JPH0728663A

JPH0728663A - 情報処理装置の試験装置

Info

Publication number: JPH0728663A
Application number: JP5169445A
Authority: JP
Inventors: Shinsuke Teranishi; 信輔寺西; Hiroshi Goto; 寛後藤
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1993-07-09
Filing date: 1993-07-09
Publication date: 1995-01-31

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、情報処理装置の試験装置に関し、
正解データの収集処理や比較処理時にランダムデータを
アクセス・データ域やレジスタに書き込んで試験を繰り
返し、アクセス・データ域やレジスタのデータのランダ
ム性を確保し、試験精度の向上を図ると共に大規模な被
試験命令列に対する試験に対処可能にすることを目的と
する。【構成】被試験命令をランダムに配置した被試験命令
列を生成すると共に、この被試験命令列にチェック命令
を設定する命令生成制御部０２と、被試験命令列中に設
定されたチェック命令の実行時に制御が渡り、収集モー
ドのときに正解情報（レジスタ情報および割込み情報）
を退避、あるいは比較モードのときに正解情報との比較
を行って正常／エラーを判定すると共に、被試験命令列
が使用するアクセス・データ域１１にランダムなデータ
を設定するチェック・ポイント制御部１２とを備えるよ
うに構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被試験命令列を実行し
て情報処理装置の試験を行う試験装置に関するものであ
る。

【０００２】近年の情報処理装置は、大型化と複雑な機
構を具備しているため、ランダムな命令組合せ試験にお
いて、効果的な試験が要求されている。このため、小規
模なランダム命令列の試験では、レジスタ・データと、
アクセス・データ域は飽和状態にならないが、大規模な
ランダム命令列の試験では飽和状態となるレジスタ・デ
ータと、アクセス・データ域を実行の途中でランダムな
状態に制御する必要がある。

【０００３】

【従来の技術】従来の情報処理装置の試験装置は、図７
に示すような構成のもとで、ランダムな被試験命令列１
１０を生成し、被試験命令の実行環境を変化させながら
試験していた。この際、実行結果の比較制御では、収集
モードか、比較モードかを判定し、実行結果情報として
チェック命令の実行点ではレジスタ情報と各種割込み情
報とを退避域１１７、１２１にそれぞれ設定し、実行環
境ごとの実行結果をそれぞれ比較することにより試験を
行っていた。以下図７の従来の構成および動作を簡単に
説明する。

【０００４】図７において、初期設定部１０１は、試験
条件の初期設定を行うものである。命令生成制御部１０
２は、ランダムな命令を生成し、試験ルーチン１０６の
被試験命令列１１０に順次設定するものである。

【０００５】実行環境設定制御部１０３は、試験ルーチ
ン１０６が実行する実行環境を設定するものである。試
験ルーチン起動制御部１０４は、試験ルーチン１０６の
起動制御を行うものである。

【０００６】モード変更制御部１０５は、試験ルーチン
１０６のモードを収集モードあるいは比較モードを任意
に変更し、実行させるものである。試験繰返し制御部１
２４は、モード変更制御部１０５でモードを変更した状
態で、繰り返し実行させるものである。

【０００７】試験ルーチン１０６は、被試験命令列１１
０に従って実行し、チェックポイント（ｓｖｃ命令実行
点）でチェック・ポイント制御１１２による制御を行
い、比較して試験を行うものであり、初期設定１０７、
実行環境設定１０８、起動処理１０９、被試験命令列１
１０、アクセス・データ域１１１、およびチェック・ポ
イント制御１１２から構成されるものである。以下図７
の構成の動作を簡単に説明する。

【０００８】（１）初期設定部１０１による初期設定
に対応して試験ルーチン１０６の初期設定１０７を行
い、命令生成制御部１０２によるランダムな命令の生成
に対応して被試験命令列１１０を順次設定し、実行環境
設定制御部１０３による試験ルーチン１０６が実行する
実行環境の設定に対応して実行環境設定１０８を行い、
試験ルーチン起動制御部１０４による試験ルーチン１０
６の起動に対応して試験ルーチン１０６が試験を開始す
る。

