JPH0731133B2 - 感光材料の検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は感光材料の検査方法に関し、詳しくは感光材料
を実質上感光させない波長特性を有する偏光をもつ光を
当該感光材料に照射して検査を行なう検査方法に関する
ものである。

〔技術の背景〕

感光材料の製造工程においては当該感光材料の表面に欠
陥が生ずることがある。すなわち、感光材料のベースシ
ート自体に傷があったり、あるいは乳剤の塗布工程で塗
膜中に気泡が発生すると、感光材料の表面に欠陥が生じ
やすい。

斯かる欠陥を検出するための感光材料の検査方法として
は、従来、Ｓ偏光（入射面に対して垂直な偏光）を用
い、これを感光材料の表面に照射し、これよりの反射光
を検出することにより表面の欠陥を検出する検査方法が
知られている。

しかして、感光材料である例えばカラー印画紙において
は、カラー印画紙を構成する各層の色素が乱れて変色す
るという独特の欠陥が生じやすい。すなわち、カラー印
画紙は、通常、ベースシート上に、スライドホッパー方
式等により感光しない色素（非感光色素）を添加した乳
剤を同時に多層塗布して形成され、この多層の乳剤層
は、一般に、ベースシート上に、青色光に感光する青感
性のレギュラー層と、緑色光に感光する緑感性のオルソ
層と、赤色光に感光する赤感性のパン層とを、この順に
積層し、さらに表面に保護層を塗布して形成されるが、
各層に含まれる異なった色の着色剤が乱され、カラー印
画紙が変色するという欠陥が生ずる場合がある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、Ｓ偏光を用いた従来の検査方法では、感光材料
の表面の凹凸等の欠陥は高い精度で検出することができ
たが、色が変化するという変色の欠陥の検出精度は相当
に低かった。

本発明は以上の如き事情に基いてなされたものであっ
て、変色の欠陥の検出精度を高くすることができる感光
材料の検査方法を提供するものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、感光材料を実質上感光させない波長特性を有
する偏光をもつ光を当該感光材料に照射して検査を行な
う検査方法において、当該偏光としてＰ偏光を用いるこ
とを特徴とする。

〔発明の作用効果〕

本発明によれば、偏光としてＰ偏光を用いるので、感光
材料の表面だけではなくて内部に生ずる変色の欠陥をも
高い精度で検出することが可能となる。

〔発明の具体的構成〕

以下、本発明を具体的に説明する。

本発明においては、感光材料を実質上感光させない波長
特性を有するＰ偏光（入射面に対して水平な偏光）をも
つ光を当該感光材料に照射して検査を行なう。Ｐ偏光を
得るための具体的手段は特に限定されない。

Ｐ偏光を得るための光源としては、感光材料を直接照射
するＰ偏光をもつ光が結果として当該感光材料を実質上
感光させない波長特性を有するものとなれば特に限定さ
れず、適宜選択できる。ここで「実質上感光させない」
とは、感光材料を照射するＰ偏光をもつ光に対して当該
感光材料の感度がきわめて低いかあるいは感度がないこ
とをいう。感光材料が大きく感光するようなＰ偏光をも
つ光を照射する場合には、当該感光材料が使用不能なも
のとなるので不都合である。

例えば、感光材料Ａが、第１図に示すように、ベースシ
ート61上に、スライドホッパー方式等により感光しない
色素（非感光色素）を添加した乳剤を同時に多層塗布し
て、青色光に感光する青感性のレギュラー層62と、緑色
光に感光する緑感性のオルソ層63と、赤色光に乾燥する
赤感性のパン層64とを、この順に積層し、さらに表面に
保護層65を積層して形成され、レギュラー層62、オルソ
層63、パン層64の比感度がそれぞれ350〜510nm、440〜6
00nm、570〜770nmの波長領域にあるような場合には、こ
れらを合成すると、第２図に示すように、およそ550〜6
35nmの波長領域ｄの間において比感度の低い部分ができ
るので、光源としては、例えば発振波長が632nm（可視
光）であるHe−Neレーザを好ましく用いることができ
る。

第３図は、本発明の実施に用いることができる検査装置
の一例である。同図において、10は光源、31はロール、
32はロータリーエンコーダ、33はシャッター、34はNDフ
ィルター、35は回転スキャナー、36はＦθレンズ、37は
パワーモニター、38はスキャナー回転検出装置、39はミ
ラー、40は拡散反射光用受光部、41は正反射光用受光
部、42は高圧電源、50は変色による欠陥個所である。

当該検査装置によれば、次のようにして感光材料Ａの検
査を行なうことができる。

感光材料Ａは、ロール31を介して所定の速度で搬送され
る。ロール31にはロータリーエンコーダ32が設けられて
おり、これから搬送パルスが出力される。この搬送パル
スを形成することによって感光材料Ａの搬送速度が検出
され、低速の場合には信号を送ってシャッター33を閉鎖
する。これは感光材料Ａにカブリが発生するのを防止す
るためである。

光源10からのＰ偏光をもつ光は、NDフィルター34で減光
され、回転スキャナー35で反射され、Ｆθレンズ36を介
して感光材料Ａの表面を走査する。検査中においてはND
フィルター34からの反射光をパワーモニター37で検出し
てNDフィルター34の状態を常時監視し、異常が発生した
場合にはシャッター33を閉鎖して感光材料Ａにカブリが
発生するのを防止する。

