JPH072615Y2 - 化合物半導体単結晶成長装置 - Google Patents

化合物半導体単結晶成長装置

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JPH072615Y2
JPH072615Y2 JP364290U JP364290U JPH072615Y2 JP H072615 Y2 JPH072615 Y2 JP H072615Y2 JP 364290 U JP364290 U JP 364290U JP 364290 U JP364290 U JP 364290U JP H072615 Y2 JPH072615 Y2 JP H072615Y2
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昌治 中森
秀夫 山田
三千則 和地
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、特に温度傾斜法を用いる化合物半導体単結晶
成長装置に関するものである。
[従来の技術] 化合物半導体の単結晶を製造するには幾つかの方法が知
られているがそのうちの一つに温度傾斜式結晶成長法
(グラジェントフリーズ法:GF法)がある。この方法は
ボート又はるつぼ内で融解させた半導体原料の融液を定
められた温度勾配に従って冷却させて結晶化するもの
で、第3図はボートを用いて例えばガリウム・ヒ素(Ga
As)単結晶を製造する場合の説明図で、結晶成長装置
(a)と温度分布曲線(b)を示す。
同図(a)においては、1は反応管、2は石英ボート、
3はGaAs融液、4は結晶、5はAs、6は石英ボート2を
加熱して融液状態を保持する高温側ヒータ、7は高温側
ヒータ6内の熱を放散させる放熱孔、8は放熱孔7を覆
う石英ガラス板、9はAsを加熱して反応管1内を一定の
蒸気圧に保持させる低温側ヒータである。
装置が稼動して高温側ヒータ6及び低温側ヒータ9が加
熱されると、定められた温度分布及び蒸気圧の下で結晶
の成長が開始される。
同図(b)は高温側ヒータ6の長手(横)方向に対する
温度分布を示すもので、横軸が長手方向位置l、縦軸が
温度Tを示す。l=l0は融液3と結晶4との境の固液界
面に対応する位置を示す。曲線Aの加熱時の温度分布設
定値、曲線Bは降温時の温度分布設定値、曲線Cは実測
値を示す。
曲線Aに示す温度分布の下で融液3が形成された後、こ
の状態を保持したまま温度を低下させると融液3がボー
ト2の一端から凝固を開始し順次全体が結晶化して所望
の単結晶が得られる。
一般にボートを用いて単結晶を成長させる場合は融液の
凝固は結晶の自由表面から始まることが必要で、放熱孔
7はこのような場合に結晶自由表面付近の熱を放散させ
る役目を果たしている。
第4図は放熱孔7の近辺の要部断面図を示すもので、8
は石英ガラス板、9は断熱材である。高温側ヒータ6の
内部に発生した熱は放熱孔7より石英ガラス板8を通っ
て外部に放出されるが、放熱量の調整は石英ガラス板8
の枚数を変え、或いは断熱材9のスリット幅Wを変える
ことにより行われる。
[考案が解決しようとする課題] 上述したように放熱孔は固液界面付近の熱を外部に放散
させて結晶の成長を安定化させる働きをするが、この場
合放熱孔各部の放熱特性を均一に保つことは困難で、例
えば放熱孔の中央部と両端部とでは放熱効果が異なるた
め融液の凝固速度が変動して固液界面が不安定となり、
結晶に欠陥が生ずる現象が見られた。このような放熱効
果の不均一性は特に結晶が厚肉化及び大面積化された場
合に影響が大きく、結晶の品質及び歩留を一層低下させ
るので好ましくない。又、一度放熱孔の構造を決定する
と放熱量を調整したくとも最初から作り直さねばなら
ず、特に放熱量を減少させて保温性を高める必要がある
時は石英ガラスの枚数を増加して断熱材のスリット幅を
狭くしなければならないので、結晶の表面状態や界面形
状の観察が不能となり、欠陥発生の有無が確認できない
嫌いがある。
本考案は目的は、放熱量の調整を確実にして結晶成長速
度を均一にし、結晶を安定に成長させる化合物半導体単
結晶成長装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本考案は、温度傾斜式結晶成長法等を用いて単結晶を育
成する化合物半導体単結晶成長装置において、原料融液
を形成する高温側ヒータの上部に取付けられている放熱
孔部に、高温側ヒータより放出される輻射熱を抑制する
金属膜と補助ヒータとを夫々積層させて石英ガラス内に
一体に封入した放熱量調節部を設けたことを特徴として
おり、放熱量の調整が確実で結晶が安定に成長するよう
にして目的の達成を計っている。
[作用] 本考案の化合物半導体単結晶成長装置では高温側ヒータ
の上部に取付けられている放熱孔の出口側に、ヒータの
