JPH07314168A - レーザー加工装置 - Google Patents
レーザー加工装置Info
- Publication number
- JPH07314168A JPH07314168A JP6112421A JP11242194A JPH07314168A JP H07314168 A JPH07314168 A JP H07314168A JP 6112421 A JP6112421 A JP 6112421A JP 11242194 A JP11242194 A JP 11242194A JP H07314168 A JPH07314168 A JP H07314168A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- laser
- pin
- laser processing
- processing apparatus
- Prior art date
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- Pending
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 レーザー加工装置を用いて大面積の基板を基
板の支持台から浮かして切断する場合、基板が撓まない
ようにし、基板あるいは基板上の薄膜等をきれいに切断
すること。 【構成】 基板1を複数のピン3で支えるとともに、ピ
ン3は上下に移動可能なため、ステージ2の移動にとも
ない、支持台4のレーザービームと対向する位置に設け
られた凹部6によりレーザー照射位置直下ではピン3が
下に下がり、基板1から離れる。
板の支持台から浮かして切断する場合、基板が撓まない
ようにし、基板あるいは基板上の薄膜等をきれいに切断
すること。 【構成】 基板1を複数のピン3で支えるとともに、ピ
ン3は上下に移動可能なため、ステージ2の移動にとも
ない、支持台4のレーザービームと対向する位置に設け
られた凹部6によりレーザー照射位置直下ではピン3が
下に下がり、基板1から離れる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基板とステージとの間に
空間を設ける必要がある場合のレーザー加工装置に関す
る。
空間を設ける必要がある場合のレーザー加工装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】レーザー加工は、レーザービームの指向
性、高エネルギー密度という特徴を利用して、現在では
工業的なプロセスにおいて広範囲に用いられている。
性、高エネルギー密度という特徴を利用して、現在では
工業的なプロセスにおいて広範囲に用いられている。
【0003】レーザー加工は、レーザー光を照射するこ
とで被加工物に温度上昇をもたらし、相変態、溶融、蒸
発や原子・分子の光励起による化学反応など多岐にわた
っており、加工に用いられるレーザーは、YAGレーザ
ー、CO2レーザー、エキシマレーザー等があげられ
る。これらのレーザーは用途にあわせて様々な波長、強
度のものが用いられる。また、被加工物の光吸収の違い
を利用することにより、選択的な加工をすることも可能
となる。
とで被加工物に温度上昇をもたらし、相変態、溶融、蒸
発や原子・分子の光励起による化学反応など多岐にわた
っており、加工に用いられるレーザーは、YAGレーザ
ー、CO2レーザー、エキシマレーザー等があげられ
る。これらのレーザーは用途にあわせて様々な波長、強
度のものが用いられる。また、被加工物の光吸収の違い
を利用することにより、選択的な加工をすることも可能
となる。
【0004】この種のレーザー加工装置は通常、レーザ
ー発振機、その他の光学系、XYステージもしくはXY
Zステージ、制御用コンピューター等によって構成され
る。
ー発振機、その他の光学系、XYステージもしくはXY
Zステージ、制御用コンピューター等によって構成され
る。
【0005】面積の大きい板状の基板をレーザーを用い
て加工する場合には、ビーム系を固定して被加工物をの
せたステージ系を移動させる方法、ビーム系を移動させ
被加工物をのせたステージ系を固定する方法、ビーム系
と被加工物をのせたステージ系の両方を移動させる方
法、の3つがあげられる。
て加工する場合には、ビーム系を固定して被加工物をの
せたステージ系を移動させる方法、ビーム系を移動させ
被加工物をのせたステージ系を固定する方法、ビーム系
と被加工物をのせたステージ系の両方を移動させる方
法、の3つがあげられる。
【0006】中でも、ビーム系を固定しステージ系を移
動させる方法は、ビーム系を移動させる他の2つの方法
と比較すると、光学系を全て固定することが可能なこと
により、光軸系の狂いが少ない、光軸系の密封性に優れ