また、回転スキャナー35で反射した光をスキャナー回転
検出装置38で検出して回転スキャナー35の回転速度を常
時監視し、回転速度が低下した場合にはシャッター33を
閉鎖する。また、回転スキャナー35とロール31との間に
はミラー39が配設されており、これにより走査光の原点
を検出し回転スキャナー35からの走査光が各走査ごとに
相対的なゆらぎが生じないように補正している。

感光材料Ａの表面からの反射光を検出する受光部は、拡
散反射光用受光部40と、正反射光用受光部41とにより構
成されており、これらにはそれぞれ高圧電源42で作動し
光を電気に変換する複数のフォトマルと、この次段に配
設され増幅する複数のプリアンプとが収納されている。
この複数のプリアンプの出力は、加算アンプで加算され
たうえ、ハイパスフィルターにより欠陥個所50だけが抽
出されて検出信号が出力される。

感光材料Ａの変色による欠陥個所50にＰ偏光が当たると
拡散反射光が形成されるので、この拡散反射光を拡散反
射光用受光部40で受光することにより欠陥個所50を高い
精度で検出することができる。この拡散反射光は、感光
材料Ａの種類、例えばシルク、マット、Ｅ面、グロッシ
ー等の画質の相違によって乱されることが少ないので、
検出信号のS/N比を大きく維持することができ、欠陥個
所50の検出精度が高い。なお、グロッシーの場合は、正
反射光が乱されることが少ないので、正反射光用受光部
41で受光して欠陥個所50を検出することもできる。

以上のように本発明に係る検査方法によれば、感光材料
Ａを照射する光としてＰ偏光をもつ光を用いるので、感
光材料Ａの表面だけではなく内部に生ずる変色による欠
陥個所50をも高い精度で検出することが可能となる。

〔実験例〕

実験例１ 第４図に示すように、感光材料Ａの変色による欠陥個所
にＰ偏光をもつ光を照射して、これよりの拡散反射光の
出力を受光角度ｘを変化させながら光センサー71により
検出する実験を行なった。また、Ｓ偏光をもつ光を用い
て上記と同様の実験を行なった。これらの実験結果を第
５図に示す。

同図から理解されるように、Ｓ偏光をもつ光を用いる場
合に比して、Ｐ偏光をもつ光を用いる場合には拡散反射
光の光量の一様な領域が広くなり、すなわち感光材料Ａ
の表面の地合による影響が小さくなり、また当該領域で
1.3〜1.4倍程度反射光量が増加し、従って欠陥個所の検
出力が高くなることが理解される。実際に、検出力がＳ
偏光をもつ光を用いる場合の約1.3〜2.0倍となることが
確認できている。

実験例２ 第６図に示すように、He−Neレーザよりなる光源81と、
回転スキャナー82と、シャッター83とを用いて、シャッ
ター83の開時間をパラメータとして、Ｐ偏光をもつ光を
走査しながら感光材料Ａに照射する実験を行ない、感光
材料Ａにカブリが発生するか否かを調べた。また、比較
のためＳ偏光をもつ光を用いて上記と同様の実験を行な
った。これらの実験結果を第１表に示す。

第１表中、「1/125＋1/250」は、最初1/125secで走査し
た後、同一領域をさらに1/250secで走査したことを意味
する。「1/250＋1/500」も同様である。また「○」はカ
ブリが発生しないこと、「×」はカブリが発生したこと
を意味する。

この第１表の結果から理解されるように、Ｐ偏光をもつ
光の光量を減衰させることにより、カブリの発生を伴わ
ずに欠陥個所の検出を行なうことができる。

実験例３ ３種の欠陥試料A1（ピンク状の泡尾引き）、A2（白状の
尾引き）、A3（ピンク状の泡尾引き）のそれぞれについ
て変色による欠陥個所を検出する実験を行ない、検出信
号のS/N比を測定した。ただし、実験２の結果から、Ｐ
偏光をもつ光については、シャッターの開時間が1/250
＋1/500でカブリが発生しないように減光し、Ｓ偏光を
もつ光と同じカブリ安全性をもつ光の強さにした。結果
を第２表に示す。

この第２表の結果から理解されるように、Ｐ偏光をもつ
光を用いる場合には、Ｓ偏光をもつ光を用いる場合に比
して検出力が約1.4倍以上となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は感光材料の構造の一例と各乳剤層の比感度を示
す図、第２図は感光材料全体の比感度を示す図、第３図
は本発明の実施に用いることができる検査装置の一例を
示す説明図、第４図は拡散反射光の光量を測定する実験
装置の概略図、第５図は拡散反射光の反射角と光出力と
の関係を示す図、第６図はカブリの発生の有無を調べる
ための実験装置の概略図である。 10……光源、20……偏光選択手段 Ａ……感光材料、31……ロール 32……ロータリーエンコーダ 33……シャッター、34……NDフィルター 35……回転スキャナー、36……Ｆθレンズ 37……パワーモニター 38……スキャナー回転検出装置 39……ミラー、40……拡散反射光用受光部 41……正反射光用受光部、42……高圧電源 50……欠陥個所、61……ベースシート 62……パン層、63……オルソ層 64……レギュラー層、71……光センサー 81……光源、82……回転スキャナー 83……シャッター

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−147243（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−122411（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−88239（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】感光材料を実質上感光させない波長特性を
   有する偏光をもつ光を当該感光材料に照射して検査を行
   なう検査方法において、当該偏光としてＰ偏光を用いる
   ことを特徴とする感光材料の検査方法。