成されているので、突片(1
1B)と溝(13)との隙間を調整することにより所望
のダンピング量を得ることができる。
する。
図1において、10は全体として本実施例における可動
ステージ装置を示し、可動ステージ2の下面にダンピン
グ量調整機構11を設けると共に、保持台1の表面に粘
性流体12で満たされた溝13を形成している。因に粘
性流体12は油等、長時間大気中に放置されても変質や
蒸発し難いものを用い、さらに適度の粘度が得られるも
のを用いるものとする。このように可動ステージ2の下
面に取り付けられるダンピング量調整機構11は送りね
じ3Bと対向し、かつ送りねじ3Bと干渉しない(又は
ナツト3D上)部分に取り付けられており、本体部分1
1Aから下方(矢印Bの方向)に伸びる突片11Bを上
下動させることによりダンピング量の発生を切り換える
ことができるようになされている。制御装置29は、コ
ントローラ5からの信号により、ダンピング量調整機構
11を制御する。
に制御装置29は突片11Bを溝13内に満たされた粘
性流体12中に降下され接触される状態に位置決めされ
るように制御する。このとき降下量を調整して突片11
Bと粘性流体12との接触量を変化させれば粘性抵抗も
増減し、これに応じてダンピング量も調整することがで
きる。これに対してダンピング量の発生が不要な期間、
すなわち可動ステージ2の減速時以外の期間に、制御装
置29は、突片11Bを粘性流体12と接触しない状態
に保つことができるように制御している。これにより負
荷のない状態で可動ステージ2を駆動することができ
る。
成を図2を用いて説明する。ダンピング量調整機構11
は主に2つの機構部分、即ち突片駆動機構及び降下量調
整機構によつて構成されている。ここで突片駆動機構は
粘性流体12と突片11Bとを接触させるか否かを2者
択一に切り換える駆動部分であり、降下量調整機構は降
下した突片11Bの最下点位置、すなわち降下量を調整
して粘性抵抗の大きさを制御するための駆動部分であ
る。
し、突片駆動機構についてはその後説明する。降下量調
整機構は可動ステージ2の下面に固定された断面L字形
状のベース部材14に取り付けられている。ベース部材
14の天板部分には可動ステージ2の移動方向Aと平行
に伸びるリニアガイド14Aが固定され、また側板部分
には上下方向(矢印Bの方向)に伸びるリニアガイド1
4Bが固定されている。
コ字状のスライダー15A及び15Bを介してカム16
A及び16Bがそれぞれ取り付けられており、2つのカ
ム16A及び16Bは互いに連動し得るように係止され
ている。すなわちカム16Aとカム16Bは、カム16
Aを貫通するように形成された案内溝16A1に、軸が
カム16Bに固定されている軸付ベアリング17のベア
リング部分を摺動自在に取り付けることによつて係止さ
れている。
に示すように矢印Aの方向に向かつて緩やかに上昇する
ように加工されている。従つてカム16Aが矢印A又は
その逆方向に移動するに伴つて案内溝16A1にはめ込
まれているベアリングが案内溝16A1の内壁に沿つて
上方又は下方に移動することになり、カム16Bの取り
付け高さ自体が調整されるようになされている。例えば
カム16Aを矢印Aの方向に駆動すれば、溝16A1に
はめ込まれている軸付ベアリング17の中心位置が相対
的に低下してカム16Bが押し下げられることになる。
一方、カム16Aを矢印Aに対して逆方向に駆動すれ
ば、溝16A1にはめ込まれている軸付ベアリング17
の中心位置が相対的に上昇してカム16Bが押し上げら
れることになる。
介してベース部材14に固定されたモータ19の回転に
よつて駆動することができる。すなわちモータ19の回
転量をカム16Aに伝える送りねじ20は一端において
モータ19の出力軸にカツプリング(図示せず)を介し
て結合される一方で、他端においてベース部材14に固
定されている取付部材21に回動自在に軸支されてい
る。この送りねじ20に取り付けられたナツト22の位
置が送りねじ20の回転に応じてカム16Aと一体に平
行移動されることによりカム16Aの水平方向位置、ひ
いては降下された突片11Bの先端位置を決定するカム
16Bの位置を決定することができるようになされてい
る。
突片駆動機構は上述のカム16Bに取り付けられてい
る。カム16Bにも上述したベース部材14と同様2つ
のリニアガイド23A及び23Bが設けられている。こ
こでリニアガイド23Aはカム16Bの底板部分に矢印
Aの方向に伸びるように固定されており、リニアガイド
23Bは側板部分に矢印Bの方向に伸びるように固定さ
れている。各リニアガイド23A及び23Bには断面コ
