JPS6013249A - 印画紙表面検査方法 - Google Patents
印画紙表面検査方法Info
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- JPS6013249A JPS6013249A JP12117683A JP12117683A JPS6013249A JP S6013249 A JPS6013249 A JP S6013249A JP 12117683 A JP12117683 A JP 12117683A JP 12117683 A JP12117683 A JP 12117683A JP S6013249 A JPS6013249 A JP S6013249A
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- light
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- Pending
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 28
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 14
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Pathology (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は印画紙の表面検査を行なう方法に関し、特に
種々の面質を有する印画紙の表面に生しる欠陥を光学的
に検査する印画紙表面検査方法に関するものである。
種々の面質を有する印画紙の表面に生しる欠陥を光学的
に検査する印画紙表面検査方法に関するものである。
従来、印画紙の表面に生じる欠陥の検出方法として、印
画紙を所定の速度で走行させながら、光源としてレーザ
光をフライングスポット力式で走査し、その反射光を検
知を電気的な検出信号に変換し1反射光に変化が生じる
とこれを欠陥信号とし印画紙表面の欠陥を検出するもの
が知られている。
画紙を所定の速度で走行させながら、光源としてレーザ
光をフライングスポット力式で走査し、その反射光を検
知を電気的な検出信号に変換し1反射光に変化が生じる
とこれを欠陥信号とし印画紙表面の欠陥を検出するもの
が知られている。
ところで、印画紙にはシルク、マット、E面、グロッシ
ー等種々の種類があり、反射光がこの面質によって乱反
射して乱され、これによって検出信号のS/N比が低下
し、良好な欠陥信号が117−られない問題点があった
。
ー等種々の種類があり、反射光がこの面質によって乱反
射して乱され、これによって検出信号のS/N比が低下
し、良好な欠陥信号が117−られない問題点があった
。
この発明はかかる実情を背景にしてなされたもので、反
射光の乱れが正反射光によって生じることに着目し、乱
れの少ない拡散反射光の変化で印画紙表面の欠陥の検出
を行ない検出信号のS/N比を大きく維持でき、良好な
欠陥信号が得られ各種の面質を有する印画紙の欠陥検知
か確実である印画紙表面検査方法を提供することをI:
目的としている。
射光の乱れが正反射光によって生じることに着目し、乱
れの少ない拡散反射光の変化で印画紙表面の欠陥の検出
を行ない検出信号のS/N比を大きく維持でき、良好な
欠陥信号が得られ各種の面質を有する印画紙の欠陥検知
か確実である印画紙表面検査方法を提供することをI:
目的としている。
この発明は前記目的を達成するために、印画紙を走行さ
せながら光源からの光を走査し、その反射光を検知して
印画紙表面の欠陥を検査する方法において、前記印画紙
表面の欠陥部で反射する拡散反射光を検知し、この拡散
反射光の変化で欠陥を検出するようになしたことを特徴
としている。
せながら光源からの光を走査し、その反射光を検知して
印画紙表面の欠陥を検査する方法において、前記印画紙
表面の欠陥部で反射する拡散反射光を検知し、この拡散
反射光の変化で欠陥を検出するようになしたことを特徴
としている。
以下、この発明をカラー印画紙に適用した実施例につい
て添付図面に基づき詳細に説明する。
て添付図面に基づき詳細に説明する。
fJS1図はカラー印画紙の構造を示す図である。この
カラー印画紙Aの製造は、例えば所定の速度で搬送され
る原紙lに、スライドホッパ方式により感光色素を添加
した乳剤を多層同時に塗布して行なわれる。このように
原紙lに同時に多層塗布して形成された多層乳剤層は、
赤色光に感光する赤感性のパン層2と、緑色光に感光す
る緑感性のオルソ層3と、青色光に感光する青感性のレ
ギュラ一層4とさらにレギュラ一層4上に塗布した保護
層5とから描成され、それぞれに分光増感しである。こ
のカラー印画紙Aにはシルク、マット、E面、グロッシ
ー等の種類があり、それぞれ面質を異にしている。
カラー印画紙Aの製造は、例えば所定の速度で搬送され
る原紙lに、スライドホッパ方式により感光色素を添加
した乳剤を多層同時に塗布して行なわれる。このように
原紙lに同時に多層塗布して形成された多層乳剤層は、
赤色光に感光する赤感性のパン層2と、緑色光に感光す
る緑感性のオルソ層3と、青色光に感光する青感性のレ
ギュラ一層4とさらにレギュラ一層4上に塗布した保護
層5とから描成され、それぞれに分光増感しである。こ
のカラー印画紙Aにはシルク、マット、E面、グロッシ
ー等の種類があり、それぞれ面質を異にしている。
このようにして多層乳剤層が形成されたカラー印画紙A
は、次の乾燥工程で乾燥処理されるが、感光色素を添加
した乳剤を原紙lに塗布する際に、原紙自体に傷があっ
たり、また原紙lに繊維状のものが付着していたり、塗
