JPH07321177A - Substrate transfer device - Google Patents

Substrate transfer device

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JPH07321177A
JPH07321177A JP6108329A JP10832994A JPH07321177A JP H07321177 A JPH07321177 A JP H07321177A JP 6108329 A JP6108329 A JP 6108329A JP 10832994 A JP10832994 A JP 10832994A JP H07321177 A JPH07321177 A JP H07321177A
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substrate
processing
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transfer
housing
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Koji Kizaki
幸治 木▲崎▼
Hiroyuki Kitazawa
裕之 北澤
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Elimination Of Static Electricity (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板処理の進行中に基板表面に帯電する電荷
を簡易な構造によって中和する基板搬送装置を提供す
る。 【構成】 搬送ロボット20は、それが組み込まれる基
板処理装置の複数の処理部間で基板を処理部から処理部
へと搬送する。ハンド22、23は、搬送すべき基板を
載置する。イオナイザ24は、ハンド22、23に載置
された基板の表面にイオン化された気体を吐出する。こ
のため、各処理部での基板処理の際に基板に蓄積される
電荷を、基板搬送に際して逐次放電することができるの
で、簡易かつ低コストでスパークの発生を防止すること
ができる。
(57) [Abstract] [PROBLEMS] To provide a substrate transfer device that neutralizes electric charges on the surface of a substrate during substrate processing with a simple structure. The transfer robot 20 transfers a substrate from one processing unit to another processing unit among a plurality of processing units of a substrate processing apparatus in which the transfer robot 20 is incorporated. The hands 22 and 23 place the substrates to be transported. The ionizer 24 discharges the ionized gas onto the surface of the substrate placed on the hands 22 and 23. Therefore, the electric charges accumulated on the substrate during the substrate processing in each processing unit can be sequentially discharged during the substrate transfer, so that the spark can be prevented easily and at low cost.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、液晶表示パネル用ガ
ラス基板、半導体ウエハ、半導体製造用マスク基板等
(以下、単に「基板」という)に加熱、冷却、レジスト
塗布、密着強化剤塗布、洗浄、現像等の諸処理を施す基
板処理装置に組み込まれる基板搬送装置に関し、特に基
板処理装置を構成する各処理部間で基板を交換しつつこ
れらを順次搬送可能な基板搬送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to heating, cooling, resist coating, adhesion strengthening agent coating, cleaning of glass substrates for liquid crystal display panels, semiconductor wafers, mask substrates for semiconductor production, etc. (hereinafter simply referred to as "substrate"). The present invention relates to a substrate transfer device incorporated in a substrate processing device that performs various processes such as development, and more particularly to a substrate transfer device that can sequentially transfer substrates while exchanging substrates between respective processing units constituting the substrate processing device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5は、従来の基板処理装置を示した図
である。図5(a)は、基板処理装置を構成する各処理
部(以下、単に「ユニット」という)2a〜2g間を循
環移動する基板搬送装置4によって各ユニット2a〜2
gにある基板を順次循環搬送する機構を示し、図5
(b)は、基板処理装置の隣接する各ユニット12a〜
12g間に固定された専用の基板搬送装置14によって
各ユニット12a〜12gにある基板を隣接ユニット1
2a〜12gに順次搬送する機構を示す。
2. Description of the Related Art FIG. 5 is a diagram showing a conventional substrate processing apparatus. FIG. 5A shows the units 2a to 2 by the substrate transfer device 4 that circulates between the respective processing units (hereinafter simply referred to as "units") 2a to 2g constituting the substrate processing apparatus.
5 shows a mechanism for sequentially circulating and transporting the substrate shown in FIG.
(B) shows adjacent units 12a to 12a of the substrate processing apparatus.
Substrates in each of the units 12a to 12g are moved to the adjacent unit 1 by a dedicated substrate transfer device 14 fixed between 12g.
The mechanism which conveys to 2a-12g sequentially is shown.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、図5のような
基板搬送装置4、14では、各ユニット2a〜2g、1
2a〜12gでの処理を終えて基板を処理部から搬出す
る際の剥離帯電などによって基板が徐々に静電気を帯び
る。
However, in the substrate transfer apparatus 4, 14 as shown in FIG. 5, each of the units 2a-2g, 1
The substrate is gradually charged with static electricity due to peeling and charging when the substrate is unloaded from the processing unit after finishing the processing of 2a to 12g.

【0004】このような静電気は、処理進行中の基板に
徐々に蓄積されていくため、各ユニット2a〜2g、1
2a〜12g毎における帯電量がスパークする程に大き
なものでない場合であっても、順次搬送する毎に蓄積さ
れ、その総帯電量がある臨界値を超えてしまうと、近接
する金属部材との間でスパークが発生し易くなる。
Since such static electricity is gradually accumulated on the substrate during processing, each unit 2a to 2g, 1
Even if the charge amount in each 2a to 12g is not large enough to spark, it is accumulated every time when it is sequentially conveyed, and if the total charge amount exceeds a certain critical value, it will be separated from the adjacent metal member. Therefore, sparks are likely to occur.

【0005】図6は、このようなスパークの発生を説明
するための図である。なお、同図において、符号aはユ
ニット2a,12aを示すものであり、また他の符号b
〜gについても同様である。また、後で説明する図2に
おいても同様である。ユニット2a〜2e、12a〜1
2eまでの処理で徐々に総帯電量が増加し、ユニット2
f、12fに至って臨界値Ecを超えるため、溜まった
電荷が近くに配置された金属部材に放電してスパークが
発生する。
FIG. 6 is a diagram for explaining the occurrence of such a spark. In the figure, reference numeral a indicates units 2a and 12a, and other reference numeral b.
The same applies to ~ g. The same applies to FIG. 2 described later. Units 2a-2e, 12a-1
By the processing up to 2e, the total charge amount gradually increases, and the unit 2
Since f and 12f reach the critical value Ec and exceed the critical value Ec, the accumulated electric charge is discharged to a metal member arranged nearby to generate a spark.

