JPH0725440B2 - 板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装置 - Google Patents
板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装置Info
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- JPH0725440B2 JPH0725440B2 JP63131654A JP13165488A JPH0725440B2 JP H0725440 B2 JPH0725440 B2 JP H0725440B2 JP 63131654 A JP63131654 A JP 63131654A JP 13165488 A JP13165488 A JP 13165488A JP H0725440 B2 JPH0725440 B2 JP H0725440B2
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Landscapes
- Replacement Of Web Rolls (AREA)
- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は板状体を接続して連続したストリップとし、
処理ラインで処理するに際し、板状体の継目部近傍にマ
ークを施し、このマークを検出することにより板状体の
継目部を検出する方法と、これに使用するマーク検出装
置に関するものである。
処理ラインで処理するに際し、板状体の継目部近傍にマ
ークを施し、このマークを検出することにより板状体の
継目部を検出する方法と、これに使用するマーク検出装
置に関するものである。
［従来の技術］ 板状の鋼板を溶接継ぎをして連続したストリップとし
て、製造ラインで処理するが、この継目部は製品中に含
ませることはできない。また製造ラインの各設備は継目
部通過時に、一時退避する必要のある設備もあり、これ
らの制御のため継目部を検出する必要がある。このため
従来の検出方法として鋼板の継目部の近傍を穿孔し、こ
の孔が通過するとき光学的に通光量を検出する方法が採
用され、またこの方法による検出装置が使用されてい
た。
て、製造ラインで処理するが、この継目部は製品中に含
ませることはできない。また製造ラインの各設備は継目
部通過時に、一時退避する必要のある設備もあり、これ
らの制御のため継目部を検出する必要がある。このため
従来の検出方法として鋼板の継目部の近傍を穿孔し、こ
の孔が通過するとき光学的に通光量を検出する方法が採
用され、またこの方法による検出装置が使用されてい
た。
［発明が解決しようとする課題］ 上記のような従来の継目検出方法及びその装置では、製
品によっては鋼板の板幅が狭い場合や、溶接時の内外面
ビートカッタと干渉する場合があるため、穴径及び穴位
置に制約があり、総ての製品に容易に適用できる方法と
その装置ではないという問題があった。
品によっては鋼板の板幅が狭い場合や、溶接時の内外面
ビートカッタと干渉する場合があるため、穴径及び穴位
置に制約があり、総ての製品に容易に適用できる方法と
その装置ではないという問題があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、総ての製品に容易に適用できる継目検出方法及びマ
ーク検出装置を得ることを目的とする。
で、総ての製品に容易に適用できる継目検出方法及びマ
ーク検出装置を得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この発明に係る板状体継目検出方法は、板状体を接続し
て連続したストリップとし、処理ラインで処理するに際
し、板状体の継目付近に板状体の反射特性と異なる反射
特性を有する材料で前記ストリップの長手方向に対して
斜行し予め定められた幅と間隔を有する複数の平行線か
らなるマークを施し、前記処理ライン中で前記複数の平
行線からなるマークと交差するライン状光学的センサに
よって前記複数のマークを同時に検出し、該検出された
マークの幅と間隔が予め定められた幅と間隔のそれぞれ
の規定範囲内であることをもって板状体の継目位置を検
出するものである。
て連続したストリップとし、処理ラインで処理するに際
し、板状体の継目付近に板状体の反射特性と異なる反射
特性を有する材料で前記ストリップの長手方向に対して
斜行し予め定められた幅と間隔を有する複数の平行線か
らなるマークを施し、前記処理ライン中で前記複数の平
行線からなるマークと交差するライン状光学的センサに
よって前記複数のマークを同時に検出し、該検出された
マークの幅と間隔が予め定められた幅と間隔のそれぞれ
の規定範囲内であることをもって板状体の継目位置を検
出するものである。
また前記複数の平行線からなるマークの材料を蛍光物質