る、集光性能が一定に保たれるため一定の性能が得られ
やすい、等の特徴を持ち、これらは高精度な加工を行う
上で利点が多い。
動させる方法は、ビーム系を移動させる他の2つの方法
と比較すると、光学系を全て固定することが可能なこと
により、光軸系の狂いが少ない、光軸系の密封性に優れ
る、集光性能が一定に保たれるため一定の性能が得られ
やすい、等の特徴を持ち、これらは高精度な加工を行う
上で利点が多い。
【0007】レーザー加工装置を用いて加工を行う際、
被加工物の特性により裏面にステージが直接接触しない
構造としたい場合がある。例えば基板が非常に薄い場
合、下のステージを同時に切ってしまい、そのため切り
口が汚くなることがある。また、単なる基板ではなく半
導体デバイス、例えばアモルファス太陽電池の場合、レ
ーザーで加工すると、基板の下にスペースがないと、蒸
発した金属が付着して短絡状態となり使用できなくな
る。
被加工物の特性により裏面にステージが直接接触しない
構造としたい場合がある。例えば基板が非常に薄い場
合、下のステージを同時に切ってしまい、そのため切り
口が汚くなることがある。また、単なる基板ではなく半
導体デバイス、例えばアモルファス太陽電池の場合、レ
ーザーで加工すると、基板の下にスペースがないと、蒸
発した金属が付着して短絡状態となり使用できなくな
る。
【0008】このような構造のレーザー加工装置を用い
た薄膜太陽電池の製造方法としては、特開平3−790
85があげられる。図4のごとく、まずガラス基板10
上にSnO2膜をパターニングして第一電極11を形
成、次に、アモルファスシリコン層をパターニングして
半導体層12を形成する。この第一電極層11とアモル
ファス半導体層12のパターニングはレーザースクライ
ブ法により行う。その上に第二電極層13を一様に製膜
し、これらの積層を有する基板を第二電極層13側を下
にして、ステージ14の上にスペーサ15により空間1
6を開けて固定する。そして、第二電極層13の分割す
べき部位17の上からレーザー光を照射すると、レーザ
ー光は第一電極11を透過し、アモルファス半導体層1
2を蒸発させ、それにともなって隣接する第二電極層1
3も同時に除去される。
た薄膜太陽電池の製造方法としては、特開平3−790
85があげられる。図4のごとく、まずガラス基板10
上にSnO2膜をパターニングして第一電極11を形
成、次に、アモルファスシリコン層をパターニングして
半導体層12を形成する。この第一電極層11とアモル
ファス半導体層12のパターニングはレーザースクライ
ブ法により行う。その上に第二電極層13を一様に製膜
し、これらの積層を有する基板を第二電極層13側を下
にして、ステージ14の上にスペーサ15により空間1
6を開けて固定する。そして、第二電極層13の分割す
べき部位17の上からレーザー光を照射すると、レーザ
ー光は第一電極11を透過し、アモルファス半導体層1
2を蒸発させ、それにともなって隣接する第二電極層1
3も同時に除去される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】レーザー加工装置を用
いて上記の薄膜太陽電池を加工する際、飛散する第二電
極層13の下には、飛散物が加工部に再付着することが
ないようステージ14との間に空間16を設けることが
必要となるが、特開平3−79085のごとく基板の周
辺部にスペーサ15を用いただけでは、基板の面積が大
きくなると基板が撓んでしまい、レーザーのフォーカス
が中心部と周辺部で異なり、切断した線幅が異なった
り、うまく切断できないという問題点がある。
いて上記の薄膜太陽電池を加工する際、飛散する第二電
極層13の下には、飛散物が加工部に再付着することが
ないようステージ14との間に空間16を設けることが
必要となるが、特開平3−79085のごとく基板の周
辺部にスペーサ15を用いただけでは、基板の面積が大
きくなると基板が撓んでしまい、レーザーのフォーカス
が中心部と周辺部で異なり、切断した線幅が異なった
り、うまく切断できないという問題点がある。
【0010】そこで、図5のレーザー加工装置では、面
積を持つステージ20があり、そこに複数のピン19が
固定されている。これらのピン19で基板18を支える
ことにより、基板18を撓まないように支えられ、か
つ、基板18とステージ20の間には空間が設けられ
る。レーザーは基板18の上方から、基板18に対して
垂直に照射され、基板18を加工する。ステージ系を移
動させて加工する場合、ステージ20及びピン19と基
板18は同時に移動する。ピン19の基板を支える面
は、接触面積が小さくなるよう凸状になっている。
積を持つステージ20があり、そこに複数のピン19が
固定されている。これらのピン19で基板18を支える
ことにより、基板18を撓まないように支えられ、か