布液に気泡が存在すると、これによりパン層2、オルソ
層3、レギュラ一層4に含まれるそれぞれ異なった色の
着色剤が乱され、カラー印画紙の表面の色が変化し欠陥
が現われる。
は、次の乾燥工程で乾燥処理されるが、感光色素を添加
した乳剤を原紙lに塗布する際に、原紙自体に傷があっ
たり、また原紙lに繊維状のものが付着していたり、塗
布液に気泡が存在すると、これによりパン層2、オルソ
層3、レギュラ一層4に含まれるそれぞれ異なった色の
着色剤が乱され、カラー印画紙の表面の色が変化し欠陥
が現われる。
このカラー印画紙の表面に生じる欠陥の検出は、第2図
に示すようにして行なわれる。カラー印画紙Aは検出ロ
ール6を介して所定の速度で搬送される。検出ロール6
にはロータリーエンコーダ7が設けられており、これか
ら搬送パルスが出力される。そしてこの搬送パルスを計
数することによって、カラー印画紙の搬送速度を検知し
0、低速の場合はカブリを防止するためにシャッター8
に信号を送り閉鎖する。
に示すようにして行なわれる。カラー印画紙Aは検出ロ
ール6を介して所定の速度で搬送される。検出ロール6
にはロータリーエンコーダ7が設けられており、これか
ら搬送パルスが出力される。そしてこの搬送パルスを計
数することによって、カラー印画紙の搬送速度を検知し
0、低速の場合はカブリを防止するためにシャッター8
に信号を送り閉鎖する。
カラー印画紙Aの表面に存在する欠陥部9を検出する光
5(10として、波長が632nmのHe−Neレーザ
を使用している。この光源10は、波長が550nmか
ら635nmの可視光を用いることができ、この範囲d
にある可視光は分光感光度が比較的低い領域である。こ
れにより、カラー印画紙Aの表面を走査して製造工程で
カラー印画紙Aの表面に生じた乳剤層の色を検出する際
に、カブリを・発生することがない。
5(10として、波長が632nmのHe−Neレーザ
を使用している。この光源10は、波長が550nmか
ら635nmの可視光を用いることができ、この範囲d
にある可視光は分光感光度が比較的低い領域である。こ
れにより、カラー印画紙Aの表面を走査して製造工程で
カラー印画紙Aの表面に生じた乳剤層の色を検出する際
に、カブリを・発生することがない。
前記光ff1lOからの光は、NDフィルタ11で減光
し、回転スキャナ12で偏光しF @ L/ンズ13を
介してカラー印画紙Aの表面に走査させる。このときN
Dフィルタ11からの反射光をパワーモニタ14で受け
、NDフィルタ11の異常を検出し、異常が発生した場
合は、シャッター8を閉鎖してカブリを防止する。また
、回転スキャナ12で反射した光をスキャナ回転検出装
置15で検知し、これにより回転スキャナ12の回転速
度の検出を行ない、回転速度が低下している場合は、シ
ャッター8を閉鎖する。そして回転スキャナ12と検出
ロール6との間にはミラー16が配設され、これにより
走査光の原点を検出し回転スキャナ12からの走査光が
各走査ごと相対的にゆらぐことを補正するようになって
いる。
し、回転スキャナ12で偏光しF @ L/ンズ13を
介してカラー印画紙Aの表面に走査させる。このときN
Dフィルタ11からの反射光をパワーモニタ14で受け
、NDフィルタ11の異常を検出し、異常が発生した場
合は、シャッター8を閉鎖してカブリを防止する。また
、回転スキャナ12で反射した光をスキャナ回転検出装
置15で検知し、これにより回転スキャナ12の回転速
度の検出を行ない、回転速度が低下している場合は、シ
ャッター8を閉鎖する。そして回転スキャナ12と検出
ロール6との間にはミラー16が配設され、これにより
走査光の原点を検出し回転スキャナ12からの走査光が
各走査ごと相対的にゆらぐことを補正するようになって
いる。
受光部として拡散反射光用受光部17が拡散光を検知す
る位置に配設されており、これには高圧電JI18によ
って作動する拡it反射光を電気に変換する複数のフォ
トマルと、この次段に配設され増幅するプリアンプが収
納されている。
る位置に配設されており、これには高圧電JI18によ
って作動する拡it反射光を電気に変換する複数のフォ
トマルと、この次段に配設され増幅するプリアンプが収
納されている。
この複数のプリアンプの出力は第3図に示すように、加
算アンプ19で加算し、ついで欠陥部分だけを抽出する
ため、バイパスフィルタ20を通して検出信号21が出
力される。
算アンプ19で加算し、ついで欠陥部分だけを抽出する
ため、バイパスフィルタ20を通して検出信号21が出
力される。
カラー印画紙Aの表面に欠陥があると、この欠陥部分の
パン層?、オルソ層3、レギュラ一層4に含まれるそれ
ぞれ異なった色の着色剤が乱されて表面の色が変化して
いる。この欠陥部9に光が当り、これから反射される反
射光の内で拡散反則光を拡散反射光用受光部17で受光
して欠陥の検出をする。
パン層?、オルソ層3、レギュラ一層4に含まれるそれ
ぞれ異なった色の着色剤が乱されて表面の色が変化して
いる。この欠陥部9に光が当り、これから反射される反
射光の内で拡散反則光を拡散反射光用受光部17で受光
して欠陥の検出をする。
反射光の反射角と光量との関係は第4図に示すように、
正反射光領域aではカラー印画紙のシルクAIとグロッ
シーA2ともが光量の変化が大きいが、拡散反射光領域
すでは光量の変化 4が少ない。さらに、正反射光領域
aでは、シルクAIでは光量に乱れがあり、この傾向は
他の 1例えばマット、E面等の印画紙についても同様
直である。
正反射光領域aではカラー印画紙のシルクAIとグロッ
シーA2ともが光量の変化が大きいが、拡散反射光領域
すでは光量の変化 4が少ない。さらに、正反射光領域