とした上記記載の板状体の継目位置を検出する方法が、
マーク受信強度を増加させ、マーク検出の信頼性を向上
させる。
とした上記記載の板状体の継目位置を検出する方法が、
マーク受信強度を増加させ、マーク検出の信頼性を向上
させる。
この発明に係るマーク検出装置は、少くとも１軸方向に
広がった視野を有し、前記軸方向の視野と交差するよう
に板状体を接続したストリップの長手方向に対して斜行
して設けられた複数の平行線からなるマークを同時に受
光し、前記視野内の輝度分布に対応した電気信号に変換
して出力する受光器と、前記受光器から出力される電気
信号の信号振幅が予め定められた値より大きいときのみ
２値化高レベル信号を出力する２値化手段と、前記２値
化手段より出力される２値化高レベル信号の信号幅が予
め定められた規定範囲に入っているときにのみ、前記高
レベル信号の信号幅の中の予め定められた位置に検出位
置信号を発生するマーク幅判別手段と、前記マーク幅判
別手段の発生する検出位置信号相互間の間隔が予め定め
られた規定範囲に入っているときにのみ、マーク検出信
号を発生する間隔判別手段とを有するものである。
広がった視野を有し、前記軸方向の視野と交差するよう
に板状体を接続したストリップの長手方向に対して斜行
して設けられた複数の平行線からなるマークを同時に受
光し、前記視野内の輝度分布に対応した電気信号に変換
して出力する受光器と、前記受光器から出力される電気
信号の信号振幅が予め定められた値より大きいときのみ
２値化高レベル信号を出力する２値化手段と、前記２値
化手段より出力される２値化高レベル信号の信号幅が予
め定められた規定範囲に入っているときにのみ、前記高
レベル信号の信号幅の中の予め定められた位置に検出位
置信号を発生するマーク幅判別手段と、前記マーク幅判
別手段の発生する検出位置信号相互間の間隔が予め定め
られた規定範囲に入っているときにのみ、マーク検出信
号を発生する間隔判別手段とを有するものである。
［作用］ この発明の板状体継目検出方法においては、板状体を接
続して連続したストリップとし、処理ラインで処理する
に際し、あらかじめ板状体の継目付近に板状体の反射特
性と異なる反射特性を有する材料で前記ストリップの長
手方向に対して斜行し予め定められた幅と間隔を有する
複数の平行線からなるマータを施しておき、前記処理ラ
イン中に設けられた前記複数の平行線からなるマークと
交差するライン状光学的センサによって前記複数のマー
クを同時に検出し、該検出されたマークの幅と間隔が予
め定められた幅と間隔のそれぞれの規定範囲内であるこ
とをもって板状体の継目位置を検出する。
続して連続したストリップとし、処理ラインで処理する
に際し、あらかじめ板状体の継目付近に板状体の反射特
性と異なる反射特性を有する材料で前記ストリップの長
手方向に対して斜行し予め定められた幅と間隔を有する
複数の平行線からなるマータを施しておき、前記処理ラ
イン中に設けられた前記複数の平行線からなるマークと
交差するライン状光学的センサによって前記複数のマー
クを同時に検出し、該検出されたマークの幅と間隔が予
め定められた幅と間隔のそれぞれの規定範囲内であるこ
とをもって板状体の継目位置を検出する。
また前記複数の平行線からなるマークの材料を蛍光物質
として、マーク受信強度を増加させ、SN比（信号対雑音
比）を改善し、マークの識別を容易にできる。
として、マーク受信強度を増加させ、SN比（信号対雑音
比）を改善し、マークの識別を容易にできる。
この発明のマーク検出装置においては、受光器は少くと
も１軸方向に広がった視野を有し、前記軸方向の視野と
交差するように板状体を接続したストリップの長手方向
に対して斜行して設けられた複数の平行線からなるマー
クを同時に受光し、前記視野内の輝度分布に対応した電
気信号に変換して出力し、２値化手段は前記受光器から
出力される電気信号の信号振幅が予め定められた値より
大きいときのみ２値化高レベル信号を出力する。マーク
幅判別手段は前記２値化手段より出力される２値化高レ
ベル信号の信号幅が予め定められた規定範囲に入ってい
るときにのみ、前記高レベル信号の信号幅の中の予め定
められた位置に検出位置信号を発生し、間隔判別手段は
前記マーク幅判別手段の発生する検出位置信号相互間の
間隔が予め定められた規定範囲に入っているときにの
み、マーク検出信号を発生する。
も１軸方向に広がった視野を有し、前記軸方向の視野と
交差するように板状体を接続したストリップの長手方向
に対して斜行して設けられた複数の平行線からなるマー
クを同時に受光し、前記視野内の輝度分布に対応した電
気信号に変換して出力し、２値化手段は前記受光器から
出力される電気信号の信号振幅が予め定められた値より
大きいときのみ２値化高レベル信号を出力する。マーク
幅判別手段は前記２値化手段より出力される２値化高レ
ベル信号の信号幅が予め定められた規定範囲に入ってい