【0006】このようなスパークは、基板搬送装置4、
14の制御回路等に作用してその誤動作を発生させる原
因となる。また、このスパークは、基板の表面に高電圧
を印加する結果となり、基板上に形成されている配線パ
ターン等に絶縁破壊を発生させたり、基板上に形成され
た素子の破壊ないし動作不良を発生させたりする原因と
なる。
Such a spark is generated by the substrate transfer device 4,
It acts on the control circuit 14 and the like to cause the malfunction thereof. In addition, this spark results in the application of a high voltage to the surface of the substrate, causing a dielectric breakdown in the wiring pattern, etc. formed on the substrate, and a breakdown or malfunction of the element formed on the substrate. It may cause it.

【0007】そこで、この発明は、基板処理の進行中に
基板表面に帯電する電荷を簡易な構造によって中和する
基板搬送装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a substrate transfer device which neutralizes electric charges on the surface of a substrate during the substrate processing with a simple structure.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を達成するた
め、この発明の請求項1の基板搬送装置は、基板処理装
置の複数の処理部間で基板を処理部から処理部へと搬送
する基板搬送装置であって、搬送に際して基板が載置さ
れる基板載置手段と、この基板載置手段に載置された基
板の表面にイオン化された気体を吐出する気体吐出手段
とを備えることを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, a substrate transfer apparatus according to claim 1 of the present invention is a substrate for transferring a substrate from a processing section to a processing section between a plurality of processing sections of the substrate processing apparatus. A transfer device, comprising: a substrate mounting means on which a substrate is mounted during transportation; and a gas discharge means for discharging ionized gas onto the surface of the substrate mounted on the substrate mounting means. And

【0009】また、請求項2の基板搬送装置は、請求項
1の装置において、気体吐出手段を基板載置手段の上方
に固定する固定手段をさらに備えることを特徴とする。
A substrate transfer apparatus according to a second aspect is the apparatus according to the first aspect, further comprising a fixing means for fixing the gas discharging means above the substrate mounting means.

【0010】また、請求項3の基板搬送装置は、請求項
1の装置において、基板載置手段及び気体吐出手段を収
容するハウジングをさらに備え、気体吐出手段がこのハ
ウジング内の上部に固定され、基板載置手段が載置した
基板をハウジング内外に搬入及び搬出可能であることを
特徴とする。
A substrate transfer apparatus according to a third aspect of the present invention is the apparatus of the first aspect, further comprising a housing for accommodating the substrate mounting means and the gas discharge means, the gas discharge means being fixed to an upper portion of the housing It is characterized in that the substrate placed by the substrate placing means can be carried in and out of the housing.

【0011】[0011]

【作用】請求項1の基板搬送装置によれば、基板載置手
段に載置された基板の表面にイオン化された気体を吐出
する気体吐出手段を備えるので、各処理部での基板処理
の際に基板に蓄積される電荷を、基板搬送に際して逐次
放電することができ、簡易かつ低コストでスパークの発
生を防止することができる。
According to the substrate transfer apparatus of the present invention, since the gas ejecting means for ejecting the ionized gas is provided on the surface of the substrate placed on the substrate placing means, it is possible to perform the substrate processing in each processing section. The electric charges accumulated on the substrate can be sequentially discharged when the substrate is transported, and the occurrence of sparks can be prevented easily at low cost.

【0012】また、請求項2の基板搬送装置によれば、
気体吐出手段を基板載置手段の上方に固定する固定手段
をさらに備えるので、搬送中の基板表面に上方から効果
的にイオン化された気体を供給することができ、基板表
面上にパターニング等されている場合においてその表面
でのスパークの発生を効果的に抑制することができる。
According to the substrate transfer device of the second aspect,
Since the fixing means for fixing the gas discharging means above the substrate mounting means is further provided, it is possible to effectively supply the ionized gas from above to the substrate surface during transfer, and to perform patterning or the like on the substrate surface. In the case where there is a spark, the generation of sparks on the surface can be effectively suppressed.

【0013】また、請求項3の基板搬送装置によれば、
基板載置手段及び気体吐出手段を収容するハウジングを
さらに備え、気体吐出手段がこのハウジング内の上部に
固定され、基板載置手段が載置した基板をハウジング内
外に搬入及び搬出可能であるので、搬送中の基板表面に
上方から効果的にイオン化された気体を供給することが
でき、基板表面上にパターニング等されている場合にお
いてその表面でのスパークの発生を効果的に抑制するこ
とができる。さらに、ハウジングの存在によって、ハウ
ジング外に気流の乱れが発生した場合にも、搬送中の基
板の表面に影響しにくいので、基板処理の不良等が発生
しにくい。
According to the substrate transfer device of claim 3,
Further, a housing for accommodating the substrate mounting means and the gas discharging means is further provided, and the gas discharging means is fixed to the upper part of the housing, and the substrate mounted by the substrate mounting means can be carried in and out of the housing. It is possible to effectively supply the ionized gas from above to the surface of the substrate being transported, and it is possible to effectively suppress the occurrence of sparks on the surface of the substrate when the substrate is patterned or the like. Further, even if a turbulence of the air flow occurs outside the housing due to the presence of the housing, the surface of the substrate being transported is unlikely to be affected, so that defective substrate processing is less likely to occur.