字状のスライダー24A及び24Bを介してカム25及
び突片11Bがそれぞれ取り付けられている。ここでカ
ム25とスライダー24Bはそれぞれ連動するように係
止されており、突片11Bはカム25に連動して上下動
するようになされている。
溝とこれらを結ぶ急傾斜の溝部でなる案内溝25Aが設
けられており、この案内溝25Aに軸がスライダー24
Bに固定されてなる軸付ベアリング26のベアリング部
分が転動自在に取り付けられている。この軸付きベアリ
ング26の上下動に応動してスライダー24Bに固定さ
れている突片11Bがカム16Bの底部に形成された貫
通孔を介して上下動するようになされている。ただしこ
の突片駆動機構の場合、案内溝25Aの内壁に沿つて移
動するベアリングの静止位置は上段位置か下段位置かの
いずれかとなるように構成されている。これは突片駆動
機構が突片11Bの高速出し入れを目的とする機構であ
るからである。従つてこの機構ではカム25の駆動にエ
アシリンダ27を用いる。このエアシリンダ27は固定
部材28を介してカム16Bの底板部分に固定されてお
り、先端部分がカム25に固定されたピストン27Aを
出し入れすることによりカム25を駆動し、突片11B
を粘性流体12に接触させたり、接触させなかつたりし
ている。
0による位置決め動作について説明する。ここでは位置
決め動作を、静止状態から加速され一定速度に達した可
動ステージ2が減速されるまでの期間と、減速を開始し
てから目標位置に位置決めされるまでの期間に分けて説
明する。因に可動ステージ2を搬送するのに先だつて適
切なダンピング量が突片11Bと粘性流体12との間に
発生するように突片11Bの先端高さ、すなわち粘性流
体12内に付け込まれる突片11Bの付け込み量は降下
量調整機構によつて調整されているものとする。
での期間について説明する。加速開始に際して、制御装
置29の指令により、エアシリンダ27はカム25を矢
印Aの反対方向に駆動して案内溝25Aにはめ込まれて
いる軸付きベアリング26を案内溝25Aの下段位置か
ら上段位置へと移動させ、粘性流体12中に接触してい
た突片11Bを速やかに粘性流体12中から引き出す。
この状態で可動ステージ2は送り機構3によつて加速さ
れ、一定速度に達した後は目標地点近傍まで等速度によ
つて搬送される。ところでこのとき突片11Bには粘性
抵抗が作用しない状態(すなわち負荷のない状態)にあ
るためモータ3Aとして比較的小さいモータを用いても
可動ステージ2を容易に駆動することができる。
る際、制御装置29の指令によりエアシリンダ27はカ
ム25を矢印Aの方向に駆動して軸付きベアリング26
を案内溝25Aの上段位置から下段位置まで移動させ
る。これにより突片11Bは速やかに粘性流体12中に
降下され、粘性抵抗が発生するようになる。この粘性抵
抗は微妙な位置決めをする際に必要となる適正なダンピ
ング量を発生させる。これにより図3(A)に示す速度
−時間特性曲線図のように、可動ステージ2を減速後速
やかに所定位置に静止させることができる。
は、適切なダンピング力の調整が難しく、またダンピン
グ力が低下している場合には、図3(B)に示す速度−
時間特性曲線図のように可動ステージ2は減速後も位置
決めが収束せずいわゆるハンチング状態になる問題があ
る。しかしながら本実施例で説明した可動ステージ装置
10の場合には、このようなときであつても、降下量調
整機構のモータ19を回動させてカム16Aを矢印Aの
方向に移動させ、突片11Bの最下点高さを少し低くな
るように調整すれば適切な大きさの粘性抵抗を発生させ
ることができ、ハンチング状態を脱することができる。
置決め時に任意の大きさのダンピング量を得ることがで
きる可動ステージ装置10を実現することができ、ハン
チング動作するおそれなく速やかに可動ステージ2の位
置を位置決めすることができる。本実施例では、減速時
のみに突片11Bを粘性流体12と接触させたが加速時
や定速時に突片11Bを粘性流体12にわずかに接触さ
せても良い。これにより、減速時により早く突片11B
と粘性流体12とが接触するので、ステージ装置の速い
位置決めができる。
として平板状のものを用いる場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、粘性流体12との間に適切な大き
さの粘性抵抗を発生することができれば他の形状であつ
ても良い。例えば図2との対応部分に同一符号を付して
示す図4に示すように、断面楔型形状の突片30を突片
11Bの代わりに用いても良い。またこの場合、粘性流
体12が満たされる溝13Aの断面形状も突片30の断