るときにのみ、前記高レベル信号の信号幅の中の予め定
められた位置に検出位置信号を発生し、間隔判別手段は
前記マーク幅判別手段の発生する検出位置信号相互間の
間隔が予め定められた規定範囲に入っているときにの
み、マーク検出信号を発生する。
［実施例］ 第１図（ａ）はこの発明の板状体継目検出用マーク形状
の一実施例を示す図であり、１はストリップ、２は継目
部、３はマークである。
の一実施例を示す図であり、１はストリップ、２は継目
部、３はマークである。
同図（ａ）においては、例えばストリップ１の継目部２
から進行方向の前方300mmの距離に、ストリップ１の長
手方向に斜行する方向に長さ約180mmの平行線からなる
マーク３を施している。
から進行方向の前方300mmの距離に、ストリップ１の長
手方向に斜行する方向に長さ約180mmの平行線からなる
マーク３を施している。
第１図（ｂ）は同図（ａ）のマークと受光視野との位置
関係を示す図であり、１〜３は同図（ａ）と同一のもの
である。10は受光器４の受光視野である。
関係を示す図であり、１〜３は同図（ａ）と同一のもの
である。10は受光器４の受光視野である。
この実施例においてマーク３をストリップ１の長手方向
に斜行させた理由は、ストリップ１が進行方向に対して
横揺れをしたときにも、マーク３が受光器４の受光視野
10から外れないようにして、受光機４がマーク３を十分
に検出可能とするためである。またマーク３の材料は受
光器４が光学的にストリップ１とマーク３が識別可能な
ものであればよく、例えば蛍光物質を用いてもよい。マ
ーク３の材料に蛍光物質を用いた場合には、ストリップ
１の板状面の反射特性とマーク３の反射特性の差によ
り、マーク３の識別が容易に可能であり、且つ処理ライ
ンが暗い場合でも識別できる利点をも有する。このマー
ク３を継目溶接部２の前方約300mmの距離に施してから
ストリップ１を処理ラインに装入する。
に斜行させた理由は、ストリップ１が進行方向に対して
横揺れをしたときにも、マーク３が受光器４の受光視野
10から外れないようにして、受光機４がマーク３を十分
に検出可能とするためである。またマーク３の材料は受
光器４が光学的にストリップ１とマーク３が識別可能な
ものであればよく、例えば蛍光物質を用いてもよい。マ
ーク３の材料に蛍光物質を用いた場合には、ストリップ
１の板状面の反射特性とマーク３の反射特性の差によ
り、マーク３の識別が容易に可能であり、且つ処理ライ
ンが暗い場合でも識別できる利点をも有する。このマー
ク３を継目溶接部２の前方約300mmの距離に施してから
ストリップ１を処理ラインに装入する。
第２図はこの発明の板状体継目検出方法及びこれに使用
するマーク検出装置の一実施例を示すブロック図であ
り、１はストリップ、４は受光器、５は２値化手段、６
はマーク幅判別手段、７は間隔判別手段、８は投光器で
ある。
するマーク検出装置の一実施例を示すブロック図であ
り、１はストリップ、４は受光器、５は２値化手段、６
はマーク幅判別手段、７は間隔判別手段、８は投光器で
ある。
第３図は第２図の動作を説明するための波形図である。
第３図を参照し第２図の説明をする。まず投光器８より
ストリップ１の表面に入射角θ１にて投光する。しかし
投光器８は必ず必要とするものではなく、処理ラインが
暗い場合でも確実にマーク３を検出できるように受光器
４の視野面を照射するものである。従って処理ラインが
明るい場合には不要となる。また投光器８を使用する場
合に、ストリップ１の表面が鏡面反射に近く、マーク３
の材料が乱反射成分を含むような場合、例えばマーク３
の材料が蛍光材であるような場合には、投光器８と受光
器４の位置関係を、ストリップ１の表面により投光器８
からの光線の正反射成分が直接受光器４に入らないよう
に入射角θ１と受光角θ２をずらせて配置すると検出信
頼性の向上に効果がある。一例として入射角θ１＝45
゜，受光角θ２＝５゜とすると安定な検出信号が得られ
る。受光器４は第１図（ｂ）に示されるようにストリッ
プ１の進行方向に直角の方向に広がった受光視野10を有
し、該視野内の輝度分布を光学的に受光して、輝度に対
応した電気信号に変換して出力をする機器である。受光
器４は例えば、所定受光視野からの光を集光して受光セ
ンサに入力する光学系と、入射光を受光して光・電気変
換を行う受光センサと、受光センサからの出力信号を読
出して信号増幅を行う信号読出し増幅回路とにより構成
することができる。この実施例で使用する前記受光セン
サは、一般に一次元アレイ（またはライン）受光センサ
と呼ばれるもので、ホトダイオードもしくはCCD（charg
e coupled devices）等の受光素子を数十個から数百個
を直線状に配列し、受光素子の配列位置毎に受光輝度が
個別に検出可能である。この検出信号の読出しは、受光
素子数が多くなるとアナログのシフトレジスタからの情