【０００９】（２）起動された試験ルーチン１０６は
被試験命令列１１０を順次実行し、チェックポイント実
行時（ｓｖｃ命令実行時）に制御がチェック・ポイント
制御１２に渡り、当該チェック・ポイント制御部１１２
が１１３から１２２のうちの該当する処理を行う。

【００１０】（３）チェック・ポイント制御部１１２
のモード判定部１１３が収集モードか比較モードかを判
定する。収集モードあるいは比較モードの変更は、モー
ド変更制御部１０５が随時行う。

【００１１】（３−１）収集モードであった場合に
は、収集モード部１１４が実行結果のレジスタ情報１１
５を退避域１１７のデータＡに格納し、各種の割込み情
報１１６を退避域１１７のデータＢに格納し、正解情報
とする。

【００１２】（３−２）比較モードであった場合に
は、比較モード部１１８が実行結果のレジスタ情報１１
９を退避域１２１のデータＣに格納し、各種の割込み情
報１２０を退避域１２１のデータＤに格納し、比較対象
情報とする。そして、比較処理部１２２が退避域１１７
のデータＡと、退避域１２１のデータＣとを比較、およ
び退避域１１７のデータＢと、退避域１２１のデータＤ
とを比較し、試験を行う。比較の結果、不一致となって
エラーの場合には、エラー制御部１２３がエラー情報を
出力する。

【００１３】（４）試験繰返し制御部１２４は、初期
設定部１０１に従い、命令生成制御部１０２で新しい被
試験命令列１０を生成して設定し、試験を繰り返し、実
行する。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の図７の
構成によるランダムな被試験命令列１１０を実行してそ
の実行結果を比較して試験を行う、結果情報のみを収集
・比較する試験装置では、大規模な被試験命令列を対象
とする場合には、レジスタ・データと、アクセス・デー
タ域がシフト命令やゼロの乗算命令などにより、徐々に
飽和（オール０）になる事態が発生してしまい、ランダ
ム性のデータによる試験が行えないという問題が発生し
た。

【００１５】本発明は、これらの問題を解決するため、
正解データの収集処理や比較処理時にランダムデータを
アクセス・データ域やレジスタに書き込んで試験を繰り
返し、アクセス・データ域やレジスタのデータのランダ
ム性を確保し、試験精度の向上を図ると共に大規模な被
試験命令列に対する試験に対処可能にすることを目的と
している。

【００１６】

【課題を解決するための手段】図１を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図１において、命令生成
制御部０２は、被試験命令をランダムに配置した被試験
命令列１０を生成すると共に、この被試験命令列１０に
チェック命令を設定するものである。

【００１７】チェック・ポイント制御部１２は、収集モ
ードのときに正解情報（レジスタ情報および割込み情
報）を退避、あるいは比較モードのときに正解情報との
比較を行って正常／エラーを判定したり、被試験命令列
１０が使用するアクセス・データ域１１にランダムなデ
ータを設定したり、アクセス・データ域１１中の同一値
の割合が閾値よりも高いときにランダムなデータを設定
したり、レジスタ３１にランダムなデータを設定した
り、レジスタ３１中の同一値の割合が閾値よりも高いと
きにランダムなデータを設定したりするものである。

【００１８】

【作用】本発明は、図１に示すように、命令生成制御部
０２が被試験命令をランダムに配置した被試験命令列１
０を生成およびこの被試験命令列１０にチェック命令を
設定し、この被試験命令列１０中に設定されたチェック
命令の実行時に制御が渡ったチェック・ポイント制御部
１２が収集モードのときに正解情報（レジスタ情報およ
び割込み情報）を退避、あるいは比較モードのときに正
解情報との比較を行って正常／エラーを判定したり、被
試験命令列１０が使用するアクセス・データ域１１にラ
ンダムなデータを設定し、試験を繰り返すようにしてい
る。

【００１９】この際、被試験命令列１０が使用するアク
セス・データ域１１中の同一値の割合が閾値よりも高い
ときにランダムなデータを設定し、試験を繰り返すよう
にしている。