【0014】[0014]

【実施例】図1は、第1実施例の基板搬送装置である搬
送ロボット20の斜視図である。この搬送ロボット20
は、基板処理装置(図示を省略)内の基板搬送領域に配
置され、この搬送領域の周囲に設けられた基板処理用の
各ユニット(図示を省略)相互間で処理すべき角形の基
板を逐次転送する循環搬送を行う。このような循環搬送
を繰返すことにより、処理すべき基板を適当な順序で各
ユニットに移送することができ、この基板に所望の条件
及び手順で処理を施すことができる。なお、前述の各ユ
ニットは、処理すべき基板を収容して、加熱、冷却、レ
ジスト塗布、密着強化剤塗布、洗浄、現像等の諸処理を
施すものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a perspective view of a transfer robot 20 which is a substrate transfer device of the first embodiment. This transfer robot 20
Are arranged in a substrate transfer area in a substrate processing apparatus (not shown), and the rectangular substrates to be processed are sequentially processed between the substrate processing units (not shown) provided around the transfer area. Circulation transportation for transfer is performed. By repeating such circulating transportation, the substrate to be processed can be transferred to each unit in an appropriate order, and the substrate can be processed under desired conditions and procedures. Each of the above-mentioned units accommodates a substrate to be processed and performs various processes such as heating, cooling, resist coating, adhesion strengthening agent coating, cleaning, and development.

【0015】搬送ロボット20の本体21は、図示しな
い機構によって、基板処理装置内の基板搬送領域に形成
されたレールに沿って水平方向に往復移動し、所望の位
置で上下位置が調節され、水平面内で所望の角度に回転
するように構成されており、各ユニットとの間で基板の
受渡しが可能となっている。この本体21の上部21a
には、処理すべき基板が載置される上下一対のハンド2
2、23が水平面内で可動に取り付けられている。これ
ら一対のハンド22、23は、本体21の正面21b側
に延びる進出位置と後方に引っ込んだ後退位置との間を
往復動する。また、これらのハンド22、23は、互い
に平行で離間しており、かつ、上下方向に可動になって
いるので、相互の垂直方向の間隔を適宜調整することが
できる。各ハンドに設けられた4個のタブ22a、23
aは、処理すべき基板の縁を4点支持するためのもので
ある。
The main body 21 of the transfer robot 20 is horizontally reciprocated by a mechanism (not shown) along a rail formed in a substrate transfer area in the substrate processing apparatus, and its vertical position is adjusted at a desired position to make a horizontal plane. It is configured to rotate at a desired angle inside, and the substrate can be delivered to and from each unit. The upper part 21a of this body 21
A pair of upper and lower hands 2 on which substrates to be processed are placed
2, 23 are movably mounted in a horizontal plane. The pair of hands 22 and 23 reciprocate between an advanced position extending toward the front surface 21b of the main body 21 and a retracted position retracted rearward. Further, since the hands 22 and 23 are separated from each other in parallel with each other and are movable in the vertical direction, it is possible to appropriately adjust the mutual vertical spacing. Four tabs 22a, 23 provided on each hand
a is for supporting four edges of the substrate to be processed.

【0016】基板載置用の上下一対のハンド22の上方
には、イオン化した気体を下方に吐出する一対の正・負
のエミッタに交互に直流電圧を所定の時間間隔で印加し
て各エミッタから交互にそれぞれ正・負のイオンを発生
させるとともに、この各エミッタの周囲に気体を吹き付
けてイオン化された気体を所定の方向に吹き出すパルス
DCタイプのイオナイザ24が配置され、固定部材25
を介して本体21に対して相対的に固定されている。各
イオナイザ24の下部に形成された一対のノズル24a
からのイオン化した気体の気流は、図面下向き(基板の
表面上)に供給される。すなわち、このイオン化した気
体の気流は、後退位置にあるハンド23上の基板(図示
を省略)の表面上に一様に当たってこの表面上の電荷を
一様に中和する。
Above the pair of upper and lower hands 22 for mounting the substrate, a DC voltage is alternately applied at a predetermined time interval to a pair of positive and negative emitters for ejecting ionized gas downward, and the respective emitters are ejected. A pulse DC type ionizer 24 that alternately generates positive and negative ions and blows gas around the respective emitters to blow out the ionized gas in a predetermined direction is arranged.
It is fixed relatively to the main body 21 via. A pair of nozzles 24a formed at the bottom of each ionizer 24
A stream of ionized gas from is supplied downward in the drawing (on the surface of the substrate). That is, this ionized gas flow uniformly hits the surface of the substrate (not shown) on the hand 23 in the retracted position to uniformly neutralize the charges on this surface.

【0017】イオナイザ24には、固定部材25に取り
付けられた配管(図示を省略)を介して、純水や不純物
を含まない空気や窒素ガスが加圧状態で供給される。こ
のような空気或いは窒素ガスは、ノズル24aから下方
に噴出される際に、これに取り付けられた電極(図示を
省略)の放電効果によってイオン化される。なお、イオ
ナイザ24自体は公知の装置であるのでその詳細な説明
は省略する。
To the ionizer 24, pure water and air or nitrogen gas containing no impurities are supplied under pressure through a pipe (not shown) attached to the fixing member 25. When such air or nitrogen gas is jetted downward from the nozzle 24a, it is ionized by the discharge effect of an electrode (not shown) attached to it. Since the ionizer 24 itself is a known device, its detailed description is omitted.

【0018】第1実施例の搬送ロボット20の動作につ
いて説明する。まず、搬送ロボット20を所望のユニッ
トの正面に移動させて、両ハンド22、23を進出させ
てユニット内部の基板処理位置まで挿入する。その後、
両ハンド22、23の間隔を近接または離間させて、い
ずれかのハンド(例えばハンド22)に載置されている
処理すべき基板をこのユニット内の基板保持機構上に乗
せるとともに、他方のハンド(ここではハンド23)に
処理済みの基板を載置する。これによって、このユニッ
トに関して処理済みの基板と未処理の基板とが交換され
る。なお、この基板交換方法は、本願出願人が先に出願
した特願平5−151160号の明細書及び図面に記載
された通りであるので、その詳細を省略する。
The operation of the transfer robot 20 of the first embodiment will be described. First, the transfer robot 20 is moved to the front of a desired unit, both hands 22 and 23 are advanced and inserted into the substrate processing position inside the unit. afterwards,
The distance between the two hands 22 and 23 is close to or away from each other, and the substrate to be processed placed on one of the hands (for example, the hand 22) is placed on the substrate holding mechanism in this unit, and the other hand ( Here, the processed substrate is placed on the hand 23). This replaces the processed and unprocessed substrates for this unit. The method of exchanging the substrate is as described in the specification and drawings of Japanese Patent Application No. 5-151160 previously filed by the applicant of the present application, and thus its details are omitted.