つ、基板18とステージ20の間には空間が設けられ
る。レーザーは基板18の上方から、基板18に対して
垂直に照射され、基板18を加工する。ステージ系を移
動させて加工する場合、ステージ20及びピン19と基
板18は同時に移動する。ピン19の基板を支える面
は、接触面積が小さくなるよう凸状になっている。
【0011】しかしながら、被加工物の裏面に直接ステ
ージが接触しないようピンで支えていても、ピンと被加
工物は常に接触しているため、レーザービームの真下に
ピンがある場合には、ピンでレーザーが反射したり、一
部が蒸発したりしてうまく切れないという問題点があ
る。
ージが接触しないようピンで支えていても、ピンと被加
工物は常に接触しているため、レーザービームの真下に
ピンがある場合には、ピンでレーザーが反射したり、一
部が蒸発したりしてうまく切れないという問題点があ
る。
【0012】これらの問題点に鑑み、本発明では基板が
撓まず、かつ、基板とステージとの間に常にスペースを
設けることができるようなステージの構造を有するレー
ザー加工装置を提供することを目的としている。
撓まず、かつ、基板とステージとの間に常にスペースを
設けることができるようなステージの構造を有するレー
ザー加工装置を提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明のレーザー加工装置は、ステージに設けられ
た穴に遊嵌する複数のピンにより基板を撓まないように
支え、レーザービーム直下にあるピンのみが、ピンの下
部と接する支持台の、レーザービームに対向する位置に
設けられた凹部によって基板から離れるように構成され
ている。
め、本発明のレーザー加工装置は、ステージに設けられ
た穴に遊嵌する複数のピンにより基板を撓まないように
支え、レーザービーム直下にあるピンのみが、ピンの下
部と接する支持台の、レーザービームに対向する位置に
設けられた凹部によって基板から離れるように構成され
ている。
【0014】また、ピンの基板を支える面が平らになっ
ており、さらに緩衝材で覆われている。そしてピンの支
持台と接する面が凸状になっている。また、ピンの支持
台と接する面がボールベアリングになっている。さらに
ピンの下部と接する、レーザービーム直下にある支持台
の凹部がすり鉢状になっており、ピンが下に下がりやす
い構造になっている。
ており、さらに緩衝材で覆われている。そしてピンの支
持台と接する面が凸状になっている。また、ピンの支持
台と接する面がボールベアリングになっている。さらに
ピンの下部と接する、レーザービーム直下にある支持台
の凹部がすり鉢状になっており、ピンが下に下がりやす
い構造になっている。
【0015】
【作用】本発明によるレーザー加工装置では、基板を支
えているピンが上下に移動可能なため、ステージの移動
にともない、支持台のレーザービームと対向する位置に
設けられた凹部によりレーザー照射位置ではピンが下に
下がり、基板から離れるようになっている。
えているピンが上下に移動可能なため、ステージの移動
にともない、支持台のレーザービームと対向する位置に
設けられた凹部によりレーザー照射位置ではピンが下に
下がり、基板から離れるようになっている。
【0016】
【実施例】以下実施例によって本発明を具体的に説明す
る。
る。
【0017】図1は、本発明の一実施例のレーザー加工
装置の構造を示すもので、加工点及びその近傍の断面の
模式図である。
装置の構造を示すもので、加工点及びその近傍の断面の
模式図である。
【0018】本発明を図4の大面積の薄膜太陽電池の加
工に応用する場合について述べる。透光性絶縁基板を通
してレーザービームを照射し、アモルファスシリコンの
アブレーションにより裏面電極を吹き飛ばしてパターン
ニングを行うには、レーザービームは波長0.53μm
のNd−YAG第2高調波を用いる。この場合、レーザ
ービームの照射位置は固定されており、被加工基板1を
保持したステージ2を移動させることによって所定のパ
ターンニングがなされるものとする。
工に応用する場合について述べる。透光性絶縁基板を通
してレーザービームを照射し、アモルファスシリコンの
アブレーションにより裏面電極を吹き飛ばしてパターン
ニングを行うには、レーザービームは波長0.53μm
のNd−YAG第2高調波を用いる。この場合、レーザ
ービームの照射位置は固定されており、被加工基板1を
保持したステージ2を移動させることによって所定のパ
ターンニングがなされるものとする。
【0019】被加工基板1は、加工面を下にしてステー
ジから浮いた状態になるように、複数のピン3によって
保持されている。ピン3は、図2のように基板1が撓ま
ないような間隔で配置されている。ステージ2にはピン
3を配置する位置に穴5が開いており、ピン3はその穴