aでは、シルクAIでは光量に乱れがあり、この傾向は
他の 1例えばマット、E面等の印画紙についても同様
直である。
したがってこのような拡散反射光領域すで受光すれば、
印画紙の面質の差異によって光量が乱されることが少な
いので、検出信号21のS/N比を大きく維持すること
ができ欠陥信号22の精度が向上する。
印画紙の面質の差異によって光量が乱されることが少な
いので、検出信号21のS/N比を大きく維持すること
ができ欠陥信号22の精度が向上する。
なお、印画紙はカラー印画紙に限らず黒白印画にも同様
に実施できる。
に実施できる。
この発明は前記のように、印画紙表面の欠陥部で反射す
る拡散反射光を検知し、印画紙表面の欠陥を検出するよ
うになしたから、印画紙の種類によって異なる面質によ
る光量の変化の影響が少なく、検出信号のS/N比を大
きく維持でき、これにより欠陥信号の精度が向上し、種
々の印画紙の表面に生じた欠陥の検出を確実にすること
ができる。
る拡散反射光を検知し、印画紙表面の欠陥を検出するよ
うになしたから、印画紙の種類によって異なる面質によ
る光量の変化の影響が少なく、検出信号のS/N比を大
きく維持でき、これにより欠陥信号の精度が向上し、種
々の印画紙の表面に生じた欠陥の検出を確実にすること
ができる。
第1図はカラー印画紙の構造を示す図、第2図はカラー
印画紙の欠陥検出状態を説明する概略図、第3図はカラ
ー印画紙の欠陥の検出信号を得る回路図、第4図は反射
光の光量を示す図である。
印画紙の欠陥検出状態を説明する概略図、第3図はカラ
ー印画紙の欠陥の検出信号を得る回路図、第4図は反射
光の光量を示す図である。
Claims (1)
- 印画紙を走行させながら光源からの光を走査し、その反
り(光を検知して印画紙表面の欠陥を検査する方法にお
いて、前記印画紙表面の欠陥部で反射する拡散反射光を
検知し、この拡散反射光の変化で欠陥を検出するように
なした印画紙表面検査方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12117683A JPS6013249A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 印画紙表面検査方法 |
| EP19840304390 EP0130797B1 (en) | 1983-07-04 | 1984-06-28 | Method of inspecting the surface of photographic paper |
| DE8484304390T DE3477838D1 (en) | 1983-07-04 | 1984-06-28 | Method of inspecting the surface of photographic paper |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12117683A JPS6013249A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 印画紙表面検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013249A true JPS6013249A (ja) | 1985-01-23 |
Family
ID=14804727
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12117683A Pending JPS6013249A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 印画紙表面検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013249A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6352128A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Konica Corp | 感光材料表面検査装置 |
| JPH02221846A (ja) * | 1989-02-22 | 1990-09-04 | Konica Corp | シート状物の表面検査方法 |
| CN117686430A (zh) * | 2024-01-30 | 2024-03-12 | 武汉众望包装有限公司 | 一种宽幅彩色柔版预印瓦楞纸箱的高精柔印智能检测方法 |
-
1983
- 1983-07-04 JP JP12117683A patent/JPS6013249A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6352128A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Konica Corp | 感光材料表面検査装置 |
| JPH02221846A (ja) * | 1989-02-22 | 1990-09-04 | Konica Corp | シート状物の表面検査方法 |
| CN117686430A (zh) * | 2024-01-30 | 2024-03-12 | 武汉众望包装有限公司 | 一种宽幅彩色柔版预印瓦楞纸箱的高精柔印智能检测方法 |
| CN117686430B (zh) * | 2024-01-30 | 2024-05-17 | 武汉众望包装有限公司 | 一种宽幅彩色柔版预印瓦楞纸箱的高精柔印智能检测方法 |
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