面形状に対して雌型に形成しても良い。このようにして
突片30と溝13Aとの間にできる隙間dの大きさを調
整することによつて得られる粘性抵抗により、所望のダ
ンピング量を得るようにしても良い。またこの場合、突
片30と溝13Aの内壁を完全に接触させることにより
ロツクをかけることもできる。
ジ装置10を半導体製造装置や液晶表示板製造装置の位
置決めステージとして用いる場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、保持台1上に案内された可動ステ
ージ2を水平方向に案内する構成の可動ステージ装置に
広く適用し得る。
12として油等、適度な粘度を有するものを用い、突片
11Bとの接触量を調整する場合(接触しない場合も含
む)について述べたが、本発明はこれに限らず、粘度を
電気によつて制御することができる電気粘性流体を粘性
流体12の代わりに用いても良い。電気粘性流体は、溝
13と突片11Bとに印加する電圧を調整することによ
り、電気粘性流体の粘度を可変できるので、突片11B
と粘性流体12との接触量のみで粘性抵抗を変えるのに
比べて広い範囲で粘性抵抗を変えることができる。これ
により、更にステージ装置を高精度で位置決めできる。
また、上述のように電気粘性流体は印加電圧で粘度を可
変できるので高速でステージ装置の位置決めができる。
のステージ装置では、粘性抵抗可変手段は、可動ステー
ジに作用する粘性抵抗の大きさを調整することにより、
可動ステージの位置決め時に必要なダンピング量を得る
ので、可動ステージの大型化や高精度化に対応したダン
ピング量を得ることができる。請求項2記載のステージ
装置では、溝は駆動軸に対向する位置に設けられている
ので、精度よく可動ステージを水平方向に移動できる。
請求項3記載のステージ装置では、制御手段の制御によ
り、可動ステージを高速で移動し、かつ、高精度で位置
決めすることができる。請求項4記載のステージ装置で
は、粘性流体として電気粘性流体を用いているので、所
望のダンピング量を高速に得ることができる。また、突
片の上下動と合わせることにより、ダンピング量の調整
幅を広くすることができる。請求項5記載のステージ装
置では、突片の先端は断面楔型であり、かつ、溝はこの
断面楔型に対して雌型に形成されているので、突片と溝
との隙間を調整することにより所望のダンピング量を得
ることができる。
線的斜視図である。
び正面図である。
性曲線図である。
する側面図及び正面図である。
示す略線的斜視図である。
る。
3A、19……モータ、3B、20……送りねじ、3C
……支持部材、3D、22……ナツト、4……レーザ干
渉計、5……コントローラ、6A、6B……ニードルベ
アリング、10……可動ステージ装置、11……ダンピ
ング量調整機構、11A……本体部分、11B、30…
…突片、12……粘性流体、13、13A……溝、14
……ベース部材、14A、14B、23A、23B……
リニアガイド、16A、16B、25……カム、16A
1、25A……案内溝、17、26……軸付ベアリン
グ、18、21……取付部材、24A、24B……スラ
イダー、27……エアシリンダ、27A……ピストン、
28……固定部材、29……制御装置。
Claims (5)
- 【請求項1】保持台と、 前記保持台上に、水平方向に移動可能に案内された可動
ステージとを備えるステージ装置において、 前記保持台の上面に前記水平方向に沿つて設けられ、粘
性流体が満たされた溝と、 前記粘性流体と接触可能なように、前記可動ステージの
下面に配設された突片と、 前記突片を上下動させ、前記突片と前記粘性流体との接
触量を調整して、前記接触量に応じた粘性抵抗を前記可
動ステージに生じさせる粘性抵抗可変手段とを具えるこ
とを特徴とするステージ装置。 - 【請求項2】前記可動ステージは、駆動軸の駆動によつ
て前記水平方向に駆動され、 前記溝は、前記駆動軸に対向する位置に設けられること
を特徴とする請求項1に記載のステージ装置。 - 【請求項3】前記粘性抵抗可変手段は、前記可動ステー
ジの減速時に前記突片と前記粘性流体との接触量を大き
くして粘性抵抗を大きくし、 前記可動ステージの減速時以外に前記突片と前記粘性流
体との接触量を小さくして粘性抵抗を小さくする制御手
段を具えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記
載のステージ装置。 - 【請求項4】前記粘性流体は電気粘性流体であることを
特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記載のス
