JPH07307008A - 磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
磁気ヘッド及びその製造方法Info
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- JPH07307008A JPH07307008A JP9849894A JP9849894A JPH07307008A JP H07307008 A JPH07307008 A JP H07307008A JP 9849894 A JP9849894 A JP 9849894A JP 9849894 A JP9849894 A JP 9849894A JP H07307008 A JPH07307008 A JP H07307008A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 必要とされる記録磁界を確保しつつ、金属磁
性膜の軟磁性を維持し、記録再生特性を良好なものとす
る。 【構成】 少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャッ
プ形成面に結晶質磁性材料膜16が分断膜17を介して
2層以上積層された多層膜である金属磁性膜5が成膜さ
れる一対の磁気コア半体を磁気ギャップ形成面を突き合
わせて接合一体化する。そして、上記分断膜17は、少
なくとも、白金或いは白金を主とする合金よりなる第1
の層17aと、非磁性材料よりなる第2の層17bによ
り構成する。なお、このとき、金属磁性膜5中の個々の
結晶質磁性材料膜16の膜厚は、0.1μm以上,2.
0μm以下であることが好ましい。さらに、金属磁性膜
5の下地膜14として、白金或いは白金を主とする合金
からなる膜、またはケイ素酸化物よりなる膜が形成され
ていることが好ましい。
性膜の軟磁性を維持し、記録再生特性を良好なものとす
る。 【構成】 少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャッ
プ形成面に結晶質磁性材料膜16が分断膜17を介して
2層以上積層された多層膜である金属磁性膜5が成膜さ
れる一対の磁気コア半体を磁気ギャップ形成面を突き合
わせて接合一体化する。そして、上記分断膜17は、少
なくとも、白金或いは白金を主とする合金よりなる第1
の層17aと、非磁性材料よりなる第2の層17bによ
り構成する。なお、このとき、金属磁性膜5中の個々の
結晶質磁性材料膜16の膜厚は、0.1μm以上,2.
0μm以下であることが好ましい。さらに、金属磁性膜
5の下地膜14として、白金或いは白金を主とする合金
からなる膜、またはケイ素酸化物よりなる膜が形成され
ていることが好ましい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、いわゆるメタルテープ
等の高抗磁力磁気記録媒体に対して記録・再生を行うビ
デオテープレコーダ、コンピュータのデータストレージ
等の磁気記録再生装置に用いられる磁気ヘッド及びその
製造方法に関し、詳細には金属磁性膜を積層化した磁気
ヘッド及びその製造方法に関する。
等の高抗磁力磁気記録媒体に対して記録・再生を行うビ
デオテープレコーダ、コンピュータのデータストレージ
等の磁気記録再生装置に用いられる磁気ヘッド及びその
製造方法に関し、詳細には金属磁性膜を積層化した磁気
ヘッド及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ビデオ・テープ・レコーダー(以
下、VTRと称する。)、データストレージ等の磁気記
録分野において、情報信号の高密度記録化が進められて
おり、磁気記録媒体の高保磁力化、高残留磁束密度化が
要求され、例えば強磁性金属材料を非磁性支持体上に直
接被着せしめてなるメタルテープ等が使用されるように
なっている。これに伴って磁気ヘッドに対しては、コア
材料が高飽和磁束密度、高透磁率を有することが要求さ
れている。かかる要求を満たすため、従来から補助コア
材にフェライト等の軟磁性酸化物材料を用い、その軟磁
性酸化物材料上に高飽和磁束密度を有する金属磁性薄膜
を主コア材として形成し、ギャップ部が上記金属磁性膜
からなる、いわゆるメタル・イン・ギャップ型の磁気ヘ
ッドが提案されており、メタルテープ等の記録再生に好
適なものとなっている。
下、VTRと称する。)、データストレージ等の磁気記
録分野において、情報信号の高密度記録化が進められて
おり、磁気記録媒体の高保磁力化、高残留磁束密度化が
要求され、例えば強磁性金属材料を非磁性支持体上に直
接被着せしめてなるメタルテープ等が使用されるように
なっている。これに伴って磁気ヘッドに対しては、コア
材料が高飽和磁束密度、高透磁率を有することが要求さ
れている。かかる要求を満たすため、従来から補助コア
材にフェライト等の軟磁性酸化物材料を用い、その軟磁
性酸化物材料上に高飽和磁束密度を有する金属磁性薄膜
を主コア材として形成し、ギャップ部が上記金属磁性膜
からなる、いわゆるメタル・イン・ギャップ型の磁気ヘ
ッドが提案されており、メタルテープ等の記録再生に好
適なものとなっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の磁
気ヘッドにおいては、高密度記録化に対応して挟ギャッ
プ長化しても良好に記録を行う必要があることから、記
録磁界を十分に確保するために金属磁性膜の膜厚をある
程度の厚さとする必要がある。
気ヘッドにおいては、高密度記録化に対応して挟ギャッ
プ長化しても良好に記録を行う必要があることから、記
録磁界を十分に確保するために金属磁性膜の膜厚をある
程度の厚さとする必要がある。
【0004】しかしながら、上記金属磁性膜の膜厚を単
に厚くしていくと、渦電流損失や結晶粒粗大化による軟
磁性劣化が発生し、特に再生特性が著しく劣化してしま
う。そこで、上記のような磁気ヘッドにおいては、金属
磁性膜の膜厚をある程度厚くして必要とされる記録磁界
を確保し、十分な記録を行いつつ、該金属磁性膜の軟磁
性を維持し、再生特性を良好なものとする必要がある。
に厚くしていくと、渦電流損失や結晶粒粗大化による軟
磁性劣化が発生し、特に再生特性が著しく劣化してしま
う。そこで、上記のような磁気ヘッドにおいては、金属
磁性膜の膜厚をある程度厚くして必要とされる記録磁界
を確保し、十分な記録を行いつつ、該金属磁性膜の軟磁
性を維持し、再生特性を良好なものとする必要がある。
【0005】そこで本発明は従来の実情に鑑みて提案さ
れたものであり、必要とされる記録磁界を確保しつつ、
金属磁性膜の軟磁性を維持し、良好な記録再生特性を有
する磁気ヘッド及びその製造方法を提供することを目的
とする。
れたものであり、必要とされる記録磁界を確保しつつ、
金属磁性膜の軟磁性を維持し、良好な記録再生特性を有
する磁気ヘッド及びその製造方法を提供することを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに本発明は、一対の磁気コア半体が磁気ギャップ形成
面を突き合わせて接合一体化され、これら一対の磁気コ
ア半体のうち少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャ
ップ形成面に金属磁性膜が成膜されてなる磁気ヘッドに
おいて、上記金属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜
を介して2層以上積層された多層膜であり、上記分断膜
が、少なくとも、白金或いは白金を主とする合金よりな
る層と、非磁性層よりなる多層膜であることを特徴とす
る。
めに本発明は、一対の磁気コア半体が磁気ギャップ形成
面を突き合わせて接合一体化され、これら一対の磁気コ
ア半体のうち少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャ
ップ形成面に金属磁性膜が成膜されてなる磁気ヘッドに
おいて、上記金属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜
を介して2層以上積層された多層膜であり、上記分断膜
が、少なくとも、白金或いは白金を主とする合金よりな
る層と、非磁性層よりなる多層膜であることを特徴とす
る。