【0019】次に、両ハンド22、23をユニット外に
後退させて、処理済み基板をユニット外に取り出す。こ
れと同時に、イオナイザ24を起動して、イオン化した
気体を前述の他方のハンド(ここではハンド23)上の
処理済みの基板の表面に供給し、この基板表面の除電処
理を開始する。
Next, both hands 22 and 23 are retracted out of the unit to take out the processed substrate out of the unit. At the same time, the ionizer 24 is activated to supply the ionized gas to the surface of the processed substrate on the other hand (the hand 23 in this case) described above, and the charge removal processing on this substrate surface is started.

【0020】イオナイザ24を動作させたままで所定時
間以上経過した後、イオナイザ24の動作を停止する。
これによって、このユニットで処理済みの基板につき除
電処理が完了する。
The operation of the ionizer 24 is stopped after a lapse of a predetermined time or more while the ionizer 24 is operating.
As a result, the static elimination process is completed for the substrate processed by this unit.

【0021】その後、搬送ロボット20を次のユニット
の正面に移動させて、両ハンド22、23を進出させて
ユニット内部の処理位置まで挿入し、このユニットに関
して処理済みの基板と、前のユニットでは処理済みであ
るがこのユニットでは未処理の基板とが交換される。
After that, the transfer robot 20 is moved to the front of the next unit, both hands 22 and 23 are advanced and inserted into the processing position inside the unit, and the processed substrate and the previous unit in this unit are Substrates that have been processed but are not processed in this unit are replaced.

【0022】以上のような動作を繰り返し、処理手順に
対応するユニットの順に従って基板を順次移送して基板
搬送装置を基板処理装置内で一巡させ、さらにこのよう
な循環搬送のサイクルを繰返すことにより、基板に所望
の内容の処理を施すことができる。この際、基板の搬送
毎に除電処理が行われるので、各ユニットでの処理の際
に基板に蓄積される電荷を、その後の搬送に際して逐次
放電してスパークの発生を未然に防止することができ
る。したがって、基板の表面に高電圧が印加されて、基
板上に形成されている配線パターン等に絶縁破壊を発生
させたり、基板表面上に形成された素子の破壊ないし動
作不良を発生させたりといった不都合が生じない。
By repeating the above-described operation, the substrates are sequentially transferred in the order of the units corresponding to the processing procedure, the substrate transfer apparatus is circulated within the substrate processing apparatus, and the cycle of such cyclic transfer is repeated. The substrate can be processed with desired contents. At this time, since the charge removal processing is performed every time the substrate is transported, the electric charges accumulated in the substrate during the processing in each unit can be sequentially discharged during the subsequent transportation to prevent the occurrence of sparks. . Therefore, a high voltage is applied to the surface of the substrate to cause dielectric breakdown in a wiring pattern or the like formed on the substrate, or damage or malfunction of an element formed on the surface of the substrate. Does not occur.

【0023】図2は、この基板搬送装置で循環搬送され
る基板に蓄積される基板の帯電状態を模式的に示すグラ
フである。横軸はユニットの処理順のポジションを示
し、縦軸は処理中の基板の帯電量を示す。図示のよう
に、各ユニットa〜gで発生する電荷が第1実施例の基
板搬送装置によって逐次除電されるので、それらが蓄積
されて臨界値(点線)Ecを超え、スパークが発生する
虞がない。しかも、基板が常にほとんど除電された状態
に保たれるので、搬送中やユニットへの搬入及び搬出時
に、基板表面にパーティクルが付着する確率を減少させ
ることができる。
FIG. 2 is a graph schematically showing the charged state of the substrate accumulated on the substrate circulated and transported by this substrate transport device. The horizontal axis represents the position of the units in the processing order, and the vertical axis represents the charge amount of the substrate being processed. As shown in the figure, since the electric charges generated in each of the units a to g are sequentially eliminated by the substrate transfer apparatus of the first embodiment, they may be accumulated and exceed the critical value (dotted line) Ec, and spark may occur. Absent. In addition, since the substrate is kept almost in the neutralized state at all times, it is possible to reduce the probability of particles adhering to the surface of the substrate during transportation or during loading / unloading to / from the unit.

【0024】図3は、第2実施例の搬送装置である搬送
ロボット220の斜視図である。この搬送ロボット22
0も、第1実施例の場合と同様に、基板処理装置(図示
を省略)内の基板搬送領域に配置されるが、この搬送領
域の周囲の一側方のみに設けられた基板処理用の各ユニ
ット(図示を省略)相互間で処理すべき角形の基板Wを
逐次転送する循環搬送を行う。
FIG. 3 is a perspective view of a transfer robot 220 which is the transfer device of the second embodiment. This transfer robot 22
0 is also arranged in the substrate transfer area within the substrate processing apparatus (not shown) as in the case of the first embodiment, but is provided only on one side around the transfer area for processing the substrate. Circular transfer is performed by sequentially transferring the rectangular substrates W to be processed between the units (not shown).