【００２０】また、命令生成制御部０２が被試験命令を
ランダムに配置した被試験命令列１０を生成およびこの
被試験命令列１０にチェック命令を設定し、この被試験
命令列１０中に設定されたチェック命令の実行時に制御
が渡ったチェック・ポイント制御部１２が収集モードの
ときに正解情報（レジスタ情報および割込み情報）を退
避、あるいは比較モードのときに正解情報との比較を行
って正常／エラーを判定したり、被試験命令列１０が使
用するレジスタ３１にランダムなデータを設定し、試験
を繰り返すようにしている。

【００２１】この際、被試験命令列１０が使用するレジ
スタ３１中の同一値の割合が閾値よりも高いときにラン
ダムなデータを設定し、試験を繰り返すようにしてい
る。従って、正解データの収集処理や比較処理時にラン
ダムデータをアクセス・データ域１１やレジスタ３１に
書き込んで試験を繰り返すことにより、アクセス・デー
タ域１１やレジスタ３１のデータのランダム性を確保
し、試験精度の向上を図ると共に大規模な被試験命令列
に対する試験に対処することが可能となる。

【００２２】

【実施例】次に、図１から図６を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００２３】図１は、本発明の１実施例構成図を示す。
図１において、初期設定部０１は、メモリやレジスタを
クリアしたりなどの初期設定を行うものである。

【００２４】ランダムデータ書込み部０１１は、被試験
命令列１０が使用するアクセス・データ域１１およびレ
ジスタ３１に、ランダムデータを書き込むものである。
命令生成制御部０２は、被試験命令をランダムに配置し
た被試験命令列１０を生成したり、この生成した被試験
命令列１０にチェック命令（ｓｖｃ命令）を設定したり
するものである。

【００２５】実行環境設定制御部０３は、被試験命令列
１０が使用する実行環境（例えばキャッシュの使用の有
無など）を設定するものである。試験ルーチン起動制御
部０４は、試験ルーチン０６を起動するものである。

【００２６】モード変更制御部０５は、収集モードおよ
び比較モードを任意に変更するものである。収集モード
に設定した場合には、そのときのアクセス・データ域１
１およびレジスタ３１のデータを正解値として保存す
る。比較モードに設定した場合には、そのときのアクセ
ス・データ域１１およびレジスタ３１のデータと、保存
した正解値と比較し、一致したときに正常、一致しない
ときにエラーと判定する。

【００２７】試験繰返し制御部２５は、試験を繰り返し
行うものである。試験ルーチン０６は、ランダムな命令
列を設定した被試験命令列１０による試験を実行するル
ーチンであって、初期設定０７、実行環境設定０８、起
動処理０９、被試験命令列１０、アクセス・データ域１
１、レジスタ３１、およびチェック・ポイント制御１２
などから構成されるものである。

【００２８】初期設定０７は、メモリやレジスタのクリ
アする。実行環境設定０８は、キャッシュの有無などの
実行環境を設定する。起動処理０９は、被試験命令列１
０などの実行を起動する。

【００２９】被試験命令列１０は、試験対象の命令列を
ランダムに設定およびチェック命令（ｓｖｃ命令）を設
定したものである。チェック命令（ｓｖｃ命令）の実行
により、制御がチェック・ポイント制御部１２に渡る。

【００３０】アクセス・データ域１１は、被試験命令列
１０がアクセスするデータ域である。レジスタ３１は、
被試験命令列１０が使用するレジスタである。

【００３１】チェック・ポイント制御部１２は、被試験
命令列１０中のｓｖｃ命令を実行したときに制御が渡
り、起動されるものであって、図示のような制御を行う
ものである。

【００３２】モード判定部１３は、ｓｖｃ命令によって
制御がチェック・ポイント制御部１２に渡ったときに、
モードが正解値を収集する収集モード、あるいは正解値
と比較する比較モードのいずれかを判定するものであ
る。

【００３３】収集モード部１４は、モード判定部１３が
収集モードと判定したときに起動されるものであって、
被試験命令列１０による実行結果のレジスタ情報１５お
よび割込み情報１６を正解値として取り出し、ポインタ
１７でポイントされる位置にデータ１、データ２・・・
として保存するするものである。

【００３４】ポインタ１７は、正解値のレジスタ情報１
５および割込み情報１６を保存するアドレスをポイント
するポインタである。このポインタ１７がポイントする
アドレスに正解値のレジスタ情報１５および割込み情報
１６を順次保存する。