【0007】上記結晶質磁性材料膜を構成する結晶質磁
性材料としては、Fe−Ga−Si−Ru系合金やFe
−Al−Si系合金(いわゆるセンダスト)の他、Fe
−Al等これに類似した合金、または窒化系や炭化系の
軟磁性合金等が挙げられる。
性材料としては、Fe−Ga−Si−Ru系合金やFe
−Al−Si系合金(いわゆるセンダスト)の他、Fe
−Al等これに類似した合金、または窒化系や炭化系の
軟磁性合金等が挙げられる。
【0008】また、上記非磁性層を構成する膜として
は、SiO2 膜等の一般的な非磁性材料膜の他、上述の
結晶質磁性材料と結晶構造の異なる金属膜、格子定数が
異なる金属膜、拡散係数が小さいため拡散し難い金属膜
等が挙げられる。
は、SiO2 膜等の一般的な非磁性材料膜の他、上述の
結晶質磁性材料と結晶構造の異なる金属膜、格子定数が
異なる金属膜、拡散係数が小さいため拡散し難い金属膜
等が挙げられる。
【0009】なお、本発明の磁気ヘッドにおいては、金
属磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚が、0.1
μm以上,2.0μm以下であることが好ましい。膜厚
が0.1μm以下では、金属磁性膜中の分断膜による結
晶質磁性材料膜の飽和磁束密度の希釈効果により十分な
ギャップ中磁界が得られず、さらに成膜が複雑となり、
生産性を著しく損なう。また、膜厚が2.0μmよりも
厚くなると、個々の結晶質磁性材料膜中で結晶粒粗大化
が起き、軟磁性が劣化するために積層の効果が得られな
くなる。
属磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚が、0.1
μm以上,2.0μm以下であることが好ましい。膜厚
が0.1μm以下では、金属磁性膜中の分断膜による結
晶質磁性材料膜の飽和磁束密度の希釈効果により十分な
ギャップ中磁界が得られず、さらに成膜が複雑となり、
生産性を著しく損なう。また、膜厚が2.0μmよりも
厚くなると、個々の結晶質磁性材料膜中で結晶粒粗大化
が起き、軟磁性が劣化するために積層の効果が得られな
くなる。
【0010】さらに本発明の磁気ヘッドにおいては、金
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜が形成されているこ
とが好ましい。上記SiOX(1≦X≦2)の化学式で
表されるケイ素酸化物よりなる膜としては、SiO膜,
SiO2 膜の他にケイ素原子に対し酸素原子数が整数比
とならないようなSiO,SiO2 が混合された状態の
膜でも良い。そして、上記下地膜の膜厚としては、10
オングストローム〜300オングストローム程度、さら
には50オングストローム程度が好ましく、この程度で
あれば、上記下地膜が疑似ギャップとして作用する可能
性が小さい。なお、上記下地膜を形成する方法として
は、スパッタリングの他、蒸着,MBE等のPVD法
(Phisical vapor depositio
n method)やCVD法(Chemical v
apor deposition method)等も
挙げられる。
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜が形成されているこ
とが好ましい。上記SiOX(1≦X≦2)の化学式で
表されるケイ素酸化物よりなる膜としては、SiO膜,
SiO2 膜の他にケイ素原子に対し酸素原子数が整数比
とならないようなSiO,SiO2 が混合された状態の
膜でも良い。そして、上記下地膜の膜厚としては、10
オングストローム〜300オングストローム程度、さら
には50オングストローム程度が好ましく、この程度で
あれば、上記下地膜が疑似ギャップとして作用する可能
性が小さい。なお、上記下地膜を形成する方法として
は、スパッタリングの他、蒸着,MBE等のPVD法
(Phisical vapor depositio
n method)やCVD法(Chemical v
apor deposition method)等も
挙げられる。
【0011】また、本発明の磁気ヘッドを製造するに
は、一対の磁気コア基板上に下地膜を形成した後、結晶
質磁性材料膜と分断膜を順次所定数積層形成した金属磁
性膜を形成して一対の磁気コア半体を形成し、これら一
対の磁気コア半体をギャップ接合する磁気ヘッドの製造
方法において、上記分断膜を非磁性層と白金或いは白金
を主とする合金よりなる層を順次積層して形成し、上記
白金或いは白金を主とする合金よりなる層の上に結晶質
磁性材料膜を形成すれば良い。
は、一対の磁気コア基板上に下地膜を形成した後、結晶
質磁性材料膜と分断膜を順次所定数積層形成した金属磁
性膜を形成して一対の磁気コア半体を形成し、これら一
対の磁気コア半体をギャップ接合する磁気ヘッドの製造
方法において、上記分断膜を非磁性層と白金或いは白金
を主とする合金よりなる層を順次積層して形成し、上記
白金或いは白金を主とする合金よりなる層の上に結晶質
磁性材料膜を形成すれば良い。
【0012】
【作用】本発明の磁気ヘッドにおいては、少なくとも一
方の磁気コア半体の磁気ギャップ形成面に形成される金
属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して2層以
上積層された多層膜であり、上記分断膜が、少なくと
も、白金或いは白金を主とする合金よりなる層と、非磁
性層よりなる多層膜である。上記白金或いは白金を主と
する合金よりなる層は、この上に結晶質磁性材料膜を形
成すれば、該結晶質磁性材料膜の透磁率を向上させ、保
磁力を低下させる機能を有する。従って、本発明の磁気
ヘッドにおいては、金属磁性膜の軟磁性が改善される。
そして、上記白金或いは白金を主とする合金よりなる層
は、この上に形成される結晶質磁性材料膜との界面での
拡散反応を有効に防止する機能も有する。
方の磁気コア半体の磁気ギャップ形成面に形成される金
属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して2層以
上積層された多層膜であり、上記分断膜が、少なくと
も、白金或いは白金を主とする合金よりなる層と、非磁
性層よりなる多層膜である。上記白金或いは白金を主と
する合金よりなる層は、この上に結晶質磁性材料膜を形
成すれば、該結晶質磁性材料膜の透磁率を向上させ、保
磁力を低下させる機能を有する。従って、本発明の磁気
ヘッドにおいては、金属磁性膜の軟磁性が改善される。
そして、上記白金或いは白金を主とする合金よりなる層
は、この上に形成される結晶質磁性材料膜との界面での
拡散反応を有効に防止する機能も有する。
【0013】さらに、本発明の磁気ヘッドにおいて、上
記白金或いは白金を主とする合金よりなる層の下層の非
磁性層を、結晶質磁性材料膜を構成する結晶質磁性材料
と結晶構造の異なるもの、格子定数が結晶質磁性材料膜
と異なるもの、拡散係数が小さいため拡散し難いものと
すれば、結晶質磁性材料の結晶成長の分断効果を高める
ことができ、結晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流
損失による軟磁性の低下が防止される。また、上記非磁
性層として比電気抵抗の高い膜を用いても、同様に軟磁
性の低下が防止される。
記白金或いは白金を主とする合金よりなる層の下層の非
磁性層を、結晶質磁性材料膜を構成する結晶質磁性材料
と結晶構造の異なるもの、格子定数が結晶質磁性材料膜
と異なるもの、拡散係数が小さいため拡散し難いものと
すれば、結晶質磁性材料の結晶成長の分断効果を高める
ことができ、結晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流
損失による軟磁性の低下が防止される。また、上記非磁
性層として比電気抵抗の高い膜を用いても、同様に軟磁
性の低下が防止される。
【0014】そして、本発明の磁気ヘッドにおいては、
金属磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚が、0.
1μm以上,2.0μm以下であることが好ましく、こ
のような範囲とすることで、必要とされる記録磁界が確
保される。
金属磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚が、0.
