JPH0731226B2 - 電子部品の測定装置 - Google Patents

電子部品の測定装置

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JPH0731226B2
JPH0731226B2 JP60224128A JP22412885A JPH0731226B2 JP H0731226 B2 JPH0731226 B2 JP H0731226B2 JP 60224128 A JP60224128 A JP 60224128A JP 22412885 A JP22412885 A JP 22412885A JP H0731226 B2 JPH0731226 B2 JP H0731226B2
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JP
Japan
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electronic component
measuring
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measuring device
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進 神山
保一 近藤
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ロ−ム株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、先端が側方に突出したフラットタイプのリ
ードを備えた電子部品の諸特性を測定する測定装置に関
する。
従来の技術 ICやLSIチップ等をパッケージした組立終了後の電子部
品は、それぞれ異なる複数種類の測定器で多数回にわた
って種々な特性測定が行われている。ここで、従来の技
術として、フラットタイプと呼ばれる形状のリードを備
えた電子部品の諸特性を測定する場合を説明する。
上記した電子部品と信号のやりとりを行う測定器が適宜
に複数個配置されていて、これら測定器のソケットには
測定すべき電子部品のリードと対応した測定用端子を有
している。そこで、測定しようとする電子部品を1個ず
つ真空吸着器等で保持して、順次、適宜な測定器のソケ
ットの測定用端子に当該電子部品のリードを電気的に接
続させることにより、信号をやりとりさせる。
発明が解決しようとする問題点 上記従来の方法では、真空吸着器等でもって電子部品を
保持して、これを複数の測定器に接続させる操作を各測
定器について行なうため、作業が煩わしく手間がかか
る。また、電子部品を保持する真空吸着器等の操作時
に、操作ミスを招くおそれがあると共に、真空吸着器が
当該電子部品のパッケージ部分のみを保持するため、リ
ードをソケットの測定用端子に接触させる際に当該リー
ドが折れ曲がるおそれがある。
そこで、この発明は、電子部品のリードと測定器の測定
用端子とを接続する操作が容易に行え、しかも前記両者
を接触させる際に電子部品のリードが損傷することのな
い電子部品の測定装置を提供することを目的としてい
る。
問題点を解決するための手段 本発明に係る電子部品の測定装置は、パッケージ部と、
該パッケージ部から突出したリードとを備えた電子部品
の諸特性を測定する測定装置であって、 電子部品における前記パッケージ部を収納する収納部
と、前記リードを支持する支持部と、前記パッケージ部
を吸着保持する保持手段とを有する複数個のホルダー
と、 電子部品の諸特性を測定する縦横方向に配設された測定
器にそれぞれ取り付けられ、前記ホルダーで保持された
電子部品のリードに対応可能に配置された測定用端子を
有するソケットと、 前記ホルダーを前記ソケットに対して対応可能に取り付
けた搬送パレットと、 該搬送パレットを間欠搬送する搬送手段とを備えてい
る。
作用 電子部品をホルダーに保持させたまま、当該電子部品が
規則正しく搬送され、電子部品のリードとソケットの測
定用端子とが正しく接触する位置関係が得られる。しか
も電子部品のリードがホルダーの支持部で支えられてい
るから、ソケットの測定用端子との接触時に当該リード
が損傷することはない。
また、ホルダーに保持された電子部品は、パッケージ部
が保持手段によって吸着保持される。
実施例 第1図はこの発明の一実施例を示す説明図である。
同図において、a〜nはそれぞれ異なる種類の測定器群
で、これらは取付台1に一定の間隔をもって縦横(ここ
で縦は紙面に対して左右方向、横は紙面に対して垂直方
向を言う)に配設されている。この取付台1は、図示し
ないが油圧またはエアーシリンダ等の昇降装置でもって
矢印Aのように昇降される。ところで、測定器群a〜n
には、測定しようとする電子部品2のリード21と対応し
て配設された測定用端子34を有するソケット3が複数個
それぞれ設けられている。
符号4は長尺な板状の搬送パレットで、この上面には電
子部品2を保持する複数のホルダー5が横一列(ここで
の横は紙面に対して垂直方向とする)に取付けられてい
る。この複数のホルダー5は、測定器群a〜nの横一列
のソケット配列状態とそれぞれ対応して配設されてい
る。つまり、ひとつの搬送パレット4上のホルダー5群
には、複数の電子部品2が保持されるようになってい
る。この搬送パレット4は、スプロケット6で回転駆動
される搬送コンベア7により前記した測定器a、測定器
b・・・測定器nの下方に順次間欠搬送されるようにな
っている。この実施例では、スプロケット6と搬送コン
ベア7とで搬送手段が構成されている。
この実施例において適用する電子部品2は、フラットタ
イプと呼ばれる形状のリード21が2方向から突出してい
るタイプとする(第2図参照)。この電子部品2を保持
するホルダー5について第3図を参照して説明する。側
ち、ホルダー5は、樹脂を略角柱体に成型加工して形成
されるものである。この上面には、その長手方向に延在
する凹溝51(収納部)が形成されていて、この凹溝51に
電子部品2のパッケージ部22が納まる。この凹溝51の両
側の立壁52の各端部上面には、凸部53が一定間隔をもっ
て2個ずつ形成されており、2個の凸部53の間の領域
が、電子部品2のリード21を支える支持部54とされてい
る。さらに、ホルダー5を保持させる治具57(第5図参