【００３５】比較モード部１９は、モード判定部１３が
比較モードと判定したときに起動されるものであって、
被試験命令列１０による実行結果のレジスタ情報２０お
よび割込み情報２１を比較値として取り出し、退避域２
２にデータＡ、データＢとしてそれぞれ退避する。

【００３６】比較処理部２３は、正解値のデータ１、デ
ータ２・・・と、退避域２２の比較対象のデータＡ、デ
ータＢと比較し、一致したときに正常、不一致のときに
エラーと判定するものである。

【００３７】エラー制御部２４は、比較処理部２３によ
って正解値と比較値とを比較し、不一致のときのエラー
結果を出力するものである。アクセス・データ再設定制
御部２６は、被試験命令列１０が使用するアクセス・デ
ータ域１１やレジスタ３１にランダムなデータを設定し
たり、アクセス・データ域１１やレジスタ３１中の同一
値の割合が閾値よりも高いときにランダムなデータを設
定したりするものである。

【００３８】乱数発生回路２７は、アクセス・データ域
１１やレジスタ３１に書き込むランダムなデータを発生
するものである。次に、図２のフローチャートに示す順
序に従い、図１の構成の動作を詳細に説明する。

【００３９】図２において、Ｓ１は、初期設定する。例
えばメモリであるアクセス・データ域１１やレジスタ３
１をクリアする。Ｓ２は、ランダムデータをアクセス・
データ域に書き込む。これは、図１のランダムデータ書
込み部０１１がランダムデータをアクセス・データ域１
１に書き込む。

【００４０】Ｓ３は、被試験命令列の生成を行う。これ
は、図１の命令生成制御部０２が試験対象の命令をラン
ダムに被試験命令列１０に順次設定すると共にチェック
・ポイントにｓｖｃ命令を設定する。

【００４１】Ｓ４は、実行環境設定する。例えばキャッ
シュの使用の有無を入力したり、逐次モードか被逐次モ
ードかを入力したりする。これは、図１の実行環境設定
制御部０３が実行環境を設定する。

【００４２】Ｓ５は、試験ルーチンを起動する。これ
は、図１の試験ルーチン起動制御部０４が、試験ルーチ
ン０６を起動する。Ｓ６は、初期設定する。これは、Ｓ
５で起動された試験ルーチン０６が初期設定、例えば一
般レジスタの設定を行う。ここで、一般レジスタの設定
として、図示のように、・ベースレジスタ・オフセットレジスタにアクセス先のアドレスを設定したり、・演算用レジスタにランダムデータを設定したりする。

【００４３】Ｓ７は、実行環境設定する。これは、試験
ルーチン０６が・キャッシュの使用の有無を制御レジスタに設定・逐次モードか非逐次モードかを制御レジスタに設定する。

【００４４】Ｓ８は、起動する。これは、被試験命令列
１０を先頭から実行開始する。Ｓ９は、チェック命令
（ｓｖｃ命令）か判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１０
に進む。ＮＯの場合には、命令を実行し、Ｓ９を繰り返
す。

【００４５】Ｓ１０は、Ｓ９のＹＥＳでチェック命令
（ｓｖｃ命令）であったので、収集処理あるいは比較処
理を行う（図３のＳ２１以下の処理を行う）。そして、
比較結果がエラーであれば出力する。

【００４６】Ｓ１１は、ランダムデータをアクセス・デ
ータ域に書き込む。更にレジスタ３１にも書き込む。Ｓ
１２は、繰り返し指示ありか判別する。ＹＥＳの場合に
は、Ｓ２に戻り、試験を繰り返す。一方、ＮＯの場合に
は、終了する（ＥＮＤ）。

【００４７】以上によって、試験対象の命令をランダム
に被試験命令列１０に順次設定すると共にチェック命令
（ｓｖｃ命令）を設定しておき、実行時に当該チェック
命令が実行されたときに収集処理あるいは比較処理を行
い、正解値を保存したり、正解値と比較してエラーのと
きにエラー出力したりする。そして、ランダムデータを
被試験命令列１０が使用するアクセス・データ域１１や
レジスタ３１に書き込んだ後、Ｓ３以降を繰り返し、試
験を行う。これにより、試験を繰り返すときに、ランダ
ムデータを被試験命令列１０が使用するアクセス・デー
タ域１１やレジスタ３１に設定した後、試験を繰り返す
ため、試験精度の向上を図ることが可能となると共に、
大規模な被試験命令列を対象とする試験にも対処するこ
とが可能となる。