1μm以上,2.0μm以下であることが好ましく、こ
のような範囲とすることで、必要とされる記録磁界が確
保される。
【0015】なお、本発明の磁気ヘッドにおいては、金
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜が形成されているこ
とが好ましく、特にSiOX(1≦X≦2)の化学式で
表されるケイ素酸化物を用いれば、磁気コア基板と金属
磁性膜間の界面剥離が良好に防止される。
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜が形成されているこ
とが好ましく、特にSiOX(1≦X≦2)の化学式で
表されるケイ素酸化物を用いれば、磁気コア基板と金属
磁性膜間の界面剥離が良好に防止される。
【0016】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本実施
例においては、8ミリVTRに搭載して好適な磁気ヘッ
ドに適用した例について述べる。
いて図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本実施
例においては、8ミリVTRに搭載して好適な磁気ヘッ
ドに適用した例について述べる。
【0017】本実施例の磁気ヘッドは、図1及び図2に
示すように、記録媒体対接面の略中央に位置する磁気ギ
ャップgを境として左右別々に作製された一対の磁気コ
ア半体1,2が突き合わせ面である磁気ギャップ形成面
を突き合わせて接合一体化されてなっている。なお、本
実施例においては、上記磁気ギャップgがアジマス角θ
1 を有するものとする。
示すように、記録媒体対接面の略中央に位置する磁気ギ
ャップgを境として左右別々に作製された一対の磁気コ
ア半体1,2が突き合わせ面である磁気ギャップ形成面
を突き合わせて接合一体化されてなっている。なお、本
実施例においては、上記磁気ギャップgがアジマス角θ
1 を有するものとする。
【0018】上記磁気コア半体1,2は、補助コア部で
ある磁気コア基板3,4と、主コア部である金属磁性膜
5,6とから構成されている。上記磁気コア基板3,4
は、例えばMn−Zn系フェライトやNi−Zn系フェ
ライト等の軟磁性酸化物材料よりなり、上記金属磁性膜
5,6とともに閉磁路を構成する補助コア部となってい
る。上記磁気コア基板3,4の前記磁気ギャップ形成面
と対向する面には、上記磁気ギャップgのトラック幅T
wを規制するためのトラック幅規制溝7,8,9,10
が磁気ギャップgの両端縁近傍部よりそれぞれデプス方
向にわたって円弧状に形成されている。なお、上記トラ
ック幅規制溝7,8,9,10内には、それぞれ磁気記
録媒体との当たり特性を確保すると共に摺接による偏摩
耗を防止する目的で、ガラス等の非磁性材11が充填さ
れている。
ある磁気コア基板3,4と、主コア部である金属磁性膜
5,6とから構成されている。上記磁気コア基板3,4
は、例えばMn−Zn系フェライトやNi−Zn系フェ
ライト等の軟磁性酸化物材料よりなり、上記金属磁性膜
5,6とともに閉磁路を構成する補助コア部となってい
る。上記磁気コア基板3,4の前記磁気ギャップ形成面
と対向する面には、上記磁気ギャップgのトラック幅T
wを規制するためのトラック幅規制溝7,8,9,10
が磁気ギャップgの両端縁近傍部よりそれぞれデプス方
向にわたって円弧状に形成されている。なお、上記トラ
ック幅規制溝7,8,9,10内には、それぞれ磁気記
録媒体との当たり特性を確保すると共に摺接による偏摩
耗を防止する目的で、ガラス等の非磁性材11が充填さ
れている。
【0019】また、上記磁気コア基板3,4の前記磁気
ギャップ形成面と対向する面には、前記磁気ギャップg
のデプスを規制すると共に、図示しないコイルを巻装す
るための巻線溝12,13がそれぞれ形成されている。
ギャップ形成面と対向する面には、前記磁気ギャップg
のデプスを規制すると共に、図示しないコイルを巻装す
るための巻線溝12,13がそれぞれ形成されている。
【0020】一方、金属磁性膜5,6は、上記磁気コア
基板3,4と共に閉磁路を構成する主コア部となるもの
で、当該磁気コア基板3,4の対向面にそれぞれフロン
トギャップ部よりバックギャップ部にわたって成膜され
ている。従って、これら金属磁性膜5,6の対向面が、
すなわち前記磁気コア半体1,2の磁気ギャップ形成面
となっている。なお、上記金属磁性膜5,6は、上記磁
気コア基板3,4の対向面のみならず前記トラック幅規
制溝7,8,9,10内及び巻線溝12,13内も含め
て成膜されている。また、上記金属磁性膜5,6は、上
記磁気コア基板3,4上に下地膜14,15を介して形
成されている。
基板3,4と共に閉磁路を構成する主コア部となるもの
で、当該磁気コア基板3,4の対向面にそれぞれフロン
トギャップ部よりバックギャップ部にわたって成膜され
ている。従って、これら金属磁性膜5,6の対向面が、
すなわち前記磁気コア半体1,2の磁気ギャップ形成面
となっている。なお、上記金属磁性膜5,6は、上記磁
気コア基板3,4の対向面のみならず前記トラック幅規
制溝7,8,9,10内及び巻線溝12,13内も含め
て成膜されている。また、上記金属磁性膜5,6は、上
記磁気コア基板3,4上に下地膜14,15を介して形
成されている。
【0021】さらに、上記金属磁性膜5,6は、結晶質
磁性材料膜が分断膜を介して2層以上積層された多層膜
となされている。すなわち、金属磁性膜5,6を一方の
磁気コア基板3に成膜される金属磁性膜5を例にとって
説明すると、該金属磁性膜5は、図3に示すように前記
下地膜14上に結晶質磁性材料膜16,分断膜17の順
で順次交互に積層されて多層膜とされている。なお、他
方の磁気コア基板4に成膜される金属磁性膜6も上記金
属磁性膜5と同様、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して
2層以上積層された多層膜となされている。
磁性材料膜が分断膜を介して2層以上積層された多層膜
となされている。すなわち、金属磁性膜5,6を一方の
磁気コア基板3に成膜される金属磁性膜5を例にとって
説明すると、該金属磁性膜5は、図3に示すように前記
下地膜14上に結晶質磁性材料膜16,分断膜17の順
で順次交互に積層されて多層膜とされている。なお、他
方の磁気コア基板4に成膜される金属磁性膜6も上記金
属磁性膜5と同様、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して
2層以上積層された多層膜となされている。
【0022】上記結晶質磁性材料膜16を構成する材料
としては、Fe−Ga−Si−Ru系合金やFe−Al
−Si系合金(いわゆるセンダスト)の他、Fe−Al
等これに類似した合金、または窒化系や炭化系の軟磁性
合金等が挙げられる。そして、上記結晶質磁性材料膜1
6の個々の膜厚が、0.1μm以上,2.0μm以下で
あることが好ましい。膜厚が0.1μm以下では、金属
磁性膜5中の分断膜17による結晶質磁性材料膜16の
飽和磁束密度の希釈効果により十分なギャップ中磁界が
得られず、さらに成膜が複雑となり、生産性を著しく損
なう。また、膜厚が2.0μmよりも厚くなると、個々
の結晶質磁性材料膜16中で結晶粒粗大化が起き、軟磁
性が劣化するために積層の効果が得られなくなる。
としては、Fe−Ga−Si−Ru系合金やFe−Al
−Si系合金(いわゆるセンダスト)の他、Fe−Al
等これに類似した合金、または窒化系や炭化系の軟磁性
合金等が挙げられる。そして、上記結晶質磁性材料膜1
6の個々の膜厚が、0.1μm以上,2.0μm以下で
あることが好ましい。膜厚が0.1μm以下では、金属
磁性膜5中の分断膜17による結晶質磁性材料膜16の
飽和磁束密度の希釈効果により十分なギャップ中磁界が
得られず、さらに成膜が複雑となり、生産性を著しく損