テージ装置。 - 【請求項5】前記突片の先端は断面楔型に形成されてお
り、かつ前記溝の断面は前記楔型形状に対して雌型に形
成されていることを特徴とする請求項1、請求項2、請
求項3又は請求項4に記載のステージ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5488894A JP3555164B2 (ja) | 1994-03-01 | 1994-03-01 | ステージ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5488894A JP3555164B2 (ja) | 1994-03-01 | 1994-03-01 | ステージ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07237061A true JPH07237061A (ja) | 1995-09-12 |
| JP3555164B2 JP3555164B2 (ja) | 2004-08-18 |
Family
ID=12983136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5488894A Expired - Lifetime JP3555164B2 (ja) | 1994-03-01 | 1994-03-01 | ステージ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3555164B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6448723B1 (en) | 1999-08-26 | 2002-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Stage system and exposure apparatus |
| JP2003243481A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-08-29 | Asm Japan Kk | 半導体製造装置及びメンテナンス方法 |
| JP2008139695A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Hiihaisuto Seiko Kk | ステージ装置及び加工装置 |
| JP2009246238A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | リフトピンユニット及びそれを具備したxyステージ装置 |
| JP2022014013A (ja) * | 2020-07-06 | 2022-01-19 | アルファクス株式会社 | 90度方向動作自動テーブル |
-
1994
- 1994-03-01 JP JP5488894A patent/JP3555164B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6448723B1 (en) | 1999-08-26 | 2002-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Stage system and exposure apparatus |
| JP2003243481A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-08-29 | Asm Japan Kk | 半導体製造装置及びメンテナンス方法 |
| JP2008139695A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Hiihaisuto Seiko Kk | ステージ装置及び加工装置 |
| JP2009246238A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | リフトピンユニット及びそれを具備したxyステージ装置 |
| JP2022014013A (ja) * | 2020-07-06 | 2022-01-19 | アルファクス株式会社 | 90度方向動作自動テーブル |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3555164B2 (ja) | 2004-08-18 |
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