報読出しと同様に、読出しクロック信号に同期して直列
シフトアウトの形式で読出されるのが普通である。即ち
受光素子の配列順序通りの順番で検出信号が読出される
ので、読出しクロック信号の数と読出された検出信号の
配列位置が１対１に対応している。従って一次元の位置
についての受光輝度情報が、受光器４から時系列信号と
して読出すことができる。第３図（ア）は受光器４がマ
ーク３を受光した場合の出力信号波形を示しており、横
軸は受光器４の受光範囲である長さＬの範囲を示し、縦
軸は背景となる雑音レベル（一般にこれをバックグラン
ド・ノイズという）の上に１対の受光信号が重畳した形
式で、前記受光素子がマーク３を検出した位置に出力信
号が得られる。受光器４はこの位置についての出力信号
を２値化手段５に転送する。この信号転送法は上記説明
の受光素子数が多い場合は、検出信号の読出しクロック
信号に同期した時系列信号として転送される。即ち一次
元位置についての情報が時間についての情報に変換され
て転送される。２値化手段５は例えば電圧比較器と、２
値化用基準電圧設定器と、２値化出力回路とにより構成
することができる。即ち前記受光器４から入力される時
系列信号を電圧比較器の入力端の一端に入力し、第３図
（ア）の２値化レベルとして示される基準電圧設定器か
らの出力電圧を電圧比較器の入力端の他端に接続するこ
とにより、電圧比較器は前者の入力電圧が後者の入力電
圧を越えるときに１、越えないときは０の出力信号を発
生する。この電圧比較器の出力電圧を２値化出力回路
（例えばデータラッチ回路）を介して出力するようにす
ると前記受光素子の配列位置毎に２値化された検出信号
が出力される。第３図（イ）に２値化手段５の出力信号
波形を示す。即ち左端の基準位置より距離l1からl1＋Δ
l1の位置に第１の出力信号A0が、また基準位置より距離
l2からl2＋Δl2の位置に第２の出力信号B0がそれぞれ得
られ図示されている。２値化手段５はこの出力信号をマ
ーク幅判定手段６に供給する。マーク幅判定手段６は２
値化手段５から入力されるマーク検出信号の幅が、予め
設定された幅以上あるかを判定し、設定された幅以上あ
る場合にはマーク信号と識別して、検出位置の信号を出
力する機能を有する。いま第３図（イ）の２値化手段５
の第１及び第２の出力信号A0及びB0の幅はそれぞれΔl1
及びΔl2であり、マーク幅判別手段６で予め設定された
幅をΔＬとすると、次の（１），（２）式を判定するこ
とになる。
ストリップ１の表面に入射角θ１にて投光する。しかし
投光器８は必ず必要とするものではなく、処理ラインが
暗い場合でも確実にマーク３を検出できるように受光器
４の視野面を照射するものである。従って処理ラインが
明るい場合には不要となる。また投光器８を使用する場
合に、ストリップ１の表面が鏡面反射に近く、マーク３
の材料が乱反射成分を含むような場合、例えばマーク３
の材料が蛍光材であるような場合には、投光器８と受光
器４の位置関係を、ストリップ１の表面により投光器８
からの光線の正反射成分が直接受光器４に入らないよう
に入射角θ１と受光角θ２をずらせて配置すると検出信
頼性の向上に効果がある。一例として入射角θ１＝45
゜，受光角θ２＝５゜とすると安定な検出信号が得られ
る。受光器４は第１図（ｂ）に示されるようにストリッ
プ１の進行方向に直角の方向に広がった受光視野10を有
し、該視野内の輝度分布を光学的に受光して、輝度に対
応した電気信号に変換して出力をする機器である。受光
器４は例えば、所定受光視野からの光を集光して受光セ
ンサに入力する光学系と、入射光を受光して光・電気変
換を行う受光センサと、受光センサからの出力信号を読
出して信号増幅を行う信号読出し増幅回路とにより構成
することができる。この実施例で使用する前記受光セン
サは、一般に一次元アレイ（またはライン）受光センサ
と呼ばれるもので、ホトダイオードもしくはCCD（charg
e coupled devices）等の受光素子を数十個から数百個
を直線状に配列し、受光素子の配列位置毎に受光輝度が
個別に検出可能である。この検出信号の読出しは、受光
素子数が多くなるとアナログのシフトレジスタからの情
報読出しと同様に、読出しクロック信号に同期して直列
シフトアウトの形式で読出されるのが普通である。即ち
受光素子の配列順序通りの順番で検出信号が読出される
ので、読出しクロック信号の数と読出された検出信号の
配列位置が１対１に対応している。従って一次元の位置
についての受光輝度情報が、受光器４から時系列信号と
して読出すことができる。第３図（ア）は受光器４がマ
ーク３を受光した場合の出力信号波形を示しており、横
軸は受光器４の受光範囲である長さＬの範囲を示し、縦
軸は背景となる雑音レベル（一般にこれをバックグラン
ド・ノイズという）の上に１対の受光信号が重畳した形
式で、前記受光素子がマーク３を検出した位置に出力信
号が得られる。受光器４はこの位置についての出力信号