なう。また、膜厚が2.0μmよりも厚くなると、個々
の結晶質磁性材料膜16中で結晶粒粗大化が起き、軟磁
性が劣化するために積層の効果が得られなくなる。
【0023】一方の分断膜17は、図3中に示すよう
に、白金或いは白金を主とする合金よりなる第1の層1
7aと、非磁性材料よりなる第2の層17bよりなる多
層膜となされている。上記第1の層17aは、結晶質磁
性材料膜16の下地膜としても機能することから、その
膜厚があまり薄いと下地効果を示さず、あまり厚いと疑
似ギャップとして作用したり、結晶質磁性材料膜16中
のFeやCoと作用して軟磁性を損なう恐れのあること
から10オングストローム〜30オングストローム程度
の膜厚とするのが好ましい。なお、本実施例において
は、第1の層として膜厚が20オングストロームの白金
よりなる膜を成膜した。
に、白金或いは白金を主とする合金よりなる第1の層1
7aと、非磁性材料よりなる第2の層17bよりなる多
層膜となされている。上記第1の層17aは、結晶質磁
性材料膜16の下地膜としても機能することから、その
膜厚があまり薄いと下地効果を示さず、あまり厚いと疑
似ギャップとして作用したり、結晶質磁性材料膜16中
のFeやCoと作用して軟磁性を損なう恐れのあること
から10オングストローム〜30オングストローム程度
の膜厚とするのが好ましい。なお、本実施例において
は、第1の層として膜厚が20オングストロームの白金
よりなる膜を成膜した。
【0024】そして、上記第2の層17bを構成する非
磁性材料としては、SiO2 膜等の一般的な非磁性材料
の他、上述の結晶質磁性材料膜16を構成する結晶質磁
性材料と結晶構造の異なる金属、格子定数が異なる金
属、拡散係数が小さいため拡散し難い金属等が挙げられ
る。上記結晶質磁性材料膜を構成するFe基磁性膜の結
晶構造はbccが一般的であるので、これと結晶構造の
異なる金属としては、Al,Co,Cu,Sn,Ti等
が挙げられる。結晶質磁性材料(特にFe)と異なる格
子定数を有する金属としては、Mn,Snが挙げられ
る。拡散係数が小さい金属としては、Ti,Zn等が挙
げられる。
磁性材料としては、SiO2 膜等の一般的な非磁性材料
の他、上述の結晶質磁性材料膜16を構成する結晶質磁
性材料と結晶構造の異なる金属、格子定数が異なる金
属、拡散係数が小さいため拡散し難い金属等が挙げられ
る。上記結晶質磁性材料膜を構成するFe基磁性膜の結
晶構造はbccが一般的であるので、これと結晶構造の
異なる金属としては、Al,Co,Cu,Sn,Ti等
が挙げられる。結晶質磁性材料(特にFe)と異なる格
子定数を有する金属としては、Mn,Snが挙げられ
る。拡散係数が小さい金属としては、Ti,Zn等が挙
げられる。
【0025】また、上記第2の層17bは、最低限絶縁
効果が得られるよう、その膜厚を20オングストローム
〜30オングストローム程度とするのが好ましい。膜厚
があまり厚いと、疑似ギャップとして作用してしまう。
なお、本実施例においては、第2の層17bとして膜厚
20オングストロームのSiO2 膜を成膜した。
効果が得られるよう、その膜厚を20オングストローム
〜30オングストローム程度とするのが好ましい。膜厚
があまり厚いと、疑似ギャップとして作用してしまう。
なお、本実施例においては、第2の層17bとして膜厚
20オングストロームのSiO2 膜を成膜した。
【0026】上述のように、金属磁性膜5は、結晶質磁
性材料膜16,分断膜17の順で順次交互に積層された
多層膜であるが、結晶質磁性材料膜16の積層数が3〜
20層程度であり、金属磁性膜5全体の膜厚が2〜10
μmであることが磁気ヘッドの性能を考慮すると好まし
い。なお、本実施例においては、膜厚0.6μmの結晶
質磁性材料膜16を分断膜17を介して6層積層し、金
属磁性膜5を形成した。磁気コア基板4上に形成される
金属磁性膜6についても同様である。
性材料膜16,分断膜17の順で順次交互に積層された
多層膜であるが、結晶質磁性材料膜16の積層数が3〜
20層程度であり、金属磁性膜5全体の膜厚が2〜10
μmであることが磁気ヘッドの性能を考慮すると好まし
い。なお、本実施例においては、膜厚0.6μmの結晶
質磁性材料膜16を分断膜17を介して6層積層し、金
属磁性膜5を形成した。磁気コア基板4上に形成される
金属磁性膜6についても同様である。
【0027】また、上述の下地膜14,15としては、
白金或いは白金を主とする合金からなる膜、またはSi
OX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素酸化物よ
りなる膜が挙げられる。上記SiOX (1≦X≦2)の
化学式で表されるケイ素酸化物よりなる膜としては、S
iO膜,SiO2 膜の他にケイ素原子に対し酸素原子数
が整数比とならないようなSiO,SiO2 が混合され
た状態の膜でも良い。上記のようなケイ素酸化物よりな
る膜を下地膜14,15として用いると、界面剥離が防
止される。
白金或いは白金を主とする合金からなる膜、またはSi
OX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素酸化物よ
りなる膜が挙げられる。上記SiOX (1≦X≦2)の
化学式で表されるケイ素酸化物よりなる膜としては、S
iO膜,SiO2 膜の他にケイ素原子に対し酸素原子数
が整数比とならないようなSiO,SiO2 が混合され
た状態の膜でも良い。上記のようなケイ素酸化物よりな
る膜を下地膜14,15として用いると、界面剥離が防
止される。
【0028】そして、上記下地膜14,15の膜厚とし
ては、10オングストローム〜300オングストローム
程度、さらには50オングストローム程度が好ましく、
この程度であれば、上記下地膜14,15が疑似ギャッ
プとして作用する可能性が小さい。なお、本実施例にお
いては、上記下地膜14,15として膜厚45オングス
トロームのSiO2 膜を形成した。
ては、10オングストローム〜300オングストローム
程度、さらには50オングストローム程度が好ましく、
この程度であれば、上記下地膜14,15が疑似ギャッ
プとして作用する可能性が小さい。なお、本実施例にお
いては、上記下地膜14,15として膜厚45オングス
トロームのSiO2 膜を形成した。
【0029】本実施例の磁気ヘッドにおいては、磁気コ
ア半体1,2の磁気ギャップ形成面に形成される金属磁
性膜5,6が、結晶質磁性材料膜16が分断膜17を介
して2層以上積層された多層膜であり、上記分断膜17
が、白金よりなる第1の層17aと、SiO2 よりなる
第2の層17bよりなる多層膜とされている。すなわ
ち、上記白金よりなる第1の層17a上に結晶質磁性材
料膜16が形成されることとなり、該結晶質磁性材料膜
16の透磁率が向上し、保磁力が低下する。従って、金
属磁性膜5,6としての軟磁性が改善され、本実施例の
磁気ヘッドの再生特性は良好なものとなる。さらに、上
記白金よりなる第1の層17aは、この上に形成される
結晶質磁性材料膜16との界面での拡散反応を有効に防
止する機能も有し、疑似ギャップとして作用する反応層
の発生が抑えられ、本実施例の磁気ヘッドの特性は良好
なものとなる。
ア半体1,2の磁気ギャップ形成面に形成される金属磁
性膜5,6が、結晶質磁性材料膜16が分断膜17を介
して2層以上積層された多層膜であり、上記分断膜17
が、白金よりなる第1の層17aと、SiO2 よりなる
第2の層17bよりなる多層膜とされている。すなわ
ち、上記白金よりなる第1の層17a上に結晶質磁性材
料膜16が形成されることとなり、該結晶質磁性材料膜
16の透磁率が向上し、保磁力が低下する。従って、金
属磁性膜5,6としての軟磁性が改善され、本実施例の
磁気ヘッドの再生特性は良好なものとなる。さらに、上
記白金よりなる第1の層17aは、この上に形成される
結晶質磁性材料膜16との界面での拡散反応を有効に防