5に差し込まれ、滑らかに上下することができる構造に
なっている。
ジから浮いた状態になるように、複数のピン3によって
保持されている。ピン3は、図2のように基板1が撓ま
ないような間隔で配置されている。ステージ2にはピン
3を配置する位置に穴5が開いており、ピン3はその穴
5に差し込まれ、滑らかに上下することができる構造に
なっている。
【0020】ステージ2の下には、ピン3の底部を支え
る支持台4があり、支持台4は固定されている。支持台
4はレーザービームと対向する位置にすりばち状の凹部
6を持ち、レーザービーム直下ではピン3がこの凹部6
によって下に下がり基板1から離れるような、また、凹
部6の端部分でピン3が引っ掛からないような構造とな
っている。
る支持台4があり、支持台4は固定されている。支持台
4はレーザービームと対向する位置にすりばち状の凹部
6を持ち、レーザービーム直下ではピン3がこの凹部6
によって下に下がり基板1から離れるような、また、凹
部6の端部分でピン3が引っ掛からないような構造とな
っている。
【0021】図3を用いてピン3の構造について説明を
行う。ピン頭頂部7は緩衝材、例えばテフロン、シリコ
ンラバーといった類のものが装着されており、基板との
接触の際に加工面を傷つけないように、また基板のがた
つきを防ぐようになっている。ピン底部は凸状8または
ベアリング状9になっており、水平面および緩斜面を滑
らかに移動することができる構造になっている。
行う。ピン頭頂部7は緩衝材、例えばテフロン、シリコ
ンラバーといった類のものが装着されており、基板との
接触の際に加工面を傷つけないように、また基板のがた
つきを防ぐようになっている。ピン底部は凸状8または
ベアリング状9になっており、水平面および緩斜面を滑
らかに移動することができる構造になっている。
【0022】以上のことから、本発明によるレーザー加
工装置は、固定されたレーザービームに対してその対向
する位置に凹部をもつ支持台があり、支持台に遊嵌する
複数のピンによって基板を支えることにより基板は撓ま
ず、また、支持台の凹部によって加工点にくるピンは自
動的に加工基板から離れ、ピン頭頂部からのレーザービ
ームの反射光による加工形状不良を抑えることができ
る。そして、加工点を過ぎたピンは再び基板を支えるこ
とができる。
工装置は、固定されたレーザービームに対してその対向
する位置に凹部をもつ支持台があり、支持台に遊嵌する
複数のピンによって基板を支えることにより基板は撓ま
ず、また、支持台の凹部によって加工点にくるピンは自
動的に加工基板から離れ、ピン頭頂部からのレーザービ
ームの反射光による加工形状不良を抑えることができ
る。そして、加工点を過ぎたピンは再び基板を支えるこ
とができる。
【0023】
【発明の効果】本発明のレーザー加工装置は、上下に移
動可能な複数のピンにより基板を撓まないように支え、
レーザービームの直下にあるピンのみが基板から離れる
ことによって加工面がきれいに仕上がる。また、ピンの
基板を支える面が平らになっていることにより、基板の
重量が分散され、安定した状態で支えることができる。
さらに、ピンの基板を支える面が緩衝材で覆われている
ことにより、基板に傷をつけにくい。そしてピンの支持
台に接する面が凸状になっており、望ましくはボールベ
アリングになっていることで、ステージが滑らかに移動
することができる。ピンの下部と接するレーザービーム
直下の支持台の凹部がすり鉢状になっていることによ
り、凹部の端部分でピンが引っ掛からないようになって
いる。
動可能な複数のピンにより基板を撓まないように支え、
レーザービームの直下にあるピンのみが基板から離れる
ことによって加工面がきれいに仕上がる。また、ピンの
基板を支える面が平らになっていることにより、基板の
重量が分散され、安定した状態で支えることができる。
さらに、ピンの基板を支える面が緩衝材で覆われている
ことにより、基板に傷をつけにくい。そしてピンの支持
台に接する面が凸状になっており、望ましくはボールベ
アリングになっていることで、ステージが滑らかに移動
することができる。ピンの下部と接するレーザービーム
直下の支持台の凹部がすり鉢状になっていることによ
り、凹部の端部分でピンが引っ掛からないようになって
いる。
【図1】本発明の一実施例のレーザー加工装置の加工点
およびその近傍の断面の模式図である。
およびその近傍の断面の模式図である。
【図2】本発明の一実施例のレーザー加工装置の加工点
およびその近傍の断面の斜視図である。
およびその近傍の断面の斜視図である。
【図3】本発明のレーザー加工装置のピンの構造を示す
図である。
図である。
【図4】従来の薄膜太陽電池の製造方法を説明するため
の断面図である。
の断面図である。
【図5】被加工基板をピンで保持する一方法の断面の模
式図である。