を２値化手段５に転送する。この信号転送法は上記説明
の受光素子数が多い場合は、検出信号の読出しクロック
信号に同期した時系列信号として転送される。即ち一次
元位置についての情報が時間についての情報に変換され
て転送される。２値化手段５は例えば電圧比較器と、２
値化用基準電圧設定器と、２値化出力回路とにより構成
することができる。即ち前記受光器４から入力される時
系列信号を電圧比較器の入力端の一端に入力し、第３図
（ア）の２値化レベルとして示される基準電圧設定器か
らの出力電圧を電圧比較器の入力端の他端に接続するこ
とにより、電圧比較器は前者の入力電圧が後者の入力電
圧を越えるときに１、越えないときは０の出力信号を発
生する。この電圧比較器の出力電圧を２値化出力回路
（例えばデータラッチ回路）を介して出力するようにす
ると前記受光素子の配列位置毎に２値化された検出信号
が出力される。第３図（イ）に２値化手段５の出力信号
波形を示す。即ち左端の基準位置より距離l1からl1＋Δ
l1の位置に第１の出力信号A0が、また基準位置より距離
l2からl2＋Δl2の位置に第２の出力信号B0がそれぞれ得
られ図示されている。２値化手段５はこの出力信号をマ
ーク幅判定手段６に供給する。マーク幅判定手段６は２
値化手段５から入力されるマーク検出信号の幅が、予め
設定された幅以上あるかを判定し、設定された幅以上あ
る場合にはマーク信号と識別して、検出位置の信号を出
力する機能を有する。いま第３図（イ）の２値化手段５
の第１及び第２の出力信号A0及びB0の幅はそれぞれΔl1
及びΔl2であり、マーク幅判別手段６で予め設定された
幅をΔＬとすると、次の（１），（２）式を判定するこ
とになる。
Δl1＞ΔＬ ……（１） Δl2＞ΔＬ ……（２） マーク幅判別手段６がマーク信号と判定した場合には、
検出位置の信号を発生するが、第３図（ウ）にマーク幅
判別手段６の出力信号として、第１の出力信号A1は基準
位置より距離l1＋ΔＬの位置に、第２の出力信号B1は基
準位置より距離l2＋ΔＬの位置にそれぞれ発生する例が
示されている。さらに正確な位置を検出したい場合に
は、第１の出力信号A1は基準位置より距離l1＋Δl1/2の
位置に、第２の出力信号B1は基準位置より距離l2＋Δl2
/2の位置にそれぞれ発生するようにすればよい。マーク
幅判定手段６を実現する回路としては種々の方法があ
る。最も容易な方法は上記距離を時間として信号処理を
することである。この場合マーク幅判定手段６は雑音等
によりマークを誤読しないように、入力信号が一定時間
t1以上継続する場合にのみマーク信号と見なして一定パ
ルス幅t2の出力信号を発生すればよい。従ってマーク幅
判定手段６は例えば入力信号によって起動され時間幅t1
の出力信号を発生する第１の単安定マルチバイブレータ
と、この時間t1経過後に入力信号によって起動され時間
幅t2の出力信号を発生する第２の単安定マルチバイブレ
ータとの回路により構成することができる。しかし板状
体の進行速度に比べて、受光器４はきわめて高速に検出
信号を読出すことが可能なので、受光器４はその受光視
野にマーク３を検出している時間内に何回も走査を行っ
て検出信号を読出すことができる。従ってマーク幅判別
手段６を単に１回のみの信号処理でなく、複数回の信号
処理（例えば相関処理）を行ってマーク幅を判定するよ
うにすれば、きわめて確実で安定な判定結果を得ること
ができる。この場合はデータの記憶回路及び相関処理回
路等がさらに必要となる。マーク幅判定手段６は出力信
号A1及びB1を間隔判定手段７に供給する。間隔判定手段
７は入力される１対の信号間隔が予め定められた規定範
囲であるときには正規なマーク信号であると判定しマー
ク検出信号を出力する。いま入力される１対の信号間隔
をlp、予め定められた規定範囲をLpからLp＋ΔLpとする
と次の（３）式を判定することになる。
検出位置の信号を発生するが、第３図（ウ）にマーク幅
判別手段６の出力信号として、第１の出力信号A1は基準
位置より距離l1＋ΔＬの位置に、第２の出力信号B1は基
準位置より距離l2＋ΔＬの位置にそれぞれ発生する例が
示されている。さらに正確な位置を検出したい場合に
は、第１の出力信号A1は基準位置より距離l1＋Δl1/2の
位置に、第２の出力信号B1は基準位置より距離l2＋Δl2
/2の位置にそれぞれ発生するようにすればよい。マーク
幅判定手段６を実現する回路としては種々の方法があ
る。最も容易な方法は上記距離を時間として信号処理を
することである。この場合マーク幅判定手段６は雑音等
によりマークを誤読しないように、入力信号が一定時間
t1以上継続する場合にのみマーク信号と見なして一定パ
ルス幅t2の出力信号を発生すればよい。従ってマーク幅
判定手段６は例えば入力信号によって起動され時間幅t1
の出力信号を発生する第１の単安定マルチバイブレータ