止する機能も有し、疑似ギャップとして作用する反応層
の発生が抑えられ、本実施例の磁気ヘッドの特性は良好
なものとなる。
【0030】また、本実施例の磁気ヘッドにおいては、
上記白金よりなる第1の層17aの下層としてSiO2
よりなる第2の層17bを形成しており、結晶質磁性材
料膜16の結晶成長の分断効果を高めることができ、結
晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流損失による軟磁
性の低下が防止され、本実施例の磁気ヘッドの再生特性
は良好なものとなる。
上記白金よりなる第1の層17aの下層としてSiO2
よりなる第2の層17bを形成しており、結晶質磁性材
料膜16の結晶成長の分断効果を高めることができ、結
晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流損失による軟磁
性の低下が防止され、本実施例の磁気ヘッドの再生特性
は良好なものとなる。
【0031】さらにまた、本実施例の磁気ヘッドにおい
ては、金属磁性膜5,6中の個々の結晶質磁性材料膜1
6の膜厚が、0.1μm以上,2.0μm以下とされて
おり、上記SiO2 よりなる第2の層17bからの作用
を十分に受けることができ、上記結晶質磁性材料膜16
は、結晶粒の粗大化が抑制されて優れた配向性を示し、
結果として優れた軟磁性と異方性を有するものとなる。
また、必要とされる記録磁界が十分に確保され、本実施
例の磁気ヘッドの記録特性は良好なものとなる。
ては、金属磁性膜5,6中の個々の結晶質磁性材料膜1
6の膜厚が、0.1μm以上,2.0μm以下とされて
おり、上記SiO2 よりなる第2の層17bからの作用
を十分に受けることができ、上記結晶質磁性材料膜16
は、結晶粒の粗大化が抑制されて優れた配向性を示し、
結果として優れた軟磁性と異方性を有するものとなる。
また、必要とされる記録磁界が十分に確保され、本実施
例の磁気ヘッドの記録特性は良好なものとなる。
【0032】次に、本実施例の磁気ヘッドを製造する方
法について工程順に説明する。先ず、図4に示すような
Mn−Zn系或いはNi−Zn系フェライト材等の軟磁
性酸化物材料よりなる板状の基板21を用意する。な
お、上記基板21は、例えば、長さ34.5mm,幅
2.5mm,厚さ1mm程度の大きさとされる。
法について工程順に説明する。先ず、図4に示すような
Mn−Zn系或いはNi−Zn系フェライト材等の軟磁
性酸化物材料よりなる板状の基板21を用意する。な
お、上記基板21は、例えば、長さ34.5mm,幅
2.5mm,厚さ1mm程度の大きさとされる。
【0033】次に、図5に示すように、基板21の一主
面21aに断面略半円状の複数のトラック幅規制溝22
を形成する。上記トラック幅規制溝22は基板21の例
えば幅方向に形成され、トラック幅規制溝22同士の間
には所定のトラック幅Twと同じ間隔が形成されること
となる。なお、本実施例においては、トラック幅Twを
21μmとした。
面21aに断面略半円状の複数のトラック幅規制溝22
を形成する。上記トラック幅規制溝22は基板21の例
えば幅方向に形成され、トラック幅規制溝22同士の間
には所定のトラック幅Twと同じ間隔が形成されること
となる。なお、本実施例においては、トラック幅Twを
21μmとした。
【0034】上記トラック幅規制溝22の形状は、上述
のように略半円状であるが、図6中に示すトラック幅規
制溝22の側面がトラック幅規制溝22の深さ方向とな
す角度θ2 は、0゜〜45゜、好ましくは8゜〜45゜
程度とされる。この角度θがあまり小さいと電磁変換効
率の低下を招き、大きくても記録媒体上の目的以外のト
ラックからの信号を読出し、ノイズの増加を引き起こし
てしまう。そこで、本実施例においては上記角度θを3
0゜とした。また、トラック幅規制溝22の深さは20
0〜300μmとした。なお、本実施例においては、ト
ラック幅規制溝22の形状を断面略半円状としている
が、該トラック幅規制溝22の形状は、断面略半円状の
他、断面略V字状や、断面が様々な多角形を呈するもの
でも良い。
のように略半円状であるが、図6中に示すトラック幅規
制溝22の側面がトラック幅規制溝22の深さ方向とな
す角度θ2 は、0゜〜45゜、好ましくは8゜〜45゜
程度とされる。この角度θがあまり小さいと電磁変換効
率の低下を招き、大きくても記録媒体上の目的以外のト
ラックからの信号を読出し、ノイズの増加を引き起こし
てしまう。そこで、本実施例においては上記角度θを3
0゜とした。また、トラック幅規制溝22の深さは20
0〜300μmとした。なお、本実施例においては、ト
ラック幅規制溝22の形状を断面略半円状としている
が、該トラック幅規制溝22の形状は、断面略半円状の
他、断面略V字状や、断面が様々な多角形を呈するもの
でも良い。
【0035】次に、図7に示すように、基板21の一主
面21aにトラック幅規制溝22と直交する方向にコイ
ルの巻線を行うための巻線溝23を形成する。続いて、
上記一主面21aを表面粗度が20〜100オングスト
ロームとなるように研磨する。
面21aにトラック幅規制溝22と直交する方向にコイ
ルの巻線を行うための巻線溝23を形成する。続いて、
上記一主面21aを表面粗度が20〜100オングスト
ロームとなるように研磨する。
【0036】次いで、図8に拡大して示すように、基板
21の一主面21a上に下地膜24を形成する。この
際、トラック幅規制溝22内及び図示しない巻線溝内に
も下地膜24を形成する。本実施例においては、スパッ
タリングにより膜厚45オングストロームのSiO2 膜
を形成した。なお、下地膜の形成手段としては、上記ス
パッタリングの他、蒸着,MBE等のPVC法(Phi
sical vapordeposition met
hod)やCVD法(Chemical vapor
deposition method)等も挙げられ
る。
21の一主面21a上に下地膜24を形成する。この
際、トラック幅規制溝22内及び図示しない巻線溝内に
も下地膜24を形成する。本実施例においては、スパッ
タリングにより膜厚45オングストロームのSiO2 膜
を形成した。なお、下地膜の形成手段としては、上記ス
パッタリングの他、蒸着,MBE等のPVC法(Phi
sical vapordeposition met
hod)やCVD法(Chemical vapor
deposition method)等も挙げられ
る。
【0037】次に、図9に拡大して示すように、下地膜
24の上に金属磁性膜を構成する1層目の結晶質磁性材
料膜25を形成する。本実施例のように、下地膜24と
してSiOX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素
酸化物よりなる膜を用いた場合、上記1層目の結晶質磁
性材料膜25の異方性は制御されない。従って、上記1
層目の結晶質磁性材料膜25の膜厚はなるべく薄くし、
該結晶質磁性材料膜25の金属磁性膜中の容量比を少な
くすることが好ましい。なお、本実施例においては、上
記結晶質磁性材料膜25として飽和磁束密度1.1Tの
Fe−Ga−Si−Ru系合金膜を膜厚0.6μmで成
膜した。
24の上に金属磁性膜を構成する1層目の結晶質磁性材
料膜25を形成する。本実施例のように、下地膜24と
してSiOX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素
酸化物よりなる膜を用いた場合、上記1層目の結晶質磁
性材料膜25の異方性は制御されない。従って、上記1
層目の結晶質磁性材料膜25の膜厚はなるべく薄くし、
該結晶質磁性材料膜25の金属磁性膜中の容量比を少な
くすることが好ましい。なお、本実施例においては、上
記結晶質磁性材料膜25として飽和磁束密度1.1Tの
Fe−Ga−Si−Ru系合金膜を膜厚0.6μmで成
膜した。
【0038】次いで、図10に示すように、1層目の結