【００４８】図３は、本発明の収集処理／比較処理のフ
ローチャートを示す。これは、図２のＳ１０の収集処理
あるいは比較処理の詳細な手順を示したものである。図
３において、Ｓ２１は、チェック命令か判別する。ＹＥ
Ｓの場合には、Ｓ２２に進む。ＮＯの場合には、Ｓ２１
を繰り返し行う。

【００４９】Ｓ２２は、モード判定する。これは、Ｓ２
１のＹＥＳでチェック命令（ｓｖｃ命令）の実行と判明
したので、制御の渡されたチェック・ポイント制御部１
２のモード判定部１３がモードが収集モードか、比較モ
ードのいずれかを判別する。

【００５０】Ｓ２３は、Ｓ２２で収集モードと判明した
ので、一般レジスタデータを保存する（正解値として保
存する）。これは、一般レジスタ（図１のレジスタ３
１）のデータを、ポインタ１７がポイントする位置にデ
ータ１、データ２・・・として保存する。

【００５１】Ｓ２４は、制御レジスタのデータを保存す
る（制御レジスタの割込み情報を正解値として保存す
る）。これは、制御レジスタに設定されている割込み情
報を正解値として、ポインタ１７がポイントする位置に
データ１１、データ１２・・・として保存する。

【００５２】Ｓ２５は、乱数発生する。Ｓ２６は、アク
セス・データ域に再設定する。これは、被試験命令列１
０が使用するアクセス・データ域１１に、Ｓ２５で発生
した乱数を再設定する。これにより、チェック命令実行
時にアクセス・データ域１１内がシフト命令や加算命令
によって同一値になったとしてもランダムなデータが再
設定され、試験精度を向上させることができる。

【００５３】Ｓ２７は、チェック命令の次の命令に戻
り、被試験命令列１０の実行を再開する。そして、図２
の（Ｂ）に戻る。Ｓ２８は、Ｓ２２で比較モードと判明
したとき、レジスタ情報の比較を行う。これは、以前の
Ｓ２３で保存した正解値と、今回のレジスタ情報とを比
較（正解値と現レジスタ情報を比較）する。

【００５４】Ｓ２９は、割込み情報の比較を行う。これ
は、以前のＳ２４で保存した割込み情報の正解値と、今
回の割込み情報とを比較（正解値と現割込み情報を比
較）する。

【００５５】Ｓ３０は、エラーか判別する。ＹＥＳの場
合には、Ｓ３１でエラー結果出力し（レジスタの値が違
うので、エラー結果を出力し）、終了する（ＥＮＤ）。
一方、ＮＯの場合には、Ｓ２５で乱数を発生し、Ｓ２６
でアクセス・データ域１１にランダムデータを再設定
し、Ｓ２７でチェック命令の次の命令に戻る。

【００５６】以上によって、被試験命令列１０の実行時
にチェック命令（ｓｖｃ命令）を実行して制御がチェッ
ク・ポイント制御部１２に渡ったときに、当該チェック
・ポイント制御部１２のモード判定部１３がモード判定
を行い、収集モードと判明したときにレジスタ情報およ
び割込み情報を正解値として保存し、一方、比較モード
と判明したときに正解値とレジスタ情報および割込み情
報とを比較し、エラーのときにエラー出力し、正常のと
きにランダムデータをアクセス・データ域１１（更にレ
ジスタ３１）に設定し、チェック命令（ｓｖｃ命令）の
次の命令に戻ることを繰り返し、試験を行う。これらに
より、チェック命令の実行毎に収集モードで正解値を収
集あるいは比較モードで比較してエラーチェックした
後、ランダムデータをアクセス・データ域１１（更にレ
ジスタ３１）に設定し、試験精度を向上させることが可
能となる。

【００５７】図４は、本発明の他の動作説明フローチャ
ート（その１）を示す。これは、図３の（Ａ）に続く処
理であって、ランダムデータを一般レジスタ（レジスタ
３１）に再設定するときの手順を示したものである。