輻射熱を抑制する金属膜と結晶自由表面温度を調整する
温度調整用ヒータとを石英ガラス内に積層して封入した
放熱量調節部をこの出口側を覆うように取付け、高温側
ヒータより放射される輻射熱は金属膜で反射させ、結晶
自由表面温度の調整は温度調整用ヒータを動作させて結
晶成長中の固液界面の温度傾斜が常に一定となるように
しているので、結晶成長が安定となり高品質結晶を得る
ことができる。
[実施例] 以下、本考案の実施例について図を用いて説明する。第
1図は本考案の化合物半導体単結晶成長装置の一実施例
を示す放熱孔近辺の要部断面図である。同図において、
10は放熱量調節部、11はAuの薄膜、12は温度調整用の平
形ヒータ、13は石英ガラス、14はヒータ電源である。
同図に示すように放熱量調節部10はAu薄膜11及び調整用
ヒータ12が石英ガラス13を介して配置されており、放熱
孔7の出口側を覆うように取付けられている。
装置が移動して高温側ヒータ6が加熱されると放熱孔7
を通してヒータ6内の熱が外部に放散されるが、この場
合、Au薄膜11により波長1μm以上の赤外光のうち95%
以上はここで反射させるので高温側ヒータ6より放射さ
れる輻射熱は大部分抑制され、放熱孔7より放散される
熱は石英ガラス13の伝導及び対流による熱だけとなり安
定化する。Au薄膜11は可視光は透過するから放熱量調節
部10を通して結晶成長状態を観察することは容易であ
り、従来のように赤外光による作業者の眼疾等の事故が
発生せず安全作業を行うことができる。
又、結晶成長中必要に応じて温度調整用ヒータ12を動作
させ、その発熱により結晶自由表面温度を微調整するこ
とができるので更に安定した結晶成長を行うことができ
る。
第2図は上記の放熱量調節部10を用いた結晶成長装置の
説明図で、同図(a)は結晶成長装置断面図、同図
(b)は温度分布特性図で、夫々第3図(a),(b)
に対応する場合を示しており、同一部分には同一符号が
付けられている。第2図(a)で10が放熱量調節部で、
矢印R,Sに示すように高温側ヒータ6により放散熱Rと
放熱量調節部10の動作による反対方向の放熱Sが生ずる
ことが示されている。
同図(b)は第3図(b)と同様高温側ヒータの長手方
向距離lと温度Tの関係を示すもので、曲線Dが放熱量
調節部10を動作させつつ結晶化させた場合の特性曲線を
示しており、鎖線Eで示すようにl=l0付近における温
度勾配が略一定であることが分かる。
このように固液界面における温度勾配を一定に保持する
ことにより、結晶成長速度並びに結晶成長界面の変動を
大幅に低減することができるので結晶が厚肉、大面積化
された場合でも安定に成長させることが可能となる。
[考案の効果] 以上述べられたように本考案によれば次のような効果が
得られる。
(1)放熱量及び結晶自由表面温度を確実に制御するこ
とができ、結晶成長界面及び結晶成長速度の安定化を計
ることができる。
(2)多結晶、双晶及びリネージ等の結晶欠陥を大幅に
低減させて品質を向上させ、不良発生による再作業を防
止して生産性を向上することができる。
(3)結晶の厚肉化及び大面積化への対応が容易となり
歩留及び生産性を向上することができる。
(4)結晶成長時の監視作業が安全となり良好な作業環
境を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の化合物半導体単結晶成長装置の一実施
例を示す放熱量調節部付近の要部断面図、第2図は第1
図の放熱量調節部を用いる結晶成長装置の説明図、第3
図は従来の結晶成長装置の説明図、第4図は従来装置の
放熱孔近辺の要部断面図である。 1:反応管、2:石英ボート、6:高温側ヒータ、7:放熱孔、
10:放熱温度調節部、11:Au薄膜、12:温度調整用ヒー
タ、13:石英ガラス。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】原料の入ったボートを反応管内に封入し高
    温側ヒータにより加熱して融液を形成させ、該融液を定
    められた温度勾配を保持しながら徐々に固化させて単結
    晶を育成する化合物半導体単結晶成長装置において、前
    記高温側ヒータの上部に取付けられている放熱孔部に、
    前記高温側ヒータより放射される輻射熱を抑制する金属
    膜と補助ヒータとを夫々積層させて石英ガラス内に一体
    に封入してなる放熱量調節部が設けてあることを特徴と
    する化合物半導体単結晶成長装置。
JP364290U 1990-01-18 1990-01-18 化合物半導体単結晶成長装置 Expired - Fee Related JPH072615Y2 (ja)

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