晶質磁性材料膜25上に1層目の分断膜を構成する第2
の層26を形成する。なお、本実施例においては、上記
第2の層26として、膜厚20オングストロームのSi
O2 膜を形成した。
晶質磁性材料膜25上に1層目の分断膜を構成する第2
の層26を形成する。なお、本実施例においては、上記
第2の層26として、膜厚20オングストロームのSi
O2 膜を形成した。
【0039】次に、図11に示すように、1層目の分断
膜を構成するべく、第2の層26上に第1の層27を形
成する。この際、上記第1の層27の膜厚があまり薄い
と、トラック幅規制溝22形成部分における下地効果が
薄れ、後述の2層目の結晶質磁性材料膜の磁気特性を損
なってしまう。そこで、本実施例においては、上記第1
の層27として、膜厚20オングストロームのPt膜を
スパッタリングにより形成した。その結果、1層目の結
晶質磁性材料膜25上に1層目の分断膜28が形成され
ることとなる。
膜を構成するべく、第2の層26上に第1の層27を形
成する。この際、上記第1の層27の膜厚があまり薄い
と、トラック幅規制溝22形成部分における下地効果が
薄れ、後述の2層目の結晶質磁性材料膜の磁気特性を損
なってしまう。そこで、本実施例においては、上記第1
の層27として、膜厚20オングストロームのPt膜を
スパッタリングにより形成した。その結果、1層目の結
晶質磁性材料膜25上に1層目の分断膜28が形成され
ることとなる。
【0040】次いで、図12に示すように、1層目の分
断膜28上に2層目の結晶質磁性材料膜29を形成す
る。なお、本実施例においては、2層目の結晶質磁性材
料膜29として、飽和磁束密度1.1TのFe−Ga−
Si−Ru系合金膜を膜厚0.6μmで成膜した。従っ
て、上記2層目の結晶質磁性材料膜29は、1層目の分
断膜28の第2の層26の作用を受け、結晶粒の粗大化
が抑制されて優れた配向性を示し、結果として優れた軟
磁性と異方性を有するものとなる。また、必要とされる
記録磁界も十分に確保される。
断膜28上に2層目の結晶質磁性材料膜29を形成す
る。なお、本実施例においては、2層目の結晶質磁性材
料膜29として、飽和磁束密度1.1TのFe−Ga−
Si−Ru系合金膜を膜厚0.6μmで成膜した。従っ
て、上記2層目の結晶質磁性材料膜29は、1層目の分
断膜28の第2の層26の作用を受け、結晶粒の粗大化
が抑制されて優れた配向性を示し、結果として優れた軟
磁性と異方性を有するものとなる。また、必要とされる
記録磁界も十分に確保される。
【0041】そして、1層目の分断膜28と同様の2層
目の分断膜,2層目の結晶質磁性材料膜29と同様の3
層目の結晶質磁性材料膜と順次積層し、結晶質磁性材料
膜を分断膜を介して6層積層し、図13に示すように、
基板21上に金属磁性膜30を形成(下地膜24の図示
は省略する。)した。
目の分断膜,2層目の結晶質磁性材料膜29と同様の3
層目の結晶質磁性材料膜と順次積層し、結晶質磁性材料
膜を分断膜を介して6層積層し、図13に示すように、
基板21上に金属磁性膜30を形成(下地膜24の図示
は省略する。)した。
【0042】続いて、図14に示すように、金属磁性膜
30上に所定のギャップ長を形成するギャップ膜31を
形成する。上記ギャップ膜31としては、一般的なSi
OX(1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素酸化物よ
りなる膜の他、結晶質磁性材料と融着ガラス中の酸素と
の反応を防ぐべく、SiO2 膜とCr膜の積層膜等も使
用される。なお、本実施例においては、ギャップ膜31
としてSiO2 膜を形成した。その結果、第1の磁気コ
ア半体ブロック32が形成される。
30上に所定のギャップ長を形成するギャップ膜31を
形成する。上記ギャップ膜31としては、一般的なSi
OX(1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素酸化物よ
りなる膜の他、結晶質磁性材料と融着ガラス中の酸素と
の反応を防ぐべく、SiO2 膜とCr膜の積層膜等も使
用される。なお、本実施例においては、ギャップ膜31
としてSiO2 膜を形成した。その結果、第1の磁気コ
ア半体ブロック32が形成される。
【0043】次に、図15に示すように、第1の磁気コ
ア半体ブロック32とこれと同様の第2の磁気コア半体
ブロック52を接合一体化する。すなわち、第1の磁気
コア半体ブロック32,第2の磁気コア半体ブロック5
2の金属磁性膜30,50同士を突き合わせ(ギャップ
膜31の図示は省略する。)、トラック幅規制溝22,
42同士、巻線溝23,43同士の位置合わせを行う。
そして、上記トラック幅規制溝22,42間、巻線溝2
3,43間に融着ガラス等の非磁性材53を充填し、第
1の磁気コア半体ブロック32と第2の磁気コア半体ブ
ロック52の接合一体化を行う。その結果、磁気ヘッド
ブロック54が形成されることとなる。続いて、上記磁
気ヘッドブロック54の媒体対接面54aを円筒研削す
る。
ア半体ブロック32とこれと同様の第2の磁気コア半体
ブロック52を接合一体化する。すなわち、第1の磁気
コア半体ブロック32,第2の磁気コア半体ブロック5
2の金属磁性膜30,50同士を突き合わせ(ギャップ
膜31の図示は省略する。)、トラック幅規制溝22,
42同士、巻線溝23,43同士の位置合わせを行う。
そして、上記トラック幅規制溝22,42間、巻線溝2
3,43間に融着ガラス等の非磁性材53を充填し、第
1の磁気コア半体ブロック32と第2の磁気コア半体ブ
ロック52の接合一体化を行う。その結果、磁気ヘッド
ブロック54が形成されることとなる。続いて、上記磁
気ヘッドブロック54の媒体対接面54aを円筒研削す
る。
【0044】そして、上記磁気ヘッドブロック54を磁
気ギャップgに所定のアジマス角を付与する図中X−Y
線でスライシングして複数の磁気ヘッドに分割して、図
1及び図2に示したような磁気ヘッドを完成する。
気ギャップgに所定のアジマス角を付与する図中X−Y
線でスライシングして複数の磁気ヘッドに分割して、図
1及び図2に示したような磁気ヘッドを完成する。
【0045】本実施例の磁気ヘッドの再生特性を測定し
たところ、特に5MHz以上の周波数での再生特性が向
上しており、分断膜をPtよりなる第1の層のみで形成
した従来の磁気ヘッドと比較して10MHzで1dBの
向上が見られた。
たところ、特に5MHz以上の周波数での再生特性が向
上しており、分断膜をPtよりなる第1の層のみで形成
した従来の磁気ヘッドと比較して10MHzで1dBの
向上が見られた。
【0046】上述の実施例においては、分断膜17の第
2の層17bとして、SiO2 膜を使用したが、該第2
の層17bとしては上述のような各種金属膜も使用可能
である。そこで、分断膜17の第2の層17bとして膜
厚20オングストロームのSn膜を用い、結晶質磁性材
料膜16を分断膜17を介して10層積層した構造の金
属磁性膜5を有する磁気ヘッドを製造し、再生特性を測
定した。
2の層17bとして、SiO2 膜を使用したが、該第2
の層17bとしては上述のような各種金属膜も使用可能
である。そこで、分断膜17の第2の層17bとして膜
厚20オングストロームのSn膜を用い、結晶質磁性材
料膜16を分断膜17を介して10層積層した構造の金
属磁性膜5を有する磁気ヘッドを製造し、再生特性を測
定した。
【0047】その結果、従来の磁気ヘッドのように分断
膜を膜厚45オングストロームのPt膜のみで形成した
磁気ヘッドと比較して、周波数5〜10MHz程度の帯
域で0.5dB改善されていることがわかった。これ
は、第2の層17bとしてSn膜を用いることにより、
分断膜17による結晶質磁性材料膜16に対する分断効
果が高まるため、金属磁性膜5全体の膜厚が約6μmと
比較的厚くなっても、結晶質磁性材料膜16の結晶粒の
粗大化が起こり難くなり、軟磁性の低下が防止され、再