【００５８】図４において、Ｓ４１は、乱数を発生す
る。Ｓ４２は、一般レジスタに再設定する。これは、Ｓ
４１で発生したランダムデータを一般レジスタ（レジス
タ情報、レジスタ３１）に再設定し、加算命令やシフト
命令などによる同一の値（例えば０）になってしまい、
試験精度が低下するのを防止する。

【００５９】Ｓ４３は、チェック命令の次の命令に戻
る。以上によって、被試験命令列１０の実行時にチェッ
ク命令（ｓｖｃ命令）を実行して制御がチェック・ポイ
ント制御部１２に渡ったときに、図３のＳ２１からＳ２
４、あるいはＳ２８からＳ３１の処理によって、収集処
理あるいは比較処理を行った後、ランダムデータを一般
レジスタ（レジスタ情報、レジスタ３１）に再設定した
後、チェック命令（ｓｖｃ命令）の次の命令に戻ること
を繰り返し、試験を行う。これらにより、ランダムデー
タを一般レジスタ（レジスタ３１）に設定し、試験精度
を向上させることが可能となる。

【００６０】図５は、本発明の他の動作説明フローチャ
ート（その２）を示す。これは、図３の（Ａ）に続く処
理であって、アクセス・データ域１１にデータの０が多
いとき（同一値の割合が閾値以上のとき）にランダムデ
ータを再設定するときの手順を示したものである。

【００６１】図５において、Ｓ５１は、アクセス・デー
タ域１１のデータの０が多いか判別する。これは、被試
験命令列１０が使用するアクセス・データ域１１中のデ
ータの０の割合が多いとき（例えば半分以上のとき）、
ＹＥＳとなり、Ｓ５２に進む。一方、ＮＯの場合には、
Ｓ５４に進む。

【００６２】Ｓ５２は、乱数を発生する。Ｓ５３は、ア
クセス・データ域に再設定する。これは、Ｓ４１で発生
したランダムデータをアクセス・データ域１１に再設定
し、加算命令やシフト命令などによる同一の値（例えば
０）になってしまい、試験精度が低下するのを防止す
る。

【００６３】Ｓ５４は、チェック命令の次の命令に戻
る。以上によって、被試験命令列１０の実行時にチェッ
ク命令（ｓｖｃ命令）を実行して制御がチェック・ポイ
ント制御部１２に渡ったときに、図３のＳ２１からＳ２
４、あるいはＳ２８からＳ３１の処理によって、収集処
理あるいは比較処理を行った後、ランダムデータをアク
セス・データ域１１に再設定した後、チェック命令（ｓ
ｖｃ命令）の次の命令に戻ることを繰り返し、試験を行
う。これらにより、ランダムデータをアクセス・データ
域１１に再設定し、試験精度を向上させることが可能と
なる。

【００６４】図６は、本発明の他の動作説明フローチャ
ート（その３）を示す。これは、図３の（Ａ）に続く処
理であって、レジスタ３１にデータの０が多いとき（同
一値の割合が閾値以上のとき）にランダムデータを再設
定するときの手順を示したものである。

【００６５】図６において、Ｓ６１は、レジスタ３１の
データの０が多いか判別する。これは、被試験命令列１
０が使用するレジスタ３１中のデータの０の割合が多い
とき（例えば半分以上のとき）、ＹＥＳとなり、Ｓ６２
に進む。一方、ＮＯの場合には、Ｓ６４に進む。

【００６６】Ｓ６２は、乱数を発生する。Ｓ６３は、一
般レジスタ（レジスタ３１）に再設定する。これは、Ｓ
６２で発生したランダムデータを一般レジスタ（レジス
タ３１）に再設定し、加算命令やシフト命令などによる
同一の値（例えば０）になってしまい、試験精度が低下
するのを防止する。

【００６７】Ｓ６４は、チェック命令の次の命令に戻
る。以上によって、被試験命令列１０の実行時にチェッ
ク命令（ｓｖｃ命令）を実行して制御がチェック・ポイ
ント制御部１２に渡ったときに、図３のＳ２１からＳ２
４、あるいはＳ２８からＳ３１の処理によって、収集処
理あるいは比較処理を行った後、ランダムデータをレジ
スタ３１に再設定した後、チェック命令（ｓｖｃ命令）
の次の命令に戻ることを繰り返し、試験を行う。これら
により、ランダムデータをレジスタ３１に再設定し、試
験精度を向上させることが可能となる。