と、この時間t1経過後に入力信号によって起動され時間
幅t2の出力信号を発生する第２の単安定マルチバイブレ
ータとの回路により構成することができる。しかし板状
体の進行速度に比べて、受光器４はきわめて高速に検出
信号を読出すことが可能なので、受光器４はその受光視
野にマーク３を検出している時間内に何回も走査を行っ
て検出信号を読出すことができる。従ってマーク幅判別
手段６を単に１回のみの信号処理でなく、複数回の信号
処理（例えば相関処理）を行ってマーク幅を判定するよ
うにすれば、きわめて確実で安定な判定結果を得ること
ができる。この場合はデータの記憶回路及び相関処理回
路等がさらに必要となる。マーク幅判定手段６は出力信
号A1及びB1を間隔判定手段７に供給する。間隔判定手段
７は入力される１対の信号間隔が予め定められた規定範
囲であるときには正規なマーク信号であると判定しマー
ク検出信号を出力する。いま入力される１対の信号間隔
をlp、予め定められた規定範囲をLpからLp＋ΔLpとする
と次の（３）式を判定することになる。
Lp＜lp＜Lp＋ΔLp ……（３） 間隔判定手段７を実現する回路として、マーク幅判定手
段６の場合と同様に物理的な間隔を、パルス信号の時間
間隔として処理することができる。この場合間隔判定手
段７は入力される２つのパルス信号の間隔が予め定めら
れた時間範囲内であるときに出力信号を発生すればよ
い。従ってマーク幅判別手段６は例えば、入力される第
１のパルス信号A1により起動され時間幅t3の出力信号を
発生する第１の単安定マルチバイブレータと、この時間
幅t3のパルス信号の立下り波形により起動される時間幅
t4の出力信号Ｃを発生する第２の単安定マルチバイブレ
ータと、この時間幅t4のパルス信号Ｃと入力される第２
のパルス信号B1との論理積を演算するAND回路と、該AND
回路の出力信号により起動され時間幅t5の出力信号Ｄを
発生する第３の単安定マルチバイブレータとの回路によ
り構成することができる。第３図（エ）は間隔判別用ゲ
ート信号として用いられる前記時間幅t4のパルス信号Ｃ
を、また同図（オ）は間隔判別手段７の出力信号として
用いられる前記第３の単安定マルチバイブレータの出力
信号Ｄを示している。またこの間隔判定手段７もマーク
幅判定手段６の場合と同様に１回のみの判別結果ではな
く複数回の相関処理結果によって検出信号を出力するよ
うにしてもよい。
段６の場合と同様に物理的な間隔を、パルス信号の時間
間隔として処理することができる。この場合間隔判定手
段７は入力される２つのパルス信号の間隔が予め定めら
れた時間範囲内であるときに出力信号を発生すればよ
い。従ってマーク幅判別手段６は例えば、入力される第
１のパルス信号A1により起動され時間幅t3の出力信号を
発生する第１の単安定マルチバイブレータと、この時間
幅t3のパルス信号の立下り波形により起動される時間幅
t4の出力信号Ｃを発生する第２の単安定マルチバイブレ
ータと、この時間幅t4のパルス信号Ｃと入力される第２
のパルス信号B1との論理積を演算するAND回路と、該AND
回路の出力信号により起動され時間幅t5の出力信号Ｄを
発生する第３の単安定マルチバイブレータとの回路によ
り構成することができる。第３図（エ）は間隔判別用ゲ
ート信号として用いられる前記時間幅t4のパルス信号Ｃ
を、また同図（オ）は間隔判別手段７の出力信号として
用いられる前記第３の単安定マルチバイブレータの出力
信号Ｄを示している。またこの間隔判定手段７もマーク
幅判定手段６の場合と同様に１回のみの判別結果ではな
く複数回の相関処理結果によって検出信号を出力するよ
うにしてもよい。
このようにして受光信号を２値化して一次元位置につい
ての信号としたときに検出される１対の線状マーク信号
のそれぞれの信号の幅と信号相互間の間隔がそれぞれ予
め定められた規定範囲内の場合にマーク検出信号が得ら
れ、誤動作を防止できるように構成されている。
ての信号としたときに検出される１対の線状マーク信号
のそれぞれの信号の幅と信号相互間の間隔がそれぞれ予
め定められた規定範囲内の場合にマーク検出信号が得ら
れ、誤動作を防止できるように構成されている。
なお上記実施例においては、識別マークとして一定間隔
を有する１対の線状マークの例を示したが、さらに３ケ
以上の複数の線状マークを施して、誤動作の防止と信頼
性の向上を計ることも可能である。
を有する１対の線状マークの例を示したが、さらに３ケ
以上の複数の線状マークを施して、誤動作の防止と信頼
性の向上を計ることも可能である。
また上記マーク幅判定手段６の実施例においては、予め
マーク幅の下限値ΔＬのみを設定して、２値化手段５の
出力信号幅との比較を行ったが、さらにマーク幅の上限
値をも設定して、この上下限の設定値の範囲内に２値化
手段５の出力信号幅が入っているときのみに、検出位置
出力信号を発生するようにして、検出信頼性の向上を計
ることも可能である。