【0025】搬送ロボット220の移動基台221は、
基板処理装置内の基板搬送領域に形成されたレールに沿
って水平方向に往復移動する。この移動基台221に垂
直に支持された一対の支柱251上部には、垂直移動ア
ーム機構252が取り付けられている。この垂直移動ア
ーム機構252によって、処理すべき基板を収容するハ
ウジング250が支持されており、図示しない機構によ
ってハウジング250を上下方向にその姿勢を保ったま
まで往復移動させる。ハウジング250は、移動基台2
21の移動方向に垂直な方向の両端が開口した中空の筒
であり、その内部には、ハウジング250下部側に収容
される水平アーム機構260と、ハウジング250の上
部内壁側に固定されイオン化した気流を下方に吐出する
一対のイオナイザ224とが収容されている。
The moving base 221 of the transfer robot 220 is
It horizontally reciprocates along a rail formed in a substrate transfer area in the substrate processing apparatus. A vertical movement arm mechanism 252 is attached to an upper portion of a pair of columns 251 which are vertically supported by the movement base 221. The vertical moving arm mechanism 252 supports the housing 250 that accommodates the substrate to be processed, and the mechanism (not shown) reciprocates the housing 250 in the vertical direction while maintaining its posture. The housing 250 is a movable base 2.
21 is a hollow cylinder that is open at both ends in the direction perpendicular to the moving direction, and has a horizontal arm mechanism 260 housed in the lower side of the housing 250 and an ionized air flow fixed to the upper inner wall side of the housing 250 inside. And a pair of ionizers 224 that discharge the gas downward.

【0026】ハウジング250は、搬送中に基板Wにパ
ーティクルが付着するのを防止する。すなわち、基板処
理装置の上方からダウンフローされているクリーンエア
が上方に巻き返されることによって、パーティクルが再
浮上して基板Wに付着することを防止する。ハウジング
250自体は本願出願人が先に出願した特願平5−25
4819号の明細書及び図面に記載された通りであるの
で、詳細な説明は省略する。
The housing 250 prevents particles from adhering to the substrate W during transportation. That is, particles are prevented from re-floating and adhering to the substrate W by the clean air being down-flowed from above the substrate processing apparatus being rewound upward. The housing 250 itself is Japanese Patent Application No. 5-25 previously filed by the applicant of the present application.
Since it is as described in the specification and the drawing of No. 4819, detailed description will be omitted.

【0027】ハウジング250内の水平アーム機構26
0の一端は、ハウジング250下部内壁側に固定され、
その他端の先端側には、処理すべき基板を載置する上下
一対のハンド222、223が連結されている。これら
一対のハンド222、223は、水平アーム機構260
によって、その姿勢を保ったままで、ハウジング250
外に延びる進出位置とハウジング250内に引っ込んだ
後退位置との間を往復動する。一対のハンド222、2
23の垂直方向の間隔は、その後方のハンド間駆動ユニ
ット270によって適宜調節される。一対のハンド22
2、223を垂直方向に離間または近接させる一動作に
よって、各ユニットにおける基板交換が可能になること
は第1実施例の場合と同様である。
Horizontal arm mechanism 26 in housing 250
One end of 0 is fixed to the inner wall side of the lower part of the housing 250,
A pair of upper and lower hands 222 and 223 for mounting a substrate to be processed are connected to the tip side of the other end. The pair of hands 222 and 223 are used for the horizontal arm mechanism 260.
The housing 250 while maintaining its posture by
It reciprocates between an extended position extending outward and a retracted position retracted in the housing 250. A pair of hands 222, 2
The vertical spacing of 23 is appropriately adjusted by the inter-hand drive unit 270 located behind it. Pair of hands 22
As in the case of the first embodiment, it is possible to replace the substrate in each unit by one operation of separating or approaching 2, 223 in the vertical direction.

【0028】ハウジング250内に収容されている一対
のイオナイザ224は、第1実施例と同様のものである
のでその説明を省略する。
Since the pair of ionizers 224 housed in the housing 250 are the same as those in the first embodiment, their description will be omitted.

【0029】第2実施例の搬送ロボット220の動作は
本願出願人が先に出願した特願平5−151160号の
明細書及び図面に記載された通りであるので、以下に簡
単に説明する。まず、搬送ロボット220のハウジング
250を所望のユニットの正面に移動させて、両ハンド
222、223を進出させてユニット内部の基板処理位
置まで挿入する。その後、両ハンド222、223の間
隔を近接または離間させて、このユニットに関して処理
済みの基板と未処理の基板とを交換する。
The operation of the transfer robot 220 of the second embodiment is as described in the specification and drawings of Japanese Patent Application No. 5-151160 previously filed by the applicant of the present application, and will be briefly described below. First, the housing 250 of the transfer robot 220 is moved to the front of a desired unit, both hands 222, 223 are advanced and inserted into the substrate processing position inside the unit. After that, the hands 222 and 223 are made close to or apart from each other, and the processed substrate and the unprocessed substrate are exchanged for this unit.

【0030】次に、両ハンド222、223をユニット
外に後退させて、処理後の基板Wをユニット外に取り出
す。これと同時に、イオナイザ224を所定時間動作さ
せ、イオン化した気体をハンド222、223上の処理
済みの基板Wの表面に所定時間供給して、この基板Wの
表面の除電処理を行う。
Next, both hands 222 and 223 are retracted outside the unit, and the processed substrate W is taken out of the unit. At the same time, the ionizer 224 is operated for a predetermined time, and the ionized gas is supplied to the surface of the processed substrate W on the hands 222 and 223 for a predetermined time, so that the surface of the substrate W is discharged.

【0031】その後、搬送ロボット220のハウジング
250を次のユニットの正面に移動させて、両ハンド2
2、23を進出させてユニット内部の基板処理位置まで
挿入し、このユニットに関して処理済みの基板Wと、こ
のユニットで未処理の基板Wとを交換する。
Thereafter, the housing 250 of the transfer robot 220 is moved to the front of the next unit, and both hands 2 are moved.
2, 23 are advanced and inserted into the substrate processing position inside the unit, and the substrate W processed for this unit and the unprocessed substrate W in this unit are exchanged.