生特性が良好なものとなるためと考えられる。
膜を膜厚45オングストロームのPt膜のみで形成した
磁気ヘッドと比較して、周波数5〜10MHz程度の帯
域で0.5dB改善されていることがわかった。これ
は、第2の層17bとしてSn膜を用いることにより、
分断膜17による結晶質磁性材料膜16に対する分断効
果が高まるため、金属磁性膜5全体の膜厚が約6μmと
比較的厚くなっても、結晶質磁性材料膜16の結晶粒の
粗大化が起こり難くなり、軟磁性の低下が防止され、再
生特性が良好なものとなるためと考えられる。
【0048】このような本実施例の磁気ヘッドは、記録
磁界を向上させるために結晶質磁性材料膜の膜厚を厚く
する必要のある磁気ヘッドに適用して好適である。
磁界を向上させるために結晶質磁性材料膜の膜厚を厚く
する必要のある磁気ヘッドに適用して好適である。
【0049】上述の実施例においては、分断膜17が2
層構造とされる例について述べてきたが、上記分断膜1
7は、例えばPtよりなる層,SiO2 よりなる層,金
属よりなる層の積層される3層構造となされても良い。
層構造とされる例について述べてきたが、上記分断膜1
7は、例えばPtよりなる層,SiO2 よりなる層,金
属よりなる層の積層される3層構造となされても良い。
【0050】また、上述の実施例においては、磁気ギャ
ップgがアジマス角を有する例について述べてきたが、
本発明が磁気ギャップがアジマス角を有しない磁気ヘッ
ドに対しても適用可能であることは言うまでもない。
ップgがアジマス角を有する例について述べてきたが、
本発明が磁気ギャップがアジマス角を有しない磁気ヘッ
ドに対しても適用可能であることは言うまでもない。
【0051】さらに、上述の実施例においては、一対の
磁気コア半体の両方に巻線溝が形成される例について述
べてきたが、本発明が一対の磁気コア半体の一方に巻線
溝が形成される磁気ヘッドに対しても適用可能であるこ
とは言うまでもない。
磁気コア半体の両方に巻線溝が形成される例について述
べてきたが、本発明が一対の磁気コア半体の一方に巻線
溝が形成される磁気ヘッドに対しても適用可能であるこ
とは言うまでもない。
【0052】そして、上述の磁気ヘッドの製造方法の実
施例においては、基板21に巻線溝23を形成した後に
下地膜24や金属磁性膜30を形成する例について述べ
たが、基板21上に先に下地膜24や金属磁性膜30を
形成するようにしても良い。
施例においては、基板21に巻線溝23を形成した後に
下地膜24や金属磁性膜30を形成する例について述べ
たが、基板21上に先に下地膜24や金属磁性膜30を
形成するようにしても良い。
【0053】また、本発明は、磁気コア基板がZrO2
等の非磁性材料よりなり、該磁気コア基板上に金属磁性
膜の形成される構成の磁気ヘッドに対しても適用可能で
ある。
等の非磁性材料よりなり、該磁気コア基板上に金属磁性
膜の形成される構成の磁気ヘッドに対しても適用可能で
ある。
【0054】さらに、本発明は、金属磁性膜内の飽和磁
束密度が磁気ギャップgに近づくにつれ高くなっている
構成の磁気ヘッドに対しても適用可能である。
束密度が磁気ギャップgに近づくにつれ高くなっている
構成の磁気ヘッドに対しても適用可能である。
【0055】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明は、一対の磁気コア半体が磁気ギャップ形成面を突き
合わせて接合一体化され、これら一対の磁気コア半体の
うち少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャップ形成
面に金属磁性膜が成膜されてなる磁気ヘッドにおいて、
上記金属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して
2層以上積層された多層膜とされ、上記分断膜が、少な
くとも、白金或いは白金を主とする合金よりなる層と、
非磁性層よりなる多層膜とされている。上記白金或いは
白金を主とする合金よりなる層は、この上に結晶質磁性
材料膜を形成すれば、該結晶質磁性材料膜の透磁率を向
上させ、保磁力を低下させる機能を有する。従って、本
発明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜としての軟磁
性が改善され、良好な再生特性が得られる。
明は、一対の磁気コア半体が磁気ギャップ形成面を突き
合わせて接合一体化され、これら一対の磁気コア半体の
うち少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャップ形成
面に金属磁性膜が成膜されてなる磁気ヘッドにおいて、
上記金属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して
2層以上積層された多層膜とされ、上記分断膜が、少な
くとも、白金或いは白金を主とする合金よりなる層と、
非磁性層よりなる多層膜とされている。上記白金或いは
白金を主とする合金よりなる層は、この上に結晶質磁性
材料膜を形成すれば、該結晶質磁性材料膜の透磁率を向
上させ、保磁力を低下させる機能を有する。従って、本
発明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜としての軟磁
性が改善され、良好な再生特性が得られる。
【0056】さらに、本発明の磁気ヘッドにおいて、上
記白金或いは白金を主とする合金よりなる層の下層の非
磁性層を、結晶質磁性材料膜を構成する結晶質磁性材料
と結晶構造の異なるもの、格子定数が結晶質磁性材料膜
と異なるもの、拡散係数が小さいため拡散し難いものと
すれば、結晶質磁性材料の結晶成長の分断効果を高める
ことができ、結晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流
損失による軟磁性の低下が防止され、良好な再生特性が
得られる。また、上記非磁性層として比電気抵抗の高い
膜を用いても、同様に軟磁性の低下が防止され、良好な
再生特性が得られる。そして、上記白金或いは白金を主
とする合金よりなる層は、この上に形成される結晶質磁
性材料膜との界面との拡散反応を有効に防止する機能も
有し、疑似ギャップとして作用する反応層の発生が抑え
られ、本発明の磁気ヘッドの特性は向上する。
記白金或いは白金を主とする合金よりなる層の下層の非
磁性層を、結晶質磁性材料膜を構成する結晶質磁性材料
と結晶構造の異なるもの、格子定数が結晶質磁性材料膜
と異なるもの、拡散係数が小さいため拡散し難いものと
すれば、結晶質磁性材料の結晶成長の分断効果を高める
ことができ、結晶質磁性材料の結晶粒の粗大化や渦電流
損失による軟磁性の低下が防止され、良好な再生特性が
得られる。また、上記非磁性層として比電気抵抗の高い
膜を用いても、同様に軟磁性の低下が防止され、良好な
再生特性が得られる。そして、上記白金或いは白金を主
とする合金よりなる層は、この上に形成される結晶質磁
性材料膜との界面との拡散反応を有効に防止する機能も
有し、疑似ギャップとして作用する反応層の発生が抑え
られ、本発明の磁気ヘッドの特性は向上する。
【0057】また、本発明の磁気ヘッドにおいて、金属
磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚を、0.1μ
m以上,2.0μm以下とすれば、必要とされる記録磁
界が確保され、良好な記録特性が得られる。
磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜の膜厚を、0.1μ
m以上,2.0μm以下とすれば、必要とされる記録磁
界が確保され、良好な記録特性が得られる。
【0058】なお、本発明の磁気ヘッドにおいては、金
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜を形成すれば良く、