マーク幅の下限値ΔＬのみを設定して、２値化手段５の
出力信号幅との比較を行ったが、さらにマーク幅の上限
値をも設定して、この上下限の設定値の範囲内に２値化
手段５の出力信号幅が入っているときのみに、検出位置
出力信号を発生するようにして、検出信頼性の向上を計
ることも可能である。
［発明の効果］ 以上のようにこの発明の板状体継目検出方法及びこれに
使用するマーク検出装置によれば、板状体の継目付近に
板状体の反射特性と異なる反射特性を有する材料で前記
ストリップの長手方向に対して斜行し予め定められた幅
と間隔を有する複数の平行線からなるマークを施し、前
記処理ライン中で前記複数の平行線からなるマークと交
差するライン状光学的センサによって前記複数のマーク
を同時に検出し、該検出されたマークの幅と間隔が予め
定められた規定範囲内の場合にのみマーク検出信号を得
るようにしたので、板状体に横揺れがあってもマークの
検出落ちがなく、また背景雑音の多い環境においてもマ
ークでないものを誤検出することがなく、信頼性の高い
マーク検出が可能となる。
使用するマーク検出装置によれば、板状体の継目付近に
板状体の反射特性と異なる反射特性を有する材料で前記
ストリップの長手方向に対して斜行し予め定められた幅
と間隔を有する複数の平行線からなるマークを施し、前
記処理ライン中で前記複数の平行線からなるマークと交
差するライン状光学的センサによって前記複数のマーク
を同時に検出し、該検出されたマークの幅と間隔が予め
定められた規定範囲内の場合にのみマーク検出信号を得
るようにしたので、板状体に横揺れがあってもマークの
検出落ちがなく、また背景雑音の多い環境においてもマ
ークでないものを誤検出することがなく、信頼性の高い
マーク検出が可能となる。
また前記マークの材料に蛍光材を用いることにより、光
学的に悪い環境において安定にマーク検出が可能とな
る。
学的に悪い環境において安定にマーク検出が可能とな
る。
またこの発明のマーク検出装置においては、受光器の出
力信号を２値化してデジタル信号となし、且つ位置情報
を時間情報に変換できるので、マーク幅判別手段及び間
隔判別手段は総てデジタル回路により小規模に構成でき
るので、装置が安価にでき、また信頼度の高いものが得
られる効果がある。
力信号を２値化してデジタル信号となし、且つ位置情報
を時間情報に変換できるので、マーク幅判別手段及び間
隔判別手段は総てデジタル回路により小規模に構成でき
るので、装置が安価にでき、また信頼度の高いものが得
られる効果がある。
第１図（ａ）はこの発明の板状体継目検出用マーク形状
の一実施例を示す図、第１図（ｂ）は同図（ａ）のマー
クと受光視野との位置関係を示す図、第２図はこの発明
の板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装
置の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図の動作
を説明するための波形図である。 図において、１はストリップ、２は継目部、３はマー
ク、４は受光器、５は２値化手段、６はマーク幅判定手
段、７は間隔判定手段、８は投光器、10は受光視野であ
る。
の一実施例を示す図、第１図（ｂ）は同図（ａ）のマー
クと受光視野との位置関係を示す図、第２図はこの発明
の板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装
置の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図の動作
を説明するための波形図である。 図において、１はストリップ、２は継目部、３はマー
ク、４は受光器、５は２値化手段、６はマーク幅判定手
段、７は間隔判定手段、８は投光器、10は受光視野であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 勝也 東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 大脇 錠治 東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 杉本 祐二 東京都千代田区丸の内１丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−31655（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−111860（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−68111（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭48−40186（ＪＰ，Ｂ１)
Claims (3)
- 【請求項１】板状体を接続して連続したストリップと