【0032】以上のような動作を繰り返し、処理手順に
対応するユニットの順に従って基板を順次移送して搬送
装置を基板処理装置内で一巡させ、さらにこのような循
環搬送のサイクルを繰返すことにより、基板に所望の処
理を施すことができる。この際、基板の搬送毎に除電処
理が行われるので、各ユニットでの処理の際に基板に蓄
積される電荷を、その後の搬送に際して逐次放電してス
パークの発生を未然に防止することができる。したがっ
て、基板の表面に高電圧が印加されて、基板表面上に形
成されている配線パターンや素子の破壊ないし動作不良
を発生させるといった不都合が生じない。
By repeating the above operation, the substrates are sequentially transferred in the order of the units corresponding to the processing procedure, the transfer device is circulated within the substrate processing device, and the cycle of such cyclic transfer is repeated. The substrate can be processed as desired. At this time, since the charge removal processing is performed every time the substrate is transported, the electric charges accumulated in the substrate during the processing in each unit can be sequentially discharged during the subsequent transportation to prevent the occurrence of sparks. . Therefore, there is no inconvenience that a high voltage is applied to the surface of the substrate and the wiring patterns and elements formed on the surface of the substrate are destroyed or malfunctions occur.

【0033】図4は、第3実施例の基板搬送装置である
搬送ロボット320の斜視図である。この搬送ロボット
320は、第1及び第2実施例の場合と異なり、基板処
理装置(図示を省略)内に直列に配置された各ユニット
の隣接ユニット間の側方にそれぞれ固定的に配置され
る。(図5(b)の基板搬送装置14参照。)それぞれ
の搬送ロボット320は、各ユニットの配列順に、処理
すべき角形の基板Wを逐次転送する。
FIG. 4 is a perspective view of a transfer robot 320 which is a substrate transfer device of the third embodiment. Unlike the cases of the first and second embodiments, the transfer robot 320 is fixedly arranged laterally between adjacent units of each unit arranged in series in the substrate processing apparatus (not shown). . (See the substrate transfer device 14 in FIG. 5B.) Each transfer robot 320 sequentially transfers the rectangular substrate W to be processed in the order of arrangement of the units.

【0034】搬送ロボット320の基台321は、基板
処理装置内に直列に配置されたユニット列の短手方向の
一方側にあって、隣接するユニットの継目部分に固定さ
れる。この基台321上には、クランク等を備える回転
機構380とボールネジ等を備える上下機構352とを
介して、ヘッド390が支持されている。回転機構38
0は、ヘッド390を水平面内で回転させ、ヘッド39
0から延びる基板載置機構322を、隣接する一対のユ
ニットの一対の上方位置間で往復動させる。上下機構3
52は、ヘッド390を垂直方向に上下動させ、ヘッド
390から延びる基板載置機構322を、各ユニットの
上方位置で上下に往復動させる。
The base 321 of the transfer robot 320 is located on one side in the lateral direction of the unit row arranged in series in the substrate processing apparatus and is fixed to the joint portion of the adjacent unit. A head 390 is supported on the base 321 via a rotating mechanism 380 including a crank and the like and an up-and-down mechanism 352 including a ball screw and the like. Rotating mechanism 38
0 rotates the head 390 in the horizontal plane,
The substrate mounting mechanism 322 extending from 0 is reciprocated between a pair of upper positions of a pair of adjacent units. Vertical mechanism 3
Reference numeral 52 vertically moves the head 390, and vertically reciprocates the substrate mounting mechanism 322 extending from the head 390 at a position above each unit.

【0035】基板載置機構322を構成する一対の長い
ハンド部材322a、322bは、水平面内で同期して
変位し相互に開閉動作する。また、基板載置機構322
を構成する他の一対の短いハンド部材322c、322
dも、水平面内で同期して変位し相互に開閉動作する。
各ハンド部材322a〜322dは、その先端部から下
方に延びるアーム322fと、このアーム322fの下
端に取り付けられる基板保持部材322hとをそれぞれ
備える。なお、長いハンド部材322a、322bの先
端に近い部分とヘッド390側との間には、支持ロッド
322kがそれぞれわたされ、各ハンド部材322a、
322bの安定な動作を保つ。また、各基板保持部材3
22hは、ネジ機構によってその上下位置を微調整する
ことができるとともに、基板Wを載置する回転可能なロ
ーラによって基板Wからのパーティクルの発生を防止す
る。
The pair of long hand members 322a, 322b constituting the substrate mounting mechanism 322 are synchronously displaced in the horizontal plane to open and close each other. In addition, the substrate mounting mechanism 322
Of the other pair of short hand members 322c, 322
Also in d, they are displaced synchronously in the horizontal plane and are opened and closed mutually.
Each of the hand members 322a to 322d includes an arm 322f extending downward from its tip and a substrate holding member 322h attached to the lower end of the arm 322f. In addition, the support rods 322k are respectively provided between the head 390 side and the portions near the tips of the long hand members 322a, 322b.
Maintain stable operation of 322b. In addition, each substrate holding member 3
The upper and lower positions of 22h can be finely adjusted by a screw mechanism, and a rotatable roller for mounting the substrate W prevents particles from being generated from the substrate W.

【0036】ヘッド390には、基板載置機構322に
挟まれるように、棒状の固定部材325を介してイオナ
イザ324が取り付けられている。イオナイザ324
は、その下方位置で基板載置機構322に載置されてい
る基板Wの上面に、イオン化された気体を吐出する。イ
オナイザ324自体は、第1及び第2実施例と同様のも
のであるのでその説明を省略する。
An ionizer 324 is attached to the head 390 via a rod-shaped fixing member 325 so as to be sandwiched by the substrate mounting mechanism 322. Ionizer 324
Discharges the ionized gas onto the upper surface of the substrate W placed on the substrate placing mechanism 322 at the lower position thereof. The ionizer 324 itself is the same as that in the first and second embodiments, and therefore its explanation is omitted.

【0037】第3実施例の搬送ロボット320の動作に
ついて説明する。まず、搬送ロボット320のヘッド3
90を回転させて、基板載置機構322を上流側のユニ
ットの上方位置に移動させる。ここで、基板載置機構3
22の各ハンド部材322a〜322dを外側に変位さ
せて開状態としておく。
The operation of the transfer robot 320 of the third embodiment will be described. First, the head 3 of the transfer robot 320
90 is rotated to move the substrate mounting mechanism 322 to a position above the upstream unit. Here, the substrate mounting mechanism 3
Each of the 22 hand members 322a to 322d is displaced to the outside and kept in the open state.