式図である。
1 被加工基板 2 ステージ 3 ピン 4 支持台 5 穴 6 凹部 7 ピン頭頂部 8 ピン底部(凸状) 9 ピン底部(ベアリング状) 10 ガラス基板 11 第一電極 12 アモルファス半導体層 13 第二電極層 14 ステージ 15 スペーサ 16 空間 17 切断部位 18 被加工基板 19 ピン 20 ステージ
Claims (6)
- 【請求項1】 レーザー照射により被加工基板を加工す
るためのレーザー加工装置において、 レーザービーム照射位置直下に凹部を有する支持台と、 該支持台上を移動可能であって、被加工基板を支えるた
めの上下方向に可動な複数のピンが設けられたステージ
とを備え、 前記レーザービームの照射位置直下では、前記ピンが前
記凹部に陥落することによって、被加工基板から離れる
ことを特徴とするレーザー加工装置。 - 【請求項2】 前記ピンの基板を支える面が平面である
ことを特徴とする請求項1記載のレーザー加工装置。 - 【請求項3】 前記ピンの基板を支える面が緩衝材で覆
われていることを特徴とする請求項1および請求項2記
載のレーザー加工装置。 - 【請求項4】 前記ピンの支持台と接する面が凸状にな
っていることを特徴とする請求項1記載、または、請求
項1および請求項3記載のレーザー加工装置。 - 【請求項5】 前記ピンが、ボールベアリングを介して
前記支持台と接することを特徴とする請求項1記載、ま
たは、請求項1および請求項3記載のレーザー加工装
置。 - 【請求項6】 前記支持台の凹部が、すり鉢状になって
いることを特徴とする請求項1記載、または、請求項1
および請求項5記載のレーザー加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112421A JPH07314168A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | レーザー加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112421A JPH07314168A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | レーザー加工装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07314168A true JPH07314168A (ja) | 1995-12-05 |
Family
ID=14586235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6112421A Pending JPH07314168A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | レーザー加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07314168A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005259882A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-09-22 | Sharp Corp | 薄膜のパターニング方法およびパターニング装置、ならびに薄膜太陽電池の製造方法 |
| DE102005025889A1 (de) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Hans Dietle | Laser-Bearbeitungstisch |
-
1994
- 1994-05-26 JP JP6112421A patent/JPH07314168A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005259882A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-09-22 | Sharp Corp | 薄膜のパターニング方法およびパターニング装置、ならびに薄膜太陽電池の製造方法 |
| DE102005025889A1 (de) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Hans Dietle | Laser-Bearbeitungstisch |
| DE102005025889B4 (de) * | 2005-05-30 | 2009-07-30 | Hans Dietle | Laser-Bearbeitungstisch |
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