し、処理ラインで処理するに際し、板状体の継目付近に
板状体の反射特性と異なる反射特性を有する材料で前記
ストリップの長手方向に対して斜行し予め定められた幅
と間隔を有する複数の平行線からなるマークを施し、前
記処理ライン中で前記複数の平行線からなるマークと交
差するライン状光学的センサによって前記複数のマーク
を同時に検出し、該検出されたマークの幅と間隔が予め
定められた幅と間隔のそれぞれの規定範囲内であること
をもって板状体の継目位置を検出する方法。 - 【請求項２】前記複数の平行線からなるマークが蛍光物
質よりなる請求項１記載の板状体の継目位置を検出する
方法。 - 【請求項３】少くとも１軸方向に広がった視野を有し、
前記軸方向の視野と交差するように板状体を接続したス
トリップの長手方向に対して斜行して設けられた複数の
平行線からなるマークを同時に受光し、前記視野内の輝
度分布に対応した電気信号に変換して出力する受光器
と、 前記受光器から出力される電気信号の信号振幅が予め定
められた値より大きいときのみ２値化高レベル信号を出
力する２値化手段と、 前記２値化手段より出力される２値化高レベル信号の信
号幅が予め定められた規定範囲に入っているときにの
み、前記高レベル信号の信号幅の中の予め定められた位
置に検出位置信号を発生するマーク幅判別手段と、 前記マーク幅判別手段の発生する検出位置信号相互間の
間隔が予め定められた規定範囲に入っているときにの
み、マーク検出信号を発生する間隔判別手段とを有して
なるマーク検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131654A JPH0725440B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131654A JPH0725440B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01303259A JPH01303259A (ja) | 1989-12-07 |
| JPH0725440B2 true JPH0725440B2 (ja) | 1995-03-22 |
Family
ID=15063105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63131654A Expired - Lifetime JPH0725440B2 (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 板状体継目検出方法及びこれに使用するマーク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0725440B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3108035B2 (ja) * | 1997-05-28 | 2000-11-13 | 株式会社東京機械製作所 | 自動紙継方法及び装置 |
| KR102601968B1 (ko) * | 2021-09-02 | 2023-11-14 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 전극 연결원인 판정시스템 및 이를 이용한 롤맵 생성시스템 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4840186A (ja) * | 1971-09-28 | 1973-06-13 | ||
| JPS6040524Y2 (ja) * | 1979-10-30 | 1985-12-06 | 株式会社東芝 | 材料の接合部検出装置 |
| JPS60157447A (ja) * | 1984-01-27 | 1985-08-17 | Ricoh Co Ltd | 残量標識付ロ−ル状記録材及び残量標識検知装置 |
| JPS6231655A (ja) * | 1985-08-02 | 1987-02-10 | Nec Corp | 紙エンドマ−ク検出装置 |
| JPS62111860A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-22 | Matsushita Graphic Commun Syst Inc | 走行紙の位置検出装置 |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63131654A patent/JPH0725440B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01303259A (ja) | 1989-12-07 |
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