特にSiOX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素
酸化物を用いれば、磁気コア基板と金属磁性膜間の界面
剥離が良好に防止され、良好な強度を得ることができ
る。
属磁性膜の下地膜として、白金或いは白金を主とする合
金からなる膜、またはSiOX (1≦X≦2)の化学式
で表されるケイ素酸化物よりなる膜を形成すれば良く、
特にSiOX (1≦X≦2)の化学式で表されるケイ素
酸化物を用いれば、磁気コア基板と金属磁性膜間の界面
剥離が良好に防止され、良好な強度を得ることができ
る。
【図1】本発明を適用した磁気ヘッドを示す斜視図であ
る。
る。
【図2】本発明を適用した磁気ヘッドを示す平面図であ
る。
る。
【図3】本発明を適用した磁気ヘッドの金属磁性膜近傍
を拡大して示す断面図である。
を拡大して示す断面図である。
【図4】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すものであり、基板を用意する工程を示す斜視図
である。
順に示すものであり、基板を用意する工程を示す斜視図
である。
【図5】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すものであり、基板にトラック幅規制溝を形成す
る工程を示す斜視図である。
順に示すものであり、基板にトラック幅規制溝を形成す
る工程を示す斜視図である。
【図6】トラック幅規制溝近傍を示す要部拡大斜視図で
ある。
ある。
【図7】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すものであり、基板に巻線溝を形成する工程を示
す斜視図である。
順に示すものであり、基板に巻線溝を形成する工程を示
す斜視図である。
【図8】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すものであり、基板上に下地膜を形成する工程を
示す要部拡大斜視図である。
順に示すものであり、基板上に下地膜を形成する工程を
示す要部拡大斜視図である。
【図9】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すものであり、下地膜上に1層目の結晶質磁性材
料膜を形成する工程を示す要部拡大斜視図である。
順に示すものであり、下地膜上に1層目の結晶質磁性材
料膜を形成する工程を示す要部拡大斜視図である。
【図10】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、1層目の結晶質磁性材料膜上に
第2の層を形成する工程を示す要部拡大斜視図である。
程順に示すものであり、1層目の結晶質磁性材料膜上に
第2の層を形成する工程を示す要部拡大斜視図である。
【図11】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、第2の層上に第1の層を形成
し、1層目の分断膜を形成する工程を示す要部拡大斜視
図である。
程順に示すものであり、第2の層上に第1の層を形成
し、1層目の分断膜を形成する工程を示す要部拡大斜視
図である。
【図12】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、1層目の分断膜上に2層目の結
晶質磁性材料膜を形成する工程を示す要部拡大斜視図で
ある。
程順に示すものであり、1層目の分断膜上に2層目の結
晶質磁性材料膜を形成する工程を示す要部拡大斜視図で
ある。
【図13】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、基板上に金属磁性膜を形成する
工程を示す斜視図である。
程順に示すものであり、基板上に金属磁性膜を形成する
工程を示す斜視図である。
【図14】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、金属磁性膜上にギャップ膜を形
成する工程を示す斜視図である。
程順に示すものであり、金属磁性膜上にギャップ膜を形
成する工程を示す斜視図である。
【図15】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工
程順に示すものであり、第1の磁気コア半体ブロックと
第2の磁気コア半体ブロックを接合一体化する工程を示
す斜視図である。
程順に示すものであり、第1の磁気コア半体ブロックと
第2の磁気コア半体ブロックを接合一体化する工程を示
す斜視図である。
1,2 磁気コア半体 5,6,30 金属磁性膜 14,15,24 下地膜 16,25,29 結晶質磁性材料膜 17,28 分断膜 17a,27 第1の層 17b,26 第2の層 21 基板 21a 一主面 23,52 磁気コア半体ブロック 53 非磁性材
Claims (4)
- 【請求項1】 一対の磁気コア半体が磁気ギャップ形成
面を突き合わせて接合一体化され、これら一対の磁気コ
ア半体のうち少なくとも一方の磁気コア半体の磁気ギャ
ップ形成面に金属磁性膜が成膜されてなる磁気ヘッドに
おいて、 上記金属磁性膜が、結晶質磁性材料膜が分断膜を介して
2層以上積層された多層膜であり、 上記分断膜が、少なくとも、白金或いは白金を主とする
合金よりなる層と、非磁性層よりなる多層膜であること
を特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項2】 金属磁性膜中の個々の結晶質磁性材料膜
の膜厚が、0.1μm以上,2.0μm以下であること
を特徴とする請求項1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 金属磁性膜の下地膜として、白金或いは
白金を主とする合金からなる膜、またはSiOX (1≦
X≦2)の化学式で表されるケイ素酸化物よりなる膜が
形成されていることを特徴とする請求項1記載の磁気ヘ
ッド。 - 【請求項4】 一対の磁気コア基板上に下地膜を形成し
た後、結晶質磁性材料膜と分断膜を順次所定数積層した
金属磁性膜を形成して一対の磁気コア半体を形成し、こ
れら一対の磁気コア半体をギャップ接合する磁気ヘッド
の製造方法において、 上記分断膜を非磁性層と白金或いは白金を主とする合金
よりなる層を順次積層して形成し、上記白金或いは白金
を主とする合金よりなる層の上に結晶質磁性材料膜を形
成することを特徴とする磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9849894A JPH07307008A (ja) | 1994-05-12 | 1994-05-12 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9849894A JPH07307008A (ja) | 1994-05-12 | 1994-05-12 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07307008A true JPH07307008A (ja) | 1995-11-21 |
Family
ID=14221312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9849894A Pending JPH07307008A (ja) | 1994-05-12 | 1994-05-12 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07307008A (ja) |
-
1994
- 1994-05-12 JP JP9849894A patent/JPH07307008A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20031202 |