【００６８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
正解データの収集処理や比較処理時にランダムデータを
アクセス・データ域１１やレジスタ３１に書き込んで試
験を繰り返す構成を採用しているため、アクセス・デー
タ域１１やレジスタ３１のデータのランダム性を確保
し、試験精度の向上を図ることができると共に大規模な
被試験命令列１０に対する試験に対処することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例構成図である。

【図２】本発明の動作説明フローチャートである。

【図３】本発明の収集処理／比較処理のフローチャート
である。

【図４】本発明の他の動作説明フローチャート（その
１）である。

【図５】本発明の他の動作説明フローチャート（その
２）である。

【図６】本発明の他の動作説明フローチャート（その
３）である。

【図７】従来技術の説明図である。

【符号の説明】０１：初期設定部０１１：ランダムデータ書込み部０２：命令生成制御部０３：実行環境設定制御部０４：試験ルーチン起動制御部０５：モード変更制御部２５：試験繰返し制御部０６：試験ルーチン１０：被試験命令列１１：アクセス・データ域１２：チェック・ポイント制御部１３：モード判定部１４：収集モード部１５、２０：レジスタ情報１６、２１：割込み情報１９：比較モード部２２：退避域２３：比較処理部２６：アクセス・データ再設定制御部２７：乱数発生回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被試験命令をランダムに配置した被試験命
令列（１０）を生成すると共に、この被試験命令列（１
０）にチェック命令を設定する命令生成制御部（０２）
と、この被試験命令列（１０）中に設定されたチェック命令
の実行時に制御が渡り、収集モードのときに正解情報
（レジスタ情報および割込み情報）を退避、あるいは比
較モードのときに正解情報との比較を行って正常／エラ
ーを判定すると共に、被試験命令列（１０）が使用する
アクセス・データ域（１１）にランダムなデータを設定
するチェック・ポイント制御部（１２）とを備えたこと
を特徴とする情報処理装置の試験装置。
【請求項２】被試験命令をランダムに配置した被試験命
令列（１０）を生成すると共に、この被試験命令列（１
０）にチェック命令を設定する命令生成制御部（０２）
と、この被試験命令列（１０）中に設定されたチェック命令
の実行時に制御が渡り、収集モードのときに正解情報
（レジスタ情報および割込み情報）を退避、あるいは比
較モードのときに正解情報との比較を行って正常／エラ
ーを判定すると共に、被試験命令列（１０）が使用する
アクセス・データ域（１１）中の同一値の割合が閾値よ
りも高いときにランダムなデータを設定するチェック・
ポイント制御部（１２）とを備えたことを特徴とする情
報処理装置の試験装置。
【請求項３】被試験命令をランダムに配置した被試験命
令列（１０）を生成すると共に、この被試験命令列（１
０）にチェック命令を設定する命令生成制御部（０２）
と、この被試験命令列（１０）中に設定されたチェック命令
の実行時に制御が渡り、収集モードのときに正解情報
（レジスタ情報および割込み情報）を退避、あるいは比
較モードのときに正解情報との比較を行って正常／エラ
ーを判定すると共に、被試験命令列（１０）が使用する
レジスタ（３１）にランダムなデータを設定するチェッ
ク・ポイント制御部（１２）とを備えたことを特徴とす
る情報処理装置の試験装置。
【請求項４】被試験命令をランダムに配置した被試験命
令列（１０）を生成すると共に、この被試験命令列（１
０）にチェック命令を設定する命令生成制御部（０２）
と、この被試験命令列（１０）中に設定されたチェック命令
の実行時に制御が渡り、収集モードのときに正解情報
（レジスタ情報および割込み情報）を退避、あるいは比
較モードのときに正解情報との比較を行って正常／エラ
ーを判定すると共に、被試験命令列（１０）が使用する
レジスタ（３１）中の同一値の割合が閾値よりも高いと
きにランダムなデータを設定するチェック・ポイント制
御部（１２）とを備えたことを特徴とする情報処理装置
の試験装置。