照)には部品に対向する電子部品2のパッケージ部22を
吸着保持する保持手段としての磁石55を内蔵させてお
り、間欠搬送の停止時におけるショックによって電子部
品2が位置ずれするのを防止させている。このようなホ
ルダー5は、2個の電子部品2を保持するようになって
いて、第3図矢印のように電子部品2はそれぞれ逆さに
してセットされるようになっている。符号56はホルダー
固定用ビス孔である。
さらに、測定器群a〜nに設けられるソケット3につい
て第4図(a)、(b)を参照して説明する。ソケット
3は樹脂を略長方体状に成型加工されたもので、その四
隅には測定器群a〜nへ取付けるためのねじ孔31が穿設
されている。このソケット3の中央部分には、その長手
方向に延在する凹溝32が形成されている。この凹溝32の
両側でソケット3の中央位置には、収納凹所33が複数形
成されており、この収納凹所33には、上端が露出するよ
うに測定用端子34が収納されている。
次に動作を説明する。
まず、ホルダー5に電子部品2を第3図矢印のようにセ
ットする。このホルダー5が取り付けられた搬送パレッ
ト4を搬送コンベア7上に載せて、搬送コンベヤ7によ
り、搬送パレット4のホルダー5群を測定器a群の下方
に位置させるべく搬送パレット4を適宜なピッチで間欠
搬送させる。この間欠搬送の停止時に、取付台1を下降
させて、測定器aのソケット3の測定用端子34を電子部
品2のリード21にそれぞれ対応させて接触させる(第5
図参照)。これにより、測定器a群と複数の電子部品2
とをそれぞれ電気的に接続させて信号をやりとりさせ
る。測定が終了すると、取付台1を上昇させて、測定器
a群のソケット3の測定用端子34を電子部品2のリード
21から引き離す。その後、新たな電子部品2がセットさ
れた搬送パレット4を搬送コンベア7上に載せて、搬送
ベルト7により、前記測定した電子部品2がセットされ
た搬送パレット4を測定器b群の下に、また新たな電子
部品2がセットされた搬送パレット4を測定器a群の下
にそれぞれ位置させるべく間欠搬送する。そして、この
状態にて取付台1を下降させると、測定器a群の測定用
端子34と前記測定した電子部品2のリード21とを、また
測定器b群の測定用端子34と新たな電子部品2のリード
21とをそれぞれ電気的に接続させて信号をやりとりさせ
る。このようにして順次、新たな電子部品2がセットさ
れた搬送パレット4を搬送コンベヤ7上に載せて、間欠
搬送させることにより各電子部品2の測定を行う。
なお、上記実施例において、測定器群a〜nは取付台1
によって全て同時に昇降されるように構成されている
が、それぞれ個別に昇降させるように構成することも可
能である。また、測定する電子部品2は第2図に示した
ものに限定されず、例えばフラットタイプのリード21が
4方向から突出しているタイプであっても測定できるよ
うにすることも可能である。但しこの場合電子部品2を
保持させるホルダー5の形状を変更する必要があること
は言うまでもない。さらに、上記実施例において、ホル
ダー5の治具57内部に位置ずれ防止用の保持手段として
の磁石55を設けているが、ホルダー5に内蔵させてもよ
い。
発明の効果 以上説明したように、この発明によれば、ホルダーに電
子部品を保持して、この電子部品のリードと測定用端子
とがそれぞれ対応する位置に搬送手段でもって間欠搬送
させて、複数個の電子部品と測定器とを電気的に接続さ
せるから、測定効率が良く、従来のような電子部品の操
作ミスが起こることはない。またホルダーを複数列に配
置しても搬送手段は1個ですむので設備費が低減でき
る。さらに、電子部品のリードがホルダーの支持部に支
えられているから、測定用端子に接触させる際に前記リ
ードが損傷することはない。
また、ホルダーに電子部品のパッケージ部を吸着保持す
る保持手段を設けているので、搬送パレットを間欠搬送
しても、停止時のショックによって電子部品の位置がず
れることはない。このため、電子部品のリードにソケッ
トと測定用端子を正確に接触させることができ、ひいて
はより確実に電子部品の諸特性を測定することができる
という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す説明図、第2図はこ
の実施例において適用する電子部品2を示す斜視図、第
3図は第2図に示した電子部品2を保持するホルダー5
を示す斜視図、第4図(a)は測定器に設けられるソケ
ット3を示す平面図、第4図(b)は第4図(a)のA
−A′矢視断面図、第5図はホルダー5に保持した電子
部品2と測定用端子34の接触状態を示す説明図である。 2……電子部品 21……リード 22……パッケージ部 3……ソケット 33……測定用端子 5……ホルダー 51……収納部 54……支持部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パッケージ部と、該パッケージ部から突出
    したリードとを備えた電子部品の諸特性を測定する測定
    装置であって、 電子部品における前記パッケージ部を収納する収納部
    と、前記リードを支持する支持部と、前記パッケージ部
    を吸着保持する保持手段とを有する複数個のホルダー
    と、 電子部品の諸特性を測定する縦横方向に配設された測定
    器にそれぞれ取り付けられ、前記ホルダーで保持された
    電子部品のリードに対応可能に配置された測定用端子を
    有するソケットと、 前記ホルダーを前記ソケットに対して対応可能に取り付
    けた搬送パレットと、 該搬送パレットを間欠搬送する搬送手段とを備えたこと
    を特徴とする電子部品の測定装置。
JP60224128A 1985-10-07 1985-10-07 電子部品の測定装置 Expired - Fee Related JPH0731226B2 (ja)

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JPS5823460A (ja) * 1981-08-05 1983-02-12 Toshiba Corp フラツトパツケ−ジ用ハンドラ
JPS59195740U (ja) * 1983-06-15 1984-12-26 株式会社日立製作所 リ−ドレスチツプキヤリヤテストハンドラ−

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