【0038】次に、基板載置機構322をヘッド390
とともに下降させ、基板保持部材322hをユニット内
の基板処理位置にある処理済みの基板Wの高さと一致さ
せる。そして、各ハンド部材322a〜322dを内側
に変位させて閉状態とし、ユニット内の処理済みの基板
Wの四隅を基板保持部材322hで保持する。
Next, the substrate mounting mechanism 322 is moved to the head 390.
Along with this, the substrate holding member 322h is aligned with the height of the processed substrate W at the substrate processing position in the unit. Then, the respective hand members 322a to 322d are displaced inward to be in a closed state, and the four corners of the processed substrate W in the unit are held by the substrate holding members 322h.

【0039】その後、ヘッド390を上昇させることに
よって、処理済みの基板Wとともに基板載置機構322
を上昇させる。
After that, by raising the head 390, the substrate mounting mechanism 322 is moved together with the processed substrate W.
Raise.

【0040】その後、イオナイザ324を所定時間動作
させ、イオン化した気体を処理済みの基板Wの表面に所
定時間供給して、この基板Wの表面の除電処理を行う。
After that, the ionizer 324 is operated for a predetermined time, the ionized gas is supplied to the surface of the processed substrate W for a predetermined time, and the surface of the substrate W is discharged.

【0041】その後、ヘッド390を回転させることに
よって、上流側のユニットで処理済みの基板Wととも
に、基板載置機構322を下流側のユニットの上方位置
に移動させる。
Then, by rotating the head 390, the substrate mounting mechanism 322 is moved to a position above the downstream unit together with the substrate W which has been processed by the upstream unit.

【0042】その後、基板載置機構322を下降させ、
このユニットに関しては未処理の基板Wをこのユニット
内の基板処理位置にセットし、各ハンド部材322a〜
322dを外側に変位させて開状態とする。そして、ヘ
ッド390を上昇させることによって、基板Wを載置し
ていない基板載置機構322を上昇させる。
Then, the substrate placing mechanism 322 is lowered,
With respect to this unit, an unprocessed substrate W is set at a substrate processing position in this unit, and each hand member 322a ...
The 322d is displaced to the outside to bring it into an open state. Then, by raising the head 390, the substrate placing mechanism 322 on which the substrate W is not placed is raised.

【0043】以上のような動作を、直列に配置されたユ
ニットに沿って配置されている搬送ロボット320の下
流側から実行することにより、各ユニット内の基板をそ
の下流側のユニットに転送させることができる。さら
に、このような、転送のサイクルを繰返すことにより、
基板に所望の処理を施すことができる。この際、基板の
搬送毎に除電処理が行われるので、各ユニットでの処理
の際に基板に蓄積される電荷を、その後の搬送に際して
逐次放電してスパークの発生を未然に防止することがで
きる。したがって、基板の表面に高電圧が印加されて、
基板上に形成されている配線パターンや素子の破壊ない
し動作不良を発生させるといった不都合が生じない。
By carrying out the above operation from the downstream side of the transfer robot 320 arranged along the units arranged in series, the substrate in each unit is transferred to the unit on the downstream side. You can Furthermore, by repeating such a transfer cycle,
The substrate can be processed as desired. At this time, since the charge removal processing is performed every time the substrate is transported, the electric charges accumulated in the substrate during the processing in each unit can be sequentially discharged during the subsequent transportation to prevent the occurrence of sparks. . Therefore, a high voltage is applied to the surface of the substrate,
There is no inconvenience such as destruction of wiring patterns or elements formed on the substrate or malfunction.

【0044】以上、実施例に即してこの発明を説明した
が、この発明は上記実施例の限定されるものではない。
例えば、上記実施例では、パルスDCタイプのイオナイ
ザを用いたが、向かい合った1組のバーを有するととも
に各バーに多数のエミッタが埋め込まれており、各バー
のエミッタにそれぞれ正,負の直流電圧を印加して各バ
ーのエミッタから正イオン及び負イオンをそれぞれ発生
させるDCタイプのイオナイザや、接地されたグリッド
の中央にエミッタが配置されそのエミッタに交流電圧を
印加してグリッドとエミッタとの間の空気をイオン化す
るACタイプのイオナイザも使用可能である。なお、D
CタイプやパルスDCタイプのイオナイザを用いた場
合、イオナイザから除電処理を行うべき基板までの距離
を十分に大きくとって、正負のイオン化された気体が均
等に拡散させられて基板表面上において均等に分散する
ようにする。これにより、基板上の均一な除電が可能に
なる。
Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments.
For example, in the above embodiment, the pulse DC type ionizer was used, but it has a pair of bars facing each other and a large number of emitters are embedded in each bar. DC type ionizer that applies positive voltage to generate positive and negative ions from the emitter of each bar, and the emitter is placed in the center of the grounded grid and an AC voltage is applied to the emitter between the grid and the emitter. An AC type ionizer that ionizes the air can also be used. In addition, D
When a C-type or pulse DC-type ionizer is used, the distance from the ionizer to the substrate to be subjected to static elimination treatment is set to be sufficiently large so that the positive and negative ionized gases are evenly diffused and are evenly distributed on the substrate surface. Try to disperse. This enables uniform charge removal on the substrate.

【0045】また、イオナイザの位置は、搬送中の除電
処理すべき基板の下方及び側方のいずれかであってもよ
い。側方からイオン化された気体を吐出する場合、基板
の上面または下面に向けてイオン化された気体の気流を
偏向する手段を設けることで、除電の効果を高めること
ができる。
Further, the position of the ionizer may be either below or on the side of the substrate to be subjected to the static elimination processing during the transportation. When the ionized gas is discharged from the side, the effect of static elimination can be enhanced by providing a means for deflecting the flow of the ionized gas toward the upper surface or the lower surface of the substrate.

【0046】また、イオナイザの個数及び容量も基板の
面積及び材料等に応じて適宜設定することができる。例
えば、サイズの大きな基板に対しては、3個以上イオナ
イザを搬送すべき基板の載置位置の上方に適宜配置し、
固定することができる。
Also, the number and capacity of the ionizers can be appropriately set according to the area and material of the substrate. For example, for a large-sized substrate, three or more ionizers are appropriately arranged above the mounting position of the substrate to be transported,
Can be fixed.

【0047】さらに、上記実施例では、除電処理を基板
の移送直前に行っているが、基板の移送中に除電処理を
行ってもよい。
Furthermore, in the above-described embodiment, the static elimination process is performed immediately before the transfer of the substrate, but the static elimination process may be performed during the transfer of the substrate.

【0048】[0048]

【発明の効果】この発明の請求項1の基板搬送装置によ
れば、基板載置手段に載置された基板の表面にイオン化
された気体を吐出する気体吐出手段とを備えるので、各
処理部での基板処理の際に基板に蓄積される電荷を、基
板搬送に際して逐次放電することができるとともに、各
ユニットにそれぞれイオナイザを設ける構成に比べて簡
易かつ低コストで基板に蓄積される電荷を中和すること
ができる。
According to the substrate transfer apparatus of the first aspect of the present invention, the processing means comprises the gas discharging means for discharging the ionized gas on the surface of the substrate placed on the substrate placing means. The charges accumulated on the substrate during substrate processing can be discharged sequentially when the substrate is transported, and the charges accumulated on the substrate can be easily and inexpensively compared to the configuration in which each unit is provided with an ionizer. Can be harmonized.

【0049】また、請求項2の基板搬送装置によれば、
気体吐出手段を基板載置手段の上方に固定する固定手段
をさらに備えるので、搬送中の基板表面に上方から効果
的にイオン化された気体を供給することができ、スパー
クの発生を効果的に抑制することができる。
According to the substrate transfer device of the second aspect,
Further, since the gas discharging means is further provided with a fixing means for fixing the gas discharging means above the substrate placing means, the ionized gas can be effectively supplied from above to the substrate surface during transportation, and the occurrence of sparks is effectively suppressed. can do.

【0050】また、請求項3の基板搬送装置によれば、
基板載置手段及び気体吐出手段を収容するハウジングを
さらに備え、気体吐出手段がこのハウジング内の上部に
固定され、基板載置手段が載置した基板をハウジング内
外に搬入及び搬出可能であるので、搬送中の基板表面に
上方から効果的にイオン化された気体を供給することが
でき、スパークの発生を効果的に抑制することができ
る。さらに、ハウジングの存在によって、ハウジング外
に気流の乱れが発生した場合にも、基板の表面に影響し
にくい。
According to the substrate transfer device of claim 3,
Further, a housing for accommodating the substrate mounting means and the gas discharging means is further provided, and the gas discharging means is fixed to the upper part of the housing, and the substrate mounted by the substrate mounting means can be carried in and out of the housing. It is possible to effectively supply the ionized gas from above to the surface of the substrate being transported, and to effectively suppress the generation of sparks. Further, even if the airflow is turbulent outside the housing due to the presence of the housing, the surface of the substrate is hardly affected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1実施例の基板搬送装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a substrate transfer device according to a first embodiment.

【図2】第1実施例の基板搬送装置の動作を説明するグ
ラフである。
FIG. 2 is a graph illustrating the operation of the substrate transfer device according to the first embodiment.

【図3】第2実施例の基板搬送装置の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a substrate transfer device according to a second embodiment.

【図4】第3実施例の基板搬送装置の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a substrate transfer device according to a third embodiment.

【図5】従来の基板処理装置及び基板搬送装置を模式的
に示す図である。
FIG. 5 is a diagram schematically showing a conventional substrate processing apparatus and substrate transfer apparatus.

【図6】従来の装置でスパークが発生することを説明す
るグラフである。
FIG. 6 is a graph illustrating that a spark is generated in the conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20、220、320 搬送ロボット 22、23、222、223 ハンド 322 基板載置機構 24、224、324 イオナイザ 25、325 固定部材 250 ハウジング 20, 220, 320 Transfer robot 22, 23, 222, 223 Hand 322 Substrate placement mechanism 24, 224, 324 Ionizer 25, 325 Fixing member 250 Housing

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板処理装置の複数の処理部間で基板を
処理部から処理部へと搬送する基板搬送装置であって、 搬送に際して基板が載置される基板載置手段と、 前記基板載置手段に載置された基板の表面にイオン化さ
れた気体を吐出する気体吐出手段と、を備えることを特
徴とする基板搬送装置。
1. A substrate transfer device for transferring a substrate from one processing part to another processing part between a plurality of processing parts of the substrate processing device, wherein the substrate mounting means mounts a substrate during the transfer, and the substrate mounting device. A substrate transfer apparatus, comprising: a gas ejecting unit that ejects ionized gas onto the surface of the substrate placed on the placing unit.
【請求項2】 前記気体吐出手段を前記基板載置手段の
上方に固定する固定手段をさらに備えることを特徴とす
る請求項1記載の基板搬送装置。
2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, further comprising fixing means for fixing the gas discharging means above the substrate placing means.
【請求項3】 前記基板載置手段及び前記気体吐出手段
を収容するハウジングをさらに備え、前記気体吐出手段
は、前記ハウジング内の上部に固定され、前記基板載置
手段は、載置された基板を前記ハウジング内外に搬入及
び搬出可能であることを特徴とする請求項1記載の基板
搬送装置。
3. A housing for accommodating said substrate mounting means and said gas discharging means is further provided, said gas discharging means being fixed to the upper part inside said housing, said substrate mounting means being the mounted substrate. 2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the substrate transfer device can be carried in and